1、GB/T 18310.11-2003/IEC 61300-2-11:1995月i舀本部分为GB/T 18310的第11部分，并隶属于GB/T 18309. 1-2001/IEC 61300-1:1995纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测量程序第1部分:总则和导则本部分等同采用IEC 61300-2-11:1995纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测量程序第2-11部分:试验轴向挤压)(英文版)。为便于使用，对于IEC 61300-2-11:1995还作了下列编辑性修改:删除IEC 61300-2-11:1995的前言。纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测量程序是系列国家标准，下面列出了
2、这些国家标准的预计结构及其对应的IEC标准:a) GB/T 18309. 1-2001纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测量程序第1部分:总则和导则(idt IEC 61300-1:1995),b) GB/T 18310纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测量程序第2部分:试验 GB/T 18310.1-2002纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测量程序第2-1部分:试验振动(正弦)(IEC 61300-2-1:1995,IDT) GB/T 18310.2-2001(纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测量程序第2-2部分:试验配接耐久性(idt IEC 61300-2-2:1995)-G
3、B/T 18310. 3-2001纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测量程序第2-3部分:试验静态剪切力(idtIEC 61300-2-3:1995) GB/T 18310.4-2001纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测量程序第2-4部分:试验光纤/光缆保持力(idt IEC 61300-2-4;1995)c) GB/T 18311纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测量程序第3部分检查和测量 GB/T 18311. 1-2003纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测量程序第3-1部分:检查和测量外观检查)(IEC 61300-3-1:1995,IDT)-GB/T 18311. 2-20
4、01纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测量程序第3-2部分:检查和测量单模纤维光学器件偏振依赖性(idtIEC 61300-3-2:1995) GB/T 18311.3-2001(纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测量程序第3-3部分检查和测量监测衰减和回波损耗变化(多路)A(idtIEC 61300-3-3:1997) GB/T 18311. 4-2003纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测量程序第3-4部分:检查和测量衰减GEC 61300-3-4:2001,IDT)本部分由中华人民共和国信息产业部提出。本部分由中国电子技术标准化研究所(CESI)归口。本部分起草单位:中国电子科技集
5、团公司第八研究所。本部分主要起草人:王强、王毅、商海英。GB/T 18310.11-2003/IEC 61300-2-11:1995纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测量程序第2-11部分:试验轴向挤压总则1.1范围和目的本部分的目的是确保纤维光学器件与光缆的连接或固定能够经受住正常工作期间可能遭受的挤压负荷。1.2概述将样品牢固地夹紧，并对光缆施加一个轴向挤压负荷。装置装置由以下单元组成。21夹持装置应采用一种合适的夹持装置，该装置能夹紧至少相当于光缆直径3倍距离的一段光缆，并且能够提供轴向负荷而不产生滑移、光缆损伤或衰减增加。2.2固定夹持装置固定夹持装置应能够夹紧样品而不改变其任何机械
6、特性。2.3施力机施力机应能以规定的速率平稳地施加轴向挤压负荷。2.4压力计测量施加到样品和光缆之间负荷的一种合适仪表。3程序样品应由按相关规范完全装配好的光器件组成。除非另有规定，样品应在非工作状态下进行试验。3. 1将被试器件牢固地固定到固定夹持装置上，图1是一个试验装置的实例。固定夹持装置光统图1试验装置3.2在规定的施加负荷点处夹持光缆。3.3平稳地将轴向挤压负荷施加到光缆上。3.4维持所施加的负荷至少2 min,3.5在试验完成后应进行检查并按相关规范中的规定记录所必须的观察结果口仔细注意光信号的衰变、光纤断裂和光缆相对于样品过度的位移。施加负荷点的位置应保证施加IGB/T 18310.11-2003/IEC 61300-2-11:1995轴向负荷。4严酷等级严酷等级由轴向挤压负荷的大小组成，相关规范中应规定严酷等级。下列优先严酷等级是非强制的，本部分可规定这些严酷等级。负荷/N51020501002005规定的细节按适用情况，在相关规范中应规定下列细节施加负荷的大小;施加负荷点的位置;施加负荷的速率;样品是否作光学监测;样品是否配接;预处理程序;试验后的程序;初始检查、测量和性能要求;试验过程中的检查、测量和性能要求;最后检查、测量和性能要求;所需要的光学测量方法;相对于本试验程序的差异;附加“合格/不合格”判据。
