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GB T 4589.1-2006 半导体器件 第10部分：分立器件和集成电路总规范.pdf

上传人：吴艺期 文档编号：111917 上传时间：2019-07-07 格式：PDF 页数：34 大小：964.54KB
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资源描述

本规范构成国际电工委员会电子元器件质量评定体系（IECQ）的一部分。本规范是半导体器件（分立器件和集成电路，包括多片集成电路，但不包括混合电路）的总规范。本规范规定了在IECQ体系内采用的质量评定的总程序，并给出了下述方面的总原则：电特性测试方法；气候和机械试验；耐久性试验。

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