搜索
麦多课文库
收藏
下载资源
加入VIP,免费下载
TS 1840-1975 1 1 1-Trichloroethane For Industrial Use-List of Methods of Test《工业用1 1 1-三氯乙烷 试验方法一览表》.pdf
上传人:
bowdiet140
文档编号:1064231
上传时间:2019-03-31
格式:PDF
页数:6
大小:120.12KB
下载
相关
举报
第1页 / 共6页
第2页 / 共6页
第3页 / 共6页
第4页 / 共6页
第5页 / 共6页
点击查看更多>>
资源描述
展开
阅读全文
相关资源
SH T 0738-2003 聚合物改性沥青1,1,1-三氯乙烷溶解度测定法.pdf
GB 18561-2001 车间空气中1,1,1-三氯乙烷职业接触限值.pdf
GB 18561-2001 车间空气中1,1,1-三氯乙烷职业接触限值.pdf
GB T 35953-2018 化妆品中限用物质二氯甲烷和1,1,1-三氯乙烷的测定 顶空气相色谱法.pdf
STAS 8442-1969 《以二氯二苯基三氯乙烷成分为主的杀虫剂》.pdf
ASTM D5394-2002(2007) Standard Specification for Reclaimed 1 1 1-Trichloroethane《回收的1 1 1-三氯乙烷的标准规范》.pdf
CNS 3337-1983 1 1 1-Trichloroethane (Industrial Grade)《1,1,1–三氯乙烷(工业级)》.pdf
CNS 3338-1983 Method of Test for 1 1 1-Trichloroethane (Industrial Grade)《1,1,1,–三氯乙烷(工业级)检验法》.pdf
KS M 2256-2007 Testing method for solubility of bituminous materials in trichloroethane《沥青材料三氯乙烷溶解度测定法》.pdf
MSZ 21920-1958 《含滴滴涕的药(二氯二苯基三氯乙烷,技术性)》.pdf
猜你喜欢
CNS 5065-1988 Methods of Illumination Measurements《照度测定法》.pdf
CNS 5066-1983 Environmental Testing Methods and Endurance Testing Methods for Discrete Semiconductor Devices (General Rules)《单件半导体装置之环境检验法及耐久性检验法–总则》.pdf
CNS 5067-1988 Environmental Testing Methods and Endurance Testing Methods for Discrete Semiconductor Devices (Test of Soft Solders for Heat Endurance)《单件半导体装置之环境检验法及耐久性检验法–焊锡耐热性试验》.pdf
CNS 5068-1988 Environmental Testing Methods and Endurance Testing Methods for Discrete Semiconductor Devices (Solderability Testing for Adhesion)《单件半导体装置之环境检验法及耐久性检验法–焊锡附着性试验》.pdf
CNS 5069-1988 Environmental Testing Methods and Endurance Testing Methods for Discrete Semiconductor Devices (Test of Thermal Shock)《单件半导体装置之环境检验法及耐久性检验法–热冲击试验》.pdf
CNS 5070-1988 Environmental Testing Methods and Endurance Testing Methods for Discrete Semiconductor Devices (Cycle Test for Temperature)《单件半导体装置之环境检验法及耐久性检验法–温度循环试验》.pdf
CNS 5071-1988 Environmental Testing Methods and Endurance Testing Methods for Discrete Semiconductor Devices (Cycle Test for Temperature & Humidity)《单件半导体装置之环境检验法及耐久性检验法–温湿度循环试验》.pdf
CNS 5072-1988 Environmental Testing Methods and Endurance Testing Methods for Discrete Semiconductor Devices (Sealing Test)《单件半导体装置之环境检验法及耐久性检验法–气密性试验》.pdf
CNS 5073-1988 Environmental Testing Methods and Endurance Testing Methods for Discrete Semiconductor Devices (Shock Test)《单件半导体装置之环境检验法及耐久性检验法–冲击试验》.pdf
相关搜索
TS18401975111TRICHLOROETHANEFORINDU
工业
111
三氯乙烷
试验
方法
一览表
PDF
当前位置:
首页
>
标准规范
>
国际标准
>
其他
copyright@ 2008-2019 麦多课文库(www.mydoc123.com)网站版权所有
备案/许可证编号:
苏ICP备17064731号-1
登录
首页
资源分类
专题
通知公告