JY T 025-1996 光栅型荧光分光光度方法通则.pdf

1、现代分析仪器分析方法通则光栅型荧光分光光度方法通则JY /T 025-1996 General rules for grating f1 uorescence spectropbotometry 1997-01-23发布1997-04-01实施前本标准是根据GB/T1.1-1993!标准化工作导m第1单元z标准的起草与茬述规则第1部分z标准编写的基本规定和GB/Tl.4-881标准化王作导则化学分析方法标准编写规定编写的.本标准起草单位.国家教育垂员会本标准主要起草人z田笠脚本标准事加起草人z贝摞EZ气次目111围.(395)走且. ., . (395) 方法原理. . (395) 试剂和材制

2、. . . (396) 仪器.(396) 样品.E- . (397) 分析步骤. .(397) 分析结果的茬述 . (398) 安全注意事项 . . . . (398) 1 9 3 456789 光栅型荧光分光光度方法通则JY /T 025-1996 General rule萄forgrating nuorescence spectr叩hotometry1 范围本通贝规定了一般样品(液体、固体)中的盘属和有机成仕的荧光分光光厦卦析方法，适用于食品、卫生、在业、环撞等方面的些样品分析.Z 定义2.1 荧光物质fluorescence materaJ 能显示或易察觉荧光的分手林作黄光物质，通常指具

3、有刚性结构租平面结构的电子共辄悻矗的分子或带高共辄双键的分子.2.2 荧光发射光谱EMfluorescence emission叩町trum选择某一固定披挂的光激发样品，记录样品中产生的荧光盘射强度与发射波l间的函散关i罪，即得荧光发射光谱。2.3 荧光撤发光谱EKfluorescence exitation叩ectrum选定某一荧光盘射波1记录黄光盘射强度作为激发光波l的函数，即得荧光激发光谱。2.4 校正光懵calibration spectrum 由于费光测量仪器的特性，例如光源的能量分布、单色榕的透射率和检测器的响应等性能会随波怯而变，所以同一他告物在不同的仪器上舍得到平同的光谱，且彼

4、此间无类比性，这种光谱件为茬观光谱，要使同t告鞠在不同仪器上能得到且有相同特性的荧光光谱，则需要对仪器的上述特性进行校正，经过校正后的光谱称为校正荧光光谱(亦称真正的黄光光谱3 万法原理物质被某一波茸的光照射后，会发射出比照射被1(:精桂的光，这种先称为荧光，宫的过程是当物质的分于处于基在时.吸收先后，可跃迁到撇盎菇，各激盘态舟子相互撞击而以无辐射能量损失的形式回到第一激发盔的最低摄动能缀，这-摄动酶级的分子在返回基态时，所量射的光睹为荧光，但当它辑人亚疆的三重线缀，停留段时间，返回军基态时所盘出的光摊为碑光，荧光(躏光与物质浓度的关革为式中F 荧光强度K 仪器常数铲十量子效率1，一激发光强度

5、F=KrpQ(l-en,c) e 荧光物质的摩如吸收罩靠回事慧胃晏蛊垂E蝉7-81-12批准且997-84王实施395 JV!T 025-199 L 荧光池厚度c -荧光物质榷庄时于给定的物质来说，当激发光的波长、强度、荧光池厚度-定，浓度较低时，上述关革可以简写为FKC 即荧光强度与所测定的荧光物质浓度成比例，由此可求出所测定物质的肯量。4 试剂和材料4.1硫酸分析纯4. 2硫酸圭宁分析纯4.3 硫酸辈宁标准溶液p=1. 00 X 10-g/ml。吉硫酸C(比里1.)= O. 05mol/L固4.4 其它试剂和材料根据所测试样品要求而定5仪器5.1 光栅型荧光分光光度计(以下简称仪器结构仪器

6、结构原理如下回所示，光源与检测器成直角方式安排.l光源l二1激发单色据l一仪樱绪原理图S. 1. 1 光源s仪器的光源有高压最蒸气灯和佩服灯，后者能发射出强度较大的连续光谱，且在30Onm-40Onm范围内强度几乎栩等，故较市周.5. 1. 2 单色器E置于光摞和样晶室之间的为撒发单色器或第-单色棍，置于样晶室和检测器之间的为发射尊色器或第二麟色器，带来周光栅为单色器.5.1.3 样品室，通常由石英地液体样品用或固体梯品架输草或片就样晶组成.测量液体时，光源与检测器成直角安排;测量固体时，光源与检测器成锐角安排.5. 1. 4 检测器s一般用光电营或光电倍增管作撞，曾提.5. 2 仪器技术指标

7、见者1.计量类黝汲1准确度波长重重性撞出限396 寝1技术111黯技术指标士O.5nmO.3nm 5. Og/mlX 10-l1g/ml JY IT 025-1996 计量类别技术指标线性误差;土2.0%信噪比(S/N)参帽出r说i用的指标，己测州撞出限的仪梅，可不进行此项俭定光谱校正误差l带光谱佼正的这类仪器在指定光制正的波妖植围内进行校正荧光池成套性配套使用的荧光池的配套误差应不太子1.0%5.3 环境条件5.3.1 环椅温度20-C土5C.且相对稳定，相对湿度不大于川%，电源电压220V士22V。S. 3. 2 仪器应平稳地放在工作白上，无强光直射在仪器上，5.3.3 仪器周围无强磁场、

8、电场干扰，无援朝g无强气施.，喃自5.3.4 检定前仪器应预热20min.6样品6.1 液体样品根据用户提供的技术指标，检查酣匮古国是否合适，如果需要带膏，则要考虑所需溶剂类型相稀辑倍数，6.2 固体样品均匀粉末、片状或具有光滑平面的块状样品，均可直接测定。7 分析步骤7.1 开机z接通电摞，打开主机开是，点燃(打开光源后，根据说明书要求启动计算机。7.2 检测前准备z盎照仪器说明书.在20天内至少进行一段激发校准相发射校准，检测前仪器应预热.7.3 工作条件的选择z环境温度应在20-C土5(:;相对温度不大于70%，电摞稳定，王磁场、电场干扰B根据样品的特性巫荧光强度，选择合适的仪器工作条件

9、如挟缝、PM增蓝、响应时间等)。7.4 测定7.4.1 荧光激发光谱测定设置仪器垂数，扫描发射撞1:找到.以此为发射披长，记录发射强度作为激盎波茸的函数，便得到激发光谱-7.4.2 荧光发射光谱测量世置仪器参数，扫描激发披挂.找到A跤，以此为激发波长，记量发射强度与发射波1:间的函数关旱，使得到荧光盘射光谱.7.4.3辈谱测定设置仪器垂数，选择告适的工作方式，测定背景潜液的发射光谱井储存起来，在-定的工作方式下.扫描样品溶液的发射披挂，得到当时的光度值和储存的背景值之间的差示值.BP盖谐。7.4.4峰面积帜分选择适当的工作方式，对样品溶液进行积分操作，即得到峰面积积分.7.4.5 荧光强度选择

10、合适的测量垂数，设置EX.E如果用点读数或扫描方式.Bp可测得所选技1:处的荧光强度。7.4.6 定量测定配制一革列已知幢度的标准溶液，在一定的测定条件下，设置.酬，按照由稀至浓的次序，测定标准榕液的荧光强度，绘制荧光强匪一幢度的工作曲线，不改变仪器垂数测定未知溶攒的荧光强度，囱工作曲线即可求出来知溶液的浓度的397 JY IT 025199. 8 分析结果的寝遥8. I 荧光激发光谱、发射光谱、盖谱囱仪器记录仪绘出。8.2 峰面积积分、荧光强度由仪器屏事显示.8.3 定量测试=在相同的测定矗件下，测定一矗列已知醒度的标准糟攘的荧光强度，绘制出荧光强度-浓度的工作曲线。浓度未知的槽液的荧光强度测定后，囱工作曲线习性出该癖液的浓度。 安全洼事项9.1 开机时，必须点亮光摞后，才能启动计算机，关机时，则须先关计算机再关光源-9. 2 打开样晶室更换样品时，必须关好光闸，保护仪器.9.3 遵守说明书上的规定要求。398