1、中华人民共和国航天行业标准FL 6100 QJ 100032008进口元器件筛选指南 Screening guideline for import components 20080216发布 20080601实施国防科学技术工业委员会 发 布 QJ 100032008 I目 次 前 言. 1 范围.1 2 规范性引用文件.1 3 术语和定义.2 4 一般要求.3 4.1 筛选应遵循的原则3 4.2 筛选环境要求3 4.3 筛选操作人员要求4 4.4 对仪器设备的管理与使用要求4 4.5 筛选记录4 4.6 允许的不合格品率（PDA）要求4 4.7 筛选的分级4 4.8 元器件补充筛选4 4.9
2、 筛选其他注意事项5 5 电阻器筛选详细要求.5 5.1 总则5 5.2 薄膜固定电阻器7 5.3 片式薄膜固定电阻器8 5.4 功率型线绕固定电阻器9 5.5 预调可变电阻器9 5.6 薄膜固定电阻网络10 6 电容器筛选详细要求.10 6.1 总则10 6.2 瓷介固定电容器11 6.3 塑料薄膜介质固定电容器11 6.4 云母固定电容器11 6.5 固体钽固定电容器12 6.6 非固体钽固定电容器12 6.7 陶瓷介质微调可变电容器13 7 热敏电阻器筛选详细要求.13 7.1 总则13 7.2 热敏电阻器13 8 滤波器筛选详细要求.13 8.1 总则13 QJ 100032008 I
3、I8.2 射频干扰滤波器14 9 熔断器筛选详细要求.14 9.1 总则14 9.2 熔断器14 10 电连接器筛选详细要求.15 10.1 总则15 10.2 耐环境快速分离高密度小圆形电连接器15 10.3 外壳定位超小型矩形电连接器16 10.4 印刷电路电连接器16 10.5 射频同轴电连接器16 11 继电器筛选详细要求.16 11.1 总则16 11.2 电磁继电器17 11.3 恒温继电器17 12 磁性元件筛选详细要求.18 12.1 总则18 12.2 音频、电源和大功率脉冲变压器18 12.3 射频固定和可变线圈18 12.4 射频固定和可变片式电感器19 13 频率元器件
4、筛选详细要求.19 13.1 总则19 13.2 石英谐振器20 13.3 晶体振荡器20 14 半导体分立器件筛选详细要求.22 14.1 总则22 14.2 二极管22 14.3 晶体管24 15 集成电路筛选详细要求.25 15.1 总则25 15.2 单片集成电路26 15.3 混合集成电路28 16 电线、电缆筛选详细要求.29 16.1 总则29 16.2 绝缘电线29 16.3 涂覆磁导线（漆包线）30 16.4 射频同轴电缆31 16.5 多芯电缆31 附 录 A（资料性附录）进口元器件美国军用（MIL）标准和与之相近国家军用（GJB）标准目录32 附 录 B（资料性附录）航天
5、用元器件的应用等级与质量等级36 QJ 100032008 III前 言 本指导性技术文件中的附录A和附录B为资料性附录。 本指导性技术文件由中国航天科技集团公司提出。 本指导性技术文件由中国航天标准化研究所归口。 本指导性技术文件起草单位：中国航天标准化研究所。 本指导性技术文件主要起草人：余振醒、管长才、蔡娜。 QJ 100032008 1进口元器件筛选指南 1 范围 本指导性技术文件规定了进口电气、电子和机电元器件（以下简称元器件）的筛选方法、程序和与筛选有关的其它技术要求。 本指导性技术文件适用于航天用进口元器件制造过程的筛选以及必要时进行的补充筛选。其它军事装备采用进口元器件的筛选可
6、参照使用。 2 规范性引用文件 下列文件中的条款通过本指导性技术文件的引用而成为本指导性技术文件的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单（不包含勘误的内容）或修订版均不适用于本指导性技术文件，然而，鼓励根据本指导性技术文件达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本指导性技术文件。 GB 11499 半导体分立器件文字符号 GJB 33A1997 半导体分立器件总规范 GJB 63B2001 有可靠性指标的固体电解质钽电容器总规范 GJB 65B1999 有可靠性指标的电磁继电器总规范 GJB 128A1997 半导体分立器件试验方法 GJ
7、B 191A1997 有可靠性指标的云母固定电容器总规范 GJB 244A2001 有质量等级的薄膜固定电阻器总规范 GJB 360A1996 电子及电气元件试验方法 GJB 451 可靠性维修性术语 GJB 548A1996 微电子器件试验方法和程序 GJB 597A1996 半导体集成电路总规范 GJB 599A1993 耐环境快速分离高密度小圆形电连接器总规范 GJB 601A1998 热敏电阻器总规范 GJB 681A2002 射频同轴连接器总规范 GJB 733A1996 有可靠性指标的非固体电解质钽固定电容器总规范 GJB 920A2002 膜固定电阻网络总规范 GJB 973A2
8、004 柔软和半硬射频电缆通用规范 GJB 12141991 有可靠性指标的优质金属化塑料膜介质直流、交流或交、直流金属壳密封的固定 电容器总规范 GJB 12171991 电连接器试验方法 GJB 1432A1999 有可靠性指标的膜式片状固定电阻器总规范 GJB 14331992 瓷介微调可变电容器总规范 GJB 14381992 印刷电路连接器及其附件总规范 QJ 100032008 2GJB 15171992 恒温继电器总规范 GJB 15181992 射频干扰滤波器总规范 GJB 16481993 晶体振荡器总规范 GJB 1649 电子产品防静电放电控制大纲 GJB 1864199
9、4 射频固定和可变片式电感器总规范 GJB 21381994 石英晶体元件总规范 GJB 24381995 混合集成电路总规范 GJB 24461995 外壳定位超小型矩形电连接器总规范 GJB 28281997 功率型线绕固定电阻器总规范 GJB 28291997 音频、电源和大功率脉冲变压器和电感器总规范 GJB 30151997 有可靠性指标的非线绕预调电位器总规范 GJB 4027 军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 41572001 高可靠瓷介固定总规范 GJB 50252003 射频固定和可变电感器通用规范 注：进口元器件国外引用的产品规范大多数是美国军用（MIL）标准，本指
10、导性技术文件将国外引用的大部分MIL标准与最接近的国家军用标准（GJB）的目录列入附录A，供参考使用。 3 术语和定义 GJB 451确立的以及下列术语和定义适用于本指导性技术文件。 3.1 元器件 components 在电子线路或电子设备中执行电气、电子、电磁、机电和光电功能的基本单元。该基本单元可由多个零件组成，通常不破坏是不能将其分解的。 3.2 生产批 production lot 在同一生产线上采用相同的设计、结构、材料、工艺和控制，在规定时间里生产出来的一批元器件。 3.3 筛选 screening 为剔除早期失效的元器件而进行的试验。 3.4 补充筛选 additional s
11、creening 为进一步提高元器件的可靠性，元器件使用方或其委托单位在承制方筛选的基础上进行的筛选。 3.5 产品规范 product specification 规定产品质量保证措施及产品性能的标准。元器件的产品规范包括元器件的总规范（通用规范）及详细规范。 3.6 破坏性物理分析（DPA） destructive physical analysis（DPA） QJ 100032008 3为验证元器件的设计、结构、材料和制造质量是否满足预定用途或有关规范的要求，对元器件样品进行解剖，以及在解剖前后，进行一系列检验和分析的全过程。 3.7 允许的不合格品率（PDA) percent defe
12、ctive allowable（PDA） 元器件经过百分之百的筛选后，允许最大的以百分数表示的不合格品率。 3.8 变化量（）极限 delta（）limit 在规定的测试中，使被测元器件能被接收的前提下，其规定参数的最大变化值。它是将当前测量结果与规定的某一先前测量结果进行比较得到的。当用百分数表示时，则应将当前的变化值与先前的测量值相除来计算。 3.9 货源控制图纸（SCD) source control drawings（SCD） 当没有适用的MIL标准（规范）作为采购元器件的依据时，元器件使用方自行制定的标准（规范）。 3.10 商用离架（COTS）元器件 commercial offt
13、heshelf（COTS） components 当采购不到MIL或SCD元器件时，在市场采购到的商用/工业用元器件。这类元器件需要经过严格的筛选和鉴定，方能用于航天产品。除非另有规定，COTS元器件不应用于航天产品的关键部位。 4 一般要求 4.1 筛选应遵循的原则 筛选应遵循以下原则： a) 除另有规定外，对元器件具有破坏性的试验或检验不应列为筛选项目； b) 除产品规范或本指导性技术文件另有规定外，筛选所加的应力（电应力、机械应力、环境应力 等）不应超过产品规范规定的元器件能够承受的极限应力。 4.2 筛选环境要求 4.2.1 一般环境条件 4.2.1.1 电测量环境条件 除另有规定外，
14、电测量应在下列环境中进行： a) 温度：2028 （室温）； b) 相对湿度：20%70%； c) 环境气压：86kPa106kPa。 4.2.1.2 其它试验环境条件 除另有规定外，除电测量外的其它试验应在下列环境中进行： a) 温度：1535； b) 相对湿度：20%80%； c) 环境气压：86kPa106kPa。 4.2.2 电测量仲裁环境条件 除另有规定外，电测量仲裁应在下列环境中进行： a) 温度：25 1； QJ 100032008 4b) 相对湿度：48%52%； c) 气压：86kPa106kPa。 4.2.3 在环境模拟箱内的温度控制 试验温度按本指导性技术文件筛选方法和程
15、序的规定。在试验过程中，试验区域内温度的稳定度应控制在3+3之内。 4.3 筛选操作人员要求 操作人员应符合以下要求： a) 按规定参加培训，通过考核取得合格资格； b) 了解和掌握有关标准、规范和试验、检验的基本原理； c) 能熟练使用有关仪器设备，并具备基本的维护、保养知识； d) 能对试验结果作出正确的分析与评价。 4.4 对仪器设备的管理与使用要求 仪器设备的管理与使用应符合下列要求： a) 仪器设备应有尽有有专人管理，关键仪器设备由专人操作和检查； b) 仪器设备应按规定定期检定合格，并在有效的计量检定周期内使用； c) 仪器设备的精度应满足试验或检验的要求； d) 使用仪器设备应按
16、规定做好记录。 4.5 筛选记录 筛选记录应符合以下要求： a) 负责筛选的单位应制定包括筛选项目名称、筛选条件、筛选合格判据、筛选结果等内容的工序 表或流程表以及有关检测参数的数据记录表格； b) 操作人员应在数据记录表上如实记录有关数据和在工序表的有关工序上填写明确的结论，并签 名对数据及结论的准确性负责； c) 根据筛选的工序表及有关数据，按规定的格式填写筛选试验报告，提交给有关单位； d) 除另有规定外，负责筛选的单位在规定的期限内，应妥善保存筛选试验报告（副本）及有关记录。 4.6 允许的不合格品率（PDA）要求 本指导性技术文件对某些筛选项目，规定了允许不合格品率（PDA）的要求。
17、除另有规定外，当筛选不合格品的比例超过了PDA，筛选的元器件将作为不合格元器件批而整批被拒收。 4.7 筛选的分级 本指导性技术文件规定了、三个筛选等级： a) 级是最高水平的筛选等级，相当于半导体器件中的S（K、JS）级或有可靠性指标（质量等级），失效率等级不低于S级、宇航级等高可靠元件的筛选； b) 级是中等水平的筛选等级，相当于半导体器件中的B（H、JCT）级或有可靠性指标（质量等 级），失效率等级为R级、P级的中档元件的筛选； c) 级是较低水平的筛选等级，相当于半导体器件中的B1 （JT、G）级或有可靠性指标（质量 等级），失效率等级为M级以及无可靠性指标（质量等级）的较低档元件的筛
18、选。 元器件承制方应根据元器件的不同质量等级选择相应的筛选等级。 4.8 元器件补充筛选 QJ 100032008 5本指导性技术文件规定的筛选方法、程序，主要适用于元器件生产方生产过程的筛选。但元器件使用方可根据不同的情况，进行必要的补充筛选。补充筛选应注意下列事项： a) 对生产方未进行筛选或筛选情况不明的元器件，可参照本指导性技术文件规定的方法、程序 进行全面的筛选，但所加的筛选应力应在充分了解元器件的极限参数后确定； b) 对生产方已进行筛选，但筛选条件达不到使用方要求时，使用方可参照本指导性技术文件规定 的方法、程序进行补充筛选。对于老炼时间，除补足要求的差额外，还应增加必要的余量；
19、 c) 为验证生产方筛选有效性的补充筛选，部分项目可抽样进行，不合格时再作全部筛选； d) 为剔除具有特定缺陷的元器件，可针对具体缺陷采取有效的方法进行筛选； e) 对低质量等级的元器件进行高等级筛选时，PDA应按本指导性技术文件规定适当放宽。 4.9 筛选其他注意事项 4.9.1 筛选与元器件的质量等级 筛选能提高元器件的可靠性，但不能将低质量等级的元器件提升为高质量等级的元器件。当采购不到高质量等级的元器件，需要将低质量等级的元器件应用于要求较高的应用等级时，还需进行全面的鉴定、评价和考核。有关航天用元器件的应用等级与质量等级的关系参见附录B。 4.9.2 筛选要求不一致时的优先顺序 当本
20、指导性技术文件的要求与有关标准的要求不一致时，应按下列优先顺序来确定筛选要求： a) 元器件使用方的采购文件； b) 器件（主要是：半导体分立器件、半导体集成电路和混合集成电路）的产品规范； c) 本指导性技术文件。 4.9.3 电参数测试的种类及其合格判据 本指导性技术文件有关筛选项目中未全面规定测试电参数的种类及其合格判据时，应优先采用采购文件规定的电参数测试种类及其合格判据，当采购文件未明确规定时，应按元器件详细规范的规定，测试电参数。 4.9.4 防静电放电要求 对静电放电敏感的元器件，在筛选全过程，应按GJB 1649的规定采取必要的防护措施。 4.9.5 对筛选不合格元器件的处理
21、对筛选不合格的元器件可按不同情况作以下处理： a) 对失去规定功能的元器件，应进行失效分析，如分析的缺陷具有批次性，应作整批报废处理； b) 除另有规定外，对参数超差的不合格品应予以剔除； c) 对筛选不合格的元器件应严格隔离。 4.9.6 筛选中的其它注意事项 筛选中应注意的其它事项为： a) 本指导性技术文件规定的筛选项目，可根据具体情况作适当的剪裁； b) 确定筛选方法和程序前，应了解被筛元器件的质量控制、极限参数等情况，防止过应力筛选； c) 除另有规定外，对商用（COTS）元器件，即使通过了最严格的筛选，也不应使用在高质量要求 的航天产品上或一般航天产品的关键部位。 5 电阻器筛选详
22、细要求 5.1 总则 QJ 100032008 65.1.1 电阻器品种 本指导性技术文件规定了下列五类电阻器的筛选方法和程序： a) 薄膜固定电阻器； b) 片式薄膜固定电阻器； c) 线绕固定电阻器； d) 预调可变电阻器（电位器）； e) 薄膜固定电阻网络。 5.1.2 适用的军用规范 这五类进口电阻器的代表型号、适用的MIL标准以及相近的国家军用标准如表1所示。 表1 电阻器适用的军用总规范 MIL标准 相近的国家军用标准 序号 编 号 产品型号 编 号 标准名称 备 注 1 MILPRF55182 RNX GJB 244A2001 有质量等级的薄膜固定电阻器总规范 2 MILPRF5
23、5342 RM GJB 1432A1999 有可靠性指标的膜式片状固定电阻器总规范 3 MILPRF39007 RWR GJB 28281997 功率型线绕固定电阻器总规范 GJB无可靠性指标 4 MILPRF39035 RJR GJB 30151997 有可靠性指标的非线绕预调电位器总规范 5 MILPRF83401 RZ GJB 920A2002 膜固定电阻网络、膜固定电阻和陶瓷电容器的阻容网络通用规范 5.1.3 电阻器主要电参数 5.1.3.1 直流电阻 在能保证有足够灵敏度的情况下，测试电压应尽量低，以使电阻器不产生明显的温升。除另有规定外，测试直流电阻的最高直流电压应按表2的规定。
24、 表2 直流电阻最高测试电压 最高测试电压 V 标称阻值 1/2W，1W 1/20W，1/10W，1/8W，1/4W R10 10R100 100R1k 1kR10k 10kR100k R100k 0.1a 1 3 10 30 100 0.1a 1 3 3 10 30 a 标称阻值小于10时，所选择的测试电压应使电阻器的功耗小于其额定功耗的10%，但不超过0.1V。 5.1.3.2 额定电压UR 电阻器的额定电压UR按公式（1）计算。 UR=（PRR）1/2（1） 式中： UR 额定电压（直流或交流有效值），单位为伏特（V）； PR 额定功耗，单位为瓦特（W）； R 标称电阻，单位为欧姆（）。
25、 当阻值很大时（例如：1M以上），根据公式（1）计算得出的UR可能会超过产品规范规定的极限电压。但应注意，在任何情况下，加在电阻器上的电压不应超过极限电压。 QJ 100032008 75.1.4 试验方法 5.1.4.1 温度冲击 除另有规定外，电阻器温度冲击的高、低温按表3规定，低温室温高温为一次循环。除25下停留时间要求小于1min外，其它温度下停留时间按GJB 360A1996表1072的规定。 表3 电阻器温度冲击筛选 试验温度 电阻器最大额定温度值 步骤1 步骤2 步骤3 步骤4 125 65 25 125 25 200 65 25 200 25 大于200 65 25 最大额定值
26、 25 5.1.4.2 过载 除另有规定外，电阻器过载筛选按表4规定。 表4 电阻器过载筛选 条件 代码 电阻器类型 额定功率 W 过载 额定功率的百分数 最大交流电压（有效值）或直流电压a V 时间 h 1/8、1/4 150 250 24 1/2 150 350 24 A 薄膜通用电阻器 1、2 150 300 24 1/20、1/10、1/8 500 500 1 1/4 400 600 1 B 薄膜高稳定电阻器 1/2、1 225 700 1 C 高压电阻器 100 1.5倍直流额定电压b 100 a 所加电压不应超过产品规范规定的极限电压值。 b 所加电压应按电阻器的阻值减小而减小，以
27、使其功率不大于规定值。 5.1.4.3 功率老炼 除另有规定外,电阻器功率老炼加规定温度下的额定功率，其他要求按表5规定。 表5 电阻器功率老炼筛选 条件 代码 电阻器类型 温度 2 通电周期 时间 4h A 薄膜固定电阻器 25 1.5h通电，0.5断电 100 B 薄膜高稳定固定电阻器 125 1.5h通电，0.5断电 100 C 线绕精密固定电阻器 125 1.5h通电，0.5断电 100 D 线绕功率固定电阻器 25 1.5h通电，0.5断电 100 E 线绕固定底盘式电阻器 25 1.5h通电，0.5断电 100 F 可变线绕微调电阻器 85 0.5h通电，0.5断电 100 G 可
28、变非线绕微调电阻器 85 0.5h通电，0.5断电 100 H 可变线绕精密电阻器 85 1.5h通电，0.5断电 100 5.2 薄膜固定电阻器 薄膜固定电阻器的筛选方法和程序按表6规定。 QJ 100032008 8表6 薄膜电阻器筛选方法和程序 筛选条件或测量参数 序号 筛选项目 方法 GJB 360A1996 说 明 1 外观及机械检查 用10倍放大镜或显微镜检查标志及外部结构质量 也可在功率老炼或过载后检查 2 直流电阻初测 303 室温条件下测量 3 温度冲击 107 25次循环 10次循环 不要求 5.1.4.1 4 过载 要求 要求 5.1.4.2 5 功率老炼 108 要求
29、过载或功率老炼任选a 不要求 5.1.4.3表5条件B老炼 6 密封试验 112 试验条件C 适用于气密型电阻器 7 电阻器非线性 当要求时 不要求 不要求 按GJB 244A2001的4.8.24规定 8 直流电阻终测 303 室温条件下测量 9 PDA 5% 15% 20% a 当过载时间不少于24h时，可不作功率老炼。 5.3 片式薄膜固定电阻器 5.3.1 总则 片式薄膜固定电阻器筛选的方法和程序如表7所示。 表7 片式薄膜固定电阻器筛选方法和程序 筛选条件或测量参数 序号 筛选项目 方法 GJB 360A1996 说 明 1 外观及机械检查 用30倍放大镜或显微镜检查标志及外部结构质
30、量 也可在功率老炼或过载后检查 2 直流电阻初测 303 在室温条件下测量 最高测试电压按表8规定 3 温度冲击 107 25次循环 10次循环 不要求 5.1.4.1 4 短时间过载 要求 要求 5.3.3 5 功率老炼 108 要求 过载或功率老炼任选a 不要求 按5.3.3要求安装； 按表5条件A老炼 6 直流电阻终测 在室温条件下测量 最高测试电压按表8规定 7 PDA 5% 15% 20% a 如按表4条件A进行过载筛选，可不作功率老炼。 5.3.2 直流电阻最高测试电压 除另有规定外,片式薄膜固定电阻器直流电阻的最高测试电压按表8规定。 表8 直流电阻最高测试电压 最高测试电压 V
31、 标称阻值 10 mW24mW 25 mW99mW 100 mW225mW 226 mW1 000mW 5.69.88 1098.8 100988 1 0009 880 10 00098 800 100 000 0.2 0.3 1.0 3.0 10.0 30.0 0.3 0.3 1.0 3.0 10.0 30.0 0.7 1.0 1.0 3.0 10.0 30.0 1.0 1.0 3.0 10.0 30.0 100.0 5.3.3 短时间过载 除另有规定外,被测电阻器应按GJB 1432A1999中4.7.1.1推荐的方法安装在陶瓷基板上，将2.5倍的额定电压UR（但不得高于详细规范规定的极限
32、电压）加在电阻器两端，保持5s，并满足下列条件： a) 安装在陶瓷试验基板上的电阻器在水平面上要有较大的空间； b) 放在静止的大气中，除电阻器工作发热而产生的气流外，不应有其它气流存在； QJ 100032008 9c) 去掉试验电压之后的30min45min之内，测量直流电阻。 试验过程应检查电阻器有无飞弧、燃烧和烧焦现象。 5.3.4 抽样方案 除另有规定外,片式薄膜固定电阻器的筛选可根据生产批的大小按表9规定抽样进行，允许不合格品数为零。当发生不合格品时，应100%进行筛选。 表9 片式薄膜固定电阻器筛选抽样方案 批量大小 样本大小 113 14125 126150 151280 28
33、1500 5011 200 1 2013 200 3 20110 000 10 00135 000 35 001150 000 150 00150 000 50 001 全部 全部 125 125 125 125 125 192 294 294 345 435 5.4 功率型线绕固定电阻器 功率型线绕固定电阻器的筛选方法和程序按表10规定。 表10 功率型线绕固定电阻器筛选方法和程序 筛选条件或测量参数 序号 筛选项目 方法 GJB 360A1996 说 明 1 外观及机械检查 用10倍放大镜或显微镜检查标志及外部结构质量 也可在功率老炼后检查 2 直流电阻初测 303 室温条件下测量 3 温
34、度冲击 107 25次循环 10次循环 不要求 5.1.4.1 4 功率老炼 108 要求 要求 不要求 5.1.4.3表5条件D老炼 5 直流电阻终测 303 室温条件下测量 6 PDA 5% 15% 20% 5.5 预调可变电阻器 预调可变电阻器的筛选方法和程序按表11规定,其他可变电阻器可参照采用。 表11 预调可变电阻器筛选方法和程序 筛选条件或测量参数 序号 筛选项目 方法 GJB 360A1996 说 明 1 外观及机械检查 用10倍放大镜或显微镜检查标志及外部结构质量 也可在功率老炼后检查 2 温度冲击 107 25次循环 10次循环 不要求 5.1.4.1 3 功率老炼 108
35、 要求 要求 不要求 5.1.4.3表5条件H老炼 4 总阻值 303 按GJB 30151997中4.7.5.1测量 5 接触电阻变化 按GJB 30151997中4.7.3测量 不要求 6 浸渍试验 104 按GJB 30151997中4.7.6试验 不要求 7 有效电行程 按GJB 30151997中4.7.7试验 不要求 8 介质耐电压 301 按GJB 30151997中4.7.8试验 不要求 9 绝缘电阻 302 按GJB 30151997中4.7.9试验 不要求 10 力矩 按GJB 30151997中4.7.10试验 不要求 11 终端电阻 303 按GJB 30151997中
36、4.7.5.2试验 不要求 12 PDA 5% 15% 20% QJ 100032008 105.6 薄膜固定电阻网络 5.6.1 总则 薄膜固定电阻网络的筛选方法和程序按表12规定。 表12 薄膜固定电阻网络筛选方法和程序 筛选条件或测量参数 序号 筛选项目 方法 GJB 360A1996 说 明 1 外观及机械检查 用10倍放大镜或显微镜检查标志及外部结构质量 也可在功率老炼后检查 2 直流电阻初测 303 室温条件下测量 3 温度冲击 107 25次循环 10次循环 不要求 5.1.4.1 4 过载 要求 要求 按 GJB 920A 2002 中4.5.10试验 5 功率老炼 108 要
37、求 过载或功率老炼任选 不要求 按GJB 920A2002中4.5.4试验 6 直流电阻终测 303 室温条件下测量 7 密封试验 112 试验条件C 适用于气密型电阻网络 8 PDA 5% 15% 20% 5.6.2 封帽前检查（仅适用于级筛选） 对级筛选，在封帽前应采用适当放大倍数的放大镜或显微镜检查网络内部是否有多余物、金属化层（划痕、孔隙、粘接剂、桥接、腐蚀等）缺陷、激光调阻缺陷、键合点缺陷和氧化物缺陷。当发现有上述缺陷并严重影响质量的电阻网络，应予以剔除。 6 电容器筛选详细要求 6.1 总则 6.1.1 电容器品种 本指导性技术文件规定了下列五类电容器的筛选方法和程序： a) 瓷介
38、固定电容器； b) 有机介质固定电容器； c) 云母固定电容器； d) 钽电解固定电容器； e) 瓷介微调可变电容器。 6.1.2 适用的军用规范 这五类进口电容器的代表型号、适用的MIL标准以及相近的国家军用标准如表13所示。 表13 电容器适用的军用总规范 MIL标准 相近的国家军用标准 序号 编 号 产品型号 编 号 标准名称 备 注 1 MILPRF123 CKS GJB 41572001 高可靠瓷介电容器总规范 2 MILPRF83421 CRH GJB 12141991 有可靠性指标的优质金属化塑料膜介质直流、交流或交、直流金属壳密封的固定电热器总规范 3 MILPRF39001
39、CMR GJB 191A1997 有可靠性指标的云母固定电容器总规范 4 MILPRF39003 CSR GJB 63B2001 有可靠性指标的固体电解质钽电容器总规范 5 MILPRF39006 CLR GJB 733A1996 有可靠性指标的非固体电解质钽电容器总规范 6 MILPRF81 CV GJB 14331992 瓷介微调可变电容器总规范 QJ 100032008 116.2 瓷介固定电容器 6.2.1 总则 瓷介固定电容器的筛选方法和程序按表14规定。 表14 瓷介固定电容器筛选方法和程序 筛选条件或测量参数 序号 筛选项目 方法 GJB 360A1996 说 明 1 外观及机械
40、检查 用10倍放大镜或显微镜检查标志及外部结构质量 也可在电压老炼后检查； 片式电容器见6.2.2 2 电参数初测a 室温条件下测量 3 温度冲击 107 25次循环 10次循环 不要求 条件B，55125 4 电压老炼 108 125；168h 125；96h 125；48h 加2倍额定电压，当不采用2倍额定电压时，见6.2.3 5 电参数终测a 室温条件下测量 6 X射线检查 要求 不要求 不要求 按GJB 41572001附录E规定 7 PDA 5% 15% 20% a 测量的电参数包括：电容量、损耗角正切和绝缘电阻。有关细节按GJB 41572001规定。 6.2.2 片式电容器外观检
41、查（仅适用于级筛选） 片式瓷介电容器级筛选的外观检查按GJB 41572001附录C规定。 6.2.3 当不采用2倍额定电压时，最小老炼时间tmin的计算（仅适用于独石瓷介电容器的级筛选） 当不采用表14中规定的2倍额定电压老炼时，最小老炼时间tmin可按公式（2）计算。 tmin=1344/（U t/UR）3（2） 式中： tmin 最小老炼时间，单位为小时（h）； Ut 试验电压，1.5URUt2.5UR，单位为伏特（V）； UR 电容器额定电压，单位为伏特（V）。 6.3 塑料薄膜介质固定电容器 6.3.1 总则 塑料薄膜介质固定电容器的筛选方法和程序按表15规定。 表15 塑料薄膜介质
42、固定电容器筛选方法和程序 筛选条件或测量参数 序号 筛选项目 方法 GJB 360A1996 说 明 1 外观及机械检查 用10倍放大镜或显微镜检查标志及外部结构质量 也可在电压老炼后检查 2 电参数初测a 室温条件下测量 3 温度冲击 107 25次循环 10次循环 不要求 4 电压老炼 108 125；96h 125；48h 条件B，55125 5 电参数终测a 室温条件下测量 加1.4倍额定电压 6 PDA 5% 15% 20% a 测量的电参数包括：电容量、损耗角正切和绝缘电阻。当要求测量介质吸收时，应按GJB 12141991中4.7.10规定。6.3.2 温度循环试验（仅适用于级筛
43、选） 温度循环试验按GJB 12141991中4.7.3规定进行。本筛选项目仅适用于聚碳酸酯低能量、高阻抗电容器的级筛选。 6.4 云母固定电容器 云母固定电容器的筛选方法和程序按表16规定。 QJ 100032008 12表16 云母固定电容器筛选方法和程序 筛选条件或测量参数 序号 筛选项目 方法 GJB 360A1996 说 明 1 外观及机械检查 用10倍放大镜或显微镜检查标志及外部结构质量 也可在电压老炼后检查 2 电参数初测a 室温条件下测量 3 高压稳定性 要求 不要求 不要求 按GJB 191A1997中4.7.3规定 4 温度冲击 107 25次循环 10次循环 不要求 条件
44、B，55125 5 电压老炼 108 125；160h 125；96h 125；48h 加2倍额定电压 6 电参数终测a 室温条件下测量 7 PDA 5% 15% 20% a 测量的电参数包括：电容量、损耗角正切、绝缘电阻和按GJB 191A1997中4.7.2规定测量介质耐压。 6.5 固体钽固定电容器 固体钽固定电容器的筛选方法和程序按表17规定。 表17 固体钽固定电容器筛选方法和程序 筛选条件或测量参数 序号 筛选项目 方法 GJB 360A1996 说 明 1 外观及机械检查 用10倍放大镜或显微镜检查标志及外部结构质量 也可在电压老炼后检查 2 电参数初测a 漏电流在85下测量，其
45、它参数在室温条件下测量 3 温度冲击 107 25次循环 10次循环 不要求 条件B，55125 额定电压；85 4 电压老炼 108 160h 96h 48h 参照GJB 63B2001中4.7.3规定 5 浪涌电流 按GJB 63B2001中4.7.26规定；仅适用于级 仅适用于高频电容器 6 电参数终测a 漏电流在85下测量，其它参数在室温条件下测量 7 密封试验 112 按GJB 63B2001中4.7.4规定 不要求 仅适用于气密型电容器 8 X射线检查 按GJB 63B2001中4.7.5规定 不要求 9 PDA 5% 15% 20% a 测量的电参数包括：电容量、损耗角正切和漏电
46、流。当要求测量等效串联电阻时，应按GJB 63B2001中4.7.9规定。6.6 非固体钽固定电容器 非固体钽固定电容器的筛选方法和程序按表18规定。 表18 非固体钽固定电容器筛选方法和程序 筛选条件或测量参数 序号 筛选项目 方法 GJB 360A1996 说 明 1 外观及机械检查 用10倍放大镜或显微镜检查标志及外部结构质量 也可在电压老炼后检查 2 电参数初测a 漏电流在85下测量，其它参数在室温条件下测量 3 温度冲击 107 25次循环 10次循环 不要求 条件B，55125 额定电压；85 4 电压老炼 108 160h 96h 48h 参照GJB 733A1996中4.7.2
47、规定 5 电参数终测a 漏电流在85下测量，其它参数在室温条件下测量 6 密封试验 112 按GJB 733A1996中4.7.6规定 不要求 仅适用于气密型电容器 7 真空检漏 真空度优于5103Pa，温度702； 加额定电压：时间48h 仅适用于密封型电容器，对级筛选为可选项目 8 PDA 5% 15% 20% a 测量的电参数包括电容量、损耗角正切和漏电流。 QJ 100032008 136.7 陶瓷介质微调可变电容器 陶瓷介质微调可变电容器的筛选方法和程序按表19规定。 表19 陶瓷介质微调可变电容器筛选方法和程序 筛选条件或测量参数 序号 筛选项目 方法 GJB 360A1996 说 明 1 外观及机械检查 用10倍放大镜或显微镜检查标志及外部结构质量 也可在电压老炼后检查 2 电参数初测a 室温条件下测量 3 温度冲击 107 25次循环 10次循环 不要求 条件B，551254 电压老炼 108 1.4倍额定电压；125；48h 不要求 5 电参数终测a 室温条件下测量 6 转动力矩 按GJB 14331992中4.6.8的试验 不要求 7 PDA 5% 15% 20% a 测试的电参数包括：电容量、品质因数、介质耐电压和绝缘电阻。 7 热敏电阻器筛选详细要求 7.1 总则 7.1.1 热敏电阻器的品种 本指导性技术文件规定了正温度系数和负温度系数两
