KS C IEC 60749-23-2006 Semiconductor devices－Mechanical and climatic test methods－Part 23：High temperature operating life《半导体器件 机械和气候试验方法 第23部分 高温操作寿命》.pdf

1、 KSKSKSKS SKSKSKS KSKSKS SKSKS KSKS SKS KS 2006 3 24 http:/www.kats.go.krKS C IEC 6074923 23： KS C IEC 60749 23： 2006 (2011 )C IEC 60749 23： 2006 : ( ) ( ) ( ) ( ) : (http:/www.standard.go.kr) ： ： 2006 3 24 ： 2011 12 13 2011-0563 ： ： ( 02-509-7294) (http:/www.kats.go.kr). 10 5 , . ICS 31.080.01 KS C

2、 IEC 23： 60749 23： 2006(2011 ) Semiconductor devices Mechanical and climatic test methods Part 23： High temperature operating life 2004 2 1 IEC 60749 23 Semiconductor devices Mechanical and climatic test methods Part 23： High temperature operating life . 1. . , . (burn-in) , . . 2. . ( ) , . ( ) ( .

3、) . KS C IEC 60749 34： 2006 34： IEC 60747( ) 3. , . 3.1 (maximum operating voltage) 3.2 (absolute maximum rated voltage) ( ) , / . 3.3 (absolute maximum rated junction temperature) ( ) 1. / . 2. . 4. . 4.1 C IEC 60749 23： 2006 2 . 4.1.1 (biasing) , (thermal runaway) . 4.1.2 , . 4.2 , ( , ) . 4.3 , .

4、 4.4 , 5 . 5. . 5.1 . . . 7. . 5.2 ( ). , . 5.2.1 , . 1 000 125 . , 10 . 5.2.2 , 5.2.1 , . . , . 5.2.3 ( ) ( ) . , , . . (shutdown) , . 5.2.3.1 (HTFB) . . . . , ( ). , KS C IEC 60749 34 . 5.2.3.2 (HTOL)/ (LTOL) (node) . . . C IEC 60749 23： 2006 3 , (clock) , . , . . . , . 5.2.3.3 (HTRB) . / . . . 5.

5、2.3.4 (HTGB) . . . . 6. 55 . , . 1 . 7. . . 7. . . ( ) . , 10 . , 96 . , 96 . , . 1. 96 , . 24 , 168 ( ) 24 , 168336 48 . , . 2. 96 , . 8. , . IEC 60747 . 9. . C IEC 60749 23： 2006 4 a) ( )(5.2 ) b) (5.1 ) c) , (4.2 ) d) (4.1 ) e) f) , 6. g) (5.2 ) h) , (7. ) i) (3.3 ) j) , (6. ) 23 ： 153787 1 92 3(13) (02)26240114 (02)2624 0148 9 http:/ KSKSKSSKSKS KSKS SKS KSKS SKSKS KSKSKSKorean Agency for Technology and Standards http:/www.kats.go.kr KS C IEC 60749 23： 2006 Semiconductor devicesMechanicaland climatic test methodsPart 23：High temperature operating lifeICS 31.080.01