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GB T 21227-2007 交流损耗测量 Cu-Nb-Ti 多丝复合线 磁滞损耗的磁强计测量法.pdf

上传人：吴艺期 文档编号：105919 上传时间：2019-07-07 格式：PDF 页数：13 大小：839.05KB
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资源描述

本标准描述了运用直流或低扫场速率磁强计方法对Cu/Nb-Ti多丝复合线磁滞损耗进行测量的相关事宜。本标准所针对的是Cu/Nb-Ti多丝复合导体中磁滞损耗的测量。测量应在4.2K或4.2K附近的温度下针对圆形线进行。直流或低扫场速率磁强计法使用的是超导量子干涉器件（SQUID）磁强计或振动样品磁强计（VSM）。如果测量中发现用不同的（但均校准过的）磁强计所得的结果存在差异，则以VSM在外推至零扫场速率下测量的结果为准。

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