1、GB/T 18310.8-2003/IEC 61300-2-8:1995HIJ吕本部分为GB/T 18310的第8部分，并隶属于GB/T 18309. 1-2001/IEC 61300-1:1995(纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测量程序第1部分:总则和导则。本部分等同采用IEC 61300-2-8:1995纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测量程序第2-8部分:试验碰撞(英文版)。为便于使用，对于IEC 61300-2-8:1995还作了下列编辑性修改:删除IEC 61300-2-8:1995的前言。纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测量程序是系列国家标准，下面列出了这些国家标准的
2、预计结构及其对应的IEC标准:a) GB/T 18309.1-2001纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测量程序第1部分:总则和导则(idtIEC 61300-1:1995)0b) GB/T 18310(纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测量程序第2部分:试验-GB/T 18310. 1-2002纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测量程序第2-1部分:试验振动(正弦)(IEC 61300-2-1:1995,IDT)-GB/T 18310.2-2001纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测量程序第2-2部分:试验配接耐久性(idtIEC 61300-2-2:1995)-GB/T 18310
3、. 3-2001纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测量程序第2-3部分:试验静态剪切力(idtIEC 61300-2-3:1995) GB/T 18310. 4-2001纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测量程序第2-4部分:试验光纤/光缆保持力(idtIEC 61300-2-4:1995)C) GB/T 18311纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测量程序第3部分:检查和测量-GB/T 18311. 1-2003纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测量程序第3-1部分:检查和测量外观检查(IEC 61300-3-1:1995,IDT) GB/T 18311. 2-2001纤维光学互连器
4、件和无源器件基本试验和测量程序第3-2部分:检查和测量单模纤维光学器件偏振依赖性(idtIEC 61300-3-2:1995) GB/T 18311. 3-2001纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测量程序第3-3部分:检查和测量监测衰减和回波损耗变化(多路)(idtIEC 61300-3-3:1997) GB/T 18311. 4-2003纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测量程序第3-4部分:检查和测量衰减)(IEC 61300-3-4:2001,IDT)本部分由中华人民共和国信息产业部提出。本部分由中国电子技术标准化研究所(CESI)归口。本部分起草单位:中国电子科技集团公司第八研究
5、所本部分主要起草人:王强、王毅、商海英。GB/T 18310.8-2003/IEC 61300-2-8;1995纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测量程序第2-8部分:试验碰撞总则1.1范围和目的本部分的目的是揭示纤维光学器件在受到重复性的冲击时其机械性能的薄弱环节和/或性能劣化。它模拟在正常工作期间器件可能遭受到的重复性的冲击。1.2概述本程序按GB/T 2423. 6-1995试验Eb进行。将样品安装于碰撞试验机上并遭受重复的半正弦脉冲。1.3规范性引用文件下列文件中的条款通过GB/T 18310的本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单(不包括勘误的内容
6、)或修订版均不适用于本部分，然而，鼓励根据本部分达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本部分。GB/T 2423. 6-1995电I电子产品环境试验第二部分:试验方法试验Eb和导则:碰撞(idtIEC 60068-2-29;1987)装置装置由以下单元组成。2.1碰撞试验机符合GB/T 2423. 6-1995试验Eb的碰撞试验机。2.2固定夹具符合GB/T 2423. 6-1995试验Eb的固定夹具。程序按GB/T 2423.6-1995试验Eb进行。4严酷等级严酷等级由碰撞的峰值加速度、持续时间和次数组成。相关规范中应规定严酷等级.下列优先
7、严酷等级是非强制的，本部分可规定这些严酷等级。4.，接头盒光纤光缆接头盒的优先值。一一一一，蔽赢甲.下-da谙toAI脉冲持续时间1 000士1098 m/sC109)6盯.52其他纤维光学器件其他光纤器件的优先值。GB/T 18310.8-2003/IEC 61300-2-8:1995碰撞次数4 000士10峰值加速度392 m/扩(40 q)脉冲持续时间6m55规定的细节按适用情况，在相关规范中应规定下述细节:安装方法和样品定向;碰撞次数;峰值加速度;脉冲持续时间;样品是否作光学监测;样品是否配接;预处理程序;恢复程序;初始检查、测量和性能要求;试验过程中检查、测量和性能要求;最后检查、测量和性能要求;碰撞方向;所需要的光学测量方法;相对于本试验程序的差异;附加“合格/不合格”判据。
