本标准规定了各种密封性能试验方法。试验Qa、Qc是粗检,观察从漏隙中冒出的气泡。试验Qd是在加温条件下观察液体的渗漏;试验Qk、Qm是用示踪气体检测细漏;试验Qf、Ql是在加压条件下使液体通过漏隙进入其中,然后测量其性能变化。本标准适用于检测各种电工电子产品的密封性能,也适用于其他密封零部件的密封性检测。
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