(江西专版)2019春九年级数学下册第二章二次函数2.2二次函数的图象与性质第4课时二次函数y=a(x_h)2k的图象与性质习题讲评课件(新版)北师大版.pptx

上传人:registerpick115 文档编号:1103288 上传时间:2019-04-17 格式:PPTX 页数:24 大小:2.04MB
下载 相关 举报
(江西专版)2019春九年级数学下册第二章二次函数2.2二次函数的图象与性质第4课时二次函数y=a(x_h)2k的图象与性质习题讲评课件(新版)北师大版.pptx_第1页
第1页 / 共24页
(江西专版)2019春九年级数学下册第二章二次函数2.2二次函数的图象与性质第4课时二次函数y=a(x_h)2k的图象与性质习题讲评课件(新版)北师大版.pptx_第2页
第2页 / 共24页
(江西专版)2019春九年级数学下册第二章二次函数2.2二次函数的图象与性质第4课时二次函数y=a(x_h)2k的图象与性质习题讲评课件(新版)北师大版.pptx_第3页
第3页 / 共24页
(江西专版)2019春九年级数学下册第二章二次函数2.2二次函数的图象与性质第4课时二次函数y=a(x_h)2k的图象与性质习题讲评课件(新版)北师大版.pptx_第4页
第4页 / 共24页
(江西专版)2019春九年级数学下册第二章二次函数2.2二次函数的图象与性质第4课时二次函数y=a(x_h)2k的图象与性质习题讲评课件(新版)北师大版.pptx_第5页
第5页 / 共24页
点击查看更多>>
资源描述

,谢谢观看,Thank you for watching!,

展开阅读全文
相关资源
猜你喜欢
  • KS D ISO 21270-2005 Surface chemical analysis-X-ray photoelectron and Auger electron spectrometers-Linearity of intensity scale《表面化学分析 X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪 强度标的线性》.pdf KS D ISO 21270-2005 Surface chemical analysis-X-ray photoelectron and Auger electron spectrometers-Linearity of intensity scale《表面化学分析 X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪 强度标的线性》.pdf
  • KS D ISO 2128-2011 Anodizing of aluminium and its alloys-Determination of thickness of anodic oxidation coatings-Non-destructive measurement by split-beam microscope《铝和铝合金的阳极氧化 阳极氧.pdf KS D ISO 2128-2011 Anodizing of aluminium and its alloys-Determination of thickness of anodic oxidation coatings-Non-destructive measurement by split-beam microscope《铝和铝合金的阳极氧化 阳极氧.pdf
  • KS D ISO 2179-2009 Electroplated coatings of tin-nickel alloy-Specification and test methods《锡镍合金电镀层 规范和试验方法》.pdf KS D ISO 2179-2009 Electroplated coatings of tin-nickel alloy-Specification and test methods《锡镍合金电镀层 规范和试验方法》.pdf
  • KS D ISO 22029-2013 Standard file format for spectral data exchange《光谱数据交换用标准文档格式》.pdf KS D ISO 22029-2013 Standard file format for spectral data exchange《光谱数据交换用标准文档格式》.pdf
  • KS D ISO 22033-2006 Nickel alloys-Determination of niobium-Inductively coupled plasma atomic emission spectrometric method《镍合金 铌的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法》.pdf KS D ISO 22033-2006 Nickel alloys-Determination of niobium-Inductively coupled plasma atomic emission spectrometric method《镍合金 铌的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法》.pdf
  • KS D ISO 22048-2005 Surface chemical analysis - Information format for static secondary-ion mass spectrometry《表面化学分析 静态次生离子质谱法的信息格式》.pdf KS D ISO 22048-2005 Surface chemical analysis - Information format for static secondary-ion mass spectrometry《表面化学分析 静态次生离子质谱法的信息格式》.pdf
  • KS D ISO 22309-2011 Microbeam analysis-Quantitative analysis using energy-dispersive spectrometry(EDS)《微光束分析 用能量扩散光谱测定法(EDS)对原子序数大于等于11(Na)的元素进行定量分析》.pdf KS D ISO 22309-2011 Microbeam analysis-Quantitative analysis using energy-dispersive spectrometry(EDS)《微光束分析 用能量扩散光谱测定法(EDS)对原子序数大于等于11(Na)的元素进行定量分析》.pdf
  • KS D ISO 22489-2012 Microbeam analysis-Electron probe microanalysis-Quantitative point analysis for bulk specimens using wavelength-dispersive x-ray spectroscopy《微光束分析 电子探针微量分析 运用波.pdf KS D ISO 22489-2012 Microbeam analysis-Electron probe microanalysis-Quantitative point analysis for bulk specimens using wavelength-dispersive x-ray spectroscopy《微光束分析 电子探针微量分析 运用波.pdf
  • KS D ISO 22493-2012 Microbeam analysis-Scanning electron microscopy-Vocabulary《微光束分析 扫描电子显微镜 术语》.pdf KS D ISO 22493-2012 Microbeam analysis-Scanning electron microscopy-Vocabulary《微光束分析 扫描电子显微镜 术语》.pdf
  • 相关搜索

    当前位置:首页 > 教学课件 > 中学教育

    copyright@ 2008-2019 麦多课文库(www.mydoc123.com)网站版权所有
    备案/许可证编号:苏ICP备17064731号-1