SJ T 10048-1991 电子元器件详细规范 半导体集成电路CT54LS158/CT74LS169型4位二进制同步加/减计数器.pdf

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资源描述

1、L -i中华人民共和国电子工业行业标准SJ/T 1004210048-91SJ/T 10078.10086-91电子元器件详细规范半导体集成电路TTL电路(一)1991一04-08发布1991一07-01实施中华人民共和国机械电子工业部发布中华人民共和国电子工业行业标准电子元器件详细规范半导体集成电路CT54LS169/CT74LS169型4位二进制同步加/减计数器SJ/T 10048-91Detail specification for electronic componentsSemiconductor integrated circuitCT54LS169/CT74LS169 4-bit

2、 binaryup/down synchronous counter本规范规定了半导体集成电路CT54LS169/CT74LS169型4位二进制同步加/减计数器质量评定的全部内容。本标准符合GB 4589. 1U半导体器件分立器件和集成电路总规范和C: B/丁12750半导体集成电路分规范(不包括混合电路)的要求。中华人民共和国机械电子工业部1991-04-08批准1991-07-01实施一87一SJ/T 10048-91中华人民共和国机械电子工业部评定器件质t的依据:GB 4589. 1(半导体器件分立器件和集成电路总规范GB/T 12750半导体集成电路分规范(不包括混合电路)SI/T 1

3、0048-91C丁54LS169/CT74LS169型4位二进制同步加/减计数器详细规范订货资料:见本规范第7章。机械说明简要说明外形依据:GB 7092半导体集成电路外形尺寸。外形图:GB 7092D型5. 3条及5.3.1条J型5.4条及5.4.1条P型5.5条及5.5.1条F型5. 1条及5.1.1条双极型计数器电路半导体材料硅封装:空封、非空封逻辑图、功能表:见本规范第11章。品种:引出端排列:摆0-70C (C)一55-125C (M)陶瓷直插(0)ICT54LS169MD黑瓷直插(J)CT74LS169CJCT54LS169MJ塑料直插(P)CT74LS169CP多层陶瓷扁平(F)

4、卜T54LS169MF帅cP乌。叭叭CT,GNu引出端符号名称见本规范第11. 1条。标志:按GB 4589. 1第2. 5条及本规范第6章.质t评定类别.A.,B.,C一88一SJ/T 10048-914,极限值(绝对.大翻定位)若无其他规定,适用于全工作温度范圈。条欲号乡欣符号、救位单位最小.大4.1工作环境妞度S4T.b一55125070744.2贮存皿度T.切一651504.3电抓电压V-7v4.4物入电压v,7v4.5多发射极晶休,输入场间的电压VlI5.5v5电工作索件和电特性电特性的检验要求见本规范第8章。5.1电工作条件若无其他规定,适用于全工作沮度范圈.条欣号今狱符号数值单位

5、最小最大5.1.1电抓电压54V优4.55.5v4.755. 25745.1.2翰入商电平电压Vi.2v5.1.3翰入低电平电压54V.0.7V0.8745.1.4粉出高电平电流I-400协5.1.5输出低电平电傀54t切4.A8745.1.6时钟翻率f.025MH:5.1.7脉冲宽度CPt甘25n55.1.8建立时间CT-CT-1)东.e20nr25LD30U/巧5.1.9保持时间1x0】1日5.p电特性一89一SJ/T 10048-91若无其他规定,适用于全工作温度范围。条款号特性和条件,符号规范值单位试验最小最大5.2.1输出高电平电压V。二最小V,二2VV,L二最大lox=-400pA

6、54V.2.5VA3A3aA3b2.7甲45.2.2输出低电平电压V+=最小V,x=2VV,:二聂大54IDS =4mAVo,0.4VA3A3.A3b0.474I., =4mA。【=BmA0.55.2.3输入钳位电压V-=最小I,、二一I S-AV.一1.5VA3A3aA3b5.2.4输人高电平电流VII=最大V,x=2. 7VLDh;40yAA3A3aA 3bl其余输入端5 2 5输入低电平电流Iv二二最大V,=0. 4VI-DI.,-0.8.AA3A3eA3b一0,4其余输入端5. 2 6最大输入电压下的输入电流!_竺JR* V,一V_Ln1,0.2.AA3A3aIA3b其余输入端0.15

7、.2.7输出短路电流v二=最大 I.,l一20一100mAA3A3nAA5.2.8电源电流V,=最大输出端开路所有输入端接地I, c34mAA3A3eA 3b5.2.9最高工作频率V+=SV Tamb=25C (.1=15PFfma.25MHOA4一90一sJ/T 10048-91续表条款号特性和条件,符号规范值一单位试验最小最大5.2.10传输时间Q=15pFRt =2 k(1了amb=25V-=5VCP-COtPLX35 一一一t-35CP-Q止rLH20t:.23CTr-COtP:日14习t-:14U/D-01m,t-29注:1)条件中最大”或“最小”指的是5.1条规定的值.标志器件上的

8、标志示例认证合%SF志适用时,一寸一-口厂一F_。丁:4L5169CFIILBMiH.VIEit一厂寸-0 8916 SA一型兮质量评定类别制造单位商你检狡批识别代码由于器件尺寸的限制,允许将“检验批识别代码”、“质量评定类别”标在器件背面。订货资料若无其他规定,订购器件至少需要下列资料8.产品型号;b.详细规范编号;c.质量评定类别;d.其他。试验条件和检验要求抽样要求:根据采用的质量评定类别,参照GB/T 12750第9章的有关规定S,1/T 10048-91A组检验的抽样要求分组AQI,类.类ILAQL11AQLAlI0.65I0.65A2污0.1l0.1A3I0.1510.15AUS4

9、1.0S41.0A3bS41.0S41.0A4S41.0S41.0B组、C组和D组检验的抽样要求分组1.TYD,类,类ABCBl15151515C120202020C2b151515l5B3 C315151515B4 C410101010B5 C510101010C620202020C715151515B8 C8105710C9155715C1120202020B2120101015C2320101520C2420101520D810571O一92一sJ/T 10048-91A组逐批所有试脸均为非破坏性的检脸或试脸引用标准条件若无其他规定.T.mb=25C(见GB 4589.1第4.r条)役脸

10、要求规范值Al分组外部目检GB 4589.1第4.2.1.1条GB 4589.1第4.2.1.1条标志清晰,表面无损伤和气孔A2分组255下的功能脸证按本规范5.2.1条,5.2.2条和11.3条按本规范5.2.1条、5.2. 2条和11.3条A3分组25下的静态特性GB 3439半导体集成电路TTL电路侧试方法的荃本原理按本规范5.2.1条至5.2.8条和10.1条按本规范5.2.1条至5.2.8条A3s分组最商工作扭度下的静态特性GB 34397.b按本规范4.1条规定的最大值.条件:同A3分组同A3分组A3b分组.低工作祖度下的静态特性GB 3439T.b按本规范4.1条规定的最小值.条

11、件:同A3分组同A3分组A4分组25下的动态特性GB 3439按本规范5.2.9条和10.2条按本规范5.2. 9条B组逐批标有(D)的试脸是破坏性的检脸或试脸引用标准条件若无其他规定.T.b=25(见GB 4589. 1第4.1条)检脸要求规范值Bl分组尺寸GB 4589. 1第4.2.2条及附录B按本规范第1章一93一SJ/T 10048-91B组逐批(续)随后进行外部目检稳态湿热GB 4589. 1第4.2GB 4590第3.了条1条按规定同A1分组电测量,A3分组B8分组电耐久性(1681)最后测量(同A2,A3和A4分组)B21 5M一一寸一一高压蒸汽(。)KGB 4590(非空封器

12、件)一第4.5条Pil云测量按本规范4.1条规定的If A2,A3 ffiI p.同值。其他按本规范10同A2,A3和A4分组A2.A3和A4分组、2和A3分组)A2和A3分组同A2和A3分组分组就B4,li5,B8和B21分组提供计数检查结果s1/T 10048-91C组周期标有(D)的试验是破坏性的一95一SJ/T 10048-91C组周期(续)检脸或试脸引用标准条件若无其他规定,T.mb-25C(见GB 4589. 1第4.1条)检脸要求规范值C7分组称态湿热(D)a.空封器件b.非空封器件.后侧t(同A2和A3分组)GB 4590第3.6条GB 4590第3.7条严格度0严格度A.时间

13、,IOOOh同A2和A3分组同A2,A3分组C8分组电耐久性(1000h)最后侧t(同B8分组)GB 4590第4.7条同B8分组同B8分组同B8分组C9分组商沮贮存(D)最后侧t(同B8分组)GB 4590第3.3条盆度按T.,盯max)时间:1000h同B8分组同B8分组C11分组标志耐久性GB 4590第4.3条按方法2,溶浪A型按4.3.2条C23分组抗洛性(D)(非空封器件)GB 4590第4.4条按GB4590第4.4.2条按GB 4590第4.4. 2条C24分组易满性(D)(非空封器件GB 4590第4. 1条按GB 4590第4.1.2条按GB 4590第4.1.2条CRRL

14、分组就C2b,C3,C4,C5,C6,C7,C8,C9,C11,C23和C24分组提供计教检查结果.注M连续三次通过后.周期可放宽为一年一次.9 D组一9一SJ/T 10048-91D组检验应在鉴定批准之后立即开始进行,其后每年进行一次.检验或试验引用标准条件若无其他规定Temro=25C(见GB 4589. 1第4章)检验要求规范值D8分组电耐久性D最后测It(同B8分组)GB/T 12750第12.3条1类:200011,类30006其他同B8分组同B8分组同B8分组1010附加资料1010101静态特性的测量静态特性的测量按GB 3439半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理。2动态

15、特性的测量2.1动态特性的测量按GB 3439,2.2负载线路接被侧抽出端15PF10.3电耐久性试验线路V=3V几=l00kHz f,=50kHz f,=10kHz V=SV R=2kf1SJ/T 10048-91协型号说明1逻辑符号引出端符号coCFCTClpt卜crpLD晒一cf丁Do -D31.DQOQ3U/巧名称进位输出时钟输入计数控制计数控制并行数据输入同步并行置入控制输出加/减计数方式控制DnDI氏氏98SJ/T 10048-9111.2逻辑图CPQoLDCTrCTTQDD,QzD2仇一coDz99SJIT 10048-91功能表龟一山数数持待出一q-山输一q一dl计计场-山加减

16、保保伪-内XXXx场-人xx人x场一山xxx次入一认一d0XXxC1b Cy,生UIDCP个冲个XXHLXXLL丫XLLHHHH11.311.4LDLHXHX X X波形图一一一一一一一一一-一一-一一-一一一-一一一-一一-一一一一-一一-一一-一一一一一二一一一一一-一-一一一一一一一一一一-一一一一-一一-一-一一-一-三-一-一一-一o.二Q=二J叮二二co二J,14 1s o2lO巧14 19卜一加计橄-确一一.份一保持一.叫卜.目一一扳计吸一!宝f一100SJIT 10048-91附录A筛选(补充件)1类器件:生产厂自行规定筛选条件。,类器件:筛选项目和条件如下:等级A等级B等级C

17、内部目检GB 4590 4.6条高温称定GB 4590 3. 3条,1500 .961,称态加速度”GB 4590 2.10条老化前电测t同A3分组别除不合格品老化后电测量同A3分组,月9除不合格品。若不合格品率大于5%,则该批拒收。内部目性GB 4590 4. 6条高温称定GB 4590 3.3条,1500 .481,稼态加速度”GB 4590 2. 10条密封,GB 45903.12条和3.13条老化前电测1t同A3分组剔除不合格品老化GB 4590第4. 7条,7.b最大、168h老化后电测量同A3分组,易9除不合格品若不合格品率大于5%,则该批拒收。内部目检GB 4590 4.6条注:1)不适用于非空封器件。101SJiT 10048-91附加说明:本标准由全国集成电路标准化分技术委员会提出。本标准由北京八七八厂负责起草本标准主要起草人孙人杰。102

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