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GB T 15651.3-2003 半导体分立器件和集成电路 第5-3部分：光电子器件 测试方法.pdf

上传人：吴艺期 文档编号：101916 上传时间：2019-07-07 格式：PDF 页数：25 大小：832.80KB
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This part of IEC 60747 describes the measuring methods applicable to the optoelectronic devices which are not intended to be used in the fibre optic systems or subsystems.

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