本标准定义了一个抽象测试套，它用来测试与GB/T14399或CCITTX.25（1980，1984）有关的IUT数据链路层的一致性。数据终端设备（DTE）与以上国家标准或CCITT的一致性测试通过测试器与DTE之间的专门电路实现。要引起注意的是CCITTX.25：1980和X.25：1984是从DCE的角度来写的，因此并不明确定义DTE的操作。在这种情况下隐含表明一个DTE的操作被包括了，因为有与X.25DCE通信的需要。本标准不包括CCITT推荐中给以的LAP过程的测试。注：对扩展操作（modulo128），多链路过程和DTE-DTE操作GB/T14399在以后会有进一步讨论。本标准是为三种可能交互工作情况设计的，在图1中表示，本标准指明了图1所示三种情况的测试，但承认并不是每个测试都能应用到某一种别的DTE。一个测试选择过程必须被执行以确定一个测试在某DTE上的可应用性。这样的选择以PICS和PIXIT为基础。在本标准的其余部分，术语“X.25标准”表示全部三个CCITTX.25：1980，CCITTX.25：1984和GB/T14399在内，否则将特别指明。
