DIN EN 60512-25-6-2004 Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 25-6 Test 25f Eye pattern and jitter (IEC 60512-25-6 2004) German version EN 60512-25-6 2.pdf

1、Dezember 2004DEUTSCHE NORM DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik im DIN und VDEPreisgruppe 13DIN Deutsches Institut f r Normung e.V. Jede Art der Vervielf ltigung, auch auszugsweise, nur mit Genehmigung des DIN Deutsches Institut f r Normung e. V., Berlin, gestattet.I

2、CS 31.220.10A4) 9594635www.din.deXDIN EN 60512-25-6Steckverbinder f r elektronische Einrichtungen Mess und Pr fverfahren Teil 256: Pr fung 25f: Augendiagramm und Jitter (IEC 60512256:2004);Deutsche Fassung EN 60512256:2004Connectors for electronic equipment Tests and measurements Part 256: Test 25f:

3、 Eye pattern and jitter (IEC 60512256:2004);German version EN 60512256:2004Connecteurs pour quipements lectroniques Essais et mesures Partie 256: Essai 25f: Diagramme de l oeil et gigue (CEI 60512256:2004);Version allemande EN 60512256:2004Alleinverkauf der Normen durch Beuth Verlag GmbH, 10772 Berl

4、in www.beuth.deGesamtumfang 18 SeitenDIN EN 60512-25-6:2004-122Beginn der GltigkeitDie von CENELEC am 2004-07-01 angenommene EN 60512-25-6 gilt als DIN-Norm ab 2004-12-01.Nationales VorwortVorausgegangener Norm-Entwurf: E DIN IEC 60512-25-6:2002-09.Fr die vorliegende Norm ist das nationale Arbeitsgr

5、emium K 651 Steckverbinder der DKE DeutscheKommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik im DIN und VDE zustndig.Die enthaltene IEC-Publikation wurde vom SC 48B Connectors erarbeitet.Das IEC-Komitee hat entschieden, dass der Inhalt dieser Publikation bis zum Jahr 2008 unverndert bleibenso

6、ll. Zu diesem Zeitpunkt wird entsprechend der Entscheidung des Komitees die Publikation besttigt, zurckgezogen, durch eine Folgeausgabe ersetzt oder gendert.EUROPISCHE NORMEUROPEAN STANDARDNORME EUROPENNEEN 60512-25-6Juli 2004ICS 31.220.10Deutsche FassungSteckverbinder fr elektronische Einrichtungen

7、Mess- und PrfverfahrenTeil 25-6: Prfung 25f: Augendiagramm und Jitter(IEC 60512-25-6:2004)Connectors for electronic equipmentTests and measurementsPart 25-6: Test 25f: Eye pattern and jitter(IEC 60512-25-6:2004)Connecteurs pour quipements lectroniquesEssais et mesuresPartie 25-6: Essai 25f: Diagramm

8、e de loeil etgigue(CEI 60512-25-6:2004)Diese Europische Norm wurde von CENELEC am 2004-07-01 angenommen. Die CENELEC-Mitgliedersind gehalten, die CEN/CENELEC-Geschftsordnung zu erfllen, in der die Bedingungen festgelegt sind,unter denen dieser Europischen Norm ohne jede nderung der Status einer nati

9、onalen Norm zu gebenist.Auf dem letzten Stand befindliche Listen dieser nationalen Normen mit ihren bibliographischen Angabensind beim Zentralsekretariat oder bei jedem CENELEC-Mitglied auf Anfrage erhltlich.Diese Europische Norm besteht in drei offiziellen Fassungen (Deutsch, Englisch, Franzsisch).

10、 EineFassung in einer anderen Sprache, die von einem CENELEC-Mitglied in eigener Verantwortung durchbersetzung in seine Landessprache gemacht und dem Zentralsekretariat mitgeteilt worden ist, hat dengleichen Status wie die offiziellen Fassungen.CENELEC-Mitglieder sind die nationalen elektrotechnisch

11、en Komitees von Belgien, Dnemark,Deutschland, Estland, Finnland, Frankreich, Griechenland, Irland, Island, Italien, Lettland, Litauen,Luxemburg, Malta, den Niederlanden, Norwegen, sterreich, Polen, Portugal, Schweden, der Schweiz,der Slowakei, Slowenien, Spanien, der Tschechischen Republik, Ungarn,

12、dem Vereinigten Knigreichund Zypern.CENELECEuropisches Komitee fr Elektrotechnische NormungEuropean Committee for Electrotechnical StandardizationComit Europen de Normalisation ElectrotechniqueZentralsekretariat: rue de Stassart 35, B-1050 Brssel 2004 CENELEC Alle Rechte der Verwertung, gleich in we

13、lcher Form und in welchem Verfahren,sind weltweit den Mitgliedern von CENELEC vorbehalten.Ref. Nr. EN 60512-25-6:2004 DEN 60512-25-6:20042VorwortDer Text des Schriftstcks 48B/1429/FDIS, zuknftige 1. Ausgabe von IEC 60512-25-6, ausgearbeitet vondem SC 48B Connectors“ des IEC TC 48 Electromechanical c

14、omponents and mechanical structures forelectronic equipment“, wurde der IEC-CENELEC Parallelen Abstimmung unterworfen und von CENELEC am2004-07-01 als EN 60512-25-6 angenommen.Nachstehende Daten wurden festgelegt: sptestes Datum, zu dem die EN auf nationaler Ebenedurch Verffentlichung einer identisc

15、hen nationalenNorm oder durch Anerkennung bernommen werdenmuss (dop): 2005-04-01 sptestes Datum, zu dem nationale Normen, dieder EN entgegenstehen, zurckgezogen werdenmssen (dow): 2007-07-01AnerkennungsnotizDer Text der Internationalen Norm IEC 60512-25-6:2004 wurde von CENELEC ohne irgendeine Abnde

16、rungals Europische Norm angenommen.EN 60512-25-6:20043InhaltSeite1 Allgemeines . 41.1 Anwendungsbereich und Zweck 41.2 Begriffe und Definitionen . 42 Prfgerte 42.1 Prfeinrichtungen. 42.2 Prfaufbau . 43 Prfling. 53.1 Beschreibung. 54 Prfverfahren. 54.1 Zeitbereich. 54.2 Augendiagramm 54.3 Jitter . 65

17、 Angaben, die die Bauartspezifikation festlegt . 76 Prfdokumentation 8Anhang A (normativ) Darstellungen der Abschlsse von Prflingen9Anhang B (informativ) Interpretation von Augendiagrammen Praktische Hinweise 11Bild A.1 Unsymmetrische Abschlsse 9Bild A.2 Differentielle (symmetrische) Abschlsse . 10B

18、ild B.1 Typischer Frequenzgang eines Augendiagramms11Bild B.2 Frequenzgang des Augendiagramms mit Darstellung der Augenhhe und breite. 12Bild B.3 Frequenzgang des Augendiagramms mit Maske (keine Treffer) 13Bild B.4 Frequenzgang des Augendiagramms mit Treffern innerhalb der Maske 14Bild B.5 Automatis

19、ches Verfahren des DSO mit vertikalen Grenzen, die etwa 20 mV voneinanderentfernt liegen, siehe 4.3.1.3.2 15Bild B.6 Manuelles Verfahren des DSO mit zwei vertikalen Cursor, einer auf jeder Seite desAuges, siehe 4.3.1.4.1. 15Bild B.7 Verfahren D, Impulsprfung mit Einzelmuster mit Darstellung der Impu

20、lsbreite,siehe 4.3.2.4 16EN 60512-25-6:200441 Allgemeines1.1 Anwendungsbereich und ZweckDieser Teil der IEC 60512 gilt fr elektrische Steckverbinder, konfektionierte Kabel oder Verbindungs-systeme, die zum Anwendungsbereich des IEC/TC 48 gehren.Diese Norm beschreibt Verfahren zur Messung des Frequen

21、zgangs eines Augendiagramms und des Jittersim Zeitbereich.1.2 Begriffe und Definitionen1.2.1AugendiagrammOszilloskopanzeige von synchronisierten pseudostatistischen digitalen Daten (Signalamplitude in Abhngig-keit von der Zeit), die die berlagerung der akkumulierten Ausgangswellenformen darstellt1.2

22、.2JitterDifferenz zwischen dem frhesten und dem sptesten Zeitpunkt, zu dem ein Signal einen festgelegten Refe-renzspannungspegel schneidet1.2.3BitintervallZeitintervall zwischen aufeinander folgenden gleichen Flanken (Anstieg zu Anstieg oder Abfall zu Abfall) desTaktsignals. Das ist der reziproke We

23、rt der Taktfrequenz1.2.4ZeitversatzDifferenz der Laufzeitverzgerung zwischen zwei Signalpfaden1.2.5Anstiegszeit des MesssystemsAnstiegszeit, die im verdrahteten Prfaufbau mit Filterung (oder Normalisierung) jedoch ohne den Prfling ge-messen wird. Die Anstiegszeit wird blicherweise zwischen 10 % und

24、90 % der Signalamplitude gemessen2 Prfgerte2.1 Prfeinrichtungen2.1.1 Schneller Bitmustergenerator mit Taktausgang, der ein Signal mit festgelegter Anstiegs- undAbfallzeit und festgelegtem Datenmuster erzeugen kann.2.1.2 Signalanalysator mit externem Takteingang und unendlicher Nachleuchtanzeige. Dab

25、ei handelt essich gewhnlich um ein digitales Abtastoszilloskop (en.: digital sampling oscilloscope, DSO) mit Abtastkopf.Ein DSO mit Maskierungsfunktion wird bevorzugt.ANMERKUNG Es ist sicherzustellen, dass die grten zulssigen Bemessungswerte an den Eingangsanschlssendes Oszilloskops nicht berschritt

26、en werden. Dadurch werden kostenintensive Beschdigungen vermieden und zuver-lssige Messungen geliefert. Selbst Signalauslenkungen innerhalb des grten zulssigen Signalpegels des Oszilloskopsknnen einen instabilen Frequenzgang des Augendiagramms verursachen.2.2 Prfaufbau2.2.1 Der Prfaufbau muss ein ko

27、rrektes Signal (korrekte Signale) und eine korrekte Massestruktur (kor-rekte Massestrukturen) und, falls gefordert, einen korrekten Abschluss benachbarter Signalleitungen sicher-stellen.EN 60512-25-6:200452.2.2 Bei der Messung eines differentiellen Frequenzgangs ist sicherzustellen, dass die Prfaufb

28、autenund Prfkabel in der Laufzeit so angepasst sind, dass der Zeitversatz so gering wie mglich ist. EineEmpfehlung fr den Zeitversatz der Prfkabel und Prfaufbauten ist weniger als 5 % des Bitintervalls.3 Prfling3.1 BeschreibungEin Prfling fr dieses Prfverfahren muss folgende Eigenschaften aufweisen.

29、3.1.1 SteckverbindungEin gestecktes Steckerverbinderpaar.3.1.2 Konfektioniertes KabelKonfektioniertes Kabel mit Steckverbinder und Gegenstecker.3.1.3 FassungFassung mit Prfaufbau oder Fassung mit steckbarem Adapter.4 Prfverfahren4.1 Zeitbereich4.1.1 Die Prfeinrichtung muss sich ausreichend lange auf

30、wrmen und stabilisieren knnen (nach denAnweisungen des Herstellers).4.1.2 Wenn der Prfling bei unsymmetrischer bertragung keine charakteristische Impedanz von 50 G57oder keine differentielle Impedanz von 100 G57 aufweist, sollten impedanzangepasste Dmpfungsgliederbenutzt werden. Die geforderten Wert

31、e werden mit den Gleichungen in den Bildern A.1 oder A.2 berechnet.Es sind Normalwiderstnde zu verwenden, die den mit diesen Gleichungen errechneten Werten am nchstenliegen.4.1.3 Der Datengenerator ist auf die korrekten Signalkennwerte einzustellen. Dazu gehren Anstiegszeit,Amplitude, Datenrate und

32、Codierungsschema.ANMERKUNG Die Einstellung der Anstiegszeit soll mit Hardwarefiltern an der Signalquelle vorgenommen werden undnicht mit Softwarefilterung am Analysator.4.1.4 Das Oszilloskop ist mit dem Taktsignal des Datengenerators zu triggern, wobei sicherzustellen ist,dass das Taktsignal den bes

33、timmungsgemen Betriebsbereich des Takteingangs nicht berschreitet.4.1.5 Soweit mglich sind das Augendiagramm und/oder der Jitter von Prfaufbau und Prfkabeln ohnePrfling zu messen. Das Oszilloskop ist so einzustellen, dass ein Augendiagramm angezeigt wird. DieEinstellung der Zeitbasis sollte so erfol

34、gen, dass ein Zeichenschritt (Bitintervall) mindestens 50 % der hori-zontalen Anzeige einnimmt. Die vertikale Empfindlichkeit sollte so eingestellt werden, dass die Signal-amplitude 50 % bis 100 % der vertikalen Anzeige einnimmt. Beispiele siehe Anhang B.4.2 Augendiagramm4.2.1 Verfahren A, Maskenprf

35、ung4.2.1.1 Das Oszilloskop ist auf unendliche Nachleuchtanzeige einzustellen und die Datenerfassung ist soeinzustellen, dass sie nach der erforderlichen Anzahl von Wellenformen endet.EN 60512-25-6:200464.2.1.2 Der Prfling ist anzuschlieen und die Datenerfassung auszulsen, um ein vorlufiges Augen-dia

36、gramm zu erzeugen.4.2.1.3 Nachdem die vorlufigen Daten des Augendiagramms erfasst wurden, ist die gewnschte Maskeanzuzeigen oder zu erzeugen. Es ist sicherzustellen, dass das Augendiagramm und die Maske bereinanderund in der Mitte der horizontalen Achse der Anzeige angeordnet werden. Die Maske sollt

37、e (von links nachrechts) so gelegt werden, dass sie am besten in das Augendiagramm passt. Beispiele siehe Bilder B.3 undB.4.4.2.1.4 Falls verfgbar ist am DSO die Funktion zu aktivieren, die die Anzahl der Datenpunkte zhlt, dieinnerhalb der Maske liegen (werden als Maskentreffer“ bezeichnet).4.2.1.5

38、Die Datenerfassung zur Erzeugung eines neuen Augendiagramms ist auszulsen.4.2.1.6 Nachdem die Datenerfassung abgeschlossen ist, ist die Anzahl der Maskentreffer aufzuzeichnen.Falls am DSO keine automatische Zhlfunktion (Trefferzhler“) verfgbar ist, ist die Anzahl derMaskentreffer auszuzhlen und aufz

39、uzeichnen.4.2.1.7 Falls vom Referenzdokument gefordert, ist ein Bildschirmausdruck der Oszilloskopanzeige anzufer-tigen.4.2.2 Verfahren B, Prfung der Augenffnung4.2.2.1 Das Oszilloskop ist auf unendliche Nachleuchtanzeige einzustellen und die Datenerfassung ist soeinzustellen, dass sie nach der erfo

40、rderlichen Anzahl von Wellenformen endet.4.2.2.2 Der Prfling ist anzuschlieen und die Datenerfassung auszulsen, um das Augendiagramm zu er-zeugen.4.2.2.3 Nachdem das Augendiagramm erfasst wurde, ist die Augenhhe bei der Hlfte des Bitintervalls (Vbei 50 % von t) zu messen und aufzuzeichnen. Die Augen

41、breite ist bei einem Spannungspegel von 50 % derSignalamplitude (t bei 50 % von V) zu messen und aufzuzeichnen.4.2.2.4 Falls vom Referenzdokument gefordert, ist ein Bildschirmausdruck der Oszilloskopanzeige anzu-fertigen.4.3 Jitter4.3.1 Verfahren C, Prfung mit einer pseudostatistischen Bitfolge (eng

42、.: Pseudo-Random Bit Sequence,PRBS), (Mehrfachmuster)4.3.1.1 Anzeige des Augendiagramms nach 4.2.4.3.1.2 Die Schreibspur ist in der Mitte der horizontalen Achse anzuordnen, so dass die gesamte Amplitudedes Augendiagramms auf der Anzeige sichtbar ist.4.3.1.3 DSO, automatisches Verfahren:4.3.1.3.1 Fal

43、ls das Oszilloskop eine Funktion zur automatischen statistischen Messung besitzt, ist derenAnwendung zur Messung des Jitters und des Augenschnittpunktes zu empfehlen.4.3.1.3.2 Bei der Anwendung von manuellen Messgrenzen ist sicherzustellen, dass die vertikalenGrenzen mglichst nah zusammenliegen, jed

44、och hchstens 20 mV voneinander entfernt, siehe Bild B.5.4.3.1.4 DSO, manuelles Verfahren:4.3.1.4.1 Falls keine automatische Messfunktion verfgbar ist, sind zwei vertikale Cursor anzuordnen,einer auf jeder Seite des Augenschnittpunktes, siehe Bild B.6.EN 60512-25-6:200474.3.1.4.2 Der Jitterwert ist a

45、us der Differenz (dem Abstand) zwischen den Cursorpositionen abzulesen.4.3.2 Verfahren D, Impulsprfung (Einzelmuster)4.3.2.1 Der Generator ist auf ein gleichstromsymmetriertes Prfmuster einzustellen. Dabei handelt es sichum eine Rechteckwelle oder ein PRBS-Muster bei der festgelegten Frequenz.4.3.2.

46、2 Das Oszilloskop ist auf unendliche Nachleuchtanzeige einzustellen und die vertikale Lage ist so ein-zustellen, dass die Wellenform vertikal in der Mitte der Anzeige mit der Halbamplitude in der Bildschirmmitteliegt.4.3.2.3 Der Generator ist so einzustellen, dass das festgelegte Prfmuster erzeugt w

47、ird. Dieses Musterkann so ausgewhlt werden, dass eine lange ideale Folge simuliert wird, die genau dem Datenmuster derAnwendung entspricht. blich ist ein Muster mit einer logischen Eins (1“) gefolgt von zwanzig oder mehrlogischen Nullen (0“). Bei unsymmetrischen Messungen sind die Pegel von logisch

48、1 und logisch 0 zumessen, und falls erforderlich der Generator so nachzustellen, dass die Halbamplitude der Wellenform immernoch in der Bildschirmmitte liegt. Bei differentiellen Messungen sind die Pegel von logisch 1 und logisch 0beider Kanle zu messen. Der Generator ist so einzustellen, dass der V

49、ersatz der Spannung oder Zeitzwischen den Kanlen mglichst gering ist. Wenn zwischen den Kanlen ein Spannungsversatz vorliegt,muss der Betrag des Versatzes zum Messpunkt der Halbamplitude fr die Impulsbreite nach 4.3.2.4 addiertoder von diesem Punkt abgezogen werden (wie zutreffend).4.3.2.4 Mit den Cursors oder Messfunktionen des Oszilloskops ist die Impulsbreite, die den Messpunkt derHalbam