DIN EN 61747-6-3-2012 Liquid crystal display devices - Part 6-3 Measuring methods for liquid crystal display modules - Motion artifact measurement of active matrix liquid crystal d.pdf

1、Mai 2012DEUTSCHE NORM DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik im DIN und VDEPreisgruppe 16DIN Deutsches Institut fr Normung e. V. Jede Art der Vervielfltigung, auch auszugsweise, nur mit Genehmigung des DIN Deutsches Institut fr Normung e. V., Berlin, gestattet.ICS 31.1

2、20!$z=2“1872615www.din.deDDIN EN 61747-6-3Flssigkristall-Anzeige-Bauelemente Teil 6-3: Messverfahren fr Bewegungsartefakte beiAktiv-Matrix-LCD-Modulen (IEC 61747-6-3:2011);Deutsche Fassung EN 61747-6-3:2011Liquid crystal display devices Part 6-3: Measuring methods for liquid crystal display modules

3、Motion artifact measurement of active matrix liquid crystal display modules(IEC 61747-6-3:2011);German version EN 61747-6-3:2011Dispositifs daffichage cristaux liquides Partie 6-3: Mthodes des mesure pour les modules daffichage cristaux liquides Mesure de lartefact de mouvement dans les modules daff

4、ichage cristaux liquides matrice active (CEI 61747-6-3:2011);Version allemande EN 61747-6-3:2011Alleinverkauf der Normen durch Beuth Verlag GmbH, 10772 Berlin www.beuth.deGesamtumfang 25 SeitenDIN EN 61747-6-3:2012-05 2 Anwendungsbeginn Anwendungsbeginn fr die von CENELEC am 2011-08-17 angenommene E

5、uropische Norm als DIN-Norm ist 2012-05-01. Nationales Vorwort Vorausgegangener Norm-Entwurf: E DIN IEC 61747-6-3:2006-11. Fr diese Norm ist das nationale Arbeitsgremium K 742 Audio-, Video- und Multimediasysteme, -gerte und -komponenten“ der DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informa

6、tionstechnik im DIN und VDE (www.dke.de) zustndig. Die enthaltene IEC-Publikation wurde vom TC 110 Flat Panel Display Devices“ erarbeitet. Das IEC-Komitee hat entschieden, dass der Inhalt dieser Publikation bis zu dem Datum (maintenance result date) unverndert bleiben soll, das auf der IEC-Website u

7、nter http:/webstore.iec.ch“ zu dieser Publikation angegeben ist. Zu diesem Zeitpunkt wird entsprechend der Entscheidung des Komitees die Publikation besttigt, zurckgezogen, durch eine Folgeausgabe ersetzt oder gendert. Fr den Fall einer undatierten Verweisung im normativen Text (Verweisung auf eine

8、Norm ohne Angabe des Ausgabedatums und ohne Hinweis auf eine Abschnittsnummer, eine Tabelle, ein Bild usw.) bezieht sich die Verweisung auf die jeweils neueste gltige Ausgabe der in Bezug genommenen Norm. Fr den Fall einer datierten Verweisung im normativen Text bezieht sich die Verweisung immer auf

9、 die in Bezug genommene Ausgabe der Norm. Der Zusammenhang der zitierten Normen mit den entsprechenden Deutschen Normen ergibt sich, soweit ein Zusammenhang besteht, grundstzlich ber die Nummer der entsprechenden IEC-Publikation. Beispiel: IEC 60068 ist als EN 60068 als Europische Norm durch CENELEC

10、 bernommen und als DIN EN 60068 ins Deutsche Normenwerk aufgenommen. EUROPISCHE NORM EUROPEAN STANDARD NORME EUROPENNE EN 61747-6-3 September 2011 ICS 31.120 Deutsche Fassung Flssigkristall-Anzeige-Bauelemente Teil 6-3: Messverfahren fr Bewegungsartefakte bei Aktiv-Matrix-LCD-Modulen(IEC 61747-6-3:2

11、011) Liquid crystal display devices Part 6-3: Measuring methods for liquid crystal display modules Motion artifact measurement of active matrix liquid crystal display modules (IEC 61747-6-3:2011) Dispositifs daffichage cristaux liquides Partie 6-3: Mthodes des mesure pour les modules daffichage cris

12、taux liquides Mesure de lartefact de mouvement dans les modules daffichage cristaux liquides matrice active (CEI 61747-6-3:2011) Diese Europische Norm wurde von CENELEC am 2011-08-17 angenommen. Die CENELEC-Mitglieder sind gehalten, die CEN/CENELEC-Geschftsordnung zu erfllen, in der die Bedingungen

13、festgelegt sind, unter denen dieser Europischen Norm ohne jede nderung der Status einer nationalen Norm zu geben ist. Auf dem letzten Stand befindliche Listen dieser nationalen Normen mit ihren bibliographischen Angaben sind beim Zentralsekretariat oder bei jedem CENELEC-Mitglied auf Anfrage erhltli

14、ch. Diese Europische Norm besteht in drei offiziellen Fassungen (Deutsch, Englisch, Franzsisch). Eine Fassung in einer anderen Sprache, die von einem CENELEC-Mitglied in eigener Verantwortung durch bersetzung in seine Landessprache gemacht und dem Zentralsekretariat mitgeteilt worden ist, hat den gl

15、eichen Status wie die offiziellen Fassungen. CENELEC-Mitglieder sind die nationalen elektrotechnischen Komitees von Belgien, Bulgarien, Dnemark, Deutschland, Estland, Finnland, Frankreich, Griechenland, Irland, Island, Italien, Kroatien, Lettland, Litauen, Luxemburg, Malta, den Niederlanden, Norwege

16、n, sterreich, Polen, Portugal, Rumnien, Schweden, der Schweiz, der Slowakei, Slowenien, Spanien, der Tschechischen Republik, der Trkei, Ungarn, dem Vereinigten Knigreich und Zypern. CENELEC Europisches Komitee fr Elektrotechnische Normung European Committee for Electrotechnical Standardization Comit

17、 Europen de Normalisation Electrotechnique Zentralsekretariat: rue de Stassart 35, B-1050 Brssel 2011 CENELEC Alle Rechte der Verwertung, gleich in welcher Form und in welchem Verfahren, sind weltweit den Mitgliedern von CENELEC vorbehalten. Ref. Nr. EN 61747-6-3:2011 DDIN EN 61747-6-3:2012-05 EN 61

18、747-6-3:2011 Vorwort Der Text des Dokuments 110/296/FDIS, zuknftige Ausgabe 1 der IEC 61747-6-3, erarbeitet durch IEC/TC 110 Flat panel display devices“ wurde zur parallelen IEC-CENELEC-Abstimmung vorgelegt und von CENELEC als EN 61747-6-3:2011 angenommen. Nachstehende Daten wurden festgelegt: sptes

19、tes Datum, zu dem die EN auf nationaler Ebene durch Verffentlichung einer identischen nationalen Norm oder durch Anerkennung bernommen werden muss (dop): 2012-05-17 sptestes Datum, zu dem nationale Normen, die der EN entgegenstehen, zurckgezogen werden mssen (dow): 2014-08-17 Es wird auf die Mglichk

20、eit hingewiesen, dass einige Elemente dieses Dokuments Patentrechte berhren knnen. CEN und CENELEC sind nicht dafr verantwortlich, einige oder alle diesbezglichen Patentrechte zu identifizieren. _ Anerkennungsnotiz Der Text der Internationalen Norm IEC 61747-6-3:2011 wurde vom CENELEC ohne irgendein

21、e Abnderung als Europische Norm angenommen. In der offiziellen Fassung sind unter Literaturhinweise zu den aufgelisteten Normen die nachstehenden Anmerkungen einzutragen: IEC 61747-1:2003 ANMERKUNG Harmonisiert als EN 61747-1:1999 + A1:2003 (nicht modifiziert). IEC 61747-5:1998 ANMERKUNG Harmonisier

22、t als EN 61747-5:1998 (nicht modifiziert). ISO 9241-307 ANMERKUNG Harmonisiert als EN ISO 9241-307. ISO 11664-4:2008 ANMERKUNG Harmonisiert als EN ISO 11664-4:2011 (nicht modifiziert). _ 2 DIN EN 61747-6-3:2012-05 EN 61747-6-3:2011 Inhalt SeiteVorwort .2 1 Anwendungsbereich.5 2 Normative Verweisunge

23、n .5 3 Begriffe .5 4 Abkrzungen 6 5 Standard-Messbedingungen7 5.1 Temperatur, Luftfeuchtigkeit und Luftdruck .7 5.2 Beleuchtungsbedingungen.7 6 Standard-Messverfahren fr Verschleifungen durch Bewegung .7 6.1 Allgemeines7 6.2 Direkte Messverfahren .7 6.2.1 Standard-Messung7 6.2.2 Prfmuster.7 6.2.3 An

24、alyseverfahren 10 6.3 Indirektes Messverfahren.12 6.3.1 Zeitliche Sprungantwort 12 6.3.2 Hochgeschwindigkeitskamera 15 7 Prfbericht15 7.1 Allgemeines15 7.2 Elemente im Prfbericht.15 7.2.1 Umgebungsbedingungen15 7.2.2 Anzeige-Parameter .15 7.2.3 Messverfahren und Bedingungen .16 7.2.4 Analyse-Verfahr

25、en 16 Anhang A (informativ) Subjektive Prfverfahren .17 Anhang B (informativ) Kontrastreduktion durch Bewegung 18 Anhang C (informativ) Dynamik-Modulations-bertragungsfunktion20 Literaturhinweise 22 Anhang ZA (normativ) Normative Verweisungen auf internationale Publikationen mit ihren entsprechenden

26、 europischen Publikationen23 Bilder Bild 1 Beispiele von Prfmustern fr Kantenverschleifung .8 Bild 2 Beispiel fr ein Kamerasystem mit Winkelnachfhrung8 Bild 3 Beispiel fr ein Kamerasystem mit linearer Nachfhrung .9 Bild 4 Beispiel fr ein Leuchtdichte-Querprofil der Kantenverschleifung 10 Bild 5 Beis

27、piel fr ein Leuchtdichte-Querprofil der Kantenverschleifung 11 Bild 6 PBET-Berechnung.11 Bild 7 Messaufbau zur Erfassung der zeitlichen Sprungantwort.12 3 DIN EN 61747-6-3:2012-05 EN 61747-6-3:2011 SeiteBild 8 Beispiel fr eine LCD-Antwortzeit-Messung. 14 Bild 9 Beispiel fr eine Bewegtbildantwortkurv

28、e, die aus der Antwortzeitmessung nach Bild 8 ermittelt wurde, und eine Faltung mit einer Fensterfunktion der Breite einer Bildwiederholperiode . 14 Bild 10 Beispiel eines Berichts fr Messdaten 16 Bild B.1 Beispiel fr ein Prfmuster zur Messung der Linienaufspreizung. 18 Bild B.2 Beispiel fr die Bewe

29、gungs-Kontrastabnahme durch Linienaufspreizung 19 Bild C.1 Beispiel fr die Bewegungs-Kontrastabnahme. 20 Bild C.2 Beispiel von DMTF-Eigenschaften von LCDs mit unterschiedlicher Bewegungsgeschwindigkeit (V). 21 Tabellen Tabelle 1 Sprungantwortdaten fr unterschiedliche Leuchtdichtebergnge 10 4 DIN EN

30、61747-6-3:2012-05 EN 61747-6-3:2011 1 Anwendungsbereich Dieser Teil von IEC 61747 bezieht sich auf den durchlssigen Typ von Aktiv-Matrix-LCD-Modulen. Diese Internationale Norm gibt allgemeine Regeln an fr die Qualittsbewertung in Bezug auf die Bewegungswiedergabe von LCDs. Die Norm definiert Artefak

31、te in den Bewegungsinhalten und Methoden fr die Messung der Bewegungsartefakte. ANMERKUNG Die in dieser Norm definierten Messverfahren fr Verschleifungen durch Bewegung und Analyse-verfahren knnen aufgrund von deren Komplexitt keine universellen Werkzeuge fr alle verschiedenen LCD-Technologien zur B

32、ewegungsverbesserung sein. 2 Normative Verweisungen Die folgenden zitierten Dokumente sind fr die Anwendung dieses Dokuments erforderlich. Bei datierten Verweisungen gilt nur die in Bezug genommene Ausgabe. Bei undatierten Verweisungen gilt die letzte Ausgabe des in Bezug genommenen Dokuments (einsc

33、hlielich aller nderungen). IEC 61747-6, Liquid crystal and solid-state display devices Part 6: Measuring methods for liquid crystal modules Transmissive Type 3 Begriffe Fr die Anwendung dieses Dokuments gelten die folgenden Begriffe. 3.1 Bewegtbild-Antwortkurve (en: motion picture response curve) Fa

34、ltung der zeitlichen Sprungantwort mit einem Rechteckfenster der Breite (Dauer) einer Bildperiode. Sie stellt dar, wie die Leuchtdichte (bei kontinuierlicher Verfolgung eines visuellen Ziels durch die Augen) als Funktion der Zeit integriert wird, und vereint die Wirkung der Antwortzeit des Flssigkri

35、stalls mit der Haltecharakteristik des Testobjekts (hold-type display) 3.2 bewegungsinduziertes Kantenprofil (en: motion induced edge profile) Leuchtdichte-Profil des bergangs eines bewegten, ursprnglich rechteckigen Leuchtdichteprofils bei kontinuierlicher visueller Verfolgung entlang der Bahn der

36、Bewegung ANMERKUNG Dieses Profil kann aus der Bewegtbild-Antwortkurve fr jede Geschwindigkeit der Bewegung berechnet werden. 3.3 Kantenverschleifung (en: edge blur) sichtbare Unschrfe eines ursprnglich sprunghaften bergangs zwischen zwei angrenzenden Flchen mit unterschiedlicher Leuchtdichte, wenn s

37、ich dieser bergang zeitlich gleichmig ber die Anzeige bewegt ANMERKUNG Voraussetzungen fr diese Form der Kantenverschleifung sind die gleichmige Verfolgung des Objekts durch die Augen und kein deutliches Flimmern bei gleichzeitiger Integration der Leuchtdichte ber eine Bild-periode. Diese Art der Ka

38、ntenverschleifung tritt hauptschlich bei Flssigkristall-Anzeigen (LCDs) auf, denn sie ist eine Folge von verlngerten Antwortzeiten des Flssigkristalls zusammen mit der Erhaltungsdarstellung der Anzeige (hold-type display). 5 DIN EN 61747-6-3:2012-05 EN 61747-6-3:2011 3.4 wahrgenommene Kantenverschle

39、ifungsdauer (en: perceived blurred edge time) zeitliche Entsprechung der wahrgenommenen Kantenverschleifungsbreite. Letztere wird aus dem bewegungsinduzierten Kantenprofil durch Filterung mit der Kontrastempfindlichkeitsfunktion des mensch-lichen Beobachters abgeleitet 4 Abkrzungen Fr die Anwendung

40、dieses Dokuments gelten die folgenden Abkrzungen. BET Kantenverschleifungsdauer (en: blurred edge time) BEW Kantenverschleifungsbandbreite (en: blurred edge width) CCD Halbleiterelemente zur Bildumwandlung in elektrische Signale (en: charge-coupled device) CIE Internationale Beleuchtungs-Kommission

41、en: International commission on illumination) CMOS Halbleitertechnologie (en: complimentary metal-oxide semiconductor) CSF kontrastempfindliche Funktion (en: contrast sensitivity function) DMTF dynamische Modulationstransferfunktion (en: dynamic modulation transfer function) DUT Testobjekt (en: dis

42、play under test) DVI Schnittstellenstandard fr Video, abgelst durch HDMI (en: digital visual interface) EBET erweiterte Kantenverschleifungsdauer (en: extended blurred edge time) FFT schnelle Fourier-Transformation (en: fast Fourier transform) IEC Internationale Elektrotechnische Kommission (en: Int

43、ernational Electrotechnical Commission) ISO Internationale Organisation fr Normung (en: International Organization for Standardization) JND Wahrnehmbarkeitsschwelle (en: just noticeable difference) LCD Flssigkristall-Anzeige (en: liquid crystal display) LMD Lichtmessgert (en: light measuring device)

44、 LVDS digitale Schnittstelle fr Flachbildschirme (en: low-voltage differential signaling) MCD Bewegungskontrastverlust (en: motion contrast degradation) MPRC Bewegtbild-Antwortkurve (en: motion picture response curve) MTF Anwendung fr optische Linsen (en: modulation transfer function) PBET wahrgenom

45、mene Kantenverschleifungsdauer (en: perceived blurred edge time) 6 DIN EN 61747-6-3:2012-05 EN 61747-6-3:2011 PBEW wahrgenommene Kantenverschleifungsbandbreite (en: perceived blurred edge width) TN-LCD verdrilltes nematisches LCD (en: twisted nematic liquid crystal display) VA-LCD vertikal ausgerich

46、tetes LCD (en: vertically-aligned liquid crystal display) 5 Standard-Messbedingungen 5.1 Temperatur, Luftfeuchtigkeit und Luftdruck Die Standard-Umgebungsbedingungen fr die Messungen von Bewegungsartefakten bei Aktiv-Matrix-LCD-Modulen sind: Temperatur (25 3) C, relative Luftfeuchte 25 % bis 85 % un

47、d 86 kPa bis 106 kPa fr Luftdruck. Alle Sichtprfungen mssen bei Temperaturen von (25 5) C durchgefhrt werden. 5.2 Beleuchtungsbedingungen Die Beleuchtungsstrke am Messpunkt fr transmissive Flssigkristall-Anzeigen muss kleiner als 1 lx sein (Standard-Dunkelraumbedingungen sind definiert in IEC 61747-

48、6). 6 Standard-Messverfahren fr Verschleifungen durch Bewegung 6.1 Allgemeines Bewegungsbedingte Unschrfen von Objekten sind bedingt durch die lange Antwortzeit von Flssigkristall-Anzeigen und einer ber die Bildperiode stationren Anzeige der bewegten Darstellung (in Bezug zur Haltezeit der Anzeige)

49、zusammen mit der gleichmigen Verfolgung des sich ber die Bildschirmflche bewegenden Objekts. Wenn sich ein Objekt ber die Anzeige bewegt und das Auge dieses Objekt gleichmig verfolgt, erfolgt eine rumlich-zeitliche Integration des Objekts auf der Netzhaut des Beobachters. Es gibt mehrere Verfahren zur Messung und Charakterisieru