1、UNIN INTERNACIONAL DE TELECOMUNICACIONESCCITT O.153COMIT CONSULTIVO (10/92)INTERNACIONALTELEGRFICO Y TELEFNICOESPECIFICACIONES DE LOS APARATOSDE MEDIDAPARMETROS BSICOS PARA LA MEDICINDE LA CARACTERSTICA DE ERROR AVELOCIDADES INFERIORES A LA PRIMARIARecomendacin O.153PREFACIOEl CCITT (Comit Consultiv
2、o Internacional Telegrfico y Telefnico) es un rgano permanente de la UninInternacional de Telecomunicaciones (UIT). Este rgano estudia los aspectos tcnicos, de explotacin y tarifarios ypublica Recomendaciones sobre los mismos, con miras a la normalizacin de las telecomunicaciones en el planomundial.
3、La Asamblea Plenaria del CCITT, que se celebra cada cuatro aos, establece los temas que han de estudiarse yaprueba las Recomendaciones preparadas por sus Comisiones de Estudio. La aprobacin de Recomendaciones por losmiembros del CCITT entre las Asambleas Plenarias de ste es el objeto del procedimien
4、to establecido en laResolucin N.o2 del CCITT (Melbourne, 1988).La Recomendacin O.153 ha sido revisada por la Comisin de Estudio IV y fue aprobada por el procedimientode la Resolucin N.o2 el 5 de octubre de 1992._NOTA DEL CCITTEn esta Recomendacin, la expresin Administracin se utiliza para designar,
5、en forma abreviada, tanto unaAdministracin de telecomunicaciones como una empresa privada de explotacin reconocida de telecomunicaciones. UIT 1993Es propiedad. Ninguna parte de esta publicacin puede reproducirse o utilizarse, de ninguna forma o por ningn medio,sea ste electrnico o mecnico, de fotoco
6、pia o de microfilm, sin previa autorizacin escrita por parte de la UIT.Recomendacin O.153 (10/92) 1Recomendacin O.153Recomendacin O.153 (10/92)PARMETROS BSICOS PARA LA MEDICIN DE LA CARACTERSTICADE ERROR A VELOCIDADES INFERIORES A LA PRIMARIA(Melbourne 1988, revisada en 1992)ResumenEsta Recomendacin
7、 define los requisitos de los equipos para medir la caracterstica de error a velocidadesbinarias comprendidas entre 0,050 y 168 kbit/s.Palabras clave aparato de pruebas; detector de errores digitales; generador de secuencias digitales; medicin; medicin de la caracterstica de error.PREMBULOLa compati
8、bilidad entre equipos de diferentes fabricantes, exige que se respeten las condiciones relativas a lascaractersticas de los equipos para medicin de errores indicadas a continuacin.Aunque se presentan los requisitos de los equipos, no se trata de la realizacin de la configuracin del aparato,y tanto e
9、l diseador como el usuario debern tenerlo en consideracin. En particular, no se requiere que un aparatoproporcione todas las funciones descritas a continuacin. Las Administraciones podrn optar por aquellas que se ajustenmejor a sus aplicaciones.En la seleccin de funciones, las Administraciones podrn
10、 tambin tener en cuenta lo expuesto en otrasRecomendaciones relativas a los aparatos de medida de la tasa de error, como por ejemplo las Recomen-daciones O.15117 y O.152 18.1 GeneralidadesEl equipo est diseado para medir la caracterstica de error en circuitos que funcionan con las velocidadesbinaria
11、s indicadas en el 3. La medida se basar en la comparacin directa de determinados patrones de prueba, que setransmiten por el circuito sometido a prueba, con idnticos patrones que se generan en el lado receptor. Deber serposible el funcionamiento sncrono y asncrono.2 Patrones de pruebaSe recomiendan
12、los siguientes patrones de prueba (vase tambin la Recomendacin O.150 16).Nota La utilizacin de algunos patrones de prueba podr ser restringida al funcionamiento sncrono o alasncrono. Ser posible transmitir los patrones durante un periodo ilimitado.2.1 Patrn de prueba seudoaleatorio de 511 bitsEste p
13、atrn est dirigido fundamentalmente a la medida de la tasa de error a velocidades binarias dehasta 14,4 kbit/s (vase el 3.1).El patrn se podr generar en un registro de desplazamiento de nueve etapas en el que la entrada de la primeraest realimentada con el resultado de la suma de las salidas de las e
14、tapas 5. y 9. en un sumador en mdulo dos. Lasecuencia empieza con el primer UNO de nueve UNOS consecutivos.2 Recomendacin O.153 (10/92)Nmero de etapas del registro de desplazamiento 9Longitud del patrn seudoaleatorio 29 1 = 511 bitsLongitud mxima de las secuencias de CEROS 8 (seal no invertida)2.2 P
15、atrn de prueba seudoaleatorio de 2047 bitsSi se proporciona, este patrn est dirigido fundamentalmente a la medida de la tasa de error a velocidadesbinarias de 64 kbit/s y N 64 kbit/s (vase el 3.3).El patrn se podr generar con un registro de desplazamiento de once etapas en el que la entrada de la pr
16、imeraest realimentada con el resultado de la suma de las salidas de las etapas 9. y 11. en un sumador en mdulo dos (vasetambin la Recomendacin O.152 18).Nmero de etapas del registro de desplazamiento 11Longitud del patrn seudoaleatorio 211 1 = 2047 bitsLongitud mxima de las secuencias de CEROS 10 (s
17、eal no invertida)2.3 Patrn de prueba seudoaleatorio de 1 048 575 bitsEste patrn est dirigido fundamentalmente a la medida de la tasa de error a velocidades binarias de hasta72 kbit/s (vase el 3.2).El patrn se podr generar con un registro de desplazamiento de veinte etapas en el que la entrada de lap
18、rimera est realimentada con el resultado de la suma de las salidas de las etapas 3. y 20. en un sumador enmdulo dos.Nmero de etapas del registro de desplazamiento 20Longitud del patrn seudoaleatorio 220 1 = 1 048 575 bitsLongitud mxima de las secuencias de CEROS 19 (seal no invertida)Nota Este patrn
19、 de prueba no es idntico al de la misma longitud que figura en laRecomendacin O.151 17.2.4 Patrones de prueba fijos (para pruebas de continuidad) Espacio permanente Marca permanente Espacio/marca alternados con relaciones de: 1:1, 1:3, 1:7, 3:1, 7:1 Texto (QBF) Quick brown fox de la Recomendacin R.5
20、2 1 (slo en modo asncrono).2.5 Patrones de prueba programablesSe recomienda la utilizacin de patrones libremente programables pero con una longitud de almenos 1024 bits.2.6 Prdida de la sincronizacin de las secuenciasSe considerar perdida la sincronizacin de la secuencia y se iniciar la resincroniza
21、cin:a) para una tasa de error en los bits 0,2 durante un intervalo de integracin de un segundo; o bienb) si puede determinarse inequvocamente que el patrn de prueba y el patrn de referencia estn defasados.Nota Un mtodo para reconocer la condicin de defasado, es la evaluacin del patrn de errores resu
22、ltante dela comparacin bit por bit. Existe la condicin de defasado cuando el patrn de errores tiene la misma estructura que elpatrn de prueba seudoaleatorio.Este punto queda en estudio.Recomendacin O.153 (10/92) 33. Velocidades binariasEl aparato ser capaz de llevar a cabo medidas a las velocidades
23、binarias de las gamas especificadas acontinuacin.3.1 Transmisin de datos por circuitos de tipo telefnico utilizando modems Velocidades binarias en la gama de 50 bit/s a 19 200 bit/s.(Para ms detalles, vanse las Recomendaciones V.5 2 y V.6 3.)Nota Los modems que funcionan a velocidades binarias super
24、iores a 14 400 bit/s escapan al alcance de lasRecomendaciones del CCITT.3.2 Transmisin de datos por circuitos de la banda de grupo primario utilizando modems de banda ancha Velocidades binarias en la gama de 48 kbit/s a 168 kbit/s.(Para ms detalles, vanse las Recomendaciones V.36 4 y V.37 5).3.3 Tra
25、nsmisin de datos a velocidades iguales o superiores a 64 kbit/sEn la Recomendacin O.152 18 se recoge la informacin pertinente sobre las medidas de la caracterstica deerror a 64 kbit/s y N 64 kbit/s.En la Recomendacin O.151 17 se recoge la informacin pertinente sobre las medidas a velocidadessuperior
26、es.3.4 Desviacin de la velocidad binaria con respecto a la nominalSi la temporizacin no procede del elemento sometido a prueba, la desviacin mxima de la velocidad binariacon respecto a la nominal para velocidades de hasta 9 600 bit/s ser 0,01%.Para velocidades binarias superiores, la desviacin mxima
27、 ser 0,002% la temporizacin no procede delelemento sometido a prueba.3.5 Fuentes de seales de relojLas seales de reloj se proporcionan a travs de la interfaz, va una entrada de sincronizacin externa, o desdeun generador interno de seales de reloj.4 InterfacesSe proporcionarn una o ms interfaces de l
28、as sealadas a continuacin en funcin de la aplicacin y de lavelocidad binaria: Interfaz conforme a la Recomendacin V.10 (X.26) 6 Interfaz conforme a la Recomendacin V.11 (X.27) 7 Interfaz conforme a las Recomendaciones V.24 8 y V.28 9 Interfaz conforme a la Recomendacin V.35 10 Interfaz conforme a la
29、 Recomendacin V.36 4 Interfaz conforme a las Recomendaciones X.21 11 y X.24 12.5 Modos de funcionamientoEl aparato deber simular completamente las caractersticas de un equipo terminal de datos y/o de un equipode terminacin del circuito de datos funcionando en modo semidplex y/o en modo dplex. Esto r
30、equerir que seproporcionen los elementos de toma de contacto ya sea por medio de soporte lgico o de soporte fsico. En modosemidplex sncrono, los patrones de prueba debern ir precedidos de dos o ms secuencias de encabezamiento (es decircaracteres con bits de marca y de espacio alternados) para permit
31、ir la recuperacin de la seal de reloj. Estas secuenciasde encabezamiento debern ir seguidas de dos o ms caracteres de sincronizacin de bloque.4 Recomendacin O.153 (10/92)Deber ser posible la seleccin de las condiciones de la prueba de paridad, par o impar, y marca o espacio, encaso de que el modo de
32、 funcionamiento lo requiera.Nota Normalmente no es posible insertar bits de control de paridad cuando se utilizan patrones de pruebaseudoaleatorios.6 Sincronizacin de los bitsSe podrn utilizar dos modos de sincronizacin: Sincronizacin mediante una seal de temporizacin derivada del objeto sometido a
33、prueba (por ejemplo,un mdem que funciona en modo sncrono). Sincronizacin a partir de las transiciones de la seal de prueba recibida (por ejemplo, cuando un mdemfunciona en el modo no sncrono).7 CdigosPara la codificacin del texto QBF (Recomendacin R.52 1), o de cualquier otro patrn librementeprogram
34、able, deber proporcionarse el cdigo de seales de datos del: Alfabeto N. 5 del CCITT con siete bits/carcter (Recomendacin T.50 13).En funcionamiento asncrono ser posible la seleccin de uno o dos bits de parada.8 Mediciones de la tasa de error y evaluacin de los errores8.1 Mediciones de la tasa de err
35、or en los bits y evaluacin de los erroresLa gama de medidas de la tasa de error estar comprendida entre 1 102y 1 107. El tiempo de medidadeber ser lo suficientemente largo como para obtener resultados precisos.Si se proporciona la posibilidad de contar errores acumulativos, se podrn detectar tasas d
36、e error inferiores a 1 107.8.2 Mediciones de la tasa de error en los bloquesDebern ser posibles las medidas de la tasa de error en los bloques. La longitud de los bloques podr serescogida entre 1000 y 10 000 bits o deber ser igual a la longitud del patrn seudoaleatorio utilizado en la prueba deerror
37、. Adems se proporcionar una longitud de bloque de 32 768 bits para las medidas a velocidades superioresa 14,4 kbit/s.La gama de medidas de la tasa de error en los bloques estar comprendida entre 1 100y 1 105debiendo serlos tiempos de medida lo suficientemente largos como para conseguir resultados pr
38、ecisos.8.3 Mediciones simultneasExistir la posibilidad de medir simultneamente la tasa de error en los bits y la tasa de error en los bloques.8.4 Evaluacin de la caracterstica de errorEl aparato deber poder detectar los segundos con error. Debern contarse y visualizarse el nmero deintervalos de tiem
39、po en los que se han presentado errores y en los que no se han presentado, todo esto durante periodosde tiempo que podrn ser seleccionados desde un minuto a 24 horas.Para esta medicin, los circuitos de deteccin de errores del aparato estarn controlados por un temporizadorinterno que establece interv
40、alos de igual longitud y que funciona con independencia de si se han producido errores o no.Quedan en estudio las mediciones de otros parmetros de la caracterstica de error y la aplicacin de laRecomendacin G.821 14.Recomendacin O.153 (10/92) 59 Mediciones de la distorsinCuando el aparato permita med
41、ir la distorsin, se aplicarn las siguientes especificaciones.9.1 Mediciones de la distorsin individualLos grados de distorsin individual por adelanto y por retraso se medirn con el aparato funcionando en elmodo en que la sincronizacin se derive de las transiciones de la seal de prueba recibida.Cuand
42、o se utilicen seales de prueba seudoaleatorias, el error de medida ser inferior a 3%.9.2 Mediciones de la distorsin asimtricaEl aparato medir la distorsin asimtrica en las alternancias (alternancias trabajo/reposo en la proporcin 1:1).En este modo, el error de medida ser inferior a 2%.10 Telecontrol
43、 y registro de los resultados de las medicionesOpcionalmente, deber proporcionarse una interfaz que permita el telecontrol del aparato as como elprocesamiento posterior de los resultados de las medidas.En caso de proveerse, la interfaz deber estar de acuerdo con el bus de interfaz conforme con laPub
44、licacin 625 15 de la CEI o con la Recomendacin V.24 8.11 Condiciones ambientales de funcionamientoDebern cumplirse los requisitos elctricos de calidad de funcionamiento cuando el aparato funcione en lascondiciones climticas especificadas en el 2.1 de la Recomendacin O.3 19.Referencias1 Recomendacin
45、R.52 del CCITT Normalizacin de textos internacionales para la medicin del margen de unaparato arrtmico.2 Recomendacin V.5 del CCITT Normalizacin de las velocidades binarias para transmisiones sncronas dedatos por la red telefnica general con conmutacin.3 Recomendacin V.6 del CCITT Normalizacin de la
46、s velocidades binarias para transmisiones sncronas dedatos por circuitos arrendados de tipo telefnico.4 Recomendacin V.36 del CCITT Modems para la transmisin sncrona de datos, utilizando circuitos en labanda de grupo primario de 60 a 108 kHz.5 Recomendacin V.37 del CCITT Modems para la transmisin sn
47、crona de datos a una velocidad binariasuperior a 72 kbit/s, utilizando circuitos en la banda de grupo primario de 60 a 108 kHz.6 Recomendacin V.10 del CCITT Caractersticas elctricas de los circuitos de enlace asimtricos de doblecorriente para uso general con equipo de circuitos integrados en la tran
48、smisin de datos.7 Recomendacin V.11 del CCITT Caractersticas elctricas de los circuitos de enlace simtricos de doblecorriente para uso general con equipo de circuitos integrados en la transmisin de datos.8 Recomendacin V.24 del CCITT Lista de definiciones para los circuitos de enlace entre el Equipo Terminalde Datos (ETD) y el Equipo de Terminacin del Circuito de Datos (ETCD).9 Recomendacin V.28 de
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