1、SJ中华人民共和国电子工业行业标准sJ/T 10068一10071一91电子元器件详细规范半导体集成电路HTL电路(一)1991一04-08发布1991一07-01实施中华人民共和国机械电子工业部发布中华人民共和国电子工业行业标准电子元器件详细规范半导体集成电路CH2021型4位二进%$11 S,/T 10070-91同步加/减计数器(双时钟)Detail specification for electronic componentSemiconductor integrated circuit-Type C112021 4一bit up down synchronous binarycoun
2、ter (dual clock)本规范规定了半导体集成电路CH2021型4位二进制同步加/减计数器(双时钟)质量评定的全部内容。本规范是参照GB 5965半导体集成电路双极型门电路空白详细规范制订的，并符合GB4589. 1半导体器件分立器件和集成电路总规范和GB/T 12750半导体集成电路分规范(不包括混合电路)的要求。中华人民共和国机械电子工业部1991-04-08批准1991-07-01实施27SJ/T 10070-91中华人民共和国机械电子工业部评定器件质量的依据:GB 4589. 1半导体器件分立器件和集成电路总规范GB/T 12750半导体集成电路分规范(不包括混合电路)SJ/T
3、 10070-91CH2021型4位二进制同步加/减计数器(双时钟)详细规范订货资料:见本规范第7章。1机械说明外形依据:GB 7092半导体集成电路外形尺寸。外形图:按(;B 7092D型5.3条及5. 3. 1条J型5. 4条及5.4. 1条”型5. 5条及5.5.条引出端排列:_、.夕_ CPn1一16 V-LD亡2 15习CP*3，习。D,4 13Q,Di512QxDa6 11习QaBO7 10 LJ CO CND巨。勤CR引出端符号名称见本规范第11. 4条。标志:按GB 4589. 1第2. 5条及本规范第6亡二了早o2简要说明双极型HTL计数器半导体材料硅封装:空封、非空封逻辑符
4、号、逻辑图和功能表:见本规范第11章。品利，:卜工fir度封装形式飞一40-+850C(E)陶瓷直插(D)CH2021ED夕1 162 153 144 135 126 117 108 9黑瓷直插(J)CH2021EJ塑料直插(P)CH2021EP3质量评定类别H，IA,MB,IC一28一SJ/T 10070-914极限值(绝对最大颇定值)若无其他规定，适用于全工作温度范围条欲号参数符号数值单位最小最大4.1工作环境温度T.6-40854.2贮存温度了.，一551254.3电源电压v+-0.518v4.4输入电压Vl18v4.5输人电流l,一10mA4.6输出电流1.30mA5电工作亲件和电特性
5、电特性的检验要求见本规范第8章。51电工作条件若无其他规定，适用于全工作温度范围.条欲号参数符号数值单位最小最大5.1.1电像电压hco13.51615v5.1.2翰入高电平电压V川8v5.1.3输入低电平电压v55v5.1.4输出高电平电流lox-05mA5.1.5输出低电平电流1-14mA5.2电特性若无其他规定，适用于全工作温度范围。条欲号特性和条件符号规范值单位试脸最小最大5.2.1输出商电平电压Vcc=13.SV, V,n=8V, V,=5.5V, lox=-0.5mAVon11.5VA35.2.2输出低电平电压Vcc=13.SV, Vsx=8VV=5.5Vlo,.=14mAQ.-Q
6、,犷-1.5V人31.5lo,二8. 4mACO,BO5.2.3输入高电平电流Vcc =1SV, V,x=16.5Vla,6pAA329SJ/T 10070-91续表6标志器件上的标志示例认证合格标志(适用时)型号引出端识别标志CH2021ED口A8915质1Ij vi之关别制造单位商标栓脸批识别代码若受器件尺寸限制，允许将“检验批识别代码”、“质量评定类别”标在器件背面。7订货资料8.产品型号一30一SJ/T 10070-91详细规范编号质量评定类别其他。卜乙己8试验条件和检验要求抽样要求:根据采用的质量评定类别，按GB/T 12750第9章的有关规定。A组检验的抽样要求分组AQ卜皿类.类I
7、LAQLIIAQI.A100. 65双0.65A2皿0.1兀0.1A3皿0.15l0.15人3aS41.0S41. 0A 3bS41. 0S41.0A4S41.0S41.0B组、C组和D组检验的抽样要求分组UIYUu类，类ABCB115151515Cl20202020C315151515B4 C410101010B5 C510101010CG202U2020C7飞5151515B8 C8105730C9155715C1120202020B2120101015C2320101520C2420101520D81071031SJ/T 10070-91A组逐批全部试验均为非破坏性的(见GB 4589.
8、 1第3.6.6条)检脸或试验引用标准 条件若无其他规定,7.b= 25C检验要求规范值Al分组外部目位GB 4589.1第4.2.1.1条标志清晰.表面无损伤和气孔A2分组25下的功能验证按本规范5.2.1条、5.2.2条和11. 3条按本规范5.2.1条、5.2.2条和11.3条A3分组25下的静态特性GB 3440半导体集成电路HTI_电路测试方法的荃本原理)按本规范5.2.1条至5.2.6条和10.1条按本规范5. 2. 1条至5.2.6条Ma分组最高工作温度一;的静态特性GB 3440T-b按本规范4.1条的最大值条件:同A3分组同A3分组A3b分组最低工作温度下的静态特性GB 34
9、40T-b按本规范4.1条的最小值条件同A3分组同A3分组A4分组25下的动态特性GB 3440按本规范5.2.7条、5.2.8条和10.2条按本规范5.2.7条和52.8条B组逐批标有(D)的试验是破坏性的(见GB 4589. 1第3.6.6条)检验或试验引用标准 条件若无其他规定，Ts.n=25C检验要求规范值BI分组尺寸GB 4589. 1第4.2. 2条及附录B按本规范第1章B4分组可焊性GB 4590半导体集成电路机械和气候试验方法第2.5条按方法V(槽焊法)按2.5.6条BS分组温度快速变化a.空封器件温度快速变化随后进行:电测盆(同A2和A3分组)密封:细检偏GB 4590第3.
10、1条GB 4590第3.12条温度:按严格度D循环次数:10次，tl二Smin同A2和A3分组按规定同A2和A3分组一32sJ/r 10070-91B组逐批(续)检验或试验引用标准 条件若无其他规定T,.6=25 C检验要求规范值粗检漏b非空封和环氧封的空封器件温度快速变化随后进行:外部目检稳态湿热电测f(同人2和A3分组)GB 4590第3.13条按规定GB 4590第3. 1条温度:按严格度ll循环次数:10次.t:二5nunGB 4589. 1第4.2.1.1条GB 4590第3.7条同A1分组严格度A，时间:2411同A2和A3分组同A2和A3分组B8分组电耐久性(1686)GS/P
11、12750第12. 3条最后测It(同A2,A3和A4分组)平均功耗加Iax t Ia,2 )x V-温度:按本规范4.14.条最大值，其他按本规范10.3条同A2,A3和A4分组同A2,A3和A4分组B21分组高压燕汽(U)(非空封器件)最后测盆(同A2和A3分组)GB 4590第4.5条严格度C，时间:24h同AZ和A3分组同人2和人3分组CRRI，分组就B4,B5,B8和B21分组提供计数检查结果.C组周期标有(D)的试验是破坏性的(见GB 4589.1第3.6.6条)检验或试验引用标准 条件若无其他规定.T.b-25 C检验要求规范值C1分组尺寸GB 4589. 1第4.2.2条及附录
12、B按本规范第1章C3分组引线强度弯gh (D)GB 4590半导体集成电路机械和气候试验方法第2. 2条外加力的值按2. 2条表2无损伤C4分组耐焊接热(D)最后测I(同A2和A3分组)GB 4590第2.6条按方法1(260C槽焊)同A2和A3分组同人2和A3分组一33一sJ/T 10070-91c组周期(续)检脸或试脸引用标准 条件若无其他规定，T.mb-25 C检验要求 规范值C5分组，温度快速变化(D(非空封和环氧封的空封器件)随后进行:外部目检称态盔热电测f(同A2和A3分组)GB 4590第3.1条GB 4589.1第4.2.1.1条GB 4590第3.7条温度按严格度D循环次数,
13、500次，:二5min严格度A时间2411同A2和A3分组同A1分组同A2和A3分组C6分组，橡态加速度(D)(空封器件)最后测f(同A2和A3分组)GB 4590第2.10条加速度196000M八，同A2和A3分组同A2和A3分组C7分组稳态湿热(D)a.空封器件”b.非空封和环暇封的空封器件最后测t C同人2和A3分组)GB 4590第3.6条GB 4590第3. 7条严格度D严格度A.时间:10001,同A2和A3分组同A2和A3分组C8分组电耐久性(1000h)最后测f(同A2,A3和A4分组)GB/T 12950第12.3条同B8分组同A2,A3和A4分组同A2,A3和A4分组C9分
14、组商温贮存最后测f(同A2,A3和A4分组)GB 4590第3. 3条温度按严格度B时间1000h同A2,A3和A4分组同人2,A3和A4分组C11分组标志耐久性GB 4590第4.3条按方法2:溶液:A型按GB 4590第4.3.2条一34一SJ/T 10070-91C组一一周期(续)检验或试验引用标准 条件若无其他规定，T.mb-25C检验要求规范值C23分组坑溶性(D)(非空封器件)GB 4590第4.4条按GB 4590第4.4.2条按GB 4590第4. 4. 2条C24分组易嫩性(D)(非空封器件)GB 4590第4.1条按GB 4590第4.1.2条按GB 4590第.1.2条C
15、RRL分组就C3,C4,C5,C6,C7,C8,C9,C11,C23和C24分组提供计数检查结果.注:1)连续三次通过后.周期可延长为一年一次9 D组D组检验应在鉴定批准之后立即开始进行，其后每年进行一次。检验或试验引用标准 条件若无其他规定.T.:b=25C检验要求规范值D8分组电耐久性(D)最后测*(M A2,A3和A4分组)GB 4590第4.7条，类:20001I类:30001其他同B8分组同A2,A3和A4分组同A2、人3和A4分组附加资料1静态特性的测量静态特性的测量按GB 3440半导体集成电路HTL电路测试方法的基本原理。2动态特性的测量2.1动态特性的测量按GB 3440,2
16、.2负载线路八曰日弓曰几几八曰nUnlll，.月月.月月.一35一s)/T 10070-91V.翰入端r硬被测拍出端被侧物出端抽入端认一包括探头及夹具的电容CL一包括探头及夹具的电容10.3电耐久性试验线路10v出tsv型号说明1逻辑符号1111.(I0)(7)(l4)洲(12)洲:TD ()(2)(4)(B)36SJIT 10070-9111.2逻辑图37SJ/T 10070-9111-3功能表11LDx输CPu CYuX XX X个HH牛HHn, Q,X-7L轴出Q, Q, Q,LL Ld, d, d,加计数减计数保持山XXXD:-x山XxX -D-X-以一X山洲只义d0XKXLHH以一H
17、LLLLH11.4引出端符号名称引出端符号名称B()借位输出CO进位输出CP!，减计数时钟输入CY加计数时钟输入CR清除1.1)并行输入控制no-D3并行数据输入Q,-Q,输出一38一SJ /T 10070-91附录A筛选(补充件)I类器件:生产厂自行规定筛选项目和条件。.类器件:筛选项目和条件如下:等级A等级B内部目检GB 4590第4.6条等级C内部目检GB 4590第4.6条高温稳定GB 4590第3.3条125r .48h温度快速变化GB 4590第3.1条一55-+1251C,10次稳态加速度，GB 4590第2.10条密封，GB 4590第3.12条和3.13条老化前电测t同A3分
18、组.剔除不合格品。老化GB 4590第4.7条T.I.b最大，2406老化后电测童同A3分组。剔除不合格品。若不合格品率大于5%.则该批拒收温度快速变化GB 4590第3.1条一55十125C,10次你态加速度，GB 4590第2.10条密封，GB 4590第3.12条和3.13条老化前电测衡同A3分组剔除不合格品.老化前电测t同A3分组，剧除不合格品老化GB 4590第4.7条T-b最大，1686老化GB 4590第4.7条T.b最大，1686一蔺丽和可习IPJ A1G e一”组“除不“格一若不合格品率大于5%,些ttlE些一一一-一老化后电测t同A3分组.剔除不合格品。注:1)不适用于非空封器件.一39一SJ/T 10070-91附加说明:本标准由全国集成电路标准化分技术委员会提出。本标准由上海无线电十九厂负责起草。本标准主要起草人:尹嘉祥.
