1、NF EN 62535March 2009Ce document est usage exclusif et non collectif des clients Saga Web.Toute mise en rseau, reproduction et rediffusion, sous quelque forme que ce soit,mme partielle, sont strictement interdites.This document is intended for the exclusive and non collective use of Saga Web custome
2、rs.All network exploitation, reproduction and re-dissemination,even partial, whatever the form (hardcopy or other media), is strictly prohibited.Saga WebFor SHANGHAI INTERNAT SCIENCE detection of corrosive sulfur; silver strip test (titre disponible seulement en allemand et anglais) EN 13601, Cuivre
3、 et alliages de cuivre. Barres et fils en cuivre pour usages lectriques gnraux EN 62535:2009 6 3 Termes et dfinitions Pour les besoins du prsent document, les termes et dfinitions suivants sappliquent. 3.1 soufre potentiellement corrosif composs organosulfurs prsents dans les huiles de transformateu
4、r susceptibles de provoquer la formation de sulfure de cuivre NOTE Certains de ces composs peuvent tre initialement corrosifs, ou le devenir dans certaines conditions de fonctionnement 4 chantillonnage Les chantillons doivent tre prlevs en suivant la procdure de la CEI 60475. Sassurer que la prise d
5、essai est reprsentative en agitant minutieusement. 5 Mode opratoire 5.1 Principe Un segment de conducteur en cuivre guip de papier Kraft est immerg dans lhuile et soumis un chauffement pendant 72 h 150 C dans une fiole espace de tte en verre tanche. Le cuivre est examin pour rechercher des indicatio
6、ns de dcoloration et le papier est examin pour vrifier la prsence de dpts de sulfure de cuivre. 5.2 Appareillage et matriaux Lappareillage et matriaux suivants doivent tre utiliss: Fiole espace de tte en verre telle quutilise pour la chromatographie, capacit approximativement 20 ml, dun diamtre nomi
7、nal de 22,5 mm 23 mm. NOTE 1 Les fioles sont couramment disponibles auprs de fournisseurs de consommables pour chromatographie et auprs de fabricants dinstruments de mesure. Septum en silicone face PTFE et bouchon en aluminium pour sceller la fiole. Outil de sertissage. Enceinte de chauffage ou tuve
8、 capable dtre maintenue 150 C 2 C. Conducteur en cuivre mplat, non vernis, guip avec du papier et obtenu auprs dun fabricant de transformateurs ou dun fournisseur denroulements. Section du cuivre mplat: approximativement 7,5 mm 1,5 mm (ou dont la surface correspond ces dimensions). Largeur du papier
9、 de guipage comprise entre 10 mm et 14 mm. Les conducteurs mplats comportant quatre couches de papier guip se sont avrs tre ceux qui convenaient le mieux. La couche de papier en contact avec le cuivre doit tre enroule bord bord (il convient que lespace se situe dans la tolrance de mm, la valeur ngat
10、ive signifie chevauchement). Il sagit de la couche utilise avec le conducteur en cuivre pour lessai lui-mme. Le reste des couches de papier comporte uniquement une fonction mcanique et de protection au cours du transport et du stockage. 00,12,0NOTE 2 Des sources possibles dalimentation sont Asta Ele
11、ktrodraht GmbH le type et lidentification du produit test; une rfrence la prsente Norme internationale et la mthode utilise; le rsultat de lessai (voir A.4) en: Corrosif ou Non corrosif;niveau de ternissement selon la mthode dessai ASTM D130; tout cart, aprs accord ou dune autre faon, par rapport la
12、 procdure; la date de lessai. 13 EN 62535:2009 Annexe B (informative)Analyse du sulfure de cuivre sur du papier isolant par microscope balayage lectronique-spectromtrie X dispersion dnergie (SEM/EDX) B.1 Champ dapplication La prsente mthode fournit des lignes directrices pour lanalyse des dpts sur l
13、es papiers isolants la suite des essais relatifs au soufre potentiellement corrosif. Du fait de diffrents matriels dessai, ces lignes directrices peuvent ncessiter une adaptation pour un matriel individuel. B.2 Principe Un papier est analys par SEM-EDX. Si du sulfure de cuivre est prsent en quantit
14、significative, il est aisment dtect. B.3 Appareillage et matriaux (exemples) A titre dexemple de paramtres utiliss sur un instrument SEM-EDX typique disponible sur le march, on peut citer: Distance de travail (WD) = 19 mm Mode de pression variable, chambre de compression 30 Pa Tension dacclration 20
15、 kV courant de filament de 1 nA lment normalis cobalt Dtecteur dlectrons rtrodiffuss Les autres matriels peuvent comporter diffrents rglages selon les recommandations du fabricant.La mthode de corrlation utilise pour le calcul du pourcentage atomique peut galement influer sur le choix des rglages de
16、vant tre utiliss. Supports en aluminium de 32 mm. Tampon adhsif conducteur double face. B.4 chantillonnage Les chantillons sont assembls partir des papiers obtenus aprs avoir ralis lessai de corrosion du conducteur guip, prpar pour lexamen visuel, tel quil est dcrit en 6.3. B.5 Mode opratoire Fixer
17、le papier avec un tampon adhsif conducteur double face sur une embase. Les paramtres du SEM-EDX sont rgls en utilisant les recommandations du fabricant tel quil est dcrit en B.3. EN 62535:2009 14 Pour commander lappareil, passer un lment normalis (habituellement le cobalt) sous un faisceau stable au
18、x conditions dans lesquelles lanalyse doit tre effectue. Dplacer le papier afin de trouver des dpts brillants sur celui-ci, en mode dtecteur rtrodiffus. Les zones de papier surplombant les embases ne sont pas analyses. Zoomer sur certains de ces dpts et les analyser. Aprs analyse dau moins 3 et maxi
19、mum 5 des dpts, finaliser lanalyse. Si le rsultat nest pas assez clair, analyser dautres dpts jusqu obtenir la confiance. Ceci peut diffrer selon le papier et est li au nombre et type de dpts. Il est vivement recommand danalyser des matriaux de rfrence, y compris des papiers neufs et des papiers ess
20、ays avec des types dhuile qui ont eu une dfaillance en service. Un chantillon de rfrence peut tre prpare en frottant du Cu2S dans le mme type de papier que celui utilis dans lessai. B.6 Interprtation et rapport des rsultats Avec le SEM-EDX, il convient que la prsence de quantits significatives de su
21、lfure de cuivre fournisse des signaux bien visibles de fluorescence de rayons x du cuivre et du soufre (par exemple 0,94 keV et 2,3 keV, respectivement) dans un rapport de 1,5:1 2,5:1 ainsi quun minimum de 2 % datome de soufre et 4 % datome de cuivre. Le pourcentage atomique est habituellement calcu
22、l par le logiciel du SEM-EDX. Mme sur du papier neuf, des traces de soufre et certaines de cuivre sont dtectables; cest pourquoi un pourcentage atomique minimal de soufre et de cuivre est exig.La dtermination du pourcentage datomes est influence par divers paramtres, tels que la mthode de correction
23、, la profondeur danalyse, etc. 15 EN 62535:2009 Bibliographie 1 CIGRE Progress report WG A2.32:2006, Copper sulphide in transformer insulation (titre disponible seulement en anglais) 2 CEI 60567, Matriels lectriques immergs Echantillonnage de gaz et dhuile pour analyse des gaz libres et dissous Lign
24、es directrices NOTE Harmonise comme EN 60567:2005 (non modifie)._ EN 62535:2009 16 Annexe ZA (normative) Rfrences normatives dautres publications internationales avec les publications europennes correspondantes Les documents de rfrence suivants sont indispensables pour lapplication du prsent documen
25、t. Pour les rfrences dates, seule ldition cite sapplique. Pour les rfrences non dates, la dernire dition du document de rfrence sapplique (y compris les ventuels amendements). NOTE Dans le cas o une publication internationale est modifie par des modifications communes, indiqu par (mod), lEN / le HD
26、correspondant(e) sapplique. Publication Anne Titre EN/HD Anne- - Cuivre et alliages de cuivre - Barres et fils en cuivre pour usages lectriques gnraux EN 13601 - 1)CEI 60475 - 1) Mthode dchantillonnage des dilectriques liquides - -CEI 60554-3-1 - 1) Spcification pour papiers cellulosiques usages lec
27、triques - Partie 3: Spcifications pour matriaux particuliers - Feuille 1: Papier pour usage lectrique gnral - -ASTM D1275 - 1) Methods A and B: Standard test method for corrosive sulfur in electrical insulating oils - -ASTM D130 - 1) Standard test method for corrosiveness to copper from petroleum pr
28、oducts by copper strip test - -DIN 51353 - 1) Testing of insulating oils; detection of corrosive sulfur; silver strip test - -1) Rfrence non date. III NF EN 62535 Fluides pour applications lectrotechniques UTE/UF 10 Liste des organismes reprsents dans la commission de normalisation Secrtariat : UTE
29、BNPE (BUREAU DE NORMALISATION DU PETROLE) ECOLE CENTRALE DE LYON EDF (ELECTRICITE DE FRANCE) FFIE (FEDERATION FRANCAISE DES INSTALLATEURS ELECTRICIENS) GIMELEC (GROUPEMENT DES INDUSTRIES DE LEQUIPEMENT ELECTRIQUE, DU CONTRLE-COMMANDE ET DES SERVICES ASSOCIES) LCIE (LABORATOIRE CENTRAL DES INDUSTRIES ELECTRIQUES) MINISTERE DE LECONOMIE, DES FINANCES ET DE LINDUSTRIE MINISTERE DU TRAVAIL, DES RELATIONS SOCIALES ET DE LA SOLIDARITE NYNAS SA RTE (RESEAU DE TRANSPORT DE LELECTRICITE) SEA MARCONI
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