QB T 1912-1993 眼镜架金属镀层厚度测试方法.X荧光光谱法.pdf

1、中华人民共和国行业标准QB/T 1912一93眼镜架金属镀层厚度测试方法X荧光光谱法1994-01-06发布1994-08-01实施中国轻工总会发布中华人民共和国行业标准眼镜架金属镀层厚度测试方法X荧光光谱法1 主题内事与适用范围QB/T 1912-93 本标准规定了眼镜架金属镀层厚度的非接触式、无损测试方法（X荧光光谱测试法的测试原理、仪器设备、标准样品、试样、测试程序、测试不确定度及试验报告本标准适用于定量测试眼镜架金属镀层的厚度。2 术语2.1 X射线荧光X ray fluorescent 高强度入射的X射线照射在物体上，使被照射物体产生特定能量的二次辐射。其能量特征与被射物的元素组成有

2、关。2.2 辐射强度intensity of radiation 指测试仪显示的辐射计数率，即单位时间探测器接收的辐射的辐射融数（cps）。2.3 饱和厚度satuzation thickness 在一定条件下，被测材料的荧光幅射强度不再随材料厚度的增娜丽变化的最小厚度2.4 能量色散Energy dispersion 用能量分析器将镀层或基体产生的二次辐射能量分离。波长与其等效能量关系为zA. E= L. 2396 - - -. ( 1) 式中t一一被伏，nm;E一一能量，kev。3 测试原理以一束强而狭窄的X射线射到镀层与基体上即产生不同能量的X射线荧光这些荧光具有构成镀层和基体所含的元素

3、特性。当镀层厚度不大于饱和厚度时，其厚度与所产生的X荧光强度有一定关系，即镀层发出的X荧光强度随镀层厚度的增加而增加z由基体发出的X荧光强度踵镶层厚度的增加商减中国轻工总会1994-01-06批准”4-08-01实施-1一QB191293 根据己知镀层厚度的标准样品建立的工作曲线，可测出与标准样品相同成份的试样镀层厚度。镀层的X荧光强度与其厚度之间的关系可用下式表示：式中X一一镀层厚度m; 一一线吸收系数；L一一背景强度，咱s;I归一一饱和强嫂，叩串。4仪器设备I= CI一）(1-e）十I . (2) 使用的仪器设备由能量色散装置及微处理机组成如图所示：a试样合Tb试样4c一准直器；d X射线

4、开关Ee-x：钱管Ef滤梳着t)g蓝比甜数器h一放大器pi-X射线摞ij一多通道g分析器1k 控制系统zi一微电脑zm一显示与打印pn监察器一2QB/T 1912-93 5 标准样品5.1 标准样品的镀层应均匀一致，清洁平整，且与标称值的误差不大哥M。5.2 标准样品的这L柬弗辐射持他应每待撒试样的特性相何学6 试样6. 1 镀层表面应洁净无腐蚀。6.2 基体厚度应不小于饱和厚度。7 湖试程序1.1 按标准样品建立工作曲线。1.2 试样测试1. 2.1 测试点数及位置测5点：鼻梁正面当中一点，左右正面镜圈下缘各一点，左右正面镜腿各一点。1.2. 2 保持试样的被测面与试祥台相对平行。1.2.3

5、 测试距离必须调整到聚焦最清晰为止。7. 2.4 准直器孔径必须与试样形状和尺寸相匹配。7. 2. 5 测试时间z每点不小于20so7.3 将测试结果填入测试报告。8 测试的不确定度测试的不确定度应小于10%。9 测试摇告测试报告应包括下列内容ga.日期；b.采用或参照的标准编号；c.使用仪器的名称及型号Fd.试样编号：e.测试条件z测试每点时间、准直器孔径、X射线强度、环境植度和温度；1测试结果：镀层金属名称、测试位置、测试值；g.测试单位及测试人签名。-3一QB/T 191.2一9附加说明z本标准由中国轻工总会质量标准部提出。本标准由中国眼镜标准化中心归口本标准由中国轻工总会玻璃搪瓷研究所和野屁眼镜有限公司负责起草。本标准主要起草人z钟荣世、张尼尼、张仁康、霍白。一4一的aN同矶时间筒。中华人民共和国行业标准眼镜架金属键层厚度测试方法X荧光光谱法QB/T1912-93 * 轻工业标准化编辑出版委员会地址g北京朝外光华路口号电话I65060022-2309 邮政编码：100020 ” 内部资料不准翻印印数：500册定价：3. 00元