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本文(ITU-T O 152 SPANISH-1992 ERROR PERFORMANCE MEASURING EQUIPMENT FOR BIT RATES OF 64 kbit s AND N x 64 kbit s《比特率为64 kbit s和N×64 kbit s的差错性能测量设备 4号研究组》.pdf)为本站会员(ideacase155)主动上传,麦多课文库仅提供信息存储空间,仅对用户上传内容的表现方式做保护处理,对上载内容本身不做任何修改或编辑。 若此文所含内容侵犯了您的版权或隐私,请立即通知麦多课文库(发送邮件至master@mydoc123.com或直接QQ联系客服),我们立即给予删除!

ITU-T O 152 SPANISH-1992 ERROR PERFORMANCE MEASURING EQUIPMENT FOR BIT RATES OF 64 kbit s AND N x 64 kbit s《比特率为64 kbit s和N×64 kbit s的差错性能测量设备 4号研究组》.pdf

1、UNIN INTERNACIONAL DE TELECOMUNICACIONESCCITT O.152COMIT CONSULTIVO (10/92)INTERNACIONALTELEGRFICO Y TELEFNICOESPECIFICACIONES DE LOS APARATOSDE MEDIDAAPARATO DE MEDIDA DE LACARACTERSTICA DE ERROR PARAVELOCIDADES DE 64 kbit/s YN 64 kbit/sRecomendacin 0.152PREFACIOEl CCITT (Comit Consultivo Internaci

2、onal Telegrfico y Telefnico) es un rgano permanente de la UninInternacional de Telecomunicaciones (UIT). Este rgano estudia los aspectos tcnicos, de explotacin y tarifarios ypublica Recomendaciones sobre los mismos, con miras a la normalizacin de las telecomunicaciones en el planomundial.La Asamblea

3、 Plenaria del CCITT, que se celebra cada cuatro aos, establece los temas que han de estudiarse yaprueba las Recomendaciones preparadas por sus Comisiones de Estudio. La aprobacin de Recomendaciones por losmiembros del CCITT entre las Asambleas Plenarias de ste es el objeto del procedimiento establec

4、ido en laResolucin N.o2 del CCITT (Melbourne, 1988).La Recomendacin O.152 ha sido revisada por la Comisin de Estudio IV y fue aprobada por el procedimientode la Resolucin N.o2 el 5 de octubre de 1992._NOTA DEL CCITTEn esta Recomendacin, la expresin Administracin se utiliza para designar, en forma ab

5、reviada, tanto unaAdministracin de telecomunicaciones como una empresa privada de explotacin reconocida de telecomu-nicaciones. UIT 1993Es propiedad. Ninguna parte de esta publicacin puede reproducirse o utilizarse, de ninguna forma o por ningn medio,sea ste electrnico o mecnico, de fotocopia o de m

6、icrofilm, sin previa autorizacin escrita por parte de la UIT.Recomendacin O.152 (10/92) 1Recomendacin O.152Recomendacin O.152 (10/92)APARATO DE MEDIDA DE LA CARACTERSTICA DE ERRORPARA LAS VELOCIDADES DE 64 kbit/s Y N 64 kbit/s(Publicada en 1984; revisada en 1988 y 1992)ResumenLa presente Recomendaci

7、n define los requisitos de un aparato de medida de la caracterstica de error a64 kbit/s y a N 64 kbit/s.Palabras clave: aparato de pruebas; detector de errores digitales; generador de secuencias digitales; medicin; medida de la caracterstica de error.PREMBULOLa compatibilidad entre equipos, aunque s

8、ean de diferentes fabricantes, exige que se respeten las condicionesrelativas a las caractersticas de un aparato de medida de la caracterstica de error en los bits indicadas a continuacin.1 GeneralidadesEste aparato est diseado para medir la caracterstica de error en los bits de trayectos digitales

9、(que funcionana 64 kbit/s y a N 64 kbit/s) por comparacin directa de un patrn de prueba seudoaleatorio con un patrn de pruebagenerado localmente, idntico al patrn de prueba transmitido.2 Patrones de pruebaSe recomiendan los siguientes patrones (para ms detalles, vase la Recomendacin O.150 8).2.1 Pat

10、rn seudoaleatorio que utiliza un patrn de 211 1 bits de longitud (2047 bits)Este patrn est destinado principalmente a las mediciones de la tasa de error y de la fluctuacin de fase encircuitos que funcionan a las velocidades binarias de 64 kbit/s y N 64 kbit/s.El patrn se podr generar en un registro

11、de desplazamiento de 11 etapas en el que la entrada de la 1.aestrealimentada con el resultado de la suma de la salida de las etapas 9.ay 11.aen un sumador en mdulo dos.Nmero de etapas del registro de desplazamiento 11Longitud del patrn seudoaleatorio 211 1 = 2047 bitsLongitud mxima de las secuencias

12、 de CEROS consecutivos 10 (seal no invertida)Nota 1 En el caso de pruebas internacionales en las que la medida abarca sistemas basados en la velocidad de1544 kbit/s es necesario modificar el patrn de prueba a fin de evitar la presencia de ms de siete CEROS consecutivos.Esto se consigue forzando el b

13、it de salida a ser un UNO cada vez que los siete bits anteriores de la secuencia son todosCEROS.Nota 2 Se recomienda utilizar tambin el patrn de prueba de 2047 bits de longitud con otras velocidadesbinarias en la gama de 48 kbit/s a 168 kbit/s.2 Recomendacin O.152 (10/92)Nota 3 Cuando se efectan med

14、iciones a una velocidad binaria de N 64 kbit/s, deben transmitirse bloquesconsecutivos de ocho bits del patrn de prueba en intervalos de tiempo consecutivos. En este caso, el comienzo delpatrn de prueba no necesita estar relacionado con el principio de la trama.Nota 4 Para queda en estudio si N pued

15、e ser cualquier nmero entre 1 y 31.2.2 Patrones fijos (facultativos)Pueden preverse patrones fijos de todos UNOS (.1111.) y de UNOS y CEROS (.1010.) alternados.2.3 Prdida de la sincronizacin de las secuenciasSe considerar perdida la sincronizacin de la secuencia y se iniciar la resincronizacin:a) pa

16、ra una tasa de errores en los bits 0,2 durante un intervalo de integracin de un segundo; o bienb) si puede determinarse inequvocamente que el patrn de prueba y el patrn de referencia estn defasados.Nota Un mtodo para reconocer la condicin de defasado es la evaluacin del patrn de errores resultante d

17、euna comparacin bit por bit. Cuando el patrn de errores tiene la misma estructura que el patrn de pruebaseudoaleatoria, puede considerarse que ha aparecido la condicin de defasado.Este punto queda en estudio.3 Velocidad binariaVelocidad binaria segn el 1 de la Recomendacin G.703 1, y la Recomendacin

18、 V.36 2, de 64 kbit/s:a) Tolerancia para la velocidad binaria (Recomendacin G.703 1): 100 106,b) Tolerancia para la velocidad binaria (Recomendacin V.36 2), optativa 50 106.4 InterfacesLas caractersticas de las interfaces (impedancias, niveles, cdigos, etc.) deben ajustarse a las disposiciones delas

19、 Recomendaciones G.703 1, I.430 7 (optativo) y V.11 3 (optativo).El aparato, adems de efectuar medidas en terminacin, podr supervisar puntos de prueba protegidos enequipo digital. Por este motivo, pudiera preverse una alta impedancia y/o una ganancia suplementaria a fin de compensarlas prdidas en lo

20、s puntos de supervisin ya previstos en algunos equipos.4.1 Interfaces conformes a la Recomendacin G.703 1Se incluirn tres interfaces:a) una interfaz codireccional conforme al 1.2.1 de la Recomendacin G.703 1;b) una interfaz de reloj centralizado conforme al 1.2.2 de la Recomendacin G.703 1;c) una in

21、terfaz contradireccional conforme al 1.2.3 de la Recomendacin G.703 1.4.2 Mtodo de sincronizacin de relojSern seleccionables los siguientes modos de sincronizacin:a) Enganchar la velocidad del reloj del generador digital a la de la entrada del lado de recepcin del aparatode medida (para la interfaz

22、codireccional).b) Permitir que el reloj del generador funcione libremente dentro de las tolerancias de frecuencias permitidasglobales.Recomendacin O.152 (10/92) 3c) Enganchar la velocidad del reloj del generador digital a una seal de reloj externa. (Configuracin deentrada para el reloj externo de co

23、nformidad con la Recomendacin G.703 1.)4.3 Interfaz correspondiente a la Recomendacin I.430 7Queda en estudio. Este estudio debera incluir procedimientos para acceder a canales especficos a 64 kbit/s enlos puntos de los interfaces S y T.4.4 Interfaz conforme a la Recomendacin V.11 3Como opcin, se in

24、cluir una interfaz conforme a la Recomendacin V.11 3.5 Gama de medidas de la tasa de error en los bitsLa parte receptora del aparato de medida ha de ser apta para medir tasas de error en los bits comprendidasentre 1 102y 1 107. El periodo de medida debe ser lo suficientemente largo para obtener medi

25、das exactas. Adems,debiera ser posible medir tasas de error inferiores a 1 107; esto puede realizarse proporcionando la capacidad de contarlos errores acumulativos.6 Medidas de la tasa de error en los bloquesComo opcin, el aparato debiera ser capaz de efectuar medidas de errores en los bloques adems

26、 de las deerrores en los bits. Si se incluye esta capacidad, debera ser posible medir tasas de error en los bloques comprendidasentre 1 100y 1 105cuando se utiliza el patrn de prueba seudoaleatorio con una longitud de bloque de 2047 bits.7 Modo de funcionamientoEl modo de funcionamiento ha de prever

27、se de manera que la seal sometida a prueba se conviertaprimeramente en una seal (binaria) unipolar en el aparato de medida de la tasa de error; acto seguido, se procede a lacomparacin de los bits con una seal de referencia, tambin en forma binaria.8 Evaluacin de los errores8.1 Medicin de los interva

28、los de tiempo sin erroresEl aparato ser capaz de detectar los segundos con errores y otros intervalos de tiempo con errores o sin ellos,segn lo establecido en la Recomendacin G.821 4. Se deber contar y visualizar el nmero de intervalos de tiempocon o sin errores en un periodo de observacin seleccion

29、able de un minuto a 24 horas o de forma continua.Para esta medicin, habr que controlar los circuitos de deteccin de errores del aparato mediante untemporizador interno que establezca intervalos de igual longitud y que funcione con independencia de la aparicin deerrores.8.2 Medicin de la tasa media d

30、e error a corto plazo8.2.1 Deber ser posible registrar los intervalos de tiempo definidos en la Recomendacin G.821 4 durante los quela tasa de error en los bits es inferior a 1 106.8.2.2 Deber ser posible registrar los intervalos de un segundo durante los que la tasa de error en los bits es inferior

31、a 1 103.4 Recomendacin O.152 (10/92)9 Registro de los resultados de las medicionesComo opcin, deber preverse una interfaz que permita conectar un equipo exterior para el tratamientoposterior de los resultados de las mediciones.La interfaz deber ajustarse a las disposiciones contenidas en la Recomend

32、acin V.24 5 o al bus de interfazde la Publicacin 625 de la CEI 6.10 Condiciones ambientales de funcionamientoDebern cumplirse los requisitos elctricos de calidad de funcionamiento cuando el aparato funcione en lascondiciones climticas especificadas en el 2.1 de la Recomendacin O.3 9.Referencias1 Rec

33、omendacin G.703 del CCITT Caractersticas fsicas y elctricas de las interfaces digitales jerrquicas.2 Recomendacin V.36 del CCITT Modems para la transmisin sncrona de datos, utilizando circuitos en labanda de grupo primario de 60 a 108 kHz.3 Recomendacin V.11 del CCITT Caractersticas elctricas de los

34、 circuitos de enlace simtricos de doblecorriente para uso general con equipo de circuitos integrados en la transmisin de datos.4 Recomendacin G.821 del CCITT Caractersticas de error de una conexin digital internacional que formeparte de una red digital de servicios integrados.5 Recomendacin V.24 del

35、 CCITT Lista de definiciones para los circuitos de enlace entre el equipo terminal dedatos y el equipo de terminacin del circuitos de datos.6 Publicacin 625 de la CEI An interface system for programmable measuring instruments (byte serial, bitparallel).7 Recomendacin I.430 del CCITT Especificacin de la capa 1 de la interfaz usuario-red bsico.8 Recomendacin O.150 del CCITT Patrones de prueba digitales para mediciones relativas al funcionamientode equipos de transmisin digital.9 Recomendacin O.3 del CCITT Condiciones climticas y pruebas pertinentes para los aparatos de medida.

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