SJ 50033 139-1998 半导体光电子器件.GF4111型绿色发光二极管详细规范.pdf

1、S.J 中华人民共和国电子行业军用标准FL 5980 SJ 50033/139-1998 半导体光电子器件GF4111型绿色发光二极管详细规范Semimndu伽r。”叫.ectronicdevi倒Detail吨削货倒。”for伊棚l胁t- emitting diode for type GF4111 1998“”18发布1998翩05幽01实施中华人民共和国电子工业部批准中华人民共和国电子行业军用标准1 范围半导体光电子器件GF4111型银色发光工极管详细规范Semiconducto1呻伽l即饷nicdevi1附加剧吨刚到俑悦。”如r伊鸭nlight“但时倒I唱d如也fortype GF411

2、1 1 .1 主周内容时削33/1319佣本规范规定了军用GF4111现绿色发光二极管（以下简称器件）的详细要寻求。1.2适用范围本规施适用于器件的研制、生产和采购。1.3分类1.3.1 器件的等级按照GJB33半导体分立器件总规拖的规定，提供的质量保证等级为普军级（GP)和特年级（GT）二级。2 51用文件GB 11499时的半导体分立器件文字符号GB/T 15臼1-1995半导体器件分立器件和集成电路第5部分光电子器件日33叩85半导体分立器件总规戒GJB 128叩86半导体分立器件试验方法SJ 2355叩83半导体发光器件测试方法3要求3.1 详细要求各条要求应按GJB33和本规拖的规定

3、。3.2设计、结构和外形尺寸中华人民共和阁电子工业部1998-0318发布199805-01实施创5例33/139叫1唰器件的设计、结构应按GJB33中3.5.1、3.5.3,3.5.4和3.5.7条及本规范的规定。外形尺寸应符合本规范阁1的规定。3.2.1 管芯材料管芯材料为磷化嫁。3.2.2 引出端识别引出端识别见图lo3.2.3封装形式器件采用金属玻璃空腔封糙，管帽上带有玻璃逃镜，见图lo3.2.4 引线长度可按订货文件规定（见6.2条）提供引线长度不同于本规范固1规定的器件。3.2.5 引线材料和引线镀涂号绒材料为可伐，引线镀金，也可按照订货文件规定（见6.2条）o3.3最大额定值和主

4、要光电特性3.3.1 最大额定值（见表l)表1/FM /WM.I) VR PM TA mA mA v mW 咱：35 200 5 l却-55 100 注：1）脉冲宽度0.5棚，占空比11103.3.2 主要光电特性（见表2,TA=25CC) 2 T吨; ” 55 125 2 创棚133/139“1唰:阳咳！ 引出精极性：1.j五极2.负极罔l外形尺寸D D1 D2 D3 d h h2 b L 单位：删最小值标称值最大值9.0 9.50 8.0 8.50 5.80 6.40 5.08 0.40 0.52 6.10 6.70 0.70 0.85 1.10 1.30 23 一3创一名称符号M一晴在搁

5、一条件唰数最小值发光强度Iv 正向电压Vr 反向电流la 崎值发射脆长Ap 光谱辐射带宽t:I). 半强度角向A3.4标志每个器件上应有下列标志：a.器件型号；b.产品保证等级；c.承制方商标或代号；d.检验批识别代码。4 质赢保证规定4.1 抽样和检验IF= wmA, e = mATA= 100吃，Va=3VI冒z革)mA/F：加nA/F：灿nA表58组检验GJB 128 条件1C归按本规藏3.4条数值最小值最大值无裂纹，无愣蚀，无捆坏由3 甲5 呻 3.5 100 500 5朋 30 5 - 1051 除低温为55吃，循环20:rx外，其余按试验条件B1071 试验条件日，最大漏率为5mP

6、acm3/s试验条件C表7，步骤11027 /F嚣35mA,t = 340h 单位L岱币5 5 v A med 5 v A 15 run run 。L币或n(c) 15 10 5 检验和试验时刷133/139呻1唰镇表5GJB 128 方法条件最后测试表7，步骤2B4分组开帽内部现检却75（设计验证）键合强度KJ37 试验条件A，键合强度：注25mNB5分组（不适用）如日6分组商温寿命（不工作）1032 Ts惚125吧，t=340h 最后测试表7，步骤2表6C组检验GJB 128 检验和试验方法条件Cl分组外形尺寸在崩按本规范图lC2分组热冲击（玻璃应力）1056 试验条件A引出端强度2036

7、 试验条件E密封1071 细检漏试验条件日，最大漏率为5mPacm3/s 粗检漏试瞌条件C综合温度！M度周期试验1021 省略予处理条件外观及机械检验加71无裂纹，无明显锈蚀，元损坏最后恻试表7，步珊1。分组冲击2016 不工作，按14700m!s2,O.Sms 在Y1方向上冲击5?X 变颇在功2时6恼定加速度2仅)6Y1方向，1归航:xms2,lmin 最后测试表7，步骤1一一一一町，一一一时分组（不适用）L1PD 或n(c) l (0) KJ (c=O) 7 L1PD 15 10 10 一7检脆利试验C5分tit（不适用）C6分挝稳态工作寿命最后测试C7分组高温寿命（不工作）最后测试步骤检

8、S盘正向电压皮肉电流发光强度20 正向电压反向电流发光强度方法1026 1037 SJ棚”139呻1998续表6GJB 128 条ly=35时，t黠lOOh我7，步骤2Ts飞g=1挡，t=lOOh 我7，步骤2表7B组和C细的测试方法条件日2355.2Ir拗nA日2355.3VR=3V GB/T 15臼lIr却mA，。OSJ 2355.2 lr=20mA SJ 2355.3 VR=3V GB/I15臼1Ir= 2仇nA,6= O 住：1)对本试验超过A2分组极限值的器件不能向用户提供。5 交货准备包装应符合GJB33的婆求。6 说明事项6.1 预定用途Lm 件-= 10 10 符号数值最小值最

9、大值VF 3 /R ” Iv 5 也Vr “ 3.3 /R 时2 Iv 4 “ 器件可在各种军事仪器设备和各种民用电子仪器设备中做显示和指示用。6.2 订货文件内容合同或订单中成就明下列内容：a.本规范的名称与编号；b.器件的型号和等级；c.数最；d.如果引钱不镀金，应规定镀层（见3.2.5条）；e.如果引线长度不同于因1，应规定引线长度（3.2.4条）；单位v A n时v A 四时f.检验数据（见4.4.3条）；其它。6.3定义臼S侃33/139币1唰本规范使用的术语和符号应按GJB33, GB 11499、GB/115651以及以下规定。6.3.1 e 光电探测器光轴与糯件机械轴之间的央角。6.3.2 lVD 单个器件的初始值。附加说明：本规范由中阁电子技术标准化研究所归口。本规范由阔啻第七四六厂起草。本规范主要起草人：徐锦仙、玉珍。计划项目代号：B61010o9一