1、rJ中华人民共和国电子工业行业标准SJ/T 10266一10270-91电子元器件详细规范半导体集成电路运算放大器(一)1991一11一12发布1992-01-01实施中华人民共和国机械电子工业部发布中华人民共和国电子工业行业标准电子元器件详细规范半导体集成电路CF714型精密运算放大器SJ/T 10266-91Detail specification for electronic componentsSemiconductor integrated circuit-CF714 type precision operational amplifier(可供认证用)本标准规定了半导体集成电路CF
2、714型精密运算放大器质量评定的全部内容。本标准符合GB 4589.工半导体器件分立器件和集成电路总规范和GB/T 12750半导体集成电路分规范(不包括混合电路)的要求。中国电子元器件质量认证委员会标准机构是中国电子技术标准化研究所。中华人民共和国机械电子工业部1991-11-12批准1992-01一01实施SJT 10286-91中华人民共和国机械电子工业部IECQ评定器件质量的依据:GB 4589“半导体器件分立器件和集成电路总规范GB/T 12750半导体集成电路分规范(不包括馄合电路)SJ/T 10266-91CF714型精密运算放大器详细规范一i7n$L F:. e 7 ,1机械说
3、明简要说明外形依据:GB 7092半导体集成电路外形1之寸。外形图:按GB 7092怪型5.5条及5.5.1条中P08S2J型5.4条及5.4.，条中J08S2T型5.6.1条及5.6.2条D型5.3条及5.3.1条中D0852双极型集成特殊运算放大器半导体材料:硅封装:空封、非空封电原理图:见本规范第11章。品种:引出端排列:OA.，I(ADV+IN OUT4IN.钱0-70C (C)一55-125C (M)塑料直擂(P)CF714CP黑瓷直抽(J)CF714CJCF714MJ金属圆壳(T)CF714CTCF714MT陶瓷直插(D)CF714MDOAs质t评定类别，人，B, I COUT引出
4、端符号名称:见本规范第11意。标志:按GB 4589. 1第2. 5条及本规范第6章。参考数据:超低失调内补偿短路保护按本规范鉴定合格的器件，其有关制造厂的资料，可在现行合格产品目录中查到。一2一SJ/T 10266-914极限值(绝对最大颤定值)若无其它规定，适用于全工作温度范围。条款号参数符号数值单位CF714CCF714M最小最大最小最大4.1电裸电压1s士22士22v4.2差模输入电压ll。士30士30V4,3共模输入电压nP士22士22V4.4允许功耗”T; Tamb=80CD,J,1amb=75CP;T-=36CP500500mw4.5工作环境温度Tamb070一551254.6贮
5、存温度范围D,T,JT,.一65150一65150P一651254.7耐焊接热(60x)Tb3003004.8短路输出时限肠Y注:1)电源电压小于士22V时，共模输入电压等于电源电压。2) T型封装:80以上.降倾7. 1-W /C , D, J型封装,75以上，降额6.7mW/C尸型封装36以上，降额5.6mW/C.5电工作条件和电特性电特性的检验要求见本规范第8章。5.1电工作条件若无其它规定，适用于全工作温度范围.条款号参数符号数值单位CF714CCF714M最小最大最小最大5.1.1电源电压1几士15士5V5.1.2调零电阻几2020kQ5.2常温电特性ljs=士15V T,mn= 2
6、5C一3一SJ/T 10266-91条款号一和件符号1单位试验ct714CCP714M最小典型最大最小典型最大mWIA3521一耗1s=士15V,1毛=0VPu一8015075120若沃=士3v,1。二ov410x. 04.060CZa5. 2.2一电，电流”一士5V R,=- 1,=OVIs2. 75.0254.0mAA35.23输”调电压一_I“，一”UC2一”v 1o=uv”60150307511V1八A35.2.4输入失调电流r,=ov R=2oka r,.,oV4,00.86.00.42.8A3525输入偏置电流I,=OV R=20W F-OV1,e土1.8士7C士1.0士3.CnA
7、人3526输入电阻Is!士5v开环刀8.0332060卜IQCZ是15.2.7共模输入电压范围1，=士15V K-l00JBV土13士14士13士14VA35. 2.8电源电压抑制比1。=士3士18V e9=5052K.-90loll100108dB A35.2. 95.2.10共模抑制比1.(=士13V几=501?K-e100120110120JBA3仁五.A3士13.0V输出峰一峰电压1s=士lsvr, 1 OW1op护士12.0士13.0士12。5士I15士12.8士12.0士128R,2. OWC2a士12.0士0. 5士120b.详细规范编号;c.质量评定类别;d.其它。8试验条件和
8、检验要求抽样要求:根据采用的质量评定类别，按GB/T 12750第9章的有关规定。A组检验的抽样要求分组人QL，类I类1L人QL1LAQLAl百0.65l0.65A310.15I0.15MaS41.0S41.0人3bS41.0S41.0A4S41.0S41.0B组、C组和D组检验的抽样要求分组LTPDl类.类人BCB115151515cl20202020C2a15151515C2b15151515C3is15i515B4 C410101010B5 C510101010C620202020C715151515B8 C8105710C9155715C1120202020D8105710一7一SJ/
9、T 10266-91A组逐批全部试验均为非破坏性的(见GB 4589. 1第3. 6. 6条)检验或试验引用标准条件若无其它规定，7b=25(,(见GB 4589.1第4章)检验要求规范位A1分组外部目检GB 4589. 1第4.2.1.1条标志清晰，表而无损伤和气孔A3分组25下的静态特性GB 3442半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理V*Art 5.2. 1，至5. 2训5.2.7条至5.2.11条一按本，见j5. 2.1 kii5.2.5条，5.2.7条至5.?.们条A3a分组最高工作温度下的静态特性GB 3442Tamb按本规范4. 5条规定的最大值。按本规范5.3.1
10、条，5.3.3条，5.3.5条,5.3.7至5.3.11条同本规范5. 3.1条，5. 3. 3条，5.3. 5条,5.3.7至5. 3. 11条同本规范5.3.1条,. 3. 3条，5.3.5条,5.3.7至5. 3川条A3b分组最低工作温度下的静态特性GB 3442Tamb按本规范4. 5条规定的最小值。按本规范5.3.1条，5.3.3条，5.3.5条，5.3.7至5. 3.11条A4分组25下的动态特性GB 3442按本规范5. 2. 12至S. 2. 15条按本规范5. 2. 12至5.三.15条B组-逐批标有(D)的试验是破坏性的(见GB 4589. 1第3. 6. 6条)检验或试验
11、引用标准条件若无其它规定，4a;- 25 (见GB 4589. 1第4章7险验规范IItrGB 4589.1第4.2.2条及附录B按本规范缸飞命川尺8一Sd/T 10266-91B组逐批(续)检验或试验引用标准条件若无其它规定,Tsmb=25C(见GB 4589. 1第4章)检验要求规范值B4分组可焊性GB 4590半导体集成电路机械和气候试验方法第2.5条按方法b(槽焊法)按2. 5. 6条B5分组温度快速变化J.空封器件温度快速变化随后进行:电测量密封:细检漏粗检漏b.非空封和环氧封的空封器件温度快速变化随后进行外部目检稳态湿热(D)电测量GB 4590第3.1条GB 4590第3. 12
12、条GB 4590第3. 13条GB 4590第3.1条GB 4589. 1第4.2.1.1条GB 4590第3.7条温度:按本规范第4.6条规定循环次数:10次t,=5min同人3分组恢复2h按规定按规定温度按本规范第4. 6条规定循环次数10次t,= 5min按规定严格度A,24h同A3分组同A3分组同A1分组同人3分组B8分组电耐久性(168h)最后测量(同A3分组)侧试参数:-1,o11.A-IonvX-/s(P.)Ks,GB/T 12750第12.3条2amb按本规范4. 5条规定的最大值，试验线路见10. 4条同A3分组1.1XUSL“1. 5 X USL1.3XUSLO. 9 X
13、ISL“0.9XLSL0.9XLSL1.3XUSL0.9XiSL其余同A3分组CRRL分组注:1) USL=规范的上限值，LSL=规范的下限值.SJ/T 10266-91C组周期标有(D)的试验是破坏性的(见GB 4589.1第3. 6.6条)检验或试验引用标准条件若无其它规定，2.,o=25C(见GB 4589.第4章)检验要求规范值。分组尺寸GB 4589.1第4.2.2条及附录B按本规范第1章C2a分组环境温度下的电特性按本规范第5. 2. 1条，5. 2. 6条，5. 2. 10条，5.2.11条按本规范5.2.1条，5.2.6条。5. 2. 10条，5.2.11条C2b分组最高和最低
14、工作温度下的电特性按本规范5.3.2条，5. 3. 4条，5.3.6条按本规范5.3. 2条，5. 3. 4条,5.3.6条C3分组弓1线强度拉力(D)弯曲(D)GB 4590第2. 1条GB 4590第2.2条外加力的值按2.1条表1外加力的值按2.2条表2按2.1.5条无损伤C4分组耐焊接热(D)最后测量(同A3分组)CB 4590第2.6条按方法1(260C槽焊)同A3分组同A3分组C5分组”温度快速变化(D)(非空封和环氧封的空封器件)随后进行外部目检:稳态湿热(D)电测量(同A3分组)GB 4590第3.1条GB 4589. 1第4.2.1.1条GB 4590第3.7条温度按本规范第
15、4. 6条规定循环次数:500，二5min严格度A, 24h同A3分组同A1分组同A3分组c6分组，稳态加速度(D)(空封器件)最后测量(同A3分组)GB 4590第2.10条加速度按规定同A3分组同A3分组10-S7/T 10266-91c组周期(续)检验或试验弓I用标准条件若无其它规定.Tamb=25(见GB 4589.1第4章)检验要求规范值C7分组稳态湿热(D)a.空封器件b.非空封器件GB 4590第3.6条GB 4590第3.7条严格度D:时间:56d沮度85C,湿度:85%时间1000h最后侧1t(同B8分组)同B8分组同B88分组C8分组电耐久性(1000h)最后侧t(同B8分
16、组)C9分组高温贮存(D)GB/T 12750第12.3条I同B8分组同B8分组同B8分组GB 4590第3.3条温度按，,rs(max)时间:1000h最后侧it(同fT8分组)Cll分组标志附久性同iB8分组同B8分组GB 4590第4.3条按GB 4590第4.3.2条方法1按4.3.2条CRR儿分组就C2a,C2b,C3,C4,C5,C6,C7,C8,C9,C11分组提供计数检查结果.注,1)连续三次通过后，周期可放宽为一年一次.9 D组D组检验应在鉴定批准之后立即开始进行，其后每年进行一次。检验或试验引用标准条件若无其它规定，1,mb=25C(见GB 4589. 1第4章)俭验要求规
17、范值I类:2000hI类3000h其它同B8分组同B8分组同B8分组D8分组电耐久性(D)最后测盈(同B8分组)GB/T 12750第12.3条附加资料引用GB 3442的特性测试1010si/T 10266-31参数 测试方法1:1.GB 3442第2. 1条一.nr口0GB 3442第2. 2条11.GB 3442第2.3条a月。GB 3442第2. 4条I,.GB 3442第2.5条场luGB 3442第2. 18条IsU) GB 3442第2. 6条1 w.GB 3442第2. 14条K-GB 3442第2. 1 1条K-GB 3442第2.8条Ilc从GB 3412第2.15条III
18、. GB 3442第2.12条S,GB 34.12第2. 9条一一一一BI卜一。 GB 3442第2. 26条A.GB 3442第2. 7条1，Ir z eGB 3442第2. 21条10.2持性曲线负载特性曲线20150!二二1=2;二!v=f10mvI I I_盯1一叮卫一训日日Z刚酬罕.下/口团川一i口ir一一一V Ii一澳一，一1一厂一l一_一_一】干二盖二谷尺 (n)b.短$fi特性曲线12SJ/T 10266-91354(wcad)_二10,v v-+15VV-V|一一V,(3端)二+1 Omv|曰1十一30les十卜代-u)2Jl!一一十J头25卜一-共一气_上一+-4-一是舟-
19、一(2)，J一十一20打一一十一士一一3 4hkHz)10. 310. 4功态参数测试线路IOpF脉冲源t.簇loons电耐久性试验线路I=1kIlz输出信号幅度:土5V(测，)L3SJ/T 10266-91lookn犷。.二士1nvf=soHzv,Pp士lov10.5设计参考资料条款号恃性和条件符号规范值单位CF714CCF714D1最小典型最大最小典型最大10-5. 1输出电阻，-Ov b=0开环1rGQ60幻10.5. 2失调调整范围/1z= 20k4? 1s，士15v1士40士40niV10.5.3输入噪声电流密度九二10Hz怒00350.900.320.80PjHzf-l00Hz0.
20、1.50.270.140.23fo=1000Hz0.130.180.120.1710. 5- 4输入噪声电压密度fo=10Hz口口10.520.010.318.0Hzfo=100Hz10.213.510. 013.09.811.59. 611.0九二l000Hz10.5.5失调电压长时间稳定性Rs=SOn r,=ov写0. 42. 00.4MO10. 5.6共模输入电阻R,c120200C盈11型号说明11. 1电原理图14一SJ/T 10266-91)A,又扭POUT11.2调零电路iN_OUTIN+11.3引出端符号名称引出端符号名称IN,同相输入IN_反相输入OAOAz调零OUT输出v,
21、正电源v_负电源SJ/T 10266-91附录A筛选(补充件)皿类器件:生产厂自行规定筛选条件。，类器件:筛选项目和条件如下:等级A等级B内部目检GB 4590第4. 6条等级c内部目检GB 4590第4. 6条A AL el GB 4590 4N 3. 3条T“Vmnz) ,96h温度快、鱼变化GB 4590第3. l条T.a(min)2.sLmax)，10次稳态加速度”GB 4590第2.10条密封，GB 4590第3. 12条和3.13条老化后电测量同A3分组，*除不合格品若不合格品率大于5%，则该批拒收注:I)不适用于非空封器件.内部目检GB 4590第4. 6条高温稳定GB5，0第3.3条Ts(mnx) ,48h温度快速变化GB 4590第3. 1条1smin)一Tus(mxz)，10次稳态加速度”GB 4590第2.10条密封”GB 4590第3. 12条和第3. 1.3条老化前电测量同A3分组剔除不合格品老化GB 4590第4.7条Tamb最大，168h老化后电测量同A3分组，剔除不合格品。若不合格品率大于5%，则该批拒收SJ/T 10266-91附加说明:本标准由全国集成电路标准化分技术委员会提出本标准由北京半导体器件研究所负责起草。本标准主要起草人:崔忠勤17一
