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GB T 5594.8-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 显微结构的测定.pdf

上传人：bowdiet140 文档编号：112646 上传时间：2019-07-07 格式：PDF 页数：3 大小：107.93KB
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资源描述

GB/T 5594的本部分规定了氧化铝瓷、氧化铍瓷、滑石瓷和镁橄榄石瓷等电子元器件结构陶瓷显微结构的测定方法。本部分适用于氧化铝瓷、氧化铍瓷、滑石瓷和镁橄榄石瓷等电子元器件结构陶瓷显微结构的测定。本部分只涉及光学显微镜的测定内容和测定方法。

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