GB T 12859.1-2012 电子元器件质量评定体系规范 压电陶瓷谐振器 第1部分：总规范-鉴定批准.pdf

1、道雪ICS 31. 140 L 21 国家标准国不日共中华人民GB/T 12859. 1-2012 代替GBjT12859-1991 电子元器件质量评定体系规范压电陶瓷谐振器第1部分:总规范鉴定批准Piezoelectric ceramic resonators-A specification in the IEC quality assessment system for electronic components (lECQ) -Part 1 : Generic specification一Qualification approval 2013-02-15实施(IEC 61253-1: 1

2、993 , MOD) 201211-05发布发布中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局中国国家标准化管理委员会、马J;叫时阳fu啦GB/T 12859.1-2012 目次前言.皿1 总则.1. 1 范围1. 2 规范性引用文件-2 技术特性2.1 单位、符号和术语.2 2.2 优先额定值和特性2.3 标志.43 质量评定程序.4 3.1 鉴定批准/质量评定体系.4 3.2 初始制造阶段.4 3.3 结构相似元件.4 3.4 鉴定批准程序.5 3.5 质量一致性检验.5 3. 6 替代的试验方法.54 试验和测量程序. 6 4. 1 概述. . 6 4.2 标准大气条件. . . 6 4.3 外

3、观检验和尺寸检查.4.4 绝缘电阻4.5 耐电压.8 4.6 工作频率-4. 7 谐振电阻-4.8 自由电容.9 4.9 引出端强度-4. 10 耐焊接热.10 4.11 可焊性.4. 12 温度快速变化.11 4.13 振动114.14 碰撞.114.15 冲击.4.16 密封.4.17 气候序列.4. 18 稳态湿热124.四耐久性试验.13 GB/T 12859.1-2012 4.20 随温度变化的工作频率4.21 贮存.14附录A(资料性附录本部分与IEC61253-1:1993技术性差异及其原因E GB/T 12859.1一2012前GB/T 12859(电子元器件质量评定体系规范压

4、电陶资谐振器分为如下几个部分z-一第1部分z总规范一一鉴定批准z一一第2部分z分规范鉴定批准;二一第2-1部分z空白详细规范评定水平E。本部分为GB/T12859的第1部分。本部分按照GB/T1. 1-2009给出的规则起草。本部分代替GB/T12859-1991 (电子设备用压电陶瓷谐振器总规范(可供认证用门，与GB/T 128591991相比，主要变化如下:根据电子元器件质量认证的通用规定，全面规定了质量评定程序的细则;一一机械和环境试验方法引用对应的国家标准。本部分使用重新起草法修改采用IEC61253-1 :1 993(lEC电子元器件质量评定体系压电陶瓷谐振器第1部分z总规范鉴定批准

5、儿本部分与IEC61253-1 :1993相比存在技术性差异，这些差异渺及的条款已通过其外侧页边空白位置的垂直单线(1)进行了标示。附录A中给出了相应技术性差异及其原因的一览表。本部分还作了下列编辑性修改z二采用的IEC标准编号是现行的目录编号，原标准的编号1253按IEC的规定在前面加6;一一用GB/T2828. 1-2003代替IEC410: 1973(计数检查抽样方案和程序)，前者与后者在使用中元技术性差异;一一用环境试验国家标准GB/T2423代替对应的IEC60068，它们在本部分的引用中无技术性差异54.11. 2. 1浸渍深度:20_.5 mm改为2.0_.5mm。本部分由中华人

6、民共和国工业和信息化部提出。本部分由全国频率控制和选择用压电器件标准化技术委员会(SAC/TC182)归口。本部分起草单位z中国电子元件行业协会压电晶体分会，浙江嘉康电子股份有限公司。本部分主要起草人z章怡、姜连生、张火荣、戴黎明、徐圣洲。本部分所代替标准的历次版本发布情况为z一-GB/T12859-1991。m皿GB/T 12859.1-2012 1 总则1. 1 范围电子元器件质量评定体系规范压电陶瓷谐振器第1部分:总规范一一鉴定批准GB/T 12859的本部分规定了电子设备中振荡电路用压电陶瓷谐振器的术语和试验方法。本部分给出了电子元器件质量评定体系及其鉴定批准的分规范和空白详细规范中使

7、用的标准术语、检查程序和试验方法。1. 2 规范性引用文件下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。GB/T 2421. 1- -2008 电工电子产品环境试验概述和指南(IEC60068-1 :1 988 ,IDT) GB/T 2423. 1-2008 电工电子产品环境试验第2部分z试验方法试验A.低温(lEC60068-2-1 : 2007 ,IDT) GB/T 2423. 2-2008 电工电子产品环境试验第2部分z试验方法试验B:高温(lEC60068-2-2: 2007

8、,IDT) GB/T 2423.3二2006电工电子产品环境试验第2部分z试验方法试验Cab:恒定湿热试验。EC60068-2-78:2001 ,IDT) GB/T 2423. 4- 2008 电工电子产品环境试验第2部分z试验方法试验Db:交变湿热(12h+ 12 h循环)(IEC 60068-2-30: 2005 , IDT) GB/T 2423.5-1995 电工电子产品环境试验第2部分z试验方法试验Ea和导则z冲击(idtIEC 60068-2-27: 1987) GB/T 2423. 6-1995 电工电子产品环境试验第2部分z试验方法试验Eb和导则z碰撞(idtIEC 60068-

9、2-29: 1987) GB/T 2423. 10-2008 电工电子产品环境试验第2部分z试验方法试验Fc:振动(正弦)(IEC60068-2-6: 1995 , IDT) GB/T 2423. 21-2008 电工电子产品环境试验第2部分z试验方法试验M:低气压(IEC60068-2-13: 1983 , IDT) GB/T 2423. 22-2002 电工电子产品环境试验第2部分z试验方法试验N:温度变化。EC60068-2-14 :1 984 ,IDT) GB/T 2423. 23-1995 电工电子产品环境试验试验Q:密封GB/T 2423.28-2005 电工电子产品环境试验第2部

10、分z试验方法试验T:锡焊(lEC60068-2-20 :1 979 ,IDT) GB/T 2423. 60-2008 电工电子产品环境试验第2部分z试验方法试验U:引出端及整体安装件强度(lEC60068-2-21: 2006 , IDT) 1 GB/T 12859.1-2012 GB/T 2828. 1-2003 计数抽样检验程序第1部分:按接收质量限CAQL)检索的逐批检验抽样计划CISO2859-1:1999 ,IDT) GB 3100-1993 国际单位制及其应用CeqvISO 1000 :1992) GB/T 4728.13一2008电气简图用图形符号第13部分z模拟元件CIEC60

11、617DB:1 993 , IDT) IEC 60027-1: 1992 电气术语用文字符号第1部分z总则CLettersymbols to be used in electrical technology-Part 1: General C Corrected and reprinted) IEC 60050-561: 1991 国际电工技术词汇(lEV)第561部分z频率控制和选择用压电器件CInternational electrotechnical vocabulary一Chapter561: Piezoelectric devices for frequency control an

12、d selection) IEC QC 001002-2: 1998 IEC电子元器件庚量评定体系(lECQ)程序规则第2部分z文件。ECquality assessment system for elei:tronic components CIECQ)- Rwes of procedure-Part 2 :Doc umentation) IEC QC 001002-3:1998 IEC电子元器件质量评定体系。ECQ)崔序规则第3部分z批准程序。ECquality assessment system for electronic components CIECQ)-Rules of proc

13、edure-Part 3: Approval procedures) 2 技术特性2. 1 单位、符号和术语2. 1. 1 摄述单位、图形符号、文字符号和术语应尽可能从下列标准中选取z一一-IEC60027-1:1992; IEC 60050-561: 1991; GB 3100-1993; GB/T 4728.13 -2008 , 当有更多的要求时，应棍据上述标准的原则导出。下列术语和定义适用于本部分。2. 1.2 型号type 具有相似的设计特征及相似的制造技术而组成的、可用于同一鉴定批准也可用于同一质量一致性检验的一组元件。一个型号通常由单一详细规范所覆盖。2. 1.3 规格style

14、一个型号中具有特定的性能及尺寸的一组元件。一个规格可能通常包括一个机械等级的几个变量。2. 1.4 等级grade 附加的有关特定用途的一般特性，例如长寿命应用。2. 1.5 族(电子元件的)family Cof electronic components) 显著表明某一特定物理属性和/或满足某一特定功能的一组电子元件。2 GB/T 12859.1-2012 2. 1. 6 亚族(电子元件的)subfamily (of electronic components) 用相似的技术方法制造的一个族内的某一组电子元件。2. 1.7 类别温度范围cat唔。可能mperat町erange 谐振器设计在连

15、续工作的环境温度范围，由适用温度类别的上限和下限规定。2. 1. 8 上限温度类别upper categotemperature 谐振器设计在连续工作的最高环境温度。2. 1. 9 下限温度类别lower category temperature 谐振器设计在连续工作的最低环境温度。2. 1. 10 最低贮存温度minimum storage temperature 谐振器在非工作条件下且元损伤所能经受的最低环境温度。注2最高贮存温度等于上限温度类别。2. 1. 11 温度范围内的工作频率变化variation of working frequency with temperature 温度范

16、围内的工作频率变化可用二种方式表达za) 工作频率的温度特性zb) 工作频率的温度系数。2. 1. 11. 1 工作频率的温度特性temperature characteristic of working frequency 温度特性主要是在谐振器的工作频率随温度呈线性或非线性变化，而不能精确地表达时采用的术语。工作频率的温度特性是某类别温度范围的给定温度范围内产生的工作频率的最大可逆变化。通常用工作频率相对于基准25C温度时的变化率表征。2. 1. 11. 2 工作频率的温度系数和温度范围偏移temperature coefficient of working frequency and t

17、emperature cyclic drift of working frequency 这二个特性应用于谐振器的工作频率随温度的变化是线性的或近似线性，且能够用特定的精度来表征。这种谐振器工作频率在某一类别温度范围内对任一温度的变化都可分为二个分量z工作频率的温度系数CTCF):在规定的温度范围内测量的工作频率随温度的变化率，通常用每摄氏度百万分之几表征。0-6;-c)。工作频率的温度范围偏移z规定的多次温度循环期间或循环结束后，在室温观察到的工作频率的最大不可逆变化，通常用相对于基准温度时的工作频率的变化率表征。基准温度通常为25c。应规定温度循环期间及循环之后的测量条件、温度循环的详细规

18、定及循环次数。2. 1. 12 额定电压rated voltage UR 在低端类别温度与高端类别温度之间任一温度下，可连续加在谐振器上的最大直流电压或最大交流电压有效值，后者也可用峰值电压表示。3 GB/T 12859.1一20122. 1. 13 可见损伤visible damage 会降低谐振器预定用途的可用性的损伤。2. 1. 14 使用陶瓷谐振器的振荡电路oscillating circuit using a ceramic resonator 包含一个陶瓷谐振器的具有正反馈回路的放大电路，在谐振频率或反谐振频率下振荡，回路增益大于odB且相位为00。2. 1. 15 工作频率wor

19、king frequency 使用陶瓷谐振器的振荡电路所输出的信号频率。2. 1. 16 谐振频率resonance frequency 在规定条件下，谐振器电气阻抗呈电阻性的两个频率中较低的一个频率。2. 1. 17 谐振电阻resonace resistance 基频或泛音振动模式下的最小谐振阻抗，它等于等效电路串联谐振分路的电阻值，并与机械Q值有关。2. 1. 18 自由电容free capacitance 在远离最低谐振频率以下的某一频率上，谐振器引出端之间的电容。2.2 优先额定值和特性每个分规范应首选规定该亚族的优先额定值。2.3标志分规范应指明谐振器和/或初级包装上出现的识别标识

20、及其他信息。应规定小型化谐振器标志的优先次序。3 质量评定程序3. 1 鉴定批准/质量评定体系3. 1. 1 当文件用于具有鉴定批准和质量一致性检验的全面质量评定体系(如IEC电子元器件质量评定体系一IECQ)时，其程序应符合3.4和3.5的规定。3. 1. 2 当文件用于质量评定体系以外，如设计评审或型式试验时，可以使用3.4.1和3.4. 2b)的程序和要求，但全部试验或部分试验应采用试验一览表中给出的顺序。3.2 初始制造阶段压电陶瓷谐振器的初始制造阶段应在分规范中定义。3.3 结构相似元件供鉴定批准和质量一致性检验用的结构相似元件的划分应在分规范中规定。4 G/T 12859.1-20

21、12 3.4 鉴定批准程序3.4. 1 制造厂应遵守=一一控制鉴定批准的程序规则的总要求z-一本部分3.2定义的初始制造阶段的要求。3.4.2 对于3.4.1，还应采用下列附加要求za) 制造厂应出具尽可能短时间内提交的三个逐批检验批和一个周期检验批符合规范要求的试验证据。在提交这些检验批的期间内，制造工艺应无重大改变。应按照GB/T2828. 1-2003的规定抽取样品。应按照分规范规定的抽样方案的方式界定授予鉴定批准的工作频率和外形尺寸。应采用正常检验，但当样本大小是零不合格品接收方案时，则应抽取附加样品以满足一不合格品接收方案时的样本大小。b) 制造厂应出具试验证据，以表明符合分规范给定

22、的固定样本数试验一览表的规范要求。构成样本的样品应从当前产品中随机抽取，或得到监督检查机构的同意。3.4.3 获得的鉴定批准作为质量评定体系的一部分，它应由证实符合质量一致性检验的要求来定期维持(见3.的。否则，该鉴定批准必须由IEC电子元器件质量评定体系的程序规则(lECQC 001002: 1998 ,11. 5. 2和11.5.3)的鉴定批准维持规则来证实。3.5 质量一致性检验与分规范共同使用的空白详细规范应规定质量一致性检验的试验一览表。该一览表也应规定逐批检验和周期检验的分组、抽样方案和周期。检验水平和接收质量限(AQL)应从GB/T2828. 1一2003中选取。如有要求，可规定

23、一个以上的试验一览表。3.5. 1 证明合格的试验记录当相关规范有规定时或订货方有要求时，证明合格的试验记录应至少给出以下信息:一一由周期试验覆盖的分组中的试验信息(如被试验元件数量和不合格品元件数量)，不提供有关拒收样品的参数值5分规范中有要求时，耐久性试验后工作频率、谐振电阻及电容的变化。3.5.2 延期交货保存期限超过一年(除非分规范另有规定)的压电陶瓷谐振器，以后的放行批在交货前应按分规范的规定重新检验。由制造厂的总检查人采取的重新检验程序应由监督检查机构批准。一旦某一批已满意地通过重新检验，其质量在规定的期限内重新得到保证。3.5.3 完成B组试验之前的主货放行当B组全部试验已能够转

24、移到GB/T2828. 1-2003的放宽检验时，允许制造厂在B组试验完成前放行元件。3.6 替代的试验方法相关规范中给出的试验和测量方法并不必然是唯一可使用的。然而，制造厂应使监督检查机构满意，可以使用的任一替代方法的检验结果等效于规定方法获得的结果。在有争议的情况下，如仲裁或提GB/T 12859.1-2012 供基准的目的，只应采用规定的方法。4 试验和测量程序4. 1 概述分规范和/或空白详细规范应包括试验项目、每个试验或试验分组在试验之前和之后所做的测量以及应当进行的顺序。每个试验阶段应按写明的顺序执行。初始测量和最终测量的测量条件应相同。如果任一质量评定体系的规范中包含上述文件未规

25、定的其他试验方法，则应充分描述这些方法。参见GB/T2423的各种试验。4.2 标准大气条件4.2.1 试验的标准大气条件除非另有规定，所有试验和测量都应在GB/T2421. 1-2008中5.3规定的测量和试验用标准大气条件下进行。温度:15C35 .C; 相对湿度:25%75%; 气压:86kPa106 kPa (860 mbarl 060 mbar). 测量前，谐振器应在测量温度下放置足够时间，以使得整个陶器谐振器达到该温度。为此目的，通常规定测量前放置时间与试验结束后样品的恢复时间相同是足够的。如有必要，当在非规定温度下进行测量时，其结果应修正到规定温度时的值。测量期间的环境温度应在试

26、验报告中注明。万一产生争议，应在某个基准温度下(见4.2.3)及本部分规定的其他试验条件下进行重复测量。当按照顺序进行试验时，一个试验的最终测量可以作为随后试验的最初测量。注2测量期间，谐振器不应暴露在气流中、阳光直射下或其他能造成误差的条件下。4.2.2 恢复条件除非另有规定，恢复应在试验的标准大气条件下见4.2.1)进行。若恢复必须在接近受控的条件下进行，应采用GB/T2421. 1-2008中5.4.1的受控的恢复条件。除非相关规范另有规定，应采用1h2h的恢复时间。4.2.3 仲裁条件应在下列给出的GB/T2421. 1-2008中5.2规定的仲裁试验的标准大气条件中选择一个，用于仲裁

27、试验。温度相对湿度气压20 c土1C63%67% 86 kPa106 kPa (860 mbarl 060 mbar) 23 c士1C48%52% 86 kPa106 kPa (860 mbarl 060 mbar) 25 c士1C48%52% 86 kPa106 kPa (860 mbarl 060 mbar) 27 c土1C63%67% 86 kPa106 kPa (860 mbarl 060 mbar) 6 GB/T 12859.1一20124.2.4 基准条件下列标准大气条件用于基准应用。温度:25C; 气压:101. 3 kPa (1 013 mbar) 0 4.3 外观检验和尺寸检

28、查4.3. 1 目检目检时，产品的状态、加工质量及表面质量应良好见2.1.13)。目检时，标志应清晰，并应符合详细规范的要求。4.3.2 尺寸检验(规检)应检查在详细规范标明的适宜规检的尺寸，并应符合详细规范的规定值。4.3.3 尺寸检验(细检应检查详细规范规定的全部尺寸并应符合规定值。4.4 绝缘电阻4.4. 1 进行本测量之前，谐振器应完全放电。4.4.2 除非相关规范另有规定，应在表1规定的测量电压且在表2规定的两点间测量绝缘电阻。表1测量电压谐振器的额定电压测量电压U R 10 V (1土10%)UR10 V. UR100 V 10 V士1V 注:UR是谐振器的额定电压，限定了在试验的

29、标准大气条件下使用的测量电压.a当能够证实电压不影响测量结果时，或存在已知关系时，可以在高于额定电压下进行测量(有争议时，应采用10 V电压)。表2测量点试验单一谐振器A 引出端之间a) 各引出端之间B 内部绝缘b) 连接在一起的引出端与外壳之间，外壳作为一个引出端的除外(仅适于金属外壳的型号)C外部绝缘。连接在一起的引出端和金属板或街之间(适用于非金属外壳的绝缘类型d) 外壳与金属板或锚之间(仅适用于金属外壳型4.4.3 对于测量点B和C(见表2)，若谐振器为非金属外壳或为有绝缘套的金属外壳时，测量电压应以下列方式之一施加。4.4.3. 1 金属锚应紧密缠绕于谐振器本体，其距引出端的距离不小

30、于0.5mm。7 GB/T 12859.1-2012 4.4.3.2 谐振器应以正常状态固定在金属板上，金属板所有方向上突出谐振器的部分至少为12.7 mmo 4.4.3.3 谐振器应与90。角的金属V形槽夹牢，并使得谐振器本体不会突出于金属块之外。夹持力应保证谐振器与金属块之间有足够紧的接触，并且不会造成谐振器的损伤和破坏。4.4.4 除非详细规范另有规定，绝缘电阻应在施加电压60s士5s之后测量。4.4.5 当详细规范规定时，应记录测量时的温度。若该温度不是25c ，应将测量值乘以规定的适当的修正因数进行修正。4.4.6 相关规范应规定za) 测量电压和测量点zb) 施加试验电压的方法(4

31、.4. 3. 1 ,4. 4. 3. 2或4.4.3.3); 0 测量期间的特殊注意事项zd) 各个不同的测量点绝缘电阻的最小值(见表2)。4.5 耐电压4.5.1 概述下列规定的试验为耐直流电压试验。当有关规范规定耐交流电压试验时，除用交流电压代替直流电压外，试验程序相同。4.5.2 适用的试验电路示例如图1所示。4.5.3 电压计的电阻应不小于10000n/v。4.5.4 应选择电阻Rl和儿，使得电容C1与被试谐振器的电容合起来的充放电电流不超过最高试验电压时的最大电流，电容C1应至少是被试谐振器电容的10倍。R1 R2 1 I 2 I 3 圄1耐电压试验电路4.5.5 开关应连接至Rz0

32、图顶部的两个端子应与有足够功率的可变直流电源连接，该电源应调节到要求的试验电压。将开关与Rz连接以使电容器充分放电。电压计读数一旦降至0，应将电容器短路，并取下被试谐振器。8 A GB/T 12859.1-2012 4.5.6 对于测量点B和C(见表2)，若谐振器为非金属外壳或为有绝缘套的金属外壳时，测量电压应以下列方式之一施加。4.5.6. 1 金属锚应紧密缠绕于谐振器本体，其距引出端的距离为1mmjkV，最小为0.5mm。试验电压应施加于连接在一起的引出端与金属板之间。4.5.6.2 谐振器应以正常状态固定在金属板上，安装平面在所有方向突出谐振器的部分至少为12.7 mmo试验电压应施加于

33、连接在一起的引出端与金属锚之间。4.5.6.3 谐振器应与90。角的金属V形槽夹牢，并使得谐振器本体不会突出于金属块之外。夹持力应保证谐振器与金属块之间有足够紧的接触。4.5.7 重复进行耐电压试验可能造成谐振器性能变坏，因此应尽可能避免。4.5.8 相关规范应规定=a) 试验电压和测量点见表2); b) 试验电压的施加方式(4.5.6.1，4.5.6.2或4.5.6.3); 0 试验持续时间。4.5.9 试验期间应元击穿或飞弧。4.6 工作频率4.6. 1 陶瓷谐振器的工作频率取决于振荡电路的类型，如C-MOS，TTL或晶体管放大电路，及电路元件值，如负载电容。4.6.2 当频率计数器直接与

34、振荡电路连接时，因附加电容引起工作频率的偏移。建议在振荡放大级和频率计数器之间加一缓冲放大器。4.6.3 为了维持工作频率的良好稳定性，应调整加在振荡电路上的电源电压。4. 7 谐振电阻4.7. 1 通过矢量阻扰计的阻抗读数能直接测量谐振器的谐振电阻。谐振电阻是串联谐振频率附近电抗分量相位为零的频率处的阻抗值。4.7.2 传输电路法在图2给出的传输电路中，将开关置于位置1，并调整信号发生器的频率，直到电压计的读数达到谐振频率附近的最大值。将开关置于位置2，并调整可变电阻器，直到电压计的读数对应到最大电压值。此时的电阻值即为谐振电阻。4.8 自由电窑应按相关规范的规定测量频率和电压。4.9 引出

35、端强度适用时，谐振器应经受GBjT2423. 00-2008的Ua，Ub，Uc或Ud的试验。4.9. 1 试验Ua一一拉力相关详细规范应规定施加的力。4.9.2试验ub一弯曲方法1:每方向两次。详细规范中的引出端为刚性引出端时，不应采用本试验。9 GB/T 12859.1-2012 4.9.3 目栓每项试验后应目检谐振器。不应有可见损伤。R 2开关Rl Dl R2 R2 RI =1000 L近似等于谐振电阻z优先值为100-1000。回2传输电路法4. 10 耐焊接热4. 10. 1 除非相关规范另有规定，谐振器应按下列要求经受GB/T2423. 28-2005的试验z方法1A:浸渍时间为5S

36、或10s，按详细规范的规定。距焊接平面的浸渍深度为2.0-.5 mm，使用厚度为1.5 mm士0.5mm的隔热挡板。方法1B:距谐振器本体的浸渍深度为3.5mm。除非详细规范另有规定，恢复时间应不少于2ho 4. 10.2 试验后，应目检谐振器。不应有可见损伤，且标志应清晰。然后应按相关规范的规定对谐振器进行测量。4. 11 可焊性4. 11. 1 谐振器应经受GB/T2423. 28-2005的试验Ta，按详细规范的规定，使用焊槽法方法1)或烙铁法方法2)或焊球法方法3)。4. 11. 2 焊槽法规定使用焊槽法(方法1)时，应采用下列细则z4. 11. 2. 1 试验条件(除另有规定)焊槽温

37、度:235c士5C; 浸渍时间:2.0s土0.5S; 浸渍深度:(距焊接平面或谐振器本体)2.0-.5 mm * ，使用厚度为1.5mm士0.5mm的隔热挡板。4.11.2.2 应检查引出端有明亮光滑的焊料层，只允许有少量分散的如针孔不润湿或弱润湿的区域，且IEC标准原文有错误。10 GB/T 12859.1-2012 这些缺陷不应集中在块。4. 11.2.3 不使用焊槽法时，相关规范应规定方法、试验条件和要求。注2使用焊球法时，应包括焊接时间。4. 12 温度快速变化4. 12. 1 应按相关规范的规定进行测量。4. 12.2 谐振器应经受GB/T2423. 22-2002的试验Na，严酷度

38、等级按相关规范的规定。4. 12.3 恢复后，应目检谐振器。不应有可见损伤，然后应按相关规范的规定对谐振器进行测量。4. 13 振动4. 13. 1 应按相关规范的规定进行测量。4. 13.2 谐振器应经受GB/T2423. 10-2008的试验丘，样品安装位置和严酷度等级按相关规范的规定。4. 13.3 详细规范有规定时，在每个运动方向上振动试验的最后30ntin期问，应进行电性能测量。测量的持续时间应为从扫频频率范围的一端到另一端一次扫描所需的时间。4. 13.4 谐振器按4.13.3的规定试验时，应无大于或等于0.5ms的断续接触，元开路，元短路。试验后，应目检谐振器。不应有可见损伤。然

39、后应接相关规范的规定对谐振器进行测量。4. 14 碰撞4. 14. 1 应按相关规范的规定进行测量。4. 14.2 谐振器应经受GR/T2423. 6-1995的试验出，样品安装位置和严酷度等级按相关规范的规定。4. 14.3 试验后应目检谐振器。不应有可见损伤，然后应接相关规范的规定对谐振器进行测量。4. 15 冲击4. 15. 1 应搜相关规范的规定进行测量4. 15.2 谐振器应经受GB/T2423.5-1995的试验Ea.样品安装位置和严酷皮等级按相关规范的规定。4. 15.3 试验后应日检谐撮器。不应有可见损伤，然后应按相关规范的规定对谐振器进行测量。4. 16 密封谐振器应按相关规

40、范的规定，经受GB/T2423.23 -1995试验Q的适用方法程序。4. 17 气候序列在气候序列试验中，每两个试验之间的问隔不得超过3d，除低温试验应在交变湿热(试验Db)第一循环规定的恢复时间后立即进行。4. 17. 1 初始测量应按相关规范的规定进行测量。4. 17.2 高温试验谐振器应经受GB/T2423. 2-2008的试验Ba，试验持续时间为16h，严酷度等级为详细规范规定的上限温度类别。谐振器应一直处于规定的高温温度，并且在高温试验时间结束时，按相关规范的规定GB/T 12859.1-2012 进行测量。规定的试验时间结束后，应将谐振器从温箱中取出，放在试验的标准大气条件下不少

41、于4h。4. 17.3 交变温热试验Db(第一个循环)谐振器应经受GB/T2423.4一2008的试验Db的第一个循环24h，温度为40c (严酷度等级a)。恢复后谐振器应立即经受低温试验。4. 17.4 低温试验谐振器应经受GB/T2423.1一2008的试验Aa，试验持续时间为2h，严酷度等级按详细规范规定的下限温度类别。谐振器应一直处于规定的低温温度，并且在低温试验时间结束时，应按相关规范的规定进行测量。规定的试验时间结束后，应将谐振器从温箱中取出，放在试验的标准大气条件下不少于4h。4. 17.5 低气压谐振器应经受GB/T2423. 21一2008的试验M，按相关规范规定的适用严酷度

42、等级。试验持续时间为10min，除非相关规范另有规定。相关规范应规定zd 试验持续时间，若不是10min; b) 温度zc) 严酷度等级。在规定的低气压时，应施加额定电压至少1min，除非相关规范另有规定。试验期间和试验后外壳应元击穿、飞弧、有害的形变，元溶剂渗流。4. 17.6 交变湿热试验Db(其余循环)谐振器应经受GB/T2423. 4-2008的试验Db，温度为40oC (严酷度等级a)，按表3指明的循环次数进行试验，每个循环24ho 表3吏变湿热循环次数类别循环次数一/一/565 一/一/215 一/一/101 一/-/041 4.17.7 最终测量规定的恢复时间后，应按相关规范的规

43、定进行测量。4. 18 稳态湿热4. 18. 1 应按相关规范的规定进行测量。4. 18.2 谐振器应经受GB/T2423. 3-2006的试验Ca，相应气候类别的严酷度等级按详细规范的规定。样品从温箱中取出15min内，应施加额定电压按4.5规定进行耐电压试验(测量点仅作试验A)，除非详细规范另有规定。GB/T 12859.1-2012 4. 18.3 恢复后，应目检谐振器。不应有可见损伤，然后应按相关规范的规定对谐振器进行测量。4. 19 耐久性试验4. 19. 1 应按相关规范的规定进行测量。4. 19.2 谐振器应经受耐久性试验。试验的持续时间、施加的电压值和应达到的温箱温度应按相关规

44、范的规定。谐振器应放人温箱内。其5mm以内元其他谐振器。谐振器不应受到直接热辐射，温箱内的空气流动应充分，避免温箱内任一可能放置谐振器处的温度偏离规定温度超过3C。规定的试验时间结束后，应允许谐振器在试验的标准大气条件下恢复。4. 19.3 应目检谐振器。不应有可见损伤。然后应按相关规范的规定对谐振器进行测量。4.20 随温度变化的工作频率4.20. 1 静态法4.20. 1. 1 应在相关规范规定的条件下进行工作频率的测量。4.20. 1. 2 谐振器应依次在下列每个温度下保持。a) 25 c士2C; b) 下限温度类JJlJ土3C; c) 中间也度(若详细规范有要求); d) 25 c士2C; e) 中间温度(若详细规范有要求); 0 上限温度类别士3C 1 g)