1、NORME INTERNATIONALE CEI IEC INTERNATIONAL STANDARD 60512-3-1 Premire dition First edition 2002-02 Connecteurs pour quipements lectroniques Essais et mesures Partie 3-1: Essais disolement Essai 3a: Rsistance disolement Connectors for electronic equipment Tests and measurements Part 3-1: Insulation t
2、ests Test 3a: Insulation resistance Numro de rfrence Reference number CEI/IEC 60512-3-1:2002Numrotation des publications Depuis le 1er janvier 1997, les publications de la CEI sont numrotes partir de 60000. Ainsi, la CEI 34-1 devient la CEI 60034-1. Editions consolides Les versions consolides de cer
3、taines publications de la CEI incorporant les amendements sont disponibles. Par exemple, les numros dditi on 1.0, 1.1 et 1.2 indiquent respectivement la publication de base, la publication de base incorporant lamendement 1, et la publication de base incorporant les amendements 1 et 2. Informations s
4、upplmentaires sur les publications de la CEI Le contenu technique des publications de la CEI est constamment revu par la CEI afin quil reflte ltat actuel de la technique. Des renseignements relatifs cette publication, y compris sa validit, sont dispo- nibles dans le Catalogue des publications de la
5、CEI (voir ci-dessous) en plus des nouvelles ditions, amendements et corrigenda. Des informations sur les sujets ltude et lavancement des travaux entrepris par le comit dtudes qui a labor cette publication, ainsi que la liste des publications parues, sont galement disponibles par lintermdiaire de: Si
6、te web de la CEI (www.iec.ch) Catalogue des publications de la CEI Le catalogue en ligne sur le site web de la CEI (www.iec.ch/catlg-f.htm) vous permet de faire des recherches en utilisant de nombreux critres, comprenant des recherches textuelles, par comit dtudes ou date de publication. Des informa
7、tions en ligne sont galement disponibles sur les nouvelles publications, les publications rempla- ces ou retires, ainsi que sur les corrigenda. IEC Just Published Ce rsum des dernires publications parues (www.iec.ch/JP.htm) est aussi disponible par courrier lectronique. Veuillez prendre contact avec
8、 le Service client (voir ci-dessous) pour plus dinformations. Service clients Si vous avez des questions au sujet de cette publication ou avez besoin de renseignements supplmentaires, prenez contact avec le Service clients: Email: custserviec.ch Tl: +41 22 919 02 11 Fax: +41 22 919 03 00 Publication
9、 numbering As from 1 January 1997 all IEC publications are issued with a designation in the 60000 series. For example, IEC 34-1 is now referred to as IEC 60034-1. Consolidated editions The IEC is now publishing consolidated versions of its publications. For example, edition numbers 1.0, 1.1 and 1.2
10、refer, respectively, to the base publication, the base publication incorporating amendment 1 and the base publication incorporating amendments 1 and 2. Further information on IEC publications The technical content of IEC publications is kept under constant review by the IEC, thus ensuring that the c
11、ontent reflects current technology. Information relating to this publication, including its validity, is available in the IEC Catalogue of publications (see below) in addition to new editions, amendments and corrigenda. Information on the subjects under consideration and work in progress undertaken
12、by the technical committee which has prepared this publication, as well as the list of publications issued, is also available from the following: IEC Web Site (www.iec.ch) Catalogue of IEC publications The on-line catalogue on the IEC web site (www.iec.ch/catlg-e.htm) enables you to search by a vari
13、ety of criteria including text searches, technical committees and date of publication. On- line information is also available on recently issued publications, withdrawn and replaced publications, as well as corrigenda. IEC Just Published This summary of recently issued publications (www.iec.ch/JP.ht
14、m) is also available by email. Please contact the Customer Service Centre (see below) for further information. Customer Service Centre If you have any questions regarding this publication or need further assistance, please contact the Customer Service Centre: Email: custserviec.ch Tel: +41 22 919 02
15、 11 Fax: +41 22 919 03 00 .NORME INTERNATIONALE CEI IEC INTERNATIONAL STANDARD 60512-3-1 Premire dition First edition 2002-02 Connecteurs pour quipements lectroniques Essais et mesures Partie 3-1: Essais disolement Essai 3a: Rsistance disolement Connectors for electronic equipment Tests and measurem
16、ents Part 3-1: Insulation tests Test 3a: Insulation resistance Pour prix, voir catalogue en vigueur For price, see current catalogue IEC 2002 Droits de reproduction rservs Copyright - all rights reserved Aucune partie de cette publication ne peut tre reproduite ni utilise sous quelque forme que ce s
17、oit et par aucun procd, lectronique ou mcanique, y compris la photocopie et les microfilms, sans laccord crit de lditeur. No part of this publication may be reproduced or utilized in any form or by any means, electronic or mechanical, including photocopying and microfilm, without permission in writi
18、ng from the publisher. International Electrotechnical Commission, 3, rue de Varemb, PO Box 131, CH-1211 Geneva 20, Switzerland Telephone: +41 22 919 02 11 Telefax: +41 22 919 03 00 E-mail: inmailiec.ch Web: www.iec.ch CODE PRIX PRICE CODE D Commission Electrotechnique Internationale International El
19、ectrotechnical Commission 2 60512-3-1 CEI:2002 COMMISSION LECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE _ CONNECTEURS POUR QUIPEMENTS LECTRONIQUES ESSAIS ET MESURES Partie 3-1: Essais disolement Essai 3a: Rsistance disolement AVANT-PROPOS 1) La CEI (Commission lectrotechnique Internationale) est une organisation m
20、ondiale de normalisation compose de lensemble des comits lectrotechniques nationaux (Comits nationaux de la CEI). La CEI a pour objet de favoriser la coopration internationale pour toutes les questions de normalisation dans les domaines de llectricit et de llectronique. A cet effet, la CEI, entre au
21、tres activits, publie des Normes internationales. Leur laboration est confie des comits dtudes, aux travaux desquels tout Comit national intress par le sujet trait peut participer. Les organisations internationales, gouvernementales et non gouvernementales, en liaison avec la CEI, participent galeme
22、nt aux travaux. La CEI collabore troitement avec lOrganisation Internationale de Normalisation (ISO), selon des conditions fixes par accord entre les deux organisations. 2) Les dcisions ou accords officiels de la CEI concernant les questions techniques reprsentent, dans la mesure du possible, un acc
23、ord international sur les sujets tudis, tant donn que les Comits nationaux intresss sont reprsents dans chaque comit dtudes. 3) Les documents produits se prsentent sous la forme de recommandations internationales. Ils sont publis comme normes, spcifications techniques, rapports techniques ou guides
24、et agrs comme tels par les Comits nationaux. 4) Dans le but dencourager lunification internationale, les Comits nationaux de la CEI sengagent appliquer de faon transparente, dans toute la mesure possible, les Normes internationales de la CEI dans leurs normes nationales et rgionales. Toute divergenc
25、e entre la norme de la CEI et la norme nationale ou rgionale correspondante doit tre indique en termes clairs dans cette dernire. 5) La CEI na fix aucune procdure concernant le marquage comme indication dapprobation et sa responsabilit nest pas engage quand un matriel est dclar conforme lune de ses
26、normes. 6) Lattention est attire sur le fait que certains des lments de la prsente Norme internationale peuvent faire lobjet de droits de proprit intellectuelle ou de droits analogues. La CEI ne saurait tre tenue pour responsable de ne pas avoir identifi de tels droits de proprit et de ne pas avoir
27、signal leur existence La Norme internationale CEI 60512-3-1 a t tablie par le sous-comit 48B: Connecteurs, du comit dtudes 48 de la CEI: Composants lectromcaniques et structures mcaniques pour quipements lectroniques. Cette norme annule et remplace lessai 3a de la CEI 60512-2, parue en 1985, dont el
28、le constitue une rvision technique. Le texte de cette norme est issu des documents suivants: FDIS Rapport de vote 48B/1133/FDIS 48B/1184/RVD Le rapport de vote indiqu dans le tableau ci-dessus donne toute information sur le vote ayant abouti lapprobation de cette norme. Cette publication a t rdige s
29、elon les Directives ISO/CEI, Partie 3. Le comit a dcid que le contenu de cette publication ne sera pas modifi avant 2007. A cette date, la publication sera reconduite; supprime; remplace par une dition rvise, ou amende.60512-3-1 IEC:2002 3 INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION _ CONNECTORS FOR E
30、LECTRONIC EQUIPMENT TESTS AND MEASUREMENTS Part 3-1: Insulation tests Test 3a: Insulation resistance FOREWORD 1) The IEC (International Electrotechnical Commission) is a worldwide organization for standardization comprising all national electrotechnical committees (IEC National Committees). The obje
31、ct of the IEC is to promote international co-operation on all questions concerning standardization in the electrical and electronic fields. To this end and in addition to other activities, the IEC publishes International Standards. Their preparation is entrusted to technical committees; any IEC Nati
32、onal Committee interested in the subject dealt with may participate in this preparatory work. International, governmental and non-governmental organizations liaising with the IEC also participate in this preparation. The IEC collaborates closely with the International Organization for Standardizatio
33、n (ISO) in accordance with conditions determined by agreement between the two organizations. 2) The formal decisions or agreements of the IEC on technical matters express, as nearly as possible, an international consensus of opinion on the relevant subjects since each technical committee has represe
34、ntation from all interested National Committees. 3) The documents produced have the form of recommendations for international use and are published in the form of standards, technical specifications, technical reports or guides and they are accepted by the National Committees in that sense. 4) In or
35、der to promote international unification, IEC National Committees undertake to apply IEC International Standards transparently to the maximum extent possible in their national and regional standards. Any divergence between the IEC Standard and the corresponding national or regional standard shall be
36、 clearly indicated in the latter. 5) The IEC provides no marking procedure to indicate its approval and cannot be rendered responsible for any equipment declared to be in conformity with one of its standards. 6) Attention is drawn to the possibility that some of the elements of this International St
37、andard may be the subject of patent rights. The IEC shall not be held responsible for identifying any or all such patent rights. International Standard IEC 60512-3-1 has been prepared by subcommittee 48B: Connectors, of IEC technical committee 48: Electromechanical components and mechanical structur
38、es for electronic equipment. This standard cancels and replaces test 3a of IEC 60512-2, issued in 1985, and constitutes a technical revision. The text of this standard is based on the following documents: FDIS Report on voting 48B/1133/FDIS 48B/1184/RVD Full information on the voting for the approva
39、l of this standard can be found in the report on voting indicated in the above table. This publication has been drafted in accordance with the ISO/IEC Directives, Part 3. The committee has decided that the contents of this publication will remain unchanged until 2007. At this date, the publication w
40、ill be reconfirmed; withdrawn; replaced by a revised edition, or amended. 4 60512-3-1 CEI:2002 CONNECTEURS POUR QUIPEMENTS LECTRONIQUES ESSAIS ET MESURES Partie 3-1: Essais disolement Essai 3a: Rsistance disolement 1 Domaine dapplication et objet La prsente partie de la CEI 60512 est utilise, lorsqu
41、e la spcification particulire le prescrit, pour essayer des composants lectromcaniques du domaine dapplication du comit dtudes 48 de la CEI. Cet essai peut aussi tre effectu sur des dispositifs similaires, lorsquune spcification particulire le prescrit. Lobjet de cet essai est de dfinir une mthode d
42、essai normalise pour dterminer la rsistance disolement des composants lectromcaniques. 2 Montage du spcimen Le spcimen doit tre mont conformment aux prescriptions de la spcification particulire. 3 Exigences gnrales La rsistance disolement doit tre mesure avec une tension de circuit ferm, en courant
43、continu, de 10 V 1 V, de 100 V 15 V ou de 500 V 50 V. On utilisera la mthode A, B ou C prescrite dans la spcification particulire. La mesure de la rsistance disolement ne doit tre faite que lorsquon obtient une lecture stable. Si les conditions de stabilit ne sont pas obtenues, la rsistance disoleme
44、nt doit tre mesure 60 s 5 s aprs lapplication de la tension. La valeur de la rsistance disolement ne doit pas tre infrieure la valeur prescrite dans la spcification particulire. 4 Mthodes de mesure Mthode A La rsistance disolement doit tre mesure sur les spcimens auxquels la tension dessai prescrite
45、 a t successivement applique, entre chacune des sorties soumises lessai et toutes les autres sorties pralablement connectes entre elles, ainsi quau botier et/ou la plaque de fixation. Mthode B Les sorties alternes doivent tre relies entre elles de faon former deux groupes.60512-3-1 IEC:2002 5 CONNEC
46、TORS FOR ELECTRONIC EQUIPMENT TESTS AND MEASUREMENTS Part 3-1: Insulation tests Test 3a: Insulation resistance 1 Scope and object This part of IEC 60512, when required by the detail specification, is used for testing electromechanical components within the scope of IEC technical committee 48. This t
47、est may also be used for similar devices when specified in a detail specification. The object of this test is to define a standard test method to assess the insulation resistance of electromechanical components. 2 Mounting of specimen The specimen shall be mounted in accordance with the detail speci
48、fication. 3 General requirements The insulation resistance shall be measured with a closed-circuit d.c. voltage of 10 V 1 V, 100 V + 15 V or 500 V + 50 V, using method A, B or C specified in the detail specification. The insulation resistance shall be measured only when a stable reading is obtained. If a stable condition is not reached, the insulation resistance reading shall be recorded within 60 s + 5 s after
