DIN EN 60749-13-2003 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 13 Salt atmosphere (IEC 60749-13 2002) German version EN 60749-13 2002《半导体器件 机械和气候试验方法 第13部.pdf

1、DEUTSCHE NORM April 2003HalbleiterbauelementeMechanische und klimatische PrfverfahrenTeil 13: Salzatmosphre(IEC 60749-13:2002) Deutsche Fassung EN 60749-13:2002EN 60749-13ICS 31.080.01 Teilweiser Ersatz frDIN EN 60749:2002-09Siehe Beginn der GltigkeitSemiconductor devicesMechanical and climatic test

2、 methodsPart 13: Salt atmosphere(IEC 60749-13:2002); German version EN 60749-13:2002Dispositifs semiconducteursMthodes dessais mcaniques et climatiquesPartie 13: Atmosphre saline(CEI 60749-13:2002); Version allemande EN 60749-13:2002Die Europische Norm EN 60749-13:2002 hat den Status einer Deutschen

3、 Norm.Beginn der GltigkeitDie EN 60749-13 wurde am 2002-07-02 angenommen.Daneben drfen die Festlegungen von Kapitel 3, Abschnitt 6 der DIN EN 60749:2002-09 noch bis2005-07-01 angewendet werden.Nationales VorwortFr die vorliegende Norm ist das nationale Arbeitsgremium K 631 Halbleiterbauelemente der

4、DKEDeutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik im DIN und VDE zustndig.Die enthaltene IEC-Publikation wurde vom TC 47 Semiconductor devices erarbeitet. Sie geht aufeinen Beschluss des TC 47 zurck, die in IEC 60749 enthaltenen Prfverfahren in getrennten Teilen zuverffentlichen.D

5、as IEC-Komitee hat entschieden, dass der Inhalt dieser Publikation bis zum Jahr 2012 unverndertbleiben soll. Zu diesem Zeitpunkt wird entsprechend der Entscheidung des Komitees die Publikation besttigt, zurckgezogen, durch eine Folgeausgabe ersetzt oder gendert.Fr den Fall einer undatierten Verweisu

6、ng im normativen Text (Verweisung auf eine Norm ohne Angabedes Ausgabedatums und ohne Hinweis auf eine Abschnittsnummer, eine Tabelle, ein Bild usw.) beziehtsich die Verweisung auf die jeweils neueste gltige Ausgabe der in Bezug genommenen Norm.Fr den Fall einer datierten Verweisung im normativen Te

7、xt bezieht sich die Verweisung immer auf diein Bezug genommene Ausgabe der Norm.Fortsetzung Seite 2und 6 Seiten ENDKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik im DIN und VDE DIN Deutsches Institut fr Normung e. V. Jede Art der Vervielfltigung, auch auszugsweise,nur mit Geneh

8、migung des DIN Deutsches Institut fr Normung e. V., Berlin, gestattet.Alleinverkauf der Normen durch Beuth Verlag GmbH, 10772 BerlinRef. Nr. DIN EN 60749-13:2003-04Preisgr. 08 Vertr.-Nr. 2508DIN EN 60749-13:2003-042Der Zusammenhang der zitierten Normen mit den entsprechenden Deutschen Normen ergibt

9、sich, soweit einZusammenhang besteht, grundstzlich ber die Nummer der entsprechenden IEC-Publikation. Beispiel:IEC 60068 ist als EN 60068 als Europische Norm durch CENELEC bernommen und als DIN EN 60068 insDeutsche Normenwerk aufgenommen.IEC hat 1997 die Benummerung der IEC-Publikationen gendert. Zu

10、 den bisher verwendeten Normnummernwird jeweils 60000 addiert. So ist zum Beispiel aus IEC 68 nun IEC 60068 geworden.nderungenGegenber DIN EN 60749:2002-09 wurden folgende nderungen vorgenommen: vollstndige Neufassung der in DIN EN 60749, Kapitel 3, Abschnitt 6, enthaltenen Prfung.Frhere AusgabenDIN

11、 41794-1: 1972-06DIN IEC 60749: 1987-09DIN EN 60749: 2000-02, 2001-09, 2002-09EUROPISCHE NORMEUROPEAN STANDARDNORME EUROPENNEEN 60749-13August 2002ICS 31.080.01 Ersatz fr EN 60749:1999 + A1:2000 + A2:2001 (teilweise) Deutsche FassungHalbleiterbauelementeMechanische und klimatische PrfverfahrenTeil 1

12、3: Salzatmosphre(IEC 60749-13:2002)Semiconductor devicesMechanical and climatic test methodsPart 13: Salt atmosphere(IEC 60749-13:2002)Dispositifs semiconducteursMthodes dessais mcaniqueset climatiquesPartie 13: Atmosphre saline(CEI 60749-13:2002)Diese Europische Norm wurde von CENELEC am 2002-07-02

13、 angenommen. DieCENELEC-Mitglieder sind gehalten, die CEN/CENELEC-Geschftsordnung zuerfllen, in der die Bedingungen festgelegt sind, unter denen dieser EuropischenNorm ohne jede nderung der Status einer nationalen Norm zu geben ist.Auf dem letzten Stand befindliche Listen dieser nationalen Normen mi

14、t ihren biblio-graphischen Angaben sind beim Zentralsekretariat oder bei jedem CENELEC-Mit-glied auf Anfrage erhltlich.Diese Europische Norm besteht in drei offiziellen Fassungen (Deutsch, Englisch,Franzsisch). Eine Fassung in einer anderen Sprache, die von einem CENELEC-Mitglied in eigener Verantwo

15、rtung durch bersetzung in seine Landessprache ge-macht und dem Zentralsekretariat mitgeteilt worden ist, hat den gleichen Status wiedie offiziellen Fassungen.CENELEC-Mitglieder sind die nationalen elektrotechnischen Komitees von Belgien,Dnemark, Deutschland, Finnland, Frankreich, Griechenland, Irlan

16、d, Island, Italien,Luxemburg, Malta, den Niederlanden, Norwegen, sterreich, Portugal, Schweden,der Schweiz, der Slowakei, Spanien, der Tschechischen Republik, Ungarn und demVereinigten Knigreich.CENELECEuropisches Komitee fr Elektrotechnische NormungEuropean Committee for Electrotechnical Standardiz

17、ationComit Europen de Normalisation ElectrotechniqueZentralsekretariat: rue de Stassart 35, B-1050 Brssel 2002 CENELEC Alle Rechte der Verwertung, gleich in welcher Form und in welchem Verfahren,sind weltweit den Mitgliedern von CENELEC vorbehalten.Ref. Nr. EN 60749-13:2002 DEN 60749-13:20022Vorwort

18、Der Text des Schriftstcks 47/1599/FDIS, zuknftige 1. Ausgabe von IEC 60749-13, ausgearbeitet von demIEC TC 47 Semiconductor devices, wurde der IEC-CENELEC Parallelen Abstimmung unterworfen und vonCENELEC am 2002-07-02 als EN 60749-13 angenommen.Dieses mechanische und klimatische Prfverfahren ist, so

19、weit es sich auf die Salzatmosphre bezieht, einevollstndige Neufassung der in EN 60749:1999, Kapitel 3, Abschnitt 6, enthaltenen Prfung.Nachstehende Daten wurden festgelegt: sptestes Datum, zu dem die EN auf nationaler Ebenedurch Verffentlichung einer identischen nationalenNorm oder durch Anerkennun

20、g bernommen werdenmuss (dop): 2003-04-01 sptestes Datum, zu dem nationale Normen, dieder EN entgegenstehen, zurckgezogen werdenmssen (dow): 2005-07-01Anhnge, die als normativ bezeichnet sind, gehren zum Norm-Inhalt.In dieser Norm ist Anhang ZA normativ.Der Anhang ZA wurde von CENELEC hinzugefgt.Aner

21、kennungsnotizDer Text der Internationalen Norm IEC 60749-13:2002 wurde von CENELEC ohne irgendeine Abnderungals Europische Norm angenommen.EN 60749-13:200231 AnwendungsbereichIn diesem Teil der IEC 60749 ist das Prfverfahren mit Salzatmosphre zur Bestimmung der Bestndigkeitvon Halbleiterbauelementen

22、 gegen Korrosion beschrieben. Es ist ein beschleunigendes Prfverfahren, wel-ches die Auswirkungen einer rauen Meereskstenatmosphre auf allen exponierten Oberflchen nachbildet.Es ist nur fr Bauelemente anwendbar, die fr den Einsatz in einer Meeresumgebung vorgesehen sind.Das Prfverfahren mit Salzatmo

23、sphre wird als zerstrend betrachtet.Dieses Prfverfahren mit Salzatmosphre entspricht im Allgemeinen IEC 60068-2-11; allerdings sind, bedingtdurch die besonderen Anforderungen an Halbleiterbauelemente, die Abschnitte der vorliegenden Norm anzu-wenden.2 Normative VerweisungenDie nachfolgend aufgefhrte

24、n Dokumente sind fr die Anwendung dieser Norm unerlsslich. Bei datiertenVerweisungen gilt nur die zitierte Ausgabe. Bei undatierten Verweisungen gilt die letzte Ausgabe des zitiertenDokumentes (einschlielich aller nderungen).IEC 60749-14, Semiconductor devices Mechanical and climatic test methods Pa

25、rt 14: Robustness ofterminations 1)IEC 60068-2-11, Environmental testing Part 2: Tests Test Ka: Salt mist3 PrfeinrichtungDie nachfolgenden Einrichtungen sind fr die Durchfhrung der Prfung mit Salzatmosphre erforderlich.a) Temperaturgeregelte Prfkammer mit geeignetem korrosionsbestndigem Gestellrahme

26、n zur Aufnahmeder Bauelemente.b) Salzlsungsbehlter.Das verwendete Salz hat Natriumchlorid zu sein, das auf einer Trockenbasis nicht mehr als 0,1 %Natriumjodid und insgesamt nicht mehr als 0,3 Masseprozent Verunreinigungen enthlt. Das verwendetedestillierte oder anderweitige Wasser sollte insgesamt n

27、icht mehr als 200 106Festkrperanteileenthalten. Die Lsung sollte durch Filtrieren oder Dekantieren frei von Festkrperanteilen gehaltenwerden.Die Salzkonzentration hat 0,5 bis 3,0 Masseprozent in entionisiertem oder destilliertem Wasser zur Errei-chung der Ablagerungsrate nach den Festlegungen von Ab

28、schnitt 4 zu sein.c) Einrichtungen zur Vernebelung der Salzlsung, einschlielich geeigneter Dsen und Drucklufterzeuger.d) Einrichtungen zur Befeuchtung der Luft bei einer Temperatur oberhalb der Temperatur der Prfkammer.e) Lupe, 10fach bis 20fach.4PrfablaufNach der Vorbehandlung entsprechend 4.1 sind

29、 die Bauelemente so in der Prfkammer anzuordnen, dasssie einander nicht berhren oder sich gegenseitig von dem sich frei absetzenden Nebel abschirmen und dassKorrosionsprodukte und Kondensate nicht von einem Prfling auf einen anderen fallen knnen. Der Salz-nebel ist in der Prfkammer fr die Dauer aufr

30、echtzuhalten, die unter den geforderten Prfbeanspruchungen(Schrfegrade) in 4.2 festgelegt ist. Whrend der Prfung ist die Prfkammer auf einer Temperatur von(35 2) C zu halten. Die Nebelkonzentration und -geschwindigkeit hat so zu sein, dass die Rate derSalzablagerung im Prfraum in 24 h (30 10) g/m2be

31、trgt. Der pH-Wert der Salzlsung ist zwischen 6,0 und1)In Vorbereitung.EN 60749-13:200247,5 zu halten, wenn er bei mindestens 35 C gemessen wird (es darf nur nach dem Food-Chemicals-Codexchemisch reine Salzsure (in verdnnter Lsung) oder reines Natriumhydroxid zum Einstellen des pH-Wertesverwendet wer

32、den).4.1 VorbehandlungWenn eine Vorbehandlung festgelegt ist, sind die Bauelementeanschlsse einer Beanspruchung nachPrfbeanspruchung B des in IEC 60749-14 festgelegten Verfahrens zu unterziehen, und zwar bevor die Bau-elemente fr die Salzatmosphrenbeanspruchung montiert werden. Wenn an den Bauelemen

33、ten des Prf-loses zur Salzatmosphrenbeanspruchung die festgelegte Vorbehandlung bereits als Teil einer anderenPrfung an demselben Prflos durchgefhrt wurde, braucht die Anschluss-Biegebeanspruchung nicht wieder-holt zu werden.4.2 BeanspruchungsdauerDie Mindestdauer der Einwirkung mit Salzatmosphre is

34、t aus Tabelle 1 zu whlen. Falls nicht andersfestgelegt, ist die Prfbeanspruchung A (Schrfegrad A) anzuwenden.Tabelle 1 MindesteinwirkungsdauerSchrfegrad Dauer der PrfunghA 24 2B 48 4C 96 4D 240 84.3 Nachbehandlung fr die MessungenFalls nicht anders festgelegt, sind nach Abschluss der Prfbeanspruchun

35、g die Ablagerungen auf den Bauele-menten wie folgt zu prparieren:Salzablagerungen sind durch leichtes Waschen oder Eintauchen in Wasser mit einer Temperatur von nichtmehr als 40 C und leichtes Abbrsten unter Verwendung einer Brste mit weichen Haar- oder Kunststoff-borsten zu entfernen.4.4 Fehlerkrit

36、erien (Beurteilungskriterien)Ein Bauelement ist als fehlerhaft zu betrachten, wenn:a) festgelegte Kennzeichnungen unleserlich sind, und zwar, wenn sie bei normaler Raumbeleuchtungsowie einer bis zu 3fachen Vergrerung betrachtet werden;b) auf mehr als 5 % der Flche der Oberflchenvergtung (Finish) ode

37、r des Grundmetalls eines beliebigenGehuseteils (z. B. Deckel, Anschluss oder Kappe) Korrosion nachgewiesen wird, Bauelementean-schlsse fehlen oder gebrochen sind, Prf-Grenzwerte von elektrischen Kenngren berschritten wer-den oder eine das ganze Bauelement bedeckende Korrosion zu sehen ist, wenn das

38、Bauelement mit10facher bis 20facher Vergrerung betrachtet wird. Bei diesem Prfverfahren wird Korrosion als tat-schliche Beschdigung der Werkstoffstruktur oder der Oberflchenvergtung definiert. Flecken oderVerfrbungen, einschlielich solcher, die mit Korrosionsstellen verbunden sind, drfen nicht als B

39、esch-digung betrachtet werden. Korrosion an der Spitze von Anschlssen (und Korrosionsprodukte, die sichaus solcher Korrosion ergeben), ist (sind) zu vernachlssigen.ANMERKUNG Die Oberflchenvergtung sollte das Gehuse und die ungeschtzten Anschlussflchen vom Meniskusbis zur Anschlussspitze (auer konstr

40、uktionsbedingter Schnittflchen) und alle anderen ungeschtzten Metalloberflchenvollstndig einschlieen.EN 60749-13:200255 bersicht der wichtigen AngabenDie nachfolgenden Angaben sind in der entsprechenden Detailspezifikation festzulegen.a) Vorbehandlung, falls gefordert (siehe 4.1).b) Prfbeanspruchung

41、 (Schrfegrad), falls anders als Prfbeanspruchung A (siehe 4.2).c) Reinigungsverfahren, falls abweichend von 4.3.d) Fehlerkriterien, falls abweichend von 4.4.e) Stichprobenumfang und Annahmezahl.EN 60749-13:20026Anhang ZA(normativ)Normative Verweisungen auf internationale Publikationenmit ihren entsp

42、rechenden europischen PublikationenDiese Europische Norm enthlt durch datierte oder undatierte Verweisungen Festlegungen aus anderenPublikationen. Diese normativen Verweisungen sind an den jeweiligen Stellen im Text zitiert, und diePublikationen sind nachstehend aufgefhrt. Bei datierten Verweisungen

43、 gehren sptere nderungen oderberarbeitungen dieser Publikationen zu dieser Europischen Norm nur, falls sie durch nderung oderberarbeitung eingearbeitet sind. Bei undatierten Verweisungen gilt die letzte Ausgabe der in Bezuggenommenen Publikation (einschlielich nderungen).ANMERKUNG Wenn international

44、e Publikationen durch gemeinsame Abnderungen gendert wurden, durch (mod)angegeben, gelten die entsprechenden EN/HD.Publikation Jahr Titel EN/HD JahrIEC 60749-14 1)Semiconductor devices Mechanical and climatictest methodsPart 14: Robustness of terminaisons (lead integrity)IEC 60068-2-11 1981 Environmental testingPart 2 : Tests Test Ka: Salt mistEN 60068-2-11 19991)Zu verffentlichen.