SJ 52438 11-2002 混合集成电路.HDA030型线性12位数字 模拟转换器详细规范.pdf

1、FL 5962 民共和国电2曰AI比同HDA030型线性12细行、范Hybrid integrated circuits 用标准SJ 52438/11一2002器Detail specification for type HDA030 linear 12 bit digital to analog converter 2002-10-30发布2003-03-01实施中华人民共和国信息产业部批准中华人民共和国电子行业军用标准混合集成电路HDA030型线性12位数字模拟转换器详细规范SJ 52438/11-2002 Hybrid integrated circuits Detail specifi

2、cation for type HDA030 linear 12 bit digital to analog co盯erter类型M 中华人民共和国信息产业部2002-10-30发布外形代号M24065Q （浅腔M24065P C平底）2003-03-01实施1 SJ 52438月1-20021. 3. 5 引线涂覆1 . 4 1 . 5 2 3 3. 1 3.2 引线材料和假覆应符合GJB2438中3.5.8的规定，引线镀覆字母为Co绝对最大额定值正电源电压（几cl:18 V 负电源电压（几E):-18V 逻辑电源电压：1.6v 数字输入电压：高电平。v低电平6V输出电流范围：OmA 16m

3、A 模拟输出电压：5V结温（写）：150。c贮存温度范围CT,.):-65。C150。c引线焊接温度（！Os)C几：300。c功耗（P0):1.50 mW 热阻Rth(JC): 2。C/WRili(J A) 20。C/W推荐工作条件正电源电压（Vee):14.7 V 15.3 v 负电源电压（VEE):-14.7 V-15.3 v 逻辑电源电压（Von):-1.3 V 环挠工作温度：55。C125。C引用文件GB厅15138-94GJB 548A-96 GJB 2438-95 GJB 2835-97 SJ!f 10818-96 要求详细要求膜集成电路和混合集成电路外形尺寸微电子器件试验方法和程

4、序混合集成电路总规范微电路包装规范半导体集成电路数字模拟转换器和模拟数字转换器测试方法的基本原理各项要求应按GJB2438和本规范的规定。设计、结构和外形尺寸设计、结构和外形尺寸应按GJB2438和本规范的规定。3. 2. 1 封装形式和外形尺寸3.2.1.1 封装形式封装形式按本规范J.3.4o3.2.1.2 外形尺寸外形尺寸核GBtr15138的规定。3.2.2 引出端排列2 SJ 52438/11-2002 引出端排列应符合本规范图1的规定3.2.3 功能框图功能框图应符合本规范图2的规定。24 13 。12 引出端序号符号Vee 2 3 4 5 6 7 8 9 10 I I 12 3.

5、3 咱, 1 胃、，:1t, 电c幽l ,., 荣华附脚拗叫切事A组特性符号（除另有规定外，Tcc=ISV, VEE 分组一15V,-55 C运TA125Cl v、分辨率RES 4. 5. 6 12位4 线性误差Ee 主进位点测试5 6 4 微分线性误差Eo 5 6 4 增益误差Ea T0=+FS 5 -0.5 v手口0.5v 6 功能数字输入I(MSBl 极限值单位最小值最大值12 位-0.0125 0.0125 + -0.0425 0.0425 %FSR -0.0525 0.0525 -0.025 0.025 -0.085 0.085 o/oFSR -0 0105 0.0105 -0 I

6、。10.35 0.35 %FSR -0.30 0.30 3 4 L一SJ 52438/11-2002 续表1条件1A组极限值单位特性符号除另有规定外，Ve俨15v. v，皿分组愚小值最大值-15 V, -55 C,TA运125c 4 单极失调误差Euo V0=0 V -0.5 ov 5 -17 17 抖A6 -13.8 13. 8 4 -4 4 双极失调误差EBo 几OV-0.5 0.5 v 5 -20 20 A 6 -16.8 16.8 基准误差VREF V阻F=lOV , 2. 3 -0.01 0.01 v 基准电流REF 为外部使用2l) I, 2, 3 4.4 mA 建立时间，F、S输

7、出（稳定到土1/2LSB)50 Is 9. 10. 11 ns lLSB 20 双极输出2比。输入0000 0000 0000 正电压（满量程）7. 8 5 v 双极输出，吨。输入111111111111 7. 8 -5 v 负电压满量程单极输出，。0.5v (FSR) + Vcu 7，吕。v 正电压满量程输入111111111111 单极输出，。0.5v (FSR- Vcu 7. 8 -0.5 v 输入0000 0000 0000 负电压（满量程）输出电流（双极）lo Vo. -0.5 0.5 v 7. 8 -8.16 8.16 mA 电源抑制比PSRR Vs=15 V, -15 V, -1

8、.3 V 4, 5. 6 0.001 %FSR/ %Vs 斗电源电流Ice 1. 2. 3 35 mA IEE 1. 2. 3 60 输入高电平电压，V1H l1H=lOO A 1. 2. 3 -0.96 -0.81 v 输入低电平电压，V飞Ll1L =1 mA 1 2. 3 -1.85 1.65 v 输入高电平电流，l1H VtH=-081 V 1, 2. 3 100 A 输入低电平电流，f1L F斗iHL=- 0.81 V 1 2. 3 A l Vcc=15V, VEp=l5V, Vonl.3V，逻辑电平“。”0.89v，逻辑电平“1”1.75V, FSR=l V (-0.5 V 0.5

9、V），器件测试不带负载，采用内部参考2) 3) 首次检验批测试，或设计及工艺改变时测试如果基准拉出大于15mA的电流供外部使用时，参考温度系数就会增加，将导致增益和双极失调特性的改变如果参考供外部电路使用，负载电流必须小于SmA. ) SJ 52438/11-2002 2 7 反馈2反馈I10 312.s n 内部基准8 基准输出基准输入13 和9 电流输出位转换6 信号补偿3.4 3.5 3.6 3. 7 3.8 5 ) 基准输出基准输入DJ队SB)_c-i Dl2(LSB) 2 8 13 24 1 内部基准和位转换SJ 52438/11-2002 - 312.5 (l 机 1250 !.1

10、 l,J 电阻网络7 10 9 6 J 反馈2（悬空反馈l电流输出（测试端信号补偿（悬空niucuhu 32 民YY12 3. 4. 5 GND 1 1 V四15VVEE=-15V Voo=-l.3V 图3老炼和稳态寿命试验电路4 质量保证规定4. 1 抽样和检验抽样和检验应符合GJB2438和本规范的规定。4.2 筛选筛选应符合GJB2438表IO和以下规定。4. 2. 1 老炼试验老炼、试验应按GJB548A方法IOl5A进行。a. 试验条件A或Bob. TA= 125。C，时间160h：或按GJB548A方法1015A表1015A寸的等效条件选择。C, 老炼试验电路见图3（或采用等效电路

11、4.2.2 老炼前、老炼后电测试老炼前、老炼后电视1试按表2规定。4.2.3 允许不合格晶率（PDA)最终电测试后，应根据Al分组计算PDA,PDA为10%或1个器件，取其较大者。4.3 质量一致性检验质量一致性检验应符合GJB2438中4.7条的规定。4. 3. 1 A组检验A组检验应按GJB2438中4.7条及以下规定。a. 电测试按本规范表2的规定。各分组电参数按表l的规定。4.3.2 B组检验B组检验应按GJB2438中4.7条的规定。4.3.3 0组检验稳态寿命试验应按GJB2438中表Ile及4.7条和以下规定进行。6 SJ 52438/11-2002 a. b. iEKJllIIr- 4.3.5 5 6 illilillll-Illi-1 一l“lmr号h|li-Ill- 7