SJ 50597.6-1994 半导体集成电路JC4049.JC4050型CMOS缓冲器电平转换器详细规范.pdf

1、中国电FL 5962 8J 50597 6 94 , 中Detai specification for types JC4049、JC4050buffer/converters of CM08 semiconductor integratd circuits 1994-09-30发布1994-12-01实施中华人民共和国电子工业部批中华人民共和国电子行业军用标准导体集成电路JC4049、JC4050型CMOS缓冲器/电平转换器详细规范Detail specification for types JC 4049 , JC 4050 buffer /converters of CMOS semic

2、onductor integrated circuits 1 范围1- 主题内容SJ 50597. 6 94 本规范规定了硅单片JC4049、JC4050型CMOS缓冲器/电平转换器(以下简称器件)的详要求。.2 适用范围本规范适用于器件的研制、生产和采购。1.3 分类本规范给出的器件按器件型号、器件等级、封装形式、额定值和推荐工作条件分类。1. 3. 1 器件编号器件编号应按GJB597(微电路总规范第3.6. 2条的规定。,. 3. 1. 1 器件型号器件型号如下:器件型号JC 4049 JC 4050 1. 3. 1. 2 器件等级器件名称六反相缓冲器/电平转换器六缓冲器/电平转换器件等

3、级应为GJB597第3.4条所现定的B级和本规范规定的Bl级。1-3.1- 3 封装形式封形式如下:注:1)按GB7092(半导体集成电路外形尺寸中华人民共和国电子1994-09.30发布1994-12甲011. 3- 2 绝对最大额定值绝对最大额定值如下:SJ 50597.6 94 数值项目电源电压入电压入电流(入功耗贮存温度结引线耐焊接温度(10s)1. 3- 3 推荐工作条件推荐工作条件如下z项自电源电压工作度2 引用文件GB 3431. 1 82 GB 3431. 2 86 符号最Vcc 一o.5 V1 -0.5 I 11 I Pn Tstg -65 T. Th 数符号最V旦、3 TA

4、 -s 电路文字符号电参数文字符号电路文字符号引出端功能符号最大18 Vcc +0.5 10 200 175 175 300 最大15 125 GB 3834 83 半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理GB 4590 84 半导体集成电路机械和气候试验方法GB 4728. 12 85电气图用图形符号二进制逻辑单元GB 7092 半导体集成电路外形尺寸GJB 548 88 微电子器件试验方法和程序GJB 597 88 微电路总规范GJB 1649 93 电子产品防静电放电控制大纲3 要求3. 1 详细要求各项要求应按GJB597和本规施的规定。3. 2 设计、结构和外形尺寸设计、结构和外

5、形尺寸应符合GJB597和本规范的规定。3. 2. 1 逻辑符号、逻辑图和引出端排列逻辑符号、逻辑图和引出端排列应符合图l的规定。引出端排列为俯视图。号一2一单位V V mA mW C c 单位V C a. JC4049 lA(3)-2A( !i .lA 1护一惜A(S卜5AI1 )- tiAIHl-, 引出端排列a. JC4049 Vcc E ly I 2 lAn .l 2忖42. I I !i Jy ri Ii 3A ri 1 V:;s忖a逻辑图1 V( 2 ) 2Yl -3Y(画- 4Y(Jol -(12) -6 111.1 16 l! I E bY E 14 I 6A 且千一13 I

6、E 12 I !.Y 11 h !iJ1、直一a， E 4Y 国 4A a. JC4049 (1/6) 1 A Y SJ 50597. 6 94 b. JC4050 1 AI J )- 2A ( 5 -3.( 1 )-4AI S)-5.Ul) A1I 4 -一-1J(:l)一-2 J( 4 ) 3 V( b 1 dTd(10) -10(121 - J (lli 1 b. JC4050 Vcc a 且lY I l! h Y I A I 4 I b ，、 r-V. I E。13 2A I E岛 !il( 3y Y 1. t 1 _J 岳A3 I I lU I-J 4V Vss I I 11 国E

7、b. JC4050 (1 /6) A 图1逻辑符号、逻辑图和引出端排列3. 2. 2 功能表功能表如下:a. JC4049 入A L H 注:H一离电平;L低电平。3. 2. 3 电原理图Y H L b. JC4050 出输入A L H 出Y L H 制造厂在鉴定前应将电原理图提交给鉴定机构。各制造厂的电原理图应由鉴定机构存档备查。3. 2. 4 封装形式封装形式应按本规范1.3. 1. 3条的规定。3. 3 引线材料和涂覆引线材料和涂覆应按GJB597第3.5. 6条的规定。一3一Sj 50597.6 94 _，一一一一3. 4 电特性电特性应符合本规范表1的规定。表1-1JC 4049的电

8、特性条件1)规范值若无其他规定TA = -55C TA =25C TA =125C 单特，同1占2 号f立Vcc V坦=ov最小最大最小最大最小最大CV) 入正籍位电V1K+ V白开1.5 V 压出路接地I1K =1mA 人负籍位电V1K, Vss接地-6 V 压出端开路开路I1K =-1mA 斗电源电流Icc V1L =OV 15 1 30 A VIH = 15V 出在专电子也忱地tVll =OV 15 14.95 14. 95 14.95 V 民VOH =OmA 出低电平电VOL V1H =15V 15 0.05 0.05 0.05 V 压VOL =OmA 入高电平电V1H VO!. =0

9、. 5V 、54 4 4 V 压 VOL =1. OV 10 8 8 8 VOL =1. 5V 15 12.5 12. 5 12.5 输入低电平电VII VOH =4. 5V D 1 1 1 V 应VClH 9. OV 10 2 2 2 VOH =13. 5V 15 2. 5 2. 5 2. 5 输出高电平电10H VI=OV 5 一0.81- O. 65 一0.48mA 流VOH =4. 6V V=OV 10 -2.0 一1.65 一1.18 VOH =9. 5V Vj=OV 15 5. 2 一4.3 一3.1 VOH =13. 5V 输出低电平电10L Vj=5V 5 4 3. 2 2.

10、1 mA 流VoL=0.4V V1 =10V 10 10 8 5. 6 VOL =0. 5V -4一一SJ 50597.6 94 续表条件!l规拖值若无其他规定TA =-55C TA =25C TA =125C 单特性Vcc 位Vss =ov 最小最大最小最大最小最大(V) 输出低电平电101, V, =15V 15 26 _.-24 18 mA 流VoL=1.5V 一阿甲.输入漏电流1!i V1H =15V 15 25 250 nA 每一个入端I1L Vll. =OV 15 25 250 每个入端输入试验电压VZAP C, = 100pF 400 V R2 = 1. 5k.n (见4.5.

11、3) 寸输入电容C1 f =lMHz 。20 pF 传输延迟时间tpHL RL =200k.n 5 2 65 2 65 2 225 ns (Aby) tpLH CL =50pF 7 140 7 140 8 315 t , = 10nS t =10nS f = 200kHz (见图的输出转换时间tTHL RL =200k.n 5 3 70 3 70 8 105 nS tTLH CL =50pF 13 160 13 160 20 405 t , = 10ns tf = 10ns f = 200kHz (见图的注，1)完整的引出端条件应符合表3的规定。表1-2JC 4050的电特性条f牛1)规毡值单

12、若无其他规定特性符号TA = -55C TA =250C TA =125C (C Vss =OV 最小最大最小最大最小最大(飞)入正箱位电IK+ V，革开路1. 5 V 压输出端开路接地I1K =lmA 一句5一SJ 50597.6 94 续表条件1)规范值若无其他规定TA = 55 c TA =25C TA =125C 单特性 Vcc 位Vss =OV 最小最大最小最大最小最大(V) 输入负籍位电V1K一V自接地-6 V 压出端开路开1IK =-lmA 电源电流Icc V1L =OV 15 l 30 A V1H =15V 输出高电平电VOH Vu. =15V 15 14.95 14. 95

13、14. 95 V 压10H =OmA 输出低电平电VOL V1H =OV 15 0.05 0.05 0.05 V 压101. =OmA 输入高电平电VIH VOH =4. 5V 5 3. 5 3. 5 3.5 V 压VOH =9. OV 10 7 7 7 VOH =13. 5V 15 11 11 11 输入低电平电V1L VOI. =0. 5V 5 1. 5 1.5 1. 5 v $ 压VOL =1. OV 10 3 3 3 VOL =1. 5V 15 4 4 4 输出高电平电10H V1=5V 5 一O.81 一0.65一0.48mA 流VOH =4. 6V V1 =10V 10 一2.0一

14、1.65一1.18 VOH =9. 5V V1 =15V 15 -5.2 -4.3 一3.1 VOH =13. 5V 出低电平电101. V1=OV 5 4 3.2 2.4 mA 流Vm. =0. 4V V1=OV 10 10 8 5. 6 VOL =0. 5V V1=OV 15 26 24 18 VOL =1. 5V 输电流1IH V1日=15V15 25 250 nA 分别测每个输入端一6一SJ 5臼97.694 续表条件1)范值定TA = -55C TA =25C TA =125 C 单特性号位Vcc V目=ov最小最大最小最大最小最大(v) 入电IIL VlL =OV 15 25 25

15、0 nA 入电压VZAP C1 =100pF 400 V R2=1.5KQ (见4.5. 3) 入电容C1 f =1MHz 。12 pF 传输延迟时间tpHL RL =200k!l 5 5 65 5 65 7 225 nS (A , y) CL =50pF tpLH 7 140 7 140 10 345 、t , = 10ns tf =10ns f = 200kHz (见图4)出转换时间tTHL RL =200kO 5 3 70 3 70 5 105 nS tTLH CL =50pF 13 160 13 160 20 405 t , = 10ns t( = 10ns f = 200kHz (见

16、图。应符合表3的。注:1)完整的引出3.5 电试验要求各级器件的电规定。要求，应按本规范表2所规定的有关分组，各个分组的电测试按表3的表2电试验要求B级器件B!级器件项目分组见表3)变化量极限分组(见表3)变化量极限中间(老化前电测试A1 Al 中间(老化后电测试Al!l bP All) 1:I.2l 一7一SJ 50597. 6 94 续表B级B，级器件项自分组(见表3)变化量极限分组(见表3)变化量极限C组终点电测试A1.A2.A3 t,.2 A1.A2.A3 t,. C组检验增加的电测不要求A10.A11 i式分组Df.t:I.终点电测试A1，A2电APA1 .A2 .A3 a . -

17、一一，且一一一川，、.南、a、注:1)该分组要求PDA计算见4.2条)0 2)老化(见表。和稳态寿命试验(斗法门，要求党吃盘(6)测试，其ti辩:足以也比前巨的中间电i则以为基;筐.(凶极以民本规范表10的现已。-分组气l.!，)辐古tJJOE终点电视H式投本规沱主2.与策的规定。1)辐射加固变化量(t，.)慨:芝楼本规范表14的规定。表3-1C 4049的A组电测试守引用标准条件7手号(若无其官规定，V 55 = OV T A = 25 C ) GB 3834 V1K- Vcc接地V ss开路，出端开路，被输入端VK =lmA.非被测输入端开路。VK Vc仁开路，Vss接地，出端开路，入端V

18、K =-1mA.非被入端开路。/cc 2. 15 Vcc =15V. VL =OV. H =15V. 出端开。VOH 2. 7 Vcc=15V. l输入VL=OV. 出端呼，所有其它非被端开路。F() 2. 8 Vcc =15V.被入VH=15V.输出开路，所有其它非路。VIH 2. 1 Vcc=5V. 出VOL=0. 5V. 非测入接地Vcc =10V.被测输出VOL=lV. 非入接地V=15V，被视i输出VOL= 1. 5V. 非入接地、十Vn. 2. 2 Vcc =5V.被测输出V(旧=4.5叹，非被测输入接地Vcc =10V.被出VOH=9V. 非入接地一8一规范单位最小最大|1.5

19、V -6 V 1 A 14. 95 V 0.05 V 4 V 8 12.5 1 V 2 分组|符号A1 VIL I佣loL l lH 1) ln 1) IL SJ 50597. 6 94 续表条件引用标准GB 3834 (若无其它规定，V困=OV，TA =25C) 2.2 IV，=15V， 出VOH=13.5V, 司在入接地2.11 IVcC =肌VIL =OV, 出VOH=4. 6V Vcc=10V, 入端VIL=OV, 出VOH=9. 5V Vcc =15V, 入端VIL=OV, 出VOH=13. 5V 2.12 IVcc =5V, VIH =5V, 出VOL=0. 4V V=10V， V

20、IH =10V, 出VOL盟0.5VV=15V， VIH =15V, 出VOL=1. 5V 2.9 IVcc=l肌VIH=15V 入测Vcc =15V, VIH =15V, VIL =OV, 出开路，2.10 IV，=15V， VIL =OV, 一, 司在VIH =15V，输出, 测试A2 I TA =125-C，除VIK+，VIK-不测外，所有参数、条件同Al分组.A3 I TA =一55-C.除V陈+.VIK_.L.IIH .IIL 外，所有、 规范值最1，I .买2.5 E l一0.65I I -1. 65 I I - 4. 3 I 3.2 8 24 起|150 25 -150 -25

21、1. A1分组。寸A4 CI 3. 1 Vcc =OV. f = 1MHz.分V岛之间的电容入端对一20 A7 l功3.2.2条)A9 tPHL 3. 10 IVcc =5V. RL =200KO, CL =50pF 2 65 tr = tl =10ns(见圆的tpLH 3.9 l抽IA，y恤7 140 tTHL 3.16 IVec =5V. RL =200KO. CL =50pF 3 70 tr口51冒10ns(见图的tTLH 3. 15 |副抽出Ub13 160 A10 I TA =125C开参数、条件同A9分组.1. A11 I TA = -55C开关测试.参数、条件同A9分组.规范1.

22、 注:1)对25-C时的llH.11L制造厂可选择分别量。单位V mA mA nA nA 1. pF ns ns 一9一分组Al 符号V眼+V1K-Icc VOH Vo. V1H V, IL IOH IOL 一10一引用GB 3834 2.15 SJ 50597. 6 94 表32 JC 4050的A组电测试条件若无其它规定.Vss =OV. TA言25C)V接地.V圄，葡出司在V 司在V1K =lmA. .V回接地，输出V1K =-lmA. 入端开四, V=15V. V1L =OV. V1H =15V, 出端开阿范最小|最大1.5 一61 2.7 V=15V， 入V1H= 15V.输出端开I

23、14.95 2.8 2. 1 2.2 ，所有其它非V=15V， 所有其它非V=5V. V=10V， 入接地V=15V， 入接地V=5V， V=10V， 非入接地Vcc=15V. 司在入接地 入V1L=OV，输出 VOH =4. 5V, 出V佣=9V，出VOH=13.5V. 出VOL=0. 5V , 出VOL=IV, 出Vc地=1.5V , 2.11. I Vcc =5V. V1H =5V, 出VOH=4. 6V V=10V，被测输入端V1H=10V. 出VOH=9. 5V Vcc =15V. 入端V1H=15V. 出VOH=13. 5V 2.12 IVcc=5V.被测输V1L =OV, 出V(

24、兑=0.4V 0.05 3.5 7 11 1.5 3 4 -0.65 I一一1.65-4.3 3.2 单位V v A v v V v mA mA 分组符号A1 101. 引用标准GB 3834 SJ 50597. 6 94 续表件条(若无其官，V嚣=OV，TA =25C) 2, 12 IVcc=lOV，被测输入端VIL=OV, 出VOL=0. 5V V=15V， VIL =OV, 出VOL=1. 5V 规范最小|最大单位8 mA 24 1. 1) IH 2.9 V= 15V, VIH = 15V , 测一起一150 nA llL 1) =15V，被测输入端VIH=15V , 入端VIL=OV.

25、输出开路，分别测试每个2. 10 I V，=15V. VIL =OV. 连在V=15V.被测输入端VIL=OV. 入端VIH=15V，输出开路，分别测试A2 I TA =125C.除VI酌.VI不测外，所有参数、条件同A1分组.A3 I T A = - 55 c .除VIK+.VIK_ .lcc .IIH .IIL 外，、条件罔A1。A4 CI 3.1 V= OV f = 1MHz .分别V由之间的电容入端对，一A7 范3.2.2条A9 tpHL 3.10 I V cc =5V. RL =200kCl, CL =50pF tr = t, =lOns(见图的tPLH 3.9 I ;回AY恤tTH

26、L 3.16 I Vcc =5V. RL =200kCl. CL =5OpF tr = t, = 1Ons(见图的t乱H3.15 |副幽山恤A10 I TA冒125C开关测试.参数、条件同A9分组。规范值按表1.All I TA =一臼开关测试.参数、条件同A9分组.规范值按表1.注，1)对25C时的lIH!且3.6标志3.6.1 总剂志应按GJB597 剂量辐射加固标志加固3.6.2 标志的正别测, 3.6条的规定。GJB 597 3. 6. 2. 6条的规定。5 7 3 13 25 一150I nA 一25l 1 12 pF 65 ns 140 70 ns 160 一起测量.所有器件在标上

27、器件编号后，应经受表2规定的最终电测试，也可以经受特殊设计经认可的电测试，以验证器件编号标志的正鸭山。3.7 微电器组的划分本规范所涉及的器件应为第37微电路组见GJB597附录E)。-11一SJ 50597.6 94 4 4. 1 抽样和另的规定外，抽样和检验程序应按GJB597和GJB548方法5005的规定。4.2 筛选在鉴定一致前，全部器件应按GJB548方法5004和本规范表4的规。表4筛选若无其他规定，表中引用的方法系指GJB548 条件和要求项目B B1 方法条件方法条件内部目检2010 B . I 2010 B 稳定性烘烙I 1008 I试验条件c不要求终点电II (温度:15

28、0.C 试)I I时间.24h)温度循环1010 C 1008 I试验条件C度:150.C时间:24的1010 I试验条件C恒定加速度2001 I试验条件E，I 2001 I试验条件D，目(294 X 103m/52) Y1方向按方法1010的目(l96X 103m/52) Y1方向按方法1010的目梭判说明可用方法1011环替代.条件A(l5次可在密封筛选后进行。引线断落、外壳破裂、封盖脱落为效。中间老化前Al分组本规范Al分组|测试Al分组不合格品，并电中间(老化后试-12一范Al分组和表10记录要求()测试的I./OL/OH的。本规范Al分组和表10()极SJ 50597.6 94 续表

29、条件和要求项目B 器件B，级说明条件方法条件 允许的不合格5%。本规范Al10%。本规范用老化失效数包括超过Al分组品率(PDA)及分组。当不合格Al分组。当不规范和()极限的器件以其计算品率不超过合格品率不超交并老化的批中总的件10%时，可重新 过20%时，可重数为该批的不合格品率，不大于交老化，但只新提交老化，但允许次只允许次规定的PDA时，该批应接收。最终本规范A2、A3、本规范A2、A3、本项筛选后，若引线涂覆改变或返A7、A9分组A7.A9分组工，则应再进行Al分组(或A2.A7分组)试。密封1014 1014 (1)细(2)粗外部臼2009 3. 1条2002 3. 1条鉴定质量致

30、性检验的试 . 验样品抽取5005 3.5条5005 3.5条a. JC4049 Vcc R 1A Z EK1Y R 2A I h. 2Y 2 2 S, OA卜3YI A I I&o 0 V 4AE._ 4Y 1 r . I R 5A I l V R | 飞。开路. , 内AI .I:V _ R Vss 一13一SJ 50597.6 94 b. JC4050 Vcc lA lY R 2 b 3Y 民2 、Vcc: /2 5, 。fT 50 R 4A 4Y 1 r 飞、开路D R 。-5Y , 6A 2Y 6Y OV.即开关S，置10Vcc即开关S，置2。引出端应通过一个R=2kO-47kO的电

31、阻相连接，由于使用、土20%。注z静态老化1I 静态老化1I V和V，选用电阻的出, 关S。可以置1或2飞V=15V-18V.V嚣=OV.、V. 化，图2态老化a. JC4049 R 认一弘一UM-u-RG 5A 6A 14一Vcc UEu-FE 巴当VCCII , 1 自自 Vss SJ 50597.6 94 b. JC4050 Vcc R lA lY _主1 VXIZ 3A 3Y G Y-w a-4 R V和V国端外，每个寻II:Ii端电阻的入倍号要求，、4睡一个R=2kO-47kO的电阻相士20%。注g，由于使用、受热或者化，a. s占空比q=50%I b.频率.1=25kHz-1MHz

32、 I c. t，=t，1SI 为(V酶-0.5V)+10% xv$ 为(V+0.5V)-10% xv. v=15V-18V，V回=OV.图3动态老化和d. V. 试验8. V,c=5V G .Il. 出DUT RLCt.Vss b.波形图JC4049 JC4050 了4.5V -飞tw 入2.5V-tw V . V . O. 5V _ J 1 _ _ _.;. -1A i 。.5VJ.申. 一111-t,l t, t, t, 1.组L!PLH JC4049 岛uhHL JC4050 一15一SJ 50597.6 94 注z负载，RL=200kCl士10%;CL=SO士SpF(包括探头及夹具电容

33、)。脉冲发生器z脉冲幅度，Vm=VCC士1%，占空比，q=S.O%, 脉宽，tw=1.0士O.1s; 上升、下降:t，=tl=10土2.0ns;频率:f=20okHzo图4开关时间测试线路和波形图4.3 鉴定检验二鉴定检验应按GJB597的要求。所进行的检验应符合GJB548方法5005和本规范A、B、C、D和E组检验(见4.4.l4.45条)的规定。4.4质质量一致性检验应按GJB597和本规范的规定。所进行的检验应符合GJB548方法5005和本规范A、B、C、D和E组检验(见4.4.14. 4. 5条的规定。4.4. A组检验A组检验应按本规范表5的规定。筛选及B、C、D、E组检验所要求

34、的A组电测试，按本规范表2规定，各分组电测试按本规范表3的规定。各分组的测试可用同一个样本进行。当所要求的样本大小超过批的大小时，允许100%检。各分组的测试可按任意顺序进行。合格判定数(C)最大为2。表5A组检验LTPD 分组B级器件B1级器件A1分组2S.C 静态测试2 2 A2分组12S.C 静态测试3 3 A3分组一SS.C静态试5 5 A4分组2 2 2S.C 态测试(C1)A9分组2S.C 开关试2 2 A10分组12S.C 开试3 不要求All分组SSC 开关测试5 不要求注，1)仅对初始鉴定或工艺、设计改进时才进行该分组测试。(即在f=lMHz，测入端与V臼间的电一16一SJ

35、50597. 6 94 容.)4.4.2 B组B组检验应按本规范表6的规定。B1 B5分组可用同一检验批中电性能不合格的器件作为。B1 尺寸试B2分组B3分组可B4分组目检和B5分组(1)热压焊或(2) B8分组(a)电试表6B组定，表中引用的方法系指GJB548 . 条件和要求B 方法!条件2016 I 2015 2022 或I245士5C2003 I 2014 I B1 条件2016 2015 II 2022 或I245土5C2003 I 2014 I 条件I2011 I C或DC或Dz I A1分组iI A1分组|(b)静电电灵敏度GJB GJB 等级(c)电B9分组入高压(VZAP)试

36、验4.4.3 c C组检验1649 1649 A1 A1分本规4.5.3条4.5.3 范表7的规定。 样品数/(接收数或I,.TPD 2/(0) . 4/(0) 15 1/(0) 15/(0) 15 说明对样品进行了D1分组检验，则可不进行B1 LPTD系指试验的引线数而言，件数应不少于3个.其试验样|品在密封后的任何工序抽取.|可在密封装内部田后，机取样品进行本 i至少在初始产品重新设计时应进行.仅在初始鉴定或工艺设计改变时进行.一17一SJ 50597. 6 94 表7C组若无其他规定，表中引用的方法系指GJB548的试验方法。试验C1分组终点电试C2分组环1010 恒定,&001 条件和

37、要求B级器件一下一Bl条件|方法D 11005 1 : 125 C 时间:1000h . 条件D 度:125C 时间.1000hA1.A2.A3分1IA1.A2.A3 (见表2、分组(见表表3)和变表的和变()(见化量()(见|表10)C 1010 试验条件CI条件E2001 件D(294X10 096X103 . 1m/52) m/s2) Y1方向Y1方向密封11014 1 1014 (1)细(2)扭自检i按1方法1010按方法1010的目检判的自检判据终点电测试A1.A2.A3 A1.A2.A3 分组(见本规分组范表2、表3)范表2、表3)C3分组不要求A10分组(125C 觅本2、表3)

38、C4分组i不要求|All分组(一55C开关试|2、表3)4.4.4 D组检验D组检验应按本规范表8的规定。样品数/(接收数)或LTPD 5 15 3 5 说明采用图3或其等效D1，D2，D5，D6、D7和D8分组可用同中电合格的器件作为样本。一18一SJ 50597. 6 94 表8D组检若无其他规定，表中引用的方法系指GJB548试验的方法。试D1分组尺寸D2分组方法2016 引线牢固性I 2004 密封I 1014 (1 D3分组热冲击1011 B 条件和要求Bl 条件方法2016 件B21 2004 1014 试验条件B1011 15 1010 I试验条件C100 100 抗潮11004

39、 1 1004 或条件条件B，BI 15次C 10次 GB 45901 密封11014 1 1 1014 (1) (2) 检|按方法1按方法1004和1010的目和1010的目检判据终点电测试A1 ,A2 ,A3 A1 ,A2,A3 分组(见表2分组见表2表3)表3)D4分组机械冲击2002 试验条件B2002 试验条件JL2007 试验条件A2007 AI 恒定加速度2001 E 2001 D Y1方向Y1方向密封1004 1004 (1 . (2)粗目检2002 按方法2002或2007的目或2007的目检判据|检判样品数!或LPD 15 15 15 15 数说明B1级器件可按GB 459

40、0第3.6条严|格度:D(即56d)可在抗潮捆后，密封试前进行终点电试。用作D3分组的样品可用在D4分组。一19一终点电测试D5分组盐雾, 密封(1)细检(2)粗检目检D6分组内部水汽含量D7分组引线粘附强度D8分组封盖扭矩SJ 50597. 6 94 续表条件和要求1009 1004 条件Al ,A2 ,A3 分组(见表L表3)试验条件A|按方法1009的目检判据1018 1100C时最大水汽含量为:5000ppm, 方法B1级器件条件A1 ,A2 ,A3 分组(见表2、表3)不要求2025 I按方法2025第3条的失效判据2024 I仅适用于陶I2024 I仅适用于陶瓷熔封的外壳瓷熔封的外

41、壳4.4.5 E组检验样品数/(攥&数)或LTPD 15 3/(0)或5/(1)15 5/(0) 仅对辐射加固保证有要求的器件才进行E组检验。E组检验应按本规范表9的规定。一20一说明B1 器件对D5分组的要求，按订货合l规定。当试验3个器件出现1个失效时，可追加试2个器件，试验不失效则通过。一次及追加试验未通过时，可在鉴定机构认可的另一试验室进行第二次试验，若第二次试验通过，则该6批应被接收。LTPD系指用于试验的引线数而言。SJ 50597. 6 94 表9E组检验若无其他规定，表中引用的方法系指GJB548的试验方法。试验E2分组稳态总剂(1)鉴定检验(2)质量一致性。终点电测试4.5

42、检验方法条件和要求B级器件B1级器件方法。1制|方法|条件1019 ITA =25C Vcc =10V 本规范A7分组(见表3)及表141019 ITA =25C Vcc =10V 本规范A7分组见表3)及表14检验方法应按下列规定。4.5. 1 电压和电流样品数/(接收数)或LTPD 15/(0) 11/(0) 说明按GJB597第3.4. 1. 3 条的规定。三个晶片批，每批5个器件。按晶片批。按本规范第4.5. 5条的规定。若无其他规定，所有电压的参考点以器件的V臼端为基准，电流约定以流入器件引出端为正。 4.5.2 老化和寿命武验冷却程序老化和寿命试验冷却程序按GJB548方法1015

43、和1005的规定。(DUT)在完成试验并在去掉偏置电压之前，应冷却到25士3C，然后再进行数终点电测试。表10变化量极限(TA25C) 参数l)Vcc 变化量()极限Icc 15V 士200nAIOL 5V 士20%注:1)老化和寿命试验前后，应记录每个参数，以确定变化量()。4.5.3 输入保护电路的高压(VZAP)试被试器件(DUT)的所有输入端(最多4个)应经受由充电到400V的100pF电容所产生的电压脉冲。该破坏性试验采用图5试验线路，按下列规定进行。a. 如上试验后，在25C下测输入端的lIL和lIH:在最大V下，每个被试输入端的(1IL ，IIH)试验规范值为土100nA。在25

44、C下测量被试器件(DUT)的I:在最大V下，1的试验规范值，最大增加表3规定的hc规施值的20%。b. 高压试验的方式有三(见表11)。每种试验方式要求首先将SI置于位置1，使C，充电到VZAP然后SI置于位置2，将VZAP加到被试器件(DUT)。C. 在24h内按上述操作重复测量同一引出端的lIL，IIH和lcc。如果VZAP试验后(DUT)的漏电流超过规定的试验规范值，则该器件视为失效。一21一SJ 50597.6 94 2eh凶CRz 1 R DUT 高压式无触点继电器。VzAP=400VCC1充电电压).lMOR1 50MO .R2 = 1. 5kO ,C1 = 100pF .SI为H

45、g图5高压(VZAP)试验线路表11高压试验方式方式+端端1 V l入端2 入端V臼端3 输入端相关输出端4.5.4 电源电流(l)的测试进行电源电流测量时，电表的安置应使全部电流4.5.5 辐射加固保证(RHA)试RHA试验应按本规范表9和下述规定。a. 辐射前，抽取的样品在250C下，应经过A1分组电测试合格p并进行阔值电压(VTN，VTP)测试，以便计算辐射后阔值电压变化量(LlVTL样品应放置在合格的包装中。b. 阔倍电压测试电路按图6.a (B1级器件亦可采用图6.b的线路)I 测试条件按表12的规定。过该电表。射。辐射c. 对被试的RHA等级，器件应经受GJB597(第3.4. 1

46、. 3条)规定的总剂期间，器件应按表13的规定加偏置电压，且在整个试验过程中，始终保持偏置。d. 辐射后，器件应进行原位测试或移地测试(按本规范表14和A7分组)。作移地试时，器件应使用可动偏置夹具，并按规定保持其温度和偏置。移动偏置装置时，偏置的中断时间不得超过1分钟。辐射后器件在25C下的终点电测试，按表14的规定，电参数应符合其规范要求。7分组的功能测试按本规范表3规定。终点电测试应在辐射后紧接的2小时内完成。恒定电流法N沟测试P沟测试a. -10V 10.A 地线按规定的引按规定的引线eopaaa句，.，且AEnn帽WIll-11 且饨，。aaFaeo，。10V -1仇lA地线L的引线

47、哼校规定的，引线电流增量法1)一22一4 1 16 2 15 3 H 4 DUT 13 5 - 12 6 11 7 10 8 9 -ED SJ 50597. 6 94 N沟测试P沟测试V Vcc R R + 十-、V国Vss 注:1)电流增量法测量开启电压VT:系指辐射后允许在实测静态电流I上，增加一个AIcc=10A.分别测VTN，VTP并按表14规定，其阀值检测条件与恒定电流法相同。(见表12)图6闽值电压测试线路表12阔值电压测试条件 连接方式引出VTN 测试VTP 测试端号型号地10V , 一10llA地10V 10A 与JC 4049 3 1 5.7.8.9.11 .1 4 3 5.

48、7.8.9.11.14 1 JC 4050 3 1 5.7.8.9.11.14 3 5.7.8.9.11.14 1, , 表13辐照期间的偏置连接方式引出连接1l引出端号10V(通过3060k.o电阻)V田接地Vcc=lOV 型号主单JC4049 3.5.7.9.11.14 8 1 JC4050 3.5.7.9.11.14 8 1 注:1)未标出的引出端为开路，或通过3060k.o的电阻器接10V。表14辐射加固终点电参数(TA25C) 参数Vcc 范围+ VTN 10V 最小0.3V4.6 数据报告当订货合同有规定时，应提供下列数据的副本a. f!厅伺附加试验的特征数据(见本规程4.2条)和所有老化及稳态寿命试验的变化数据(见本规范3.5条hb. 质量一致性检验教据(见本规范4.4条); c