搜索
麦多课文库
收藏
下载资源
加入VIP,免费下载
ONORM B 3420-1988 Instructions for testing products of fibre cement (FZ-products) in building construction《建筑构造中纤维水泥测试产品说明》.pdf
上传人:
eastlab115
文档编号:1011576
上传时间:2019-03-19
格式:PDF
页数:14
大小:483.36KB
下载
相关
举报
第1页 / 共14页
第2页 / 共14页
第3页 / 共14页
第4页 / 共14页
第5页 / 共14页
点击查看更多>>
资源描述
展开
阅读全文
相关资源
DBJT 08-117-2013 无机保温砂浆系统建筑构造图集.pdf
DBJT 08-117-2013 无机保温砂浆系统建筑构造图集.pdf
ONORM H 5171-1993 Heating installations - Requirements related to building construction《暖气设施 有关建筑构造的要求》.pdf
川03J110 空心石膏砌块非承重内隔墙建筑构造图集.pdf
川07J121 泡沫混凝土楼地面、屋面保温隔热建筑构造图.pdf
川14J171-TJ 全轻混凝土楼地面保温隔热建筑构造 无水印.pdf
川09J139居住建筑油烟气集中排放建筑构造.pdf
川14J171-TJ 全轻混凝土楼地面保温隔热建筑构造.pdf
川16J116-TJ水泥基泡沫保温板建筑保温系统建筑构造.pdf
猜你喜欢
BS EN 60749-37-2008 Semiconductor ndevices — Mechanical nand climatic test nmethods — nPart 37 Board level drop test method nusing an accelerometer《半导体装置 机械和气候试验方法 使用加速计的电路板级落锤试验方法.pdf
BS EN 60749-38-2008 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 38 Soft error test method for semiconductor devices with memory《半导体器件 机械和气候试验方法 带存储器的半导体器件用软.pdf
BS EN 60749-39-2006 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Measurement of moisture diffusivity and water solubility in organic materials used for semiconduc.pdf
BS EN 60749-4-2002 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Damp heat steady state highly accelerated stress test (HAST)《半导体器件 机械和气候试验方法 湿热、稳态态、高加速应力试验(HAST)》.pdf
BS EN 60749-40-2011 Semiconductor devices Mechanical and climatic test methods Board level drop test method using a strain gauge《半导体装置 机械和气候试验方法 利用变形测量器进行的板级落锤试验法》.pdf
BS EN 60749-42-2014 Semiconductor devices Mechanical and climatic test methods Temperature and humidity storage《半导体器件 机械和气候试验方法 温度和湿度存储》.pdf
BS EN 60749-44-2016 Semiconductor devices Mechanical and climatic test methods Neutron beam irradiated single event effect (SEE) test method for semiconductor devices《半导体器件 机械和气候试验.pdf
BS EN 60749-5-2017 Semiconductor devices Mechanical and climatic test methods Steady-state temperature humidity bias life test《半导体器件 机械和气候试验方法 稳态温度湿度偏差寿命试验》.pdf
BS EN 60749-6-2002 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Storage at high temperature《半导体器件 机械和气候试验方法 高温下储存》.pdf
相关搜索
ONORMB34201988INSTRUCTIONSFORTESTIN
建筑构造
纤维
水泥
当前位置:
首页
>
标准规范
>
国际标准
>
其他
copyright@ 2008-2019 麦多课文库(www.mydoc123.com)网站版权所有
备案/许可证编号:
苏ICP备17064731号-1
登录
首页
资源分类
专题
通知公告