JB T 6066-1992 磁粉探伤用标准试块.pdf

1、中华人民共和国机械行业标准JB/T 6066一92磁粉探伤用标准试块1主鹿内容与适用范围本标准规定了磁粉探伤用B,E型两种标准试块的技术要求，检骏方法、检验规程，标志、包装和使用。本标准适用于磁粉探伤用B,E型两种环形标准试块的产品质量评定。2引用标准GB 23。金属洛氏硬度试验方法GB 699优质碳素结构钢技术条件GB 1031表面粗糙度参数及其数值GB 1299合金工具钢技术条件GB6394金属平均晶粒度测定方法3技术要求3.1形状和尺寸B型试块的形状和尺寸见图1,E型试块的形状和尺寸见图2.11一200土0. 50孔号12345678g101112L1.783. 565. 347.118

2、.8910. 6712. 4514. 2216.0017. 7819.5621.34图1 B型标准试块中华人民共和国机械电子工业部1992-05-05批准1993一07一01实施JB/T 6066一92150生0.425士0. 52一25.3-声1浦孔C一刀10. 050.05+工价00洲6砚甲必!2.5士0.2$3810.05)010.05 I A00. 05乃必0士0.025孔号1 I.1.52.02.5图2E型标准试块3.2 B型试块的材料B型试块的材料应符合GB 1299的规定，经退火处理的9CrWMn钢锻件，其硬度为90-951RB,晶粒度不低于4级。3.3 E型试块的材料3.3.1

3、外环材料应符合GB 699规定的、经退火处理的10钢锻件，晶粒度不低于4级。3.3.2内环材料为具有一定耐热、耐油、抗变形、易切削性能的非金属材料。如:有机玻璃、硬质聚抓乙烯等。3.3.3芯棒材料为钢或铝合金。4检验规则和检验方法4.1原材料的检验4.1.1原材料的检验项目仅限于B型试块和E型试块的外环。4.1.2原材料的化学分析4.1.2，在同一炉号(或批号)的原材料中应至少取出一份样品进行化学分析。用于B型试块的原材料其分析结果应符合GB 1299的规定，用于E型试块外环的原材料，其分析结果应符合GB 699的规定。4.1-2.2如果以上任一份样品的分析结果不符合规定要求，允许重新取出三份

4、或三份以上的补充样品进行化学分析，补充样品中只要有一份样品的分析结果不符合规定要求，则不允许使用该炉号(或批号)的原材料制造试块。4.，.3原材料的晶粒度和硬度测定4.1.3_1晶粒度的测定和硬度的测定均在原材料经过锻打和退火处理之后进行。4.1.3.2硬度的测定仅适用于B型试块的原材料。4.1.3.3在同一批经过退火处理的原材料中应至少取出一份样品测其晶粒度和硬度。晶粒度的等级评定按照GB 6394的规定进行。硬度的测定按照GB 230的规定进行。JB/T 6066一924.1.3.4如果一次测定结果不合格，允许重新取样进行第二次测定，但应至少取出三份样品，并且只要其中有一份样品的侧定结果不

5、合格，则必须重新进行有关的工艺处理，使其达到合格4.1.3.5为使晶粒度和硬度达到技术要求，其工艺处理最多只允许重复一次4.2 B型试块的出厂检验4.2.1检验项目、检验方法、检验要求见表1.表1检验项目检验方法检验要求试块内径和外径用游标卡尺或者专用的卡规和塞规检验应符合图1的规定试块厚度用千分尺或者百分表检验拟.78通孔直径用标准塞规检验01.79通孔位it 用投影仪或者将长度不小于44mm的塞规擂人通孔中，利用塞规的外回作基准进行检验$1. 78通孔垂直度 将长度不小于44mm的塞规插入通孔中，利用塞规的外回作基准进行检验表面粗检度 用符合GB 1031婴求的标准粗糙度样块进行对比检验注

6、:不排除使用其他有效方法进行检验4.2.2检验不合格的试块不得进人成品库，更不允许通过任何渠道流人无损探伤的商品市场4.3 E型试块的出厂检验4.3.1外环的检验4.3.1.1外环的检验项目、检验方法、检验要求按表204.3.1.2检验不合格的外环不得进入成品库，更不允许通过任何渠道流入无损探伤的商品市场。4.3.2内环和导电芯棒的检验4.3.2.1内环的检验项目为内径、外径和长度，导电芯棒的检验项目为直径和长度。4.3.2.2内环的内径用专门的塞规检验，外径用千分尺或者专门的卡规检验，长度用普通直尺或专用的卡规检验。4.3-2.3导电芯棒的直径用千分尺或者专门的卡规检验，长度用普通直尺或者专

7、用的卡规检验4.3-2.4根据第4.3.2.2条和4. 3.2.3条检验的结果都应当符合图2的规定。检验不合格的内环和芯棒允许结合第4.4.2条的规定酌情回收利用。4.4 B型试块组装后的检验4.4.1主要检验项目a.内、外环是否位于导电芯棒的中间位置。b.外环和内环之间，内环和芯棒之间是否符合紧配合要求4.4.2如果外环与内环之间或内环与芯棒之间只有一个配合不紧密，并且间隙不大于。.05 mm，允许采用加垫紫铜箱或者使用粘接剂的方法使其达到紧配合4.5型式检验4.5.1在下述情况时，应进行型式检验:a.试制定型鉴定时;b.正式生产后，工艺有较大改变时;c.正常生产中，每个生产周期的初始阶段(

8、例如每隔半年进行一次I式检验);d.产品长期停产后，恢复生产时;JB/T 6066一92e.国家质童监督机构提出型式检验要求时。4.5.2 B型试块的型式植验项目包括表1所列的全部项目和第4.1条所规定的原材料检验项目。4.5.3 E型试块的型式检脸项目包括表2所列的全部项目和第4.1条所规定的原材料检脸项目。4.5.4型式检验的试样为出厂检验合格的产品试块，任选三块，在每块试块上都必须完成第4. 5.2条或4.5.3条中规定的检验项目。4.5.5对原属原材料的检验项目(如化学成分、晶粒度、硬度)，在型式检验时改在被检试块上进行。4.5.6型式检验不合格时，应对试块的生产进行必要的整顿。4.6

9、购到试块的用户，有权对试块的各项技术要求进行复验，如果复验后能拿出充足证据说明试块不符合技术要求，在购到试块后的3个月内，或者在合同的有效期内，制造单位应接受用户提出的更换或者退货要求。表2检验项目检验方法检验要求试块内径用专用的塞规检脸应符合图2的规定试块外径用千分尺或者专用的卡规检验外圆同心度用百分表在标准平台上检脸试块长度用游标卡尺或者专用卡尺检脸拟通孔直径用塞规检验of通孔臾角用万能角度仪位验of通孔位皿 用投影仪或者将长度不小于25 mm的塞规擂人通孔中，利用塞规外圈作为基准进行检脸“1通孔垂直度 将长度不小于25 mm的塞规抽人通孔中，利用塞规外圈作为垂准进行枪脸表面粗粗度用符合G

10、B 1031规定的粗粗度样块进行对比性位脸注:不排除使用其他有效方法进行检脸.5标志和包装5.1标志51.1试块上应具有下述永久性标记:制造单位的名称或商标;试块的出厂编号。a.阮5.1.2 B型试块上的水久标记位于试块的端平面上，可以集中在某一个端平面上，也可以分散于两个端平面上，但是不得有碍于拟78通孔。5.1.3E型试块上的永久标记位于内环上未被外环诊住的回柱面或端平面上，可以集中在一端，也可以分散于两端。5.1.4制造单位的名称可以是全称、简称或者缩写字母。5.2包装5.2.1可采用木盒或其他包装盒进行包装。5.2.2 B型试块在包装前应把整个表面涂上防锈油,E型试块在包装前应至少把外

11、表面涂上防锈油。5.2.3包装盒内应随带产品合格证和产品说明书。合格证上应标明产品名称、出厂日期和检验人员代号JB/T 6066一926使用注宜事项6.1试块使用前就当用浸有煤油等溶剂的棉球将防锈油擦净。B型试块适用于磁化电流为直流电和整流电的探伤，使用前应进行退磁，使用时要用一根直径为mm士1 mm、长度不小于400 mm的铜棒或铝合金棒擂人试块内孔作为导电芯棒。6.29:一:E型试块适用于磁化电流为交流电的探伤，允许在不退磁的情况下使用。试块用毕后应参照第52.2条的规定徐上防锈油置于包装盒内贮放。B型试块还应当在涂防锈油之前进行退磁处理。65当试块表面出现舫斑时，应及时用防锈剂或细砂纸将其去除.附加说明:本标准由全国无损检测标准化技术委员会提出。本标准由机械电子工业部上海材料研究所归口。本标准由航空航天部六二一所、机械电子工业部上海材料研究所负责起草口本标准主要起草人傅洋、徐立贤。