EJ T 1204.1-2006 电离辐射测量探测限和判断阈的确定 第1部分 :忽略样品处理影响的计数测量.pdf

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本部分使用统计学方法规定了两个表征着给定错误概率的统计值,用以评估忽略样品处理影响的电离辐射测量中的探测能力。本部分适用于忽略样品处理影响的计数测量。

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