JIS X 5004-1991 Information processing systems -- Open Systems Interconnection -- Basic reference model -- Part 2 Security architecture《信息处理系统 开放系统互连 基本参考模型 第2部.pdf

上传人:syndromehi216 文档编号:1264708 上传时间:2019-09-04 格式:PDF 页数:43 大小:1.83MB
下载 相关 举报
JIS X 5004-1991 Information processing systems -- Open Systems Interconnection -- Basic reference model -- Part 2 Security architecture《信息处理系统 开放系统互连 基本参考模型 第2部.pdf_第1页
第1页 / 共43页
JIS X 5004-1991 Information processing systems -- Open Systems Interconnection -- Basic reference model -- Part 2 Security architecture《信息处理系统 开放系统互连 基本参考模型 第2部.pdf_第2页
第2页 / 共43页
JIS X 5004-1991 Information processing systems -- Open Systems Interconnection -- Basic reference model -- Part 2 Security architecture《信息处理系统 开放系统互连 基本参考模型 第2部.pdf_第3页
第3页 / 共43页
JIS X 5004-1991 Information processing systems -- Open Systems Interconnection -- Basic reference model -- Part 2 Security architecture《信息处理系统 开放系统互连 基本参考模型 第2部.pdf_第4页
第4页 / 共43页
JIS X 5004-1991 Information processing systems -- Open Systems Interconnection -- Basic reference model -- Part 2 Security architecture《信息处理系统 开放系统互连 基本参考模型 第2部.pdf_第5页
第5页 / 共43页
点击查看更多>>
资源描述
展开阅读全文
相关资源
  • JIS C9901 AMD 1-2018 Methods of calculation and representation of energy efficiency standard achievement percentage of electrical and electronic appliances (Ame.pdfJIS C9901 AMD 1-2018 Methods of calculation and representation of energy efficiency standard achievement percentage of electrical and electronic appliances (Ame.pdf
  • JIS B8366-1-2018 Fluid power systems and components -- Cylinders 《流体动力系统和元件 液压缸 元件和识别代码 第1部分 缸径和活塞杆.pdfJIS B8366-1-2018 Fluid power systems and components -- Cylinders 《流体动力系统和元件 液压缸 元件和识别代码 第1部分 缸径和活塞杆.pdf
  • JIS Z4716-2018 Measurement methods of leakage X-ray from X-ray examination rooms《X射线检查室泄漏X射线的测量方法》.pdfJIS Z4716-2018 Measurement methods of leakage X-ray from X-ray examination rooms《X射线检查室泄漏X射线的测量方法》.pdf
  • JIS Z2345-4-2018 Standard test blocks for ultrasonic testing -- Part 4 Standard test blocks for angle beam ultrasonic testing《超声检测用标准试块 第4部分 斜射超声检测用标准试块》.pdfJIS Z2345-4-2018 Standard test blocks for ultrasonic testing -- Part 4 Standard test blocks for angle beam ultrasonic testing《超声检测用标准试块 第4部分 斜射超声检测用标准试块》.pdf
  • JIS Z2345-3-2018 Standard test blocks for ultrasonic testing -- Part 3 Standard test blocks for normal ultrasonic testing《超声检测用标准试块 第3部分 普通超声检测用标准试块》.pdfJIS Z2345-3-2018 Standard test blocks for ultrasonic testing -- Part 3 Standard test blocks for normal ultrasonic testing《超声检测用标准试块 第3部分 普通超声检测用标准试块》.pdf
  • JIS Z2345-2-2018 Standard test blocks for ultrasonic testing -- Part 2 A7963 Standard Test Block《超声检测用标准试块 第2部分 A7963标准试块》.pdfJIS Z2345-2-2018 Standard test blocks for ultrasonic testing -- Part 2 A7963 Standard Test Block《超声检测用标准试块 第2部分 A7963标准试块》.pdf
  • JIS Z2345-1-2018 Standard test blocks for ultrasonic testing -- Part 1 A1 Standard Test Block《超声检测用标准试块 第1部分 A1标准试块》.pdfJIS Z2345-1-2018 Standard test blocks for ultrasonic testing -- Part 1 A1 Standard Test Block《超声检测用标准试块 第1部分 A1标准试块》.pdf
  • JIS Z2242-2018 Method for Charpy pendulum impact test of metallic materials《金属材料的摆式冲击试验方法》.pdfJIS Z2242-2018 Method for Charpy pendulum impact test of metallic materials《金属材料的摆式冲击试验方法》.pdf
  • JIS Z0150-2018 Packaging -- Distiribution packaging -- Graphical symbols for handling and storage of packages《包装 畸变包装 包装处理和储存用图形符号》.pdfJIS Z0150-2018 Packaging -- Distiribution packaging -- Graphical symbols for handling and storage of packages《包装 畸变包装 包装处理和储存用图形符号》.pdf
  • JIS X6302-9-2018 Identification cards -- Recording technique -- Part 9 Tactile identifier mark《识别卡 记录技术 第9部分 触式鉴别器标志》.pdfJIS X6302-9-2018 Identification cards -- Recording technique -- Part 9 Tactile identifier mark《识别卡 记录技术 第9部分 触式鉴别器标志》.pdf
  • 猜你喜欢
  • EN 62047-19-2013 en Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 19 Electronic compasses.pdf EN 62047-19-2013 en Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 19 Electronic compasses.pdf
  • EN 62047-2-2006 en Semiconductor devices Micro-electromechanical devices Part 2 Tensile testing method of thin film materials《半导体器件微电机器件 第2部分 薄膜材料的拉伸试验方法 IEC 62047-2 2006》.pdf EN 62047-2-2006 en Semiconductor devices Micro-electromechanical devices Part 2 Tensile testing method of thin film materials《半导体器件微电机器件 第2部分 薄膜材料的拉伸试验方法 IEC 62047-2 2006》.pdf
  • EN 62047-20-2014 en Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 20 Gyroscopes.pdf EN 62047-20-2014 en Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 20 Gyroscopes.pdf
  • EN 62047-21-2014 en Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 21 Test method for Poisson-s ratio of thin film MEMS materials.pdf EN 62047-21-2014 en Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 21 Test method for Poisson-s ratio of thin film MEMS materials.pdf
  • EN 62047-22-2014 en Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 22 Electromechanical tensile test method for conductive thin films on flexible substrates.pdf EN 62047-22-2014 en Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 22 Electromechanical tensile test method for conductive thin films on flexible substrates.pdf
  • EN 62047-25-2016 en Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 25 Silicon based MEMS fabrication technology - Measurement method of pull-press and shearing stre.pdf EN 62047-25-2016 en Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 25 Silicon based MEMS fabrication technology - Measurement method of pull-press and shearing stre.pdf
  • EN 62047-26-2016 en Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 26 Description and measurement methods for micro trench and needle structures.pdf EN 62047-26-2016 en Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 26 Description and measurement methods for micro trench and needle structures.pdf
  • EN 62047-3-2006 en Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices Part 3 Thin film standard test piece for tensile testing《半导体器件 微电机器件 第3部分 拉伸试验用薄膜标准试验片》.pdf EN 62047-3-2006 en Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices Part 3 Thin film standard test piece for tensile testing《半导体器件 微电机器件 第3部分 拉伸试验用薄膜标准试验片》.pdf
  • EN 62047-4-2010 en Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 4 Generic specification for MEMS《半导体器件 微型电机装置 第4部分 微型电机系统(MEMS)总规范》.pdf EN 62047-4-2010 en Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 4 Generic specification for MEMS《半导体器件 微型电机装置 第4部分 微型电机系统(MEMS)总规范》.pdf
  • 相关搜索

    当前位置:首页 > 标准规范 > 国际标准 > JIS

    copyright@ 2008-2019 麦多课文库(www.mydoc123.com)网站版权所有
    备案/许可证编号:苏ICP备17064731号-1