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GB T 15653-1995 金属氧化物半导体气敏元件测试方法.pdf

上传人：吴艺期 文档编号：101919 上传时间：2019-07-07 格式：PDF 页数：10 大小：293.35KB
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资源描述

本标准规定了金属氧化物半导体气敏元件（以下简称元件）性能参数测试方法的基本原理，没有规定这些方法在实际使用时的技术细节，测试时可按相应的详细规范的规定进行。本标准适用于金属氧化物半导体气敏元件性能参数的测试，其他气敏元件亦可参照使用。

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