JB T 8950.2-2013 普通晶闸管 第2部分：平板形器件.pdf

1、0 ICS 31.080.20 K 46 备案号： 40656 2013 中华人民共和国机械行业标准JB/T 8950.22013代替 JB/T 8950.2 1999， JB/T 5838 1991等普通晶闸管 第 2 部分：平板形器件 Phase control thyristorsPart 2: Disc devices 2013-04-25 发布 2013-09-01 实施中华人民共和国工业和信息化部发布 中 华 人 民 共 和 国 机械行业标准 普通晶闸管 第 2 部分：平板形器件 JB/T 8950.22013 * 机械工业出版社出版发行 北京市百万庄大街 22 号 邮政编码：10

2、0037 * 210mm297mm 1 印张27 千字 2014 年 1 月第 1 版第 1 次印刷 定价：18.00 元 * 书号：1511111000 网址：http ：/ 编辑部电话：（010）88379778 直销中心电话：（010）88379693 封面无防伪标均为盗版 版权专有 侵权必究 JB/T 8950.22013 I 目 次 前言 . III 1 范围 . 1 2 规范性引 用文件 . 1 3 型号和尺 寸 . 1 3.1 型号 . 1 3.2 图形符号和端（子）识别 . 1 3.3 尺寸 . 2 4 额定值和 特性 . 3 4.1 参数的级数 . 3 4.2 额定值 . 3

3、 4.3 特性值 . 3 4.4 特性曲线（不作为检验要求） . 3 5 检验规则 . 5 5.1 逐批检验（A 组检验） . 5 5.2 周期检验（B 组和C 组检验） . 5 5.3 鉴定试验（D 组试验） . 6 6 质量评定 类别 . 7 7 标志、包 装、贮存和订货单 . 7 7.1 标志 . 7 7.2 包装 . 7 7.3 贮存 . 8 7.4 订货单 . 8 附录A （规范性附录）抽样表 . 9 A.1 AQL抽样表 . 9 A.2 追加抽样表 . 9 附录B （规范性附录）密封细检漏可接受的泄漏率 . 10 图 1 晶闸管 的图形符号和端（子）识别标志 . 1 图 2 凸台晶

4、 闸管的尺寸 . 2 图 3 凹台晶 闸管的尺寸 . 2 表 1 部分凸 台晶闸管的尺寸 . 2 表 2 部分凹 台晶闸管的尺寸 . 3 表 3 通态电 流临界上升率（d i/dt）的级数 . 3 表 4 断态电 压临界上升率（d v/dt）的级数 . 3 表 5 最大额 定值 . 4 表 6 特性值 . 4 表 7 逐批（ A组）检验 . 5 表 8 周期（ B组）检验 . 5 表 9 周期（ C组）检验 . 6 JB/T 8950.22013 II 表 10 鉴定（D 组）试验 . 7 表A.1 AQL抽样表 . 9 表A.2 追加抽样表 . 9 表B.1 密封 细检漏可接受的泄漏率 .

5、10 JB/T 8950.22013 III 前 言 JB/T 8950普通晶闸管已经或计划发布以下部分： 第 1 部分：螺栓形器件； 第 2 部分：平板形器件； 第 3 部分：塑料封装器件。 本部分为 JB/T 8950 的第 2 部分。 本部分按照 GB/T 1.1 2009 给出的规则起草。 本部分代替 JB/T 5838 1991KP 系列 1 000 A 以上管壳额定反向阻断三极晶闸管及其修改单、JB/T 5839 1991KH 系列 200 A 以上管壳额定反向阻断三极高压晶闸管及其修改单和 JB/T 8950.21999电流大于 100 A 普通晶闸管，与之相比主要技术变化如下：

6、 通态平均电流扩展为 5 000 A，对应的管壳型号相应调整； 修改了规范性引用文件（见第 2 章，JB/T 5838 、JB/T 5839 和 JB/T 8950.21999 的第 2 章） ； 删除了 KH 系列（JB/T 5839 ），相应的产品纳入 KP 系列； 删除了螺栓形产品（JB/T 8950.2 1999 的 3.3.1），相关内容纳入 JB/T 8950.12013； 删除了断态/ 反向重复峰值电压的级数表（JB/T 5838 、 JB/T 5839 和 JB/T 8950.2 1999 的表 4）； 修改了通态电流临界上升率（d i/dt）的级数（见表 3，JB/T 583

7、8 的表 5、JB/T 5839 的表 6）； 修改了断态电压临界上升率（d v/dt）的级数（见表 4， JB/T 5839 的表 5 和 JB/T 8950.2 1999的表 6）； 修改了对额定值的规定（见表 5，JB/T 5838 和 JB/T 5839 的表 2、JB/T 8950.2 1999 的表 7）； 修改了对特性值的规定（见表 6，JB/T 5838 和 JB/T 5839 的表 3、JB/T 8950.2 1999 的表 8）； 修改了应在企业标准或产品使用说明书中给出的特性曲线种类（见 4.4， JB/T 5838 和 JB/T 5839的 3.7、JB/T 8950.

8、2 1999 的 4.4）； 删除了逐批检验（A 组）中的 A2a 分组（JB/T 5838 和 JB/T 5839 的表 7、JB/T 8950.2 1999的表 9）； 修改了逐批检验（A 组）中， A2b 分组测量 VTM的电流值（见表 7， JB/T 5838 和 JB/T 5839 的表 7、JB/T 8950.2 1999 的表 9）； 删除了逐批检验（A 组）中的 VGD项目（JB/T 5838 和 JB/T 5839 的表 7）； 删除了周期检验（B 组）中的尺寸项目和电耐久性项目（JB/T 5838 和 JB/T 5839 的表 8）； 修改了周期检验（B 组）中， B5 分

9、组密封检验的方法和合格判据（见表 8， JB/T 5838 和 JB/T 5839 的表 8、JB/T 8950.2 1999 的表 10）； 删除了周期检验（C 组）中的 IRRM和 IDRM项目（JB/T 5838 和 JB/T 5839 的表 9）； 修改了周期检验（C 组）中， Rjc项目的抽样方案和 di/dt 项目的试验电流值（见表 9， JB/T 5838和 JB/T 5839 的表 9、JB/T 8950.2 1999 的表 11）； 修改了热循环负载试验试后测量的规定（见表 10，JB/T 5838 和 JB/T 5839 的表 10）； 质量评定类别单独作为一章（见第 6

10、章，JB/T 5838 和 JB/T 5839 的 5.3c、JB/T 8950.2 1999的 6.1）； 修改了附录 A（见附录 A，JB/T 5838 、JB/T 5839 和 JB/T 8950.2 1999 附录 A）； 删除了 JB/T 5838 和 JB/T 5839 中的附录 B，重新给出了附录 B（见附录 B）。 本部分由中国机械工业联合会提出。 JB/T 8950.22013 IV 本部分由全国输配电用电力电子器件标准化技术委员会（SAC/TC413 ）归口。 本部分起草单位：西安电力电子技术研究所、湖北台基半导体股份有限公司、江苏威斯特整流器有限公司、江苏捷捷微电子股份有

11、限公司、浙江正邦电力电子有限公司。 本部分主要起草人：陆剑秋、王正鸣、颜家圣、杜凯、袁华、王成森、项卫光、蔚红旗。 本部分代替了 JB/T 58381991、JB/T 5839 1991 和 JB/T 8950.2 1999。 JB/T 8950.21999 的历次版本发布情况为： JB 1144 1971、JB 1144 1975 。 JB/T 8950.22013 1 普通晶闸管 第 2 部分：平板形器件 1 范围 JB/T 8950 的本部分规定了管壳额定通态平均电流 200 A5 000 A ，阻断特性对称的平板形反向阻断三极普通晶闸管（以下简称晶闸管）的型号和尺寸、额定值、特性、检验

12、规则、质量评定类别、标志、包装、贮存和订货单。 本部分适用于对称晶闸管。不对称晶闸管也可参照使用。 2 规范性引用文件 下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。 GB/T 4937 1995 半导体器件机械和气候试验方法 GB/T 15291 半导体器件 第 6 部分 晶闸管 JB/T 2423 电力半导体器件 型号编制方法 JB/T 4277 电力半导体器件包装 JB/T 7626 2013 反向阻断三极晶闸管测试方法 3 型号和尺寸 3.1 型号 按 JB/T 2423 规定

13、，晶闸管的型号应符合如下规定： K P 阻断电压的级数（断态/ 反向重复峰值电压的 1/100） 通态平均电流值单位为安（A ） 器件系列为普通型 器件门类为晶闸管 示例：1 000 A 、1 200 V 晶闸管的型号为 KP1000-12。 3.2 图形符号和端（子）识别 晶闸管的图形符号和端（子）识别标志如图 1 所示。 A阳极端（子）；K 阴极端（子）；G 门极端（子）。 图 1 晶闸管的图形符号和端（子）识别标志 （数字） （数字） JB/T 8950.22013 2 3.3 尺寸 3.3.1 适用额定电流 额定通态平均电流（IT(AV)）小于 200 A 的晶闸管不推荐用平板形。 3

14、.3.2 凸台晶闸管 凸台晶闸管的尺寸应符合规定。图 2 和表 1 给出了部分凸台晶闸管的尺寸。 a安装定位孔孔径 3.52.00 +mm，孔深 1.3 mm3 mm 。 图 2 凸台晶闸管的尺寸 表 1 部分凸台晶闸管的尺寸 单位为毫米 管壳型号和尺寸 项目 KT25 KT37 KT50 KT60 KT78 KT85 KT100 KT125 Dmax60 85 95 100 120 135 150 172 D1252 372 503 603 783 853 1003 1103 a 141 c 261 A d 352 L 200、250、300、600（允差 10%10%） T 3.24.5

15、3.3.3 凹台晶闸管 凹台晶闸管的尺寸应符合规定。图 3 和表 2 给出了部分凹台晶闸管的尺寸。 图 3 凹台晶闸管的尺寸 JB/T 8950.22013 3 表 2 部分凹台晶闸管的尺寸 单位为毫米 管壳型号和尺寸 项目 KA14 KA18 KA24 KA30 KA35 KA40 KA44 KA50 KA54 Dmax37 43 50 65 80 85 90 95 100 D1min14 18 24 30 35 40 44 50 54 A 13 13 13 16 16 17 19 20 22 L 200、250、300（允差 10%10%） T 3.24.5 4 额定值和特性 4.1 参数

16、的级数 4.1.1 阻断电压的级数为断态重复峰值电压（VDRM）和反向重复峰值电压（VRRM）两者中的较低值单位为伏（V ）的 1/100（参见 3.1）。 4.1.2 通态电流临界上升率（d i/dt）的级数应符合表 3 的规定。 表 3 通态电流临界上升率（d i/dt）的级数 单位为安每微秒 di/dt 50 100 150 200 300 500 800 级数 B C D E F G H 4.1.3 断态电压临界上升率（d v/dt）的级数应符合表 4 的规定。 表 4 断态电压临界上升率（d v/dt）的级数 单位为伏每微秒 dv/dt 200 500 800 1 000 1 500

17、 2 000 级数 D E F G H J 4.2 额定值 最大额定值（极限值）应符合表 5 的规定，并适用于整个工作温度范围。 4.3 特性值 特性值应符合表 6 的规定。表中除 VGD和 dv/dt 为下限值外，其他均为上限值。 4.4 特性曲线（不作为检验要求） 应在企业标准或产品使用说明书中给出下列特性曲线： a）管壳温度与通态平均电流的降额关系； b）通态伏安特性； c）门极触发范围； d）瞬态热阻抗与时间的关系； e）浪涌电流与周波数的关系和 I2t 特性； f）最大功耗与通态平均电流的关系（以波形和导通角为参变量）。 JB/T 8950.22013 4 表 5 最大额定值 器件

18、型号 管壳 温度 Tc 浪涌 电流 ITSM A I2t A2s 断态重 复峰值 电压 VDRMV 反向重复峰值电压VRRMV 断态不重复峰值电压VDSMV 反向不重复峰值电压VRSMV 工作结温Tj贮存温度Tstg 通态电流临界上升率di/dtA/s门极反向峰值电压 VRGM V 门极峰值功率 PGMW 门极平均功率 PG(AV)W 紧固力FN质量mgKP200 2.5103321035 15 3 KP300 3.8103741035 15 3 KP400 5.0103131045 15 3 KP500 6.3103201045 20 4 KP600 7.5103291045 20 4 KP

19、800 10103511045 20 4 KP1000 12103731045 20 4 KP1250 16103131055 20 4 KP1600 20103201055 20 4 KP2000 23103261055 25 5 KP2500 25103311055 25 5 KP3000 30103451055 25 5 KP4000 40103801055 25 5 KP5000 由制造厂商给出501031251053006 000VDSM=VDRM100，VRSM=VRRM1004012540140B、 C、D、 E、F、G 、H 5 25 5 由制造厂商给出，允差为10%由制造厂商

20、给出表 6 特性值 器件 型号 通态 峰值 电压 VTMV 断态重复峰值电流IDRMmA 反向重复 峰值电流 IRRMmA 维持 电流 IHmA 擎住 电流 ILmA 门极触发电流IGTmA门极触发电压VGTV 门极 不触发电压 VGDV 断态电压 临界 上升率 dv/dt V/s 结壳 热阻 Rjc/W 接触热阻Rcs/WKP200 0.110 KP300 2.3 30 250 250 3.00.074 KP400 40 0.050 KP500 2.4 50 350 3000.040 KP600 60 350 300 0.035 KP800 70 0.026 KP1000 2.5 80 45

21、0 3503.50.3 D、E 、 F、G 、 H 0.020 KP1250 150 600 500 5 0.3 0.018 KP1600 200 600 500 5 0.3 0.015 KP2000 200 600 500 5 0.3 0.012 KP2500 300 600 500 5 0.5 0.011 KP3000 400 600 500 5 0.5 0.009 KP4000 500 600 500 5 0.5 0.006 KP5000 2.8 600 600 由制造厂商给出500 5 0.5 D、E 、 F、G 、 H、J 0.005 由制造厂商给出JB/T 8950.22013 5

22、 5 检验规则 5.1 逐批检验（A 组检验） 每批产品应按表 7 检验。表 7 中的项目全部为非破坏性。 AQL 的具体抽样方案见表 A.1。如初次提交不合格，应加严一级重新提交再次检验，但只能重新提交一次。 表 7 逐批（ A 组）检验 序号 分组 检验项目 检验方法 判据 AQL（）1 A1 外观 目检（在正常照明和正常视力条件下） 标志清晰，表面涂层、镀层无脱落和损伤 1.5 VTMJB/T 76262013 的 5.1：25，IT(AV)1 250 A ：ITM=3IT(AV)， IT(AV)1 250 A4 000 A ： ITM=4 000 A，IT(AV)4 000 A ：IT

23、M=5 000 A 符合表 6 的规定 2 A2b IRRM、IDRMJB/T 76262013 的 5.2：25和 Tjm，VRRM； JB/T 76262013 的 5.3：25和 Tjm，VDRM符合表 6 的规定 1.0 IGT、VGTJB/T 76262013 的 5.6：25，VD= 12 V 符合表 6 的规定 1.0 3 A3 IHJB/T 76262013 的 5.5：25，VD= 12 V 符合表 6 的规定 1.0 4 A4 dv/dt JB/T 76262013 的 5.10：Tjm，VDM= 0.67VDRM，门极开路 符合表 6 的规定 1.5 5.2 周期检验（B

24、 组和 C 组检验） 正常生产的定型产品应按表 8 和表 9 每年至少进行一批 B 组和 C 组检验。其中，检验项目栏标有（D ）的是破坏性试验。 A 组、 C1 和 C2 分组试验后的样品可用于其他项目检验， B3、 B4 分组试验可采用电特性不良的样品。 如初次检验不合格，应按表 A.2 追加抽样再次检验，但只能追加一次。 表 8 周期（ B 组）检验 抽样方案 序号 分组 检验项目 检验方法 合格判据 n Ac 1 B5 温度变化（D ）继之密封 GB/T 49371995 的.1.1 （ Na）两箱法：40/ Tjm，循环 5 次，每循环高低温各暴露 1 h、转换时间 2 min3 m

25、in 粗检漏：氟油加压检漏法（GB/T 49371995 的 .7.5）或无水乙醇加压检漏法；细检漏：氦质谱检漏法（GB/T 49371995 的.7.4 ） 试后测量： VTM1.1 USL IRRM2 USL IDRM2 USL 细检漏可接受的泄漏率见附录 B 6 1 CRRL 放行批确认记录 简要给出各分组的有关属性数据，试验前后的 VTM、IRRM、IDRM值和试验结论 注 1：USL 为表 6 中对应的规范上限值。 注 2：抽样方案栏中，n、Ac 分别为样品量和接收数。 JB/T 8950.22013 6 表 9 周期（ C 组）检验 抽样方案 序号 分组 检验项目 检验方法 合格判

26、据 n Ac1 C1 尺寸 检查图 2 或图 3 的全部尺寸 符合 3.3 的规定 9 1 ILJB/T 76262013 的 5.4： 25， VD=12 V，门极电路无 R3，触发电流脉冲：tr0.5 s、持续时间 100 s、重复率50 Hz ，10 V 、6 或 8 2 C2a IHJB/T 76262013 的 5.5：25，VD=12 V 符合表 6 的规定 11 1 3 C2c ITSMJB/T 76262013 的 7.3：Tjm，VRM= 0.8VRRM，一个周波、浪涌 20 次 试后测量： VTM1.1 USL IRRM2 USL IDRM2 USL 6 1 4 C2d R

27、jcJB/T 76262013 的 6.2 符合表 6 的规定 3 1 5 VGDJB/T 76262013 的 5.7： Tjm，负载电阻满足：ITSM限流电流IL符合表 5 的规定 11 1 6 VRGMJB/T 76262013 的 7.9：Tjm，半正弦波形，重复率50 Hz，试验持续时间 3 s 符合表 5 的规定 11 1 7 PGMJB/T 76262013 的 7.8：Tjm，重复率 50 Hz，门极脉冲：方波、底宽 400 s，试验持续时间 3 s，阳极、阴极间开路 符合表 5 的规定 11 1 8 PG（AV） JB/T 76262013 的 7.7： Tjm，试验持续时间

28、 3 s，阳极、阴极间开路 符合表 5 的规定 11 1 9 di/dt JB/T 76262013 的 7.6 ： Tjm， VD= 0.5VDRM，IT(AV)300 A ： ITM2IT(AV)， IT(AV)300 A ： ITMIT(AV)，触发脉冲：tr0.5 s、IGM=（ 35）IGT、持续时间20 s、重复率 50 Hz，试验持续时间 60 s 符合表 5 的规定 试后测量：同C2c 11 1 10 C8 电耐久性 （交流阻断） GB/T 15291 规定的方法：Tjm05，正弦波形，重复率 50 Hz，0.7 VDRM，0.7 VRRM，1 0003630+h 6 1 11

29、 C9 高温贮存 GB/T 49371995 的.2 ：14005，1 0003630+h 试后测量：同C2c 6 1 CRRL 放行批确认记录 简要给出各分组的有关属性数据，试验前后的 VTM、IRRM、IDRM值和试验结论 注 1：USL 为表 6 中对应的规范上限值。 注 2：抽样方案栏中，n、Ac 分别为样品量和接收数。 5.3 鉴定试验（D 组试验） 产品定型鉴定时，除 A 组、 B 组、 C 组检验外，还应按表 10 进行 D 组试验。其中，检验项目栏标有（D ）的是破坏性试验。 D 组试验在逐批检验的基础上进行。 正常生产的定型产品应每三年至少进行一批 D 组试验。 如初次检验不合格，应按表 A.2 追加抽样再次检验，但只能追加一次。 JB/T 8950.22013 7 表 10 鉴定（ D 组）试验 抽样方案 序号 分组 检验项目 检验方法 合格判据 n Ac1 D2 热循环负载试验 JB/T 76262013 的第 8 章：加热电流值优先采用 IT(AV)，结温范围：加热期间为 Tjm020（多只器件串联试验时为Tjm030） 、