GB T 12273.501-2012 石英晶体元件.电子元器件质量评定体系规范.第5.1部分：空白详细规范.鉴定批准.pdf

1、52 ICS 31. 140 L 21 标准家国国不H主主民华人中GB/T 12273.501-2012 代替GBjT15020-1994 石英晶体元件电子元器件质量评定体系规范部分:空白详细规范第5.鉴定批准Quartz crystal units一A specification in the quality assessment system for electronic components Part 5. 1 : Blank detail specification-Qualification approval (IEC 61178-3一1:1993 , Quartz crystal

2、units A specification in the IEC Quality Assessment System for Electronic Components (IECQ)一Part 3: Sectional specification-Qualification approval一一Section 1: Blank detail specification，孔10D)2013-02-15实施2012-11-05发布发布中华人民共和国国家质量监督检验检痊总局中国国家标准化管理委员会h古钱HMS钱、JJEmJ阳4防飞dvd?目四川崎-e户一hv.、gJE叫GB/T 12273.501-

3、2012 目。吕本部分按照GB/T1. 1一2009给出的规则起草。GB/T 12273(石英晶体元件电子元器件质量评定体系规范分为如下几个部分:一一第1部分:总规范;一一第2部分:使用指南;一一第3部分:标准外形和引出端连接;一一第4部分:分规范能力批准;一一第4.1部分:空白详细规范能力批准;一一第5部分:分规范鉴定批准;一一第5.1部分z空白详细规范鉴定批准。本部分为GB/T12273的第5.1部分。本部分代替GB/T15020-1994(电子设备用石英晶体元件空白详细规范电阻焊石英晶体元件评定水平日，与GB/T15020-1994相比，除编辑性修改外主要变化如下:一一由于本标准的体系增

4、加了分规范，空白详细规范根据分规范修改相应的引用内容;一一删去了应该直接写在分规范中的规定内容;标准编号按标准不同部分进行了调整。本部分使用重新起草法修改采用IEC61178-3-1 :1993(石英晶体元件IEC电子元器件质量评定体系第3部分:分规范鉴定批准第一篇:空白详细规范。本部分与IEC61178-3-1:1993相比在结构上有调整，原因是:IEC 61178-1被IEC60122-1: 2002代替，目前IEC61178的其他部分还继续有效。根据IEC60122的预计结构，本部分应为IEC60122的第5.1部分，待修订时即进行编号调整。本部分采用了IEC60122的预计结构。这样的

5、结构清晰并方便使用，并且与IEC有关频率控制和选择用元器件规范结构的调整趋势一致。本部分作了下列编辑性修改:一一外形和尺寸图由第三视角改为第一视角;一一规范性引用文件中的IEC文件为目前的现行版本。一一用GB/T2828. 1-2003代替IEC410 :1 973 计数检查抽样方案和程序，前者与后者在使用中无技术性差异。本部分由中华人民共和国工业和信息化部提出。本部分由全国频率控制与选择用压电器件标准化技术委员会(SAC/TC182)归口。本部分起草单位:中国电子元件行业协会压电晶体分会、中国电子技术标准化研究所。本部分主要起草人:章怡、姜连生、李晓英。本部分所代替标准的历次版本发布情况为:

6、一一-GB/T15020-1994。I G/T 12273.501-2012 序空白详细规范空白详细规范是分规范的补充文件，它规定了详细规范的格式和最小内容要求。在制定详细规范时，应将GB/T12273-1996第2章要求考虑进去。对于生产批量小的晶体元件，可以不采用本规范，推荐采用能力批准。详细规范的识别对于本页方括号的数字，应在相应位置填上下列相应项目内容:lJ 按其权限发布详细规范的国家标准机构名称。适用时，可从该机构得到详细规范。2J IECQ编号和由IEC分配给的详细规范编号。3J 总规范和相关分规范编号及其版本号:若有差异，也可加上国家标记。4J 与IECQ编号不同的详细规范的国家

7、编号、出版日期，以及国家体制要求的任何进一步内容和任何修订的编号。石英晶体元件的识别5J 石英晶体元件或石英晶体元件范围的简述(如标称频率、泛音次数、切型、振动模式)。6J 按IEC60122-3及其修改件的典型结构的内容(适用时)(如电阻焊、冷压焊)。对于5J和6J，详细规范给出的内容应按IECQC001005和IECQC001004填入足够的内容。7J 标有主要互换性尺寸的外形图，它应符合IEC60122-3及其修订件和(或)符合相应的国家或国际标准文件中关于外形的要求。此外，该图也可在详细规范的附录中给出。可从获得规范lJ 版本号2J 发布日期第页，共页按GB/T12273-1996 3

8、J 4J 鉴定批准评定质量的元器件外形和尺寸7J 石英晶体元件5J (第一视角晶体盒6J 单位:mmE GB/T 12273.501-2012 石英晶体元件电子元器件质量评定体系规范第5.1部分:空白详细规范鉴定批准1 额定值到得nu nu nu nU C Q C E 从可f且4qh资2.的的厂6造9止mt件3一兀幻的归。格T.，.，.，度合W围平量酷准G范电测严批见度件励平别验范值温条激电类试规定作路大励候械细额工电最激气机详做二一二二肿2 特性值特性值见GB/T12273-1996的2.20标称频率/范围;基准温度;一一频差;一一最大谐振电阻。另外，也可以规定下述的其他特性:一一最大并电容

9、;动态参数或频率牵引范围;一一无用响应;老化;一二激励电平相关性。注:若有必要，上述特性可以表格形式给出。3 规范性引用文件下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。GB/T 2828. 1 计数抽样检验程序第1部分:按接收质量限(AQL)检索的逐批检验抽样计划GB/T 12273一1996石英晶体元件电子元器件质量评定体系规范第1部分:总规范(lEC 61178-1:1993 ,IDT) GB/T 16517-1996石英晶体元件电子元器件质量评定体系规范第3部分:分规范鉴定批G

10、B/T 12273.501-2012 准(lEC61178-3:1993 ,lDT) IEC 60122-3: 2010 频率控制和选择用石英晶体元件第3部分z标准外形和插脚连接(Quartzcrystal units of assessed quality-Part 3: Standard outlines and lead connections) QC 001004: 2003 IEC电子元器件质量评定体系。ECQ).规范表(IECQuality Assessment System for Electronic Components CIECQ)-Specifications list)

11、 QC 001005: 2003 IEC电子元器件质量评定体系。ECQ).经IECQ-CECC体系(包括ISO9000) 认可的企业，产品和服务的登记表(IECQuality Assessment System for Electronic Components (IECQ) -Regist巳rof firms , products and services approved under the IECQ-CECC system, including ISO 9000) 应在详细规范中给出5 订货资料6 7 详细规范可以包括附加资料，通常它们不要求用检验程序予以证实。如电路图、曲线图以及为进一

12、步说明详细规范用的图和注释。8 检验要求2 试验条款号和性能要求条款号引自GB/T12273-1996 0 表1给出的检查水平(lL)和合格质量水平(AQL)从GB/T2828. 1中选取。在表1与表2中zp 一一周期(月kn 一一样本量;GB/T 12273.501-2012 c 一一合格判定数(允许不合格品数); D 一一破坏性的;ND一一非破坏性的pIL 一一检查水平;AQL一一接收质量限。表1总规范章条号和试验项目D或ND试验条件IL AQL 性能要求100%检验ND 4. 5. 1 目检A4.5.1 4.5. /子/- 4.7.1 频率和谐振电阻4.7.1 仨二频差和最大谐振电阻ff

13、f:;:么?王卢-飞，-:|、ND E 飞4.7.9 MV严ND E 、0.254.7.2激4.7.2 4.7.3试颜击的变化4.7.3 f试验A，、-4.7.3 频辱和谐振电阻随温度的变化/ 4川，4.7.3试验日(真空玻璃壳除外)/试验B / / 试验B / 飞A3分组YD 474/ E 0.25 4.7.4元 4.1.5 / 4.7.8动4.1.8 动J 或及/乒B组检验二-:. 气三v r 按逐批抽样方案进行比B1分组飞二1fD 0.25 4.6.2 尺寸检验B4.6.2 4.6.2 4.8.2项目2)密封细检漏试验(真空玻壳除外4.8.2项目2)2.3.11 4.8.2项目1)密封粗

14、检漏试验(真空玻壳除外)4.8.2项目。4.8.2项目1)4.8.2项目3)密封真空晶体元件的真空度试验4.8.2项目3)4.8.2项目3)(仅用于真空玻壳)4.7.1 频率与谐振电阻4.7.1 按详细规范规定3 GB/T 12273.501-2012 表1(续)总规范章条号和试验项目D或ND试验条件IL AQL 性能要求B2分组ND E 0.25 4.8.5 规定转换时间的快速温度变化4.8.5 (真空玻壳除外)4.8.4 快速温度变化，两箱法4.8.4 (仅用于真空玻壳)最终检验4.5.2 目检B4.5.2 4.8.2项目2)密封细检漏试验4.8.2项目2)2.3.11 (真空玻壳除外4.

15、8.2项目1)密封粗检漏试验4.8.2项目1)4.8.2项目1)(真空玻壳除外4.8.2项目3)密封真空品体元件的真空度试验4.8.2项目3)4.8.2项目3)仅用于真空玻壳)表2样本大小和总规范章条号和试验项目D或ND试验条件合格判定数性能要求p C C组检验抽样检验C1分组D 3 8 。4.8.16 在清洗液中浸渍4.8.16 标志清晰4.8.1项目。引出端拉力试验和推力试验4.8.1项目1)4.8.1项目1)4.8.1项目2)线状引出端的可弯曲性4.8.1项目2)4.8.1项目2)4.8.1项目3)引出端的弯曲试验4.8.1项目3)4.8.1项目3)(只对切槽插针式的最终检验4.5.2

16、目检B4.5.2 4.5.2 4.8.2项目2)2.4.11 密封细检漏试验4.8.2项目2)2.3.11 (真空玻壳除外)4.8.2项目1)密封粗检漏试验4.8.2项目1)4.8.2项目1)(真空玻壳除外4 GB/T 12273.501-2012 表2(续)样本大小和总规范章条号和试验项目D或ND试验条件合格判定数性能要求 n C 4.7.3 频率和谐振电阻随温度的变化4.7.3 4.7.3 (真空玻壳除外试验B试验B试验B4.8.2项目3)密封真空晶体元件的真空度试验4.8.2项目3)4.8.2项目3). (仅用于真空玻壳)C2分组D 3 8 。4.8.3项目1)可焊性4.8.3项目1)4

17、.8.3项目1)4.8.3项目2)耐焊接热4.8.3项目2)4.8.3项目2)4.5.2 目检B4.5.2 4.5.2 4.7.1 频率和谐振电阻4.7.1 频差和(或)频率变化与最大谐振电阻C3分组D 3 8 。4.9.1 老化4.9.1 频率和谐振电阻的最大允许变化量C4分组D 3 15 1 4.8.14 气候顺序最终检验4.8.14 4.7.9 绝缘电阻4.7.9 4.7.9 4.7.3 频率和谐振电阻随温度的变化4.7.3 4.7.3 (真空玻壳除外)试验B试验B试验B4.8.2项目3)真空晶体元件的真空度试验4.8.2项目3)4.8.2项目3)(仅用于真空玻壳)4.7.1 频率和谐振

18、电阻4.7.1 频率和谐振电阻的最大允许变化量4.5.2 目检B4.5.2 4.5.2 4.5.3 目检C4.5.3 4.5.3 C5分组D 12 8 。4.7.1 频率和谐振电阻4.7.1 测量记录4.8.6 碰撞4.8.6 4.8.7 振动4.8.7 4.8.8 冲击4.8.8 最终检验4.7.1 频率和谐振电阻4.7.1 频率和谐振电阻的最大允许变化量4.5.2 目检B4.5.2 5 GB/T 12273.501-2012 表2(续)样本大小和总规范章条号和试验项目D或ND试验条件合格判定数性能要求 n C C6分组D 12 8 。4.8.15 稳态湿热4.8.15 最终检验4.7.9

19、绝缘电阻4.7.9 4.7.9 4.7.3 频率和谐振电阻随温度的变化4.7.3 4.7.3 (真空玻壳除外试验B试验B试验B4.8.2项目3)真空晶体元件的真空度试验4.8.2项目3)4.8.2项目3)仅用于真空玻壳)4.5.3 目检C4.5.3 4.5.3 6 2、. NON-3.的hNNFH益。华人民共和国家标准石英晶体元件电子元器件质量评定体系规范第5.1部分:空白详细规范鉴定批准国中GB/T 12273.501-2012 中国标准出版社出版发行北京市朝阳区和平里西街甲2号(100013)北京市西城区三里河北街16号(100045) 网址总编室:(010)64275323发行中心:(010)51780235读者服务部:(010)68523946中国标准出版社秦皇岛印刷厂印刷各地新华书店经销祷印张O.75 字数15千字2013年2月第一次印刷开本880X12301/16 2013年2月第一版峰书号:155066. 1-46128 16.00元如有印装差错由本社发行中心调换版权专有侵权必究举报电话:(010)68510107定价GB/T 12273.501-2012 打印日期:2013年3月19日F002A