1、L -i中华人民共和国电子工业行业标准SJ/T 1004210048-91SJ/T 10078.10086-91电子元器件详细规范半导体集成电路TTL电路(一)1991一04-08发布1991一07-01实施中华人民共和国机械电子工业部发布中华人民共和国电子工业行业标准电子元器件详细规范半导体集成电路CT54LSJ12/CT74LS112型双下降沿J一K触发器(有预置端、清除端)Detail specification for electronic componentsSemiconductor integrated circuitCT54LS112/CT74LS112 dual J一K ne
2、gative-edgeflip-flop with preset and clearSJ/T 10043-91本规范规定了半导体集成电路CT54LS112/CT74LS112型双下降沿J一K触发器(有预旦端、清除端)质盆评定的全部内容。本标准符合GB 4589. 1(半导体器件分立器件和集成电路总规范和GB/T 12750半导体集成电路分规范(不包括混合电路)的要求。中华人民共和国机械电子工业部1991-04-08批准1991-07-01实施SJ/T 10043-91中华人民共和国机械电子工业部评定器件质量的依据:GB 4589. 1半导体器件分立器件和集成电路总规范GB/T 12750半导体
3、集成电路分规范(不包括混合电路)SJ/T 10043-91CT54LS112/CT74LS112型双下降沿J-K触发器(有预里、清除端)详细规范订货资料:见本规范第7章。机械说明2简要说明外形依据:GB路外形尺寸。7092半导体集成电外形图:GB 7092D型5.3条及5.3.1条J型5. 4条及5.4.1条P型5. 5条及5.5.1条F型5.1条及5.1.1条引出端排列:l手IK1J)S.IQ1Q20CNDv庄iRu2Ro2CP2K212S.2Q引出端符号名称见本规范第11条。标志:按GB规范第6章。4589.1第2.5条及本众070C (C)一55-1251C (M)陶瓷直擂(D)险T54
4、LS112MD黑瓷直插(J)ICT74LS112CJCT54LS112MJ塑料直插(P)CT74LS112CP多层陶瓷扁平(F)阵T54LS112MF.3质盆评定类别I，A,，B, I CSJ/T 10043-91极限值(绝对最大颇定值)若无其他规定，适用于全工作温度范围。条款号参数符号数值单位最小最大4.1工作环境温度54Tamb一55125070744.2贮存温度7.,g一651504.3电源电压V氏7v4.4愉入电压V.7v4.5多发射极晶体管输入端间的电压VII5.5v5电工作条件和电特性电特性的检验要求见本规范第8章。5.1电工作条件若无其他规定，适用于全工作温度范围。条款号参数符号
5、数值i单位最小最大5.1.1电源电压54Vcc4.55.5.v4. 755.25745-1.2输入高电平电压v,2v5.1.3输入低电平电压54v.0.7v0.8745.1.4输出高电平电流人川-400_4”A5.1.5输出低电平电流54人11-A8745.1.6脉冲宽度CYt切，20万】5$o获25O吕5.1.7数据建立时间l-20nS5.1.8保持时间(x0ns5.2电特性若无其他规定，适用于全工作温度范围。SJ/T 10043-91条欣号特性和条件U符号规范值单位试脸.小最大5.2.1翰出高电平电压V区二最小V.=2VVa.最大loa-400KA54Vo2.5VA3A3aA3b742.7
6、5.2.2输出低电平电压V“-.小V.“一2VV.,.最大回V以0.4VA3MaA3b.UL-,m-74IOL=4mA0.4Im =8mA0.552.3枪人柑位电压V+=最小L.=一18mAVac一1.5VA3MaA3b5.2.4输入高电平电流V二=最大V.=2. 7VD,.KIw20产AA3AUA3bRD.9。60CP805.2.5抽入低电平电流V二一最大Va=0. 4VD,J,K1-0.4.A人3A3a人36一0.8CP,A.,SD5.2.6最大墉入电压下的翰入电流V-，最大V，二7VD,J,Kl,0.1mAA3A3aA3bio瓦0.3CP0.45.2.7输出组路电流V仗=最大I皿-20一
7、100m人A3人3aA3b5.2.8电派电流Vc.最大输出端开路Q=H和a=H各侧一次I-6m人A3A3aA3卜5.2.9最商工作预率V.一5V ,T.mn-25 C ,Cn=15pFt-30MHzA45.2.10传翰时间Ca-15pF Rc-2k11 V二二5VT.mb-25C,A.,5.,CPQ,Qt_n20nSA4tmi.20注:1)条件中“.大”或“最小”指的是5.1条规定的值。6标志器件上的标志示例:一18一SJ/T 10043-91认证合格标志(适用时)，出。，。-丁详一口Cf74LS112CP班号口弓，质A评定类别创造单位商你检脸批识别代码由于器件尺寸的限制，允许将“枪验批识别代
8、码”、“质t评定类别”标在器件背面。7订货资料若无其他规定，订晌器件至少摇要下列资料:a.产品型号;b.详细规范编号，c.质f评定类别。d.其他。8试脸条件和检脸.求抽样要求:根据采用的质f评定类别，参照GB/T 12750第9章的有关规定。A组检验的抽样要求分组AQLl类，类ILAQLILAQLA1I0.65I0.65A210.1I0.1A3盆0.15l0.15-A3.S41.0S41.0A3bS41.0S41.0人4S41.0S41.0B组、C组和D组检验的抽样要求汾组LTYD1类.类ABcB115151515cl20202020sJ/T 10043-91续表分组1丁IDI类，类ABCC2
9、b151515ISB3 C3151515r一15B4 C41010101OB5 C510101010C620202020C715151515B8 C8105710C9155715C1120202020B2120101015C2320101520C2420101520D810J710A组逐批所有试验均为非破坏性的检验或试验引用标准条件若无其他规定.Tn=25C(见GB 4589.1第4. 1条)检验要求规范值Al分组外部目检GB 4589.1第4.2.1.1条GB 4589. 1第4. 2. 1. 1条标志清晰，表面无损伤和气孔A2分组25下的功能验证按本规范5.2.1条,5.2.2条和11.3
10、条按本规范5. 2.1条、5.2.2条和11.3条A3分组25下的静态特性GB 3439半导体集成电路TTI电路测试方法的基本原理按本规范5. 2. 1条至5.2.8条和10.1条按本规范5.2.1条至5. 2. 8条A3a分组最高工作温度下的静态特性GB 3439Temh按本规范4. 1条规定的最大值。条件同A3分组同A3分组一20一sJ/T 10043-91A组逐批(续)检验或试验引用标准条件若无其他规定，T.mb=25C(见GB 4589. 1第4.1条)检验要求规范值A3b分组最低工作温度下的静态特性GB 3439T.mb按本规范4.1条规定的最小值.条件同人3分组同A3分组A4分组2
11、5下的动态特性GB 3439按本规范5.2.9条和10.2条按本规范5.2.9条B组逐批标有(D)的试验是破坏性的检验或试验引用标准条件若无其他规定，T-b=25C(见GB 4589.1第4.1条)检验要求规范值Bl分组尺寸GB 4589. 1第4.2.2条及附录B按本规范第1章B4分组可焊性GB 4590半导体集成电路机械和气候试验方法第2.5条按方法b(槽焊法)浸润良好B5分组温度快速变化a空封器件沮度快速变化随后进行:电侧量密封:细检漏粗检漏b.非空封和环氧封的空封器件温度快速变化随后进行:外部目检祖态湿热GB 4590第3.1条温度按本规范第4.2条规定循环次数:10次GB 4590第
12、3.12条GB 4590第3.13条GB 4590第3.1条同A2,A3分组按规定按规定温度按本规范第4. 2条规定循环次数10次同A2,A3分组GB 4589.GB 4590第3.7条1第4.2.1.1条按规定同A1分组电侧tB8分组电耐久性(16811)最后测t(同A2,A3和A4分组)严格度A时间:24h同A2,A3分组同A2,A3分组GB/T 12750第“条%.b按本规范4.条规定的最大值，其他按本规范10.3条同A2,A3和A4分组同A2,A3和A4分组s/T 10043-91B组逐批(续)检脸或试脸引用标准条件若无其他规定，T.mt-25C(见GB 4589.1第4.1条)检脸要
13、求短范值B21分组高压燕汽(D)门卜空封器件)最后侧t(同A2和A3分组)CRRL分组GB 4590第4.5条严格度C时间24h同A2和A3分组同A2和A3分组就B4,B5,B8和B21分组提供计数检交结果。C组周期标有(D)的试验是破坏性的枪脸或试脸引用标准条件若无其他规定.T.6-25C(见GB 4589. 1第4.1条)检脸要求规范值C1分组尺寸GB 4589.1第4.2.2条及附录B按本规范第1章CA分组.高和最低工作砚度下的电特性G乃3439砚度按本规范第4.1条同A4分组规范值为人减分组.大位的1.5倍C3分组引线强度拉力(D)夸曲(D)GB 4590第2.1条GB 4590第2.
14、2条外加力的值按2.1条表1外加力的值按2.2条表2按GB 4590第2.1.5条无损伤C4分组耐焊接热(D).后侧t(同A3分组)GB 4590第2.6条按方法1(260C槽娜)同A3分组同A3分组C5分组，盆度快速变化(D)(非空封和环氧封的空封器件)随后进行:外部目检祖态派热电侧t(同A3分组)GB 4590第3.1条GB 4589.1第4.2.1.1条GB 4590第3.7条T二一651C T,=1500循环次数:500严格度A 24h同A3分组同A1分组同A3分组一22一SJ/T 10043-91c组周期(续)检脸或试脸引用标准条件若无其他规定，T.mb-25 C(见GB 4589.
15、 1第4.1条)检验要求规范值C6分组，称态加速度(D)(空封器件)级后侧t(同A3分组)GB 4590第2.10条加速度，按规定同A3分组同A3分组C7分组德态皿热(D)a空封器件”b.非空封器件最后测t(同AZ,A3分组)GB 4590第3.6条GB 4590第3. 7条严格度D严格度A.时间:10001,同A2,A3分组间A2,A3分组C8分组电耐久性(10001,)饭后测t(同B8分组)GB 4590第4. 7条同B8分组同B8分组同B已分组C9分组商谧贮存(D最后侧t(同B8分组)GB 4590第3. 3条盆度按T.,Q(max)时间10001,同B8分组同BB分组C11分组标志附久
16、性GB 4590第4.3条按方法2.溶液:A型按4. 3. 2条C23分组抗溶性(D)(非空封器件)GB 4590第4. 4条按GB 4590第4.4.2条按GB 4590第4.4.2条C24分组易姗性(D)(非空封器件)C习4590第4.1条按GB 4590第4.1.2条按GB 4590第4.1.2条CRRL分组就C2b,C3,C4,C5,C6,C7,C8,C9,C11,C23和C24分组提供计数检查结果。注:1)连续三次通过后，周期可放宽为一年一次.9 D组D组检验应在鉴定批准之后立即开始进行.其后每年进行一次。一23一SJ/T 10043-91检脸或试验引用标准条件若无其他规定,T.二2
17、5 C(见GB 4589.1第4.1条)检验要求规范值DS分组电耐久性D)最后侧t(同B8分组)GB/T 12750第12.3条A类:20001,，类:30001,其他同BS分组同B8分组同BS分组附加资料10.2静态特性的测量静态特性的测量按GB 3439半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理。动态特性的测量nUU刁.月，10-2.1动态特性的测量按GB 343910.2.2负载线路侧试点接被侧抢出端15pp10.3电耐久性试验线路Vm=3V L=100kHz f,一50kHz Vu=SV R=2kaSJ/T 10043-91告、合、Va型号说明1逻辑符号10OI UP, 2 UP七t
18、0f0%A1J,2J,1K,2K行 $0r,n一)Q,2Q,1Q,2Q一牛一VA兰一1R-2R._上亨竺早位_l s、店。1直接置位ZQ川I So111CPIK1 Ro2Sn212CP2K2R25SJ/T 10043-9111.211.3逻辑图功能表出一。一LH甲认LH马矶箱-QCP入1 KHL刚QoHL氏QoXXXXXX箱一瓦一HLXLLHHXXLHLHX火去备去备HLHHH乳-LHLHHHHHHH注:I)当蕊.Ifo同时回复到H状态时.输出状态不确定.一26一S7/T 10043-91附录A偏选(补充件)I类器件:生产厂自行规定筛选条件。，类器件:筛选项目和条件如下:等级人等级B等级C内部
19、目位Gn45904.6条沮度快速变化GB4590 3.1条，一65-150C .10次老化GB45904.7条，T.七最大、240h老化后电侧t同A3分组.别除不合格品。若不合格品率大于5%.则该批拒收。内部目性CB45904.6条诬度快邃变化GB 4590 3.1条，一65-1S0C ,10次密封，OB 45903.12条和3.13条老化GB 45904.7条，T.6最大、168h内部目检GB 45904.6条老化前电侧t同A3分组剧除不合格品老化后电侧t同A3分组.剧除不合格品.注.1)不适用于非空封器件一27一SJ/r 10043-91附加说明:本标准由全国集成电路标准化分技术委员会提出。本标准由北京八七八厂负责起草。本标准主要起草人:孙人杰。
