1、Si中华人民共和国电子工业行业标准s.J/T 10074一10077-91电子元器件详细规范半导体集成电路接口电路(一)1991一04-08发布1991-07-01实施中华人民共和国机械电子工业部发布中华人民共和国电子工业行业标准电子元器件详细规范半导体集成电路CJ 75361型双TTL-MOS驱动器Detail specification for electronic componentsSemiconductor integrated circuitCJ 75361 dual TTL-MOS driverSJ/T 10075-91本规范规定了半导体集成电路CJ 75361型双TTL-MOS
2、驱动器质量评定的全部内容。本标准符合GB 4589. 1半导体器件分立器件和集成电路总规范和GB/T 12750半导体集成电路分规范(不包括混合电路)的要求。中华人民共和国机械电子工业部1991-04-08批准1991-07-01实施15一SJ/T 10075-91中华人民共和国机械电子工业部一评定器件质量的依据:GB 4589. 1半导体器件分立器件和集成电路总规范GB/T 12750半导体集成电路分规范(不包括混合电路)SJ/T 10075-91CJ 75361型双TTL-MOS驱动器详细规范订货资料:见本规范第7章，机械说明外形依据:GB 7092(半导体集成电路外形尺寸外形图:GB 7
3、092:型5.4条及5.4.1条”型5.5条及5.5.条引出端排列:，n下es-se万n、，E 1 I 2. 7 I 11Y2A曰36I 12YGND L二一一二尸”。引出端符号的名称见本规范第11章标志:按GB 4589. 1第2. 5条及本规范第6章2简要说明双极型电平转换器电路半导体材料:硅封装:空封、非空封逻辑符号、逻辑图和功能表:见本规范第11章品种:川墓 1 e.27. 3 64 53质2评定类别e.IA,IB,ICsJ/T 10075-914极限值绝对最大额定值)若无其它规定，适用于全工作温度范围。条款号参数符号数值单位最小最大4.1工作环境温度Tamb0704.2贮存温度Tv,
4、一651504.3电镖电压(Tamb=25C )v-24v4.4输入电压V15.5v4.5输人端之间的电压v一一v5电工作条件和电特性电特性的检验要求见本规范第8章。51电工作条件若无其它规定，适用于全工作温度范围.条款号参数符号数值单位最小最5.1.1电源电压v-524v5.1.2输入高电平电压v,2v5.1.3输人低电平电压v0.8v5.1.4输出高电平电流1-10mA5.1.5输出低电平电流log40mA5.2电特性若无其它规定，适用于全工作温度范围。条款号特性和条件符号规范值M t?一试验最小最大产i5.2.1输出高电平电压V =0. 8v Iv=一50pAVoaV七兀;一1VA3/A
5、3a/A3bIVii. = 0. 8v lo=一10.AV-一2.35.2.2输出低电平电压V,x =2V 1, -lOmAVo.O3VA3/A3a/A3bV比，钾巧一24V,V,H =2V, h,. =40.A0.5s)/T 10075-91续表条欲号特性和条件符号规范值单位试验最小最大5.2.3输出籍位电压V, =0, IOa =20.AVOAVcc:十1.5VA3/A3a/A3b5.2.4输入高电平电流V, =2.4VA输入1.40产AA3/A3a/A3bE输人805. 2. 5输人低电平电流V, =OAVA输入I,c一工.6.AA3/A3a/A3bE输入-3.25.2.6电浑电流V。，
6、=OV Vcc:二24V全部输入=5V空载Ica0.5功人A3/A3a/A3b5.2.7输出高电平电源电流V.,=5.25V V+s=24V全部输人二OV空载lcnca,4mAA3/A3a/A3b0.5Imsca5.2.8输出低电平电源电流V+,=5.25V Vcc,=24V全部输入=5V空载1-(24mAA3/A3a/A3bI+sa135.2.9传输延迟时间Va,=5VTn =25C V+i=20VC, =390pFR公=tont ,H24nSA4t.-2040t丁L“35名下HL55t,飞Ht-47注:1) R。为输出申联电阻.在电路中起阻尼作用，所以又称阻尼电阻.6标志器件上的标志示例:
7、口口认证合格标志(适用时)一引出端识别标志CJ 75361CP觅号制造单位商你8916口、书一质最评定类别栓9A批讥别代码，若受器件尺寸限制时.允许将“检验批识别代码”、“质量评定类别”标在器件背面。7订货资料一18一SJ/T 10075-91若无其它规定，订购器件至少需要下列资料a.产品型号，b.详细规范编号;c.质A评定类别;d.其它。8试验朱件和检验要求抽样要求:根据采用的质量评定类别，参照GB/T 12750第9章的有关规定。A组检验的抽样要求分组AQLI类，类ILAQLILAQLA1互0.65I0.65A2I0.1I0.1A310.15】0.15A3aS41.0S41.0A3bS41
8、.0S41.0B组、C组和D组检验的抽样要求分组I.TYDI类，类ABCBI15151515c120202020B3 C315151515B4 C410101010B5 C510103010C620202020C715151515B8 C8105710C9155715C1120202020B2120101015C2320101520C2420101520D810571019SJ/T 10075-91A组逐批全部试验均为非破坏性的(见GB 4589. 1第3. 6. 6条)检验或试验引用标准条件若无其它规定，Te,b=25C(见GB 4589.1第4.1条)检验要求规范值A1分组外部目检GB 4
9、589. 1第4.2.1.1条标志清晰，表面无损伤和气孔A2分组功能验证按本规范5.2.1条、5. 2. 2条和11.3条按本规范5.2.1条、5.2.2条和11.3条A3分组25下的静态特性GB 6797半导体集成电路接口电路电平转换器测试方法的基本原理按本规范5. 2.1条至5.2.8条和10.1条按本规范5.2.1条至5. 2. 8条A3x分组最高工作温度下的静态特性GB 6797T-b按本规范4. 1条规定的最大值。条件同A3分组同A3分组A3b分组最低工作温度下的静态特性GB 6797Tan,b按本规范4. 1条规定的最小值。条件同A3分组同A3分组A4分组25下的动态特性GB 67
10、97按本规范5.2.9条按本规范5.2.9条一20一S7/T 10075-91B组逐批标有(D)的试验是破坏性的(见GB 4589.1第3.6.6条)检验或试验引用标准条件若无其它规定几m6=25C(见GB 4589. 1第4.1条)检验要求规范值B1分组尺寸GB 4589. 1第4. 2. 2条及附录B按本规范第1章B3分组引线强度弯曲(D)GB 4590半导体集成电路机械和气候试验方法第2.2条外加力的值按第2.2条表2无损伤B4分组可焊性GB 4590第2.5条按方法b(槽焊法)按2.5. 6条B5分组温度快速变化a.空封器件随后进行:电测t密封:细检汤粗检诵b.非空封和环氧封的空封器件
11、随后进行:外部目检称态湿热电测里GB 4590第3.1条GB 4590第3.12条GB 4590第3.13条GB 4590第3.1条GB 4589. 1第4.2.1.1条GB 4590第3. 7条温度:按本规范第4.1条规定循环次数:10次、=5min同A2,A3分组恢复2h按规定按规定温度:按本规范第4.1条规定循环次数:10次t，=5min按规定严格度A时间:24h同A2,A3分组同A2,A3分组同Al分组同A2,A3分组B8分组电耐久性(16811)最后测t(同A2, A3和A4分组)GB 4590第4. 7条T.b按本规范4.1条规定的最大值，其它按本规范10.3条同人2,A3和A4分
12、组同A2, A3和A4分组一21一SJ/T 10075-91B组逐批(续)检验或试验引用标准条件若无其它规定，T.mb=25C(见GB 4589. 1第4.1条)检验要求规范值B21分组高压蒸汽(D)(非空封器件)最后测量(同A2和A3分组)GB 4590第4. 5条严格度C时间:24h同A2和A3分组同A2和A3分组CRRL分组就B3,B4,B5,B8和B21分组提供计数检查结果。C组周期标有(D)的试验是破坏性的(见GB 4589. 1第3. 6. 6条)检验或试验引用标准条件若无其它规定.7.b=250(见GB 4589. 1第4.1条)检验要求规范值一尺寸GB 4589. 1第4. 2
13、. 2条及附录B按本规范第1章C3分组引线强度拉力(D)GB 4590第2.1条外加力的值按2.1条表1按2.1.5条C4分组耐焊接热(D)最后测盒(同A3分组)GB 4590第2.6条按方法1(2600槽焊)同A3分组同A3分组C5分组，温度快速变化(D)(非空封和环载封的空封器件)随后进行:外部目检稳态湿热电测食(同A3分组)GB 4590第3. 1条GB 4589. 1第4.2.1.1条GB 4590第3.7条7八=一55C Ta =150C循环次数:500 1, =5 min严格度A时间24h同人3分组同Al分组同A3分组一22一S7/T 10075-91C组周期(续)检验或试验引用标
14、准条件若无其它规定，T.b=25C(见GB 4589.1第4.1条)检验要求规范值C6分组，称态加速度(D)(空封器件)最后测童(同A3分组)GB 4590第2.10条加速度:按规定同A3分组同A3分组C7分组稳态湿热(D)a.空封器件b.非空封器件最后测t(同A3分组)GB 4590第3. 6条GB 4590第3.?条严格度1)严格度A时间:10001,同A3分组同A3分组C8分组电耐久性(10001,)最后测t(同B8分组)GB 4590第4.7条同B8分组同B8分组同B8分组C9分组高温贮存(D最后测童(同B8分组)GB 4590第3.3条温度:按T.,(-.)时间:l000h同B8分组
15、同B8分组C 11分组标志耐久性GB 4590第4. 3条按方法2.溶液A型按4.3.2条C 23分组抗溶性(D)(非空封器件)GB 4590第4.4条按4.4.2条按4.4.2条C 24分组易嫩性(D)(非空封器件)GB 4590第4.1条按4.1.2条按4.1.2条CRRL分组就C3,C4,C5,Ce,C7,C8,C9,C11,C23和C24分组提供计数检查结果。注:1)连续三次通过后，周期可延长为一年一次。9 D组一23一SJ/r 10075-91D组检验应在鉴定批准之后立即开始进行.其后每年进行一次.检验或试验引用标准条件若无其它规定，Tsmb=25C(见GB 4589. 1第4.1条
16、)检验要求规范值D8分组电耐久性(0)最后测t(同B8分组)GB4590第4.7条】类:20001,，类30001,其它同B8分组同B8分组同B8分组附加资料10.2静态特性的测量静态特性的测量按GB 6797的规定。动态特性的测量nUCU曰几.月.10.2.1基本测试线路按GB 6797的规定。10-2.2负载线路侧试点被侧一汽几C一包括探头及夹具的电容10.3电耐久性试验线路390PFsJ/a 10075-9110. A待性曲线制造厂应提供各种特性曲线。11型号说明11.1逻辑符号2入(3)(6)2丫JAM(7) 1 Y引出端符号名称A输入E输入Y输出逻辑图 L211.3功能表SJ/T 10075-91附，录A筛选(补充件)I类器件:生产厂自行规定筛选条件。，类器件:筛选项目和条件如下:等级A等级B等级C内部目检GB 4590第4. 5条高温贮存GB 4590第3.3条，150C ,4811密封”GB 4590第3.12条和3.13条老化前电测童同A3分组别除不合格品老化后电测童同A3分组.剔除不合格品。若不合格品率大于5%.则该批拒收。注:1)不适用于非空封器件。一26一SJ/T 10075-91附加说明;本标准由全国集成电路标准化技术委员会提出。本标准主要起草人:胡恩蔚、胡燕。一27一
