DIN EN 61967-6-2008 Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions 150 kHz to 1 GHz - Part 6 Measurement of conducted emissions - Magnetic probe method (IEC 61967-6.pdf

1、Oktober 2008DEUTSCHE NORM DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik im DIN und VDEPreisgruppe 18DIN Deutsches Institut fr Normung e.V. Jede Art der Vervielfltigung, auch auszugsweise, nur mit Genehmigung des DIN Deutsches Institut fr Normung e.V., Berlin, gestattet.ICS 31

2、.200!$Q%4“1460217www.din.deDDIN EN 61967-6Integrierte Schaltungen Messung von elektromagnetischen Aussendungen im Frequenzbereichvon 150 kHz bis 1 GHz Teil 6: Messung der leitungsgefhrten Aussendungen Magnetsondenverfahren (IEC 61967-6:2002 + A1:2008);Deutsche Fassung EN 61967-6:2002 + A1:2008Integr

3、ated circuits Measurement of electromagnetic emissions, 150 kHz to 1 GHz Part 6: Measurement of conducted emissions Magnetic probe method(IEC 61967-6:2002 + A1:2008);German version EN 61967-6:2002 + A1:2008Circuits intgrs Mesure des missions lectromagntiques, 150 kHz 1 GHz Partie 6: Mesure des missi

4、ons conduites Mthode de la sonde magntique(CEI 61967-6:2002 + A1:2008);Version allemande EN 61967-6:2002 + A1:2008Alleinverkauf der Normen durch Beuth Verlag GmbH, 10772 BerlinErsatz frDIN EN 61967-6:2003-05Siehe jedoch Beginn derGltigkeitwww.beuth.deGesamtumfang 48 SeitenDIN EN 61967-6:2008-10 2 Be

5、ginn der Gltigkeit Die von CENELEC am 2002-09-01 angenommene EN 61967-6 gilt zusammen mit der am 2008-04-01 angenommenen nderung A1 als DIN-Norm ab 2008-10-01. Daneben darf DIN EN 61967-6:2003-05 noch bis 2011-04-01 angewendet werden. Nationales Vorwort Vorausgegangener Norm-Entwurf: E DIN IEC 61967

6、-6/A1:2005-06. Fr diese Norm ist das nationale Arbeitsgremium K 631 Halbleiterbauelemente“ der DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik im DIN und VDE (www.dke.de) zustndig. Die enthaltene IEC-Publikation wurde vom SC 47A Integrated circuits“ erarbeitet. Die nderung A1 z

7、u EN 61967-6:2002 ist in dieser Norm eingearbeitet und mit einem Randstrich gekennzeichnet. Wie aus dem Titel und Inhalt der vorliegenden Norm ersichtlich, wird hierin ein Messverfahren festgelegt. Das zustndige Arbeitsgremium K 631 weist daher auf folgenden Umstand besonders hin: Die aus dem Origin

8、altext IEC 61967-6:2002 direkt bersetzten Benennungen Messung/messen“ (en: measurement/to measure bzw. fr: mesure/mesurer) und Prfung/prfen“ (en: test/to test bzw. fr: essai/essayer) sind in der vorliegenden Norm Synonyme zum Begriff Messung/messen“. Fr den Fall einer undatierten Verweisung im norma

9、tiven Text (Verweisung auf eine Norm ohne Angabe des Ausgabedatums und ohne Hinweis auf eine Abschnittsnummer, eine Tabelle, ein Bild usw.) bezieht sich die Verweisung auf die jeweils neueste gltige Ausgabe der in Bezug genommenen Norm. Fr den Fall einer datierten Verweisung im normativen Text bezie

10、ht sich die Verweisung immer auf die in Bezug genommene Ausgabe der Norm. Der Zusammenhang der zitierten Normen mit den entsprechenden Deutschen Normen ergibt sich, soweit ein Zusammenhang besteht, grundstzlich ber die Nummer der entsprechenden IEC-Publikation. Beispiel: IEC 60068 ist als EN 60068 a

11、ls Europische Norm durch CENELEC bernommen und als DIN EN 60068 ins Deutsche Normenwerk aufgenommen. Das IEC-Komitee hat entschieden, dass der Inhalt dieser nderung und der Grundpublikation bis zu dem Datum (maintenance result date) unverndert bleiben soll, das auf der IEC-Website unter http:/websto

12、re.iec.ch“ zu dieser Publikation angegeben ist. Zu diesem Zeitpunkt wird entsprechend der Entscheidung des Komitees die Publikation besttigt, zurckgezogen, durch eine Folgeausgabe ersetzt oder gendert. DIN EN 61967-6:2008-10 3 Die Reihe IEC 61967 besteht aus folgenden Teilen unter dem allgemeinen Ti

13、tel Integrated circuits Measurement of electromagnetic emissions, 150 kHz to 1 GHz“: Part 1: General conditions and definitions Part 2: Measurement of radiated emissions TEM cell and wideband TEM cell method Part 3: Measurement of radiated emissions Surface scan method1)Part 4: Measurement of conduc

14、ted emissions 1 Ohm/150 Ohm direct coupling method Part 5: Measurement of conducted emissions Workbench Faraday Cage method Part 6: Measurement of conducted emissions Magnetic probe method nderungen Gegenber DIN EN 61967-6:2003-05 wurden folgende nderungen vorgenommen: a) Der neue informative Anhang

15、 E wurde ergnzt. Hierin wird eine verbesserte Magnetsonde beschrieben, die ein hohes rumliches Auflsungsvermgen hat, damit die magnetischen Felder in der Nhe von IC-Gehusen und dicht gepackten Leiterplatten genau gemessen werden knnen. b) Hinweise auf die neuen Festlegungen zur vorgesehenen Gltigkei

16、t der Norm und die in der IEC-Reihe verffentlichten Publikationen wurden aktualisiert. c) Editorielle Korrekturen des Normtextes vorgenommen. Frhere Ausgaben DIN EN 61967-6: 2003-05 1)Verffentlicht als IEC/TS. DIN EN 61967-6:2008-10 4 Leerseite EUROPISCHE NORM EUROPEAN STANDARD NORME EUROPENNE EN 61

17、967-6 Oktober 2002 + A1 Mai 2008 ICS 31.200 Deutsche Fassung Integrierte Schaltungen Messung von elektromagnetischen Aussendungen im Frequenzbereich von 150 kHz bis 1 GHz Teil 6: Messung der leitungsgefhrten Aussendungen Magnetsondenverfahren (IEC 61967-6:2002 + A1:2008) Integrated circuits Measurem

18、ent of electromagnetic emissions, 150 kHz to 1 GHz Part 6: Measurement of conducted emissions Magnetic probe method (IEC 61967-6:2002 + A1:2008) Circuits intgrs Mesure des missions lectromagntiques, 150 kHz 1 GHz Partie 6: Mesure des missions conduites Mthode de la sonde magntique (CEI 61967-6:2002

19、+ A1:2008) Diese Europische Norm wurde von CENELEC am 2002-09-01 und die A1 am 2008-04-01 angenom-men. Die CENELEC-Mitglieder sind gehalten, die CEN/CENELEC-Geschftsordnung zu erfllen, in der die Bedingungen festgelegt sind, unter denen dieser Europischen Norm ohne jede nderung der Status einer nati

20、onalen Norm zu geben ist. Auf dem letzten Stand befindliche Listen dieser nationalen Normen mit ihren bibliographischen Angaben sind beim Zentralsekretariat oder bei jedem CENELEC-Mitglied auf Anfrage erhltlich. Diese Europische Norm besteht in drei offiziellen Fassungen (Deutsch, Englisch, Franzsis

21、ch). Eine Fassung in einer anderen Sprache, die von einem CENELEC-Mitglied in eigener Verantwortung durch bersetzung in seine Landessprache gemacht und dem Zentralsekretariat mitgeteilt worden ist, hat den gleichen Status wie die offiziellen Fassungen. CENELEC-Mitglieder sind die nationalen elektrot

22、echnischen Komitees von Belgien, Bulgarien, Dnemark, Deutschland, Estland, Finnland, Frankreich, Griechenland, Irland, Island, Italien, Lettland, Litauen, Luxemburg, Malta, den Niederlanden, Norwegen, sterreich, Polen, Portugal, Rumnien, Schweden, der Schweiz, der Slowakei, Slowenien, Spanien, der T

23、schechischen Republik, Ungarn, dem Vereinigten Knigreich und Zypern. CENELEC Europisches Komitee fr Elektrotechnische Normung European Committee for Electrotechnical Standardization Comit Europen de Normalisation Electrotechnique Zentralsekretariat: rue de Stassart 35, B-1050 Brssel 2008 CENELEC All

24、e Rechte der Verwertung, gleich in welcher Form und in welchem Verfahren, sind weltweit den Mitgliedern von CENELEC vorbehalten. Ref. Nr. EN 61967-6:2002 + A1:2008 DDIN EN 61967-6:2008-10 EN 61967-6:2002 + A1:2008 2 Vorwort Der Text des Schriftstcks 47A/645/FDIS, zuknftige 1. Ausgabe von IEC 61967-6

25、, ausgearbeitet von dem SC 47A Integrated circuits“ des IEC TC 47 Semiconductor devices“, wurde der IEC-CENELEC Parallelen Abstimmung unterworfen und von CENELEC am 2002-09-01 als EN 61967-6 angenommen. Diese Europische Norm muss in Verbindung mit EN 61967-1 angewendet werden. Nachstehende Daten wur

26、den festgelegt: sptestes Datum, zu dem die EN auf nationaler Ebene durch Verffentlichung einer identischen nationalen Norm oder durch Anerkennung bernommen werden muss (dop): 2003-06-01 sptestes Datum, zu dem nationale Normen, die der EN entgegenstehen, zurckgezogen werden mssen (dow): 2005-09-01 An

27、hnge, die als normativ“ bezeichnet sind, gehren zum Norminhalt. Anhnge, die als informativ“ bezeichnet sind, enthalten nur Informationen. In dieser Norm sind die Anhnge A und ZA normativ und sind die Anhnge B, C und D informativ. Der Anhang ZA wurde von CENELEC hinzugefgt. Anerkennungsnotiz Der Text

28、 der Internationalen Norm IEC 61967-6:2002 wurde von CENELEC ohne irgendeine Abnderung als Europische Norm angenommen. Vorwort zu A1 Der Text des Schriftstcks 47A/781/FDIS, zuknftige nderung 1 zu IEC 61967-6:2002, ausgearbeitet von dem SC 47A Integrated circuits“ des IEC TC 47 Semiconductor devices“

29、, wurde der IEC-CENELEC Parallelen Abstimmung unterworfen und von CENELEC am 2008-04-01 als nderung A1 zu EN 61967-6:2002 angenommen. Nachstehende Daten wurden festgelegt: sptestes Datum, zu dem die nderung auf nationaler Ebene durch Verffentlichung einer identischen nationalen Norm oder durch Anerk

30、ennung bernommen werden muss (dop): 2009-01-01 sptestes Datum, zu dem nationale Normen, die der nderung entgegenstehen, zurckgezogen werden mssen (dow): 2011-04-01 Anerkennungsnotiz Der Text der nderung 1:2008 zur Internationalen Norm IEC 61967-6:2002 wurde von CENELEC als nderung zur Europischen No

31、rm ohne irgendeine Abnderung angenommen. DIN EN 61967-6:2008-10 EN 61967-6:2002 + A1:2008 3 Inhalt SeiteVorwort .2 Vorwort zu A1 .2 1 Anwendungsbereich.6 2 Normative Verweisungen .6 3 Begriffe .6 4 Allgemeines6 4.1 Messphilosophie.6 4.2 Messprinzip 6 5 Prfbedingungen7 5.1 Allgemeines7 5.2 Frequenzbe

32、reich 7 6 Prfeinrichtung .7 6.1 Allgemeines7 6.2 Magnetsonde7 6.3 Sondenabstandshalter und Anordnung der Sonde7 7 Prfaufbau9 7.1 Allgemeines9 7.2 Kalibrierung der Sonde 10 7.3 nderungen an der standardisierten IC-Prfleiterplatte.10 8 Prfverfahren14 8.1 Allgemeines14 8.2 Prfdurchfhrung14 9 Prfbericht

33、15 9.1 Allgemeines15 9.2 Zu dokumentierende Angaben.15 Anhang A (normativ) Sondenkalibrierverfahren Mikrostripleitungs-Verfahren.17 A.1 Vorverstrker17 A.2 Set-up des Spektralanalysators .17 A.3 Mikrostripleitung .17 A.4 Kalibrierung 18 Anhang B (informativ) Messprinzip und Kalibrierfaktor .20 Anhang

34、 C (informativ) Rumliche Auflsung der Magnetsonde .24 Anhang D (informativ) Winkelpositionen fr die Anordnung der Sonde25 Anhang E (informativ) Verbesserte Magnetsonde 26 E.1 Allgemeines26 E.2 Aufbau der verbesserten Magnetsonde.26 E.3 Rumliches Auflsungsvermgen der Magnetsonde 33 E.4 Winkelstruktur

35、 fr die Anordnung der Sonde .34 DIN EN 61967-6:2008-10 EN 61967-6:2002 + A1:2008 4 SeiteE.5 Kalibrierfaktor 35 E.6 Kalibrierung der Sonde und der Mikrostreifenleitung 38 E.6.1 Allgemeines . 38 E.6.2 Vorverstrker . 39 E.6.3 Einstellung des Spektrum-Analysators 39 E.6.4 Mikrostreifenleitung . 39 E.6.5

36、 Kalibrierung . 39 E.7 Prfleiterplatte . 40 Literaturhinweise 43 Anhang ZA (normativ) Normative Verweisungen auf internationale Publikationen mit ihren entsprechenden europischen Publikationen . 44 Bilder Bild 1 Magnetsonde 8 Bild 2 Magnetsonde Erste und dritte Ebene 8 Bild 3 Magnetsonde Zweite Eben

37、e 9 Bild 4 Magnetsonde Aufbau der Ebenen. 9 Bild 5 Standardisierte IC-Prfleiterplatte Schnittdarstellung 1. 11 Bild 6 Standardisierte IC-Prfleiterplatte Schnittdarstellung 2 Messleitung . 11 Bild 7 Stromversorgungsleitungsstruktur auf der standardisierten IC-Prfleiterplatte Unterste Ebene 12 Bild 8

38、I/O-Signalleitungsstruktur auf der standardisierten IC-Prfleiterplatte Unterste Ebene 13 Bild 9 Mehrere Stromversorgungsleitungen auf der standardisierten IC-Prfleiterplatte Unterste Ebene 13 Bild 10 Messaufbau 14 Bild 11 Mess-Schaltbild 14 Bild 12 bertragungskonstante zur Stromberechnung als Funkti

39、on der Dicke des Dielektrikums einer Mikrostripleitungsleiterplatte. 16 Bild A.1 Schnittdarstellung einer Mikrostripleitung fr die Kalibrierung 18 Bild A.2 Messaufbau zur Sondenkalibrierung. 19 Bild B.1 Schnittdarstellung einer Mikrostripleitung . 20 Bild B.2 Messung des Ausgangs der Magnetsonde. 22

40、 Bild B.3 Beispiel fr den Kalibrierfaktor fr die in den Bildern 1 bis 4 angegebene Magnetsonde 23 Bild C.1 Schema fr die Messung der Magnetfeldverteilung . 24 Bild C.2 Magnetfeldverteilung ber der Mikrostripleitung (800 MHz). 24 Bild D.1 Schema fr die Messung der Winkelposition der Sondenanordnung.

41、25 Bild D.2 Sondenausgang zum Winkel . 25 Bild E.1 Darstellung der zusammengebauten verbesserten Magnetsonde . 28 Bild E.2 Vergrerte Ansicht des Teils A aus Bild E.1 (Ein Beispiel fr den Aufbau der Verbindung) . 28 Bild E.3 Hauptstrukturen (Ebenen 2 bis 4) der verbesserten Magnetsonde 29 DIN EN 6196

42、7-6:2008-10 EN 61967-6:2002 + A1:2008 5 Seite Bild E.4 Ebene 1 (Massestruktur) der verbesserten Magnetsonde 29 Bild E.5 Ebenen 2 und 4 (Massestruktur) der verbesserten Magnetsonde 30 Bild E.6 Ebene 3 (Signalstruktur) der verbesserten Magnetsonde .30 Bild E.7 Ebene 5 (Massestruktur) der verbesserten

43、Magnetsonde 31 Bild E.8 Aufbau der verbesserten Magnetsonde.31 Bild E.9 Mess-Aufbau32 Bild E.10 Definition der Schleifenmitte 32 Bild E.11 Fehlerkurven der gemessenen Spannung in Abhngigkeit vom Messabstand 33 Bild E.12 Aufbau fr die Messung der Verteilung des Magnetfeldes33 Bild E.13 Verteilung des

44、 Magnetfeldes ber einer Mikrostreifenleitung (1 GHz)34 Bild E.14 Aufbau fr die Messung der Winkelstruktur der Sondenanordnung34 Bild E.15 Amplitude des Sondenausgangs in Abhngigkeit vom Winkel (Dm= 0,47 mm) 35 Bild E.16 Strommodelle der Streifenleiter von Mikrostreifenleitungen 36 Bild E.17 Kalibrie

45、rfaktor fr unterschiedliche Leiterplattenparameter .37 Bild E.18 Beispiel fr die Messung von (Cf_dB Ch-distributed_dB) an einer Mikrostreifenleitung nach Bild E.9 38 Bild E.19 Schnittdarstellung einer Mikrostreifenleitung fr die Kalibrierung (Beispiel)39 Bild E.20 Messaufbau zur Sondenkalibrierung .

46、40 Bild E.21 Beispiel der IC-Prfleiterplatte Untere Ebene.41 Bild E.22 Beispiel fr die Messstruktur von VDD142 DIN EN 61967-6:2008-10 EN 61967-6:2002 + A1:2008 6 1 Anwendungsbereich Dieser Teil von IEC 61967 legt ein Verfahren zur Bestimmung von HF-Strmen an den Anschlusspins einer integrierten Scha

47、ltung (IC; en: integrated circuit) durch berhrungslose Strommessung mit einer Miniatur-magnetsonde fest. Mit diesem Verfahren knnen von einem IC erzeugte HF-Strme in einem Frequenzbe-reich von 0,15 MHz bis 1 000 MHz gemessen werden. Es kann zur Messung einzelner IC oder eines IC-Chip-satzes auf eine

48、r Standard-Prfleiterplatte zur Ermittlung der Kennwerte und fr Vergleichszwecke angewen-det werden. Es ist auch anwendbar zur Bewertung der elektromagnetischen Kennwerte eines IC oder einer Gruppe von IC auf einer in der Praxis eingesetzten Leiterplatte mit dem Ziel der Verringerung der Aussendungen. Dieses Verfahren wird als Magnetsondenverfahren bezeichnet. 2 Normative Verweisungen Die folgenden zitierten Dokumente sind fr die Anwendung dieses Dokuments erforderlich. Bei datierten Verweisungen gilt nur die in Bezug genommene Ausga