1、L -i中华人民共和国电子工业行业标准SJ/T 1004210048-91SJ/T 10078.10086-91电子元器件详细规范半导体集成电路TTL电路(一)1991一04-08发布1991一07-01实施中华人民共和国机械电子工业部发布中华人民共和国电子工业行业标准电子元器件详细规范半导体集成电路CT54107/CT74107型双主从J一K触发器(有清除端)SJ/T 10078-91Detail specification for electronic componentsSemiconductor integrated circuitCT54107/CT74107 dual ,1一K f
2、lip-flop with clear本规范规定了半导体集成电路CT54107/ CT74107型双主从J-K触发器(有清除端)质量评定的全部内容。本标准符合GB 4589. 1(半导体器件分立器件和集成电路总规范和GB/T 12750(半导体集成电路分规范(不包括混合电路)的要求中华人民共和国机械电子工业部1991-04-08批准1991-07-01实施一103一SJ/T 10078-91中华人民共和国机械电子工业部评定器件质t的依据:GB 4589. 1半导体器件分立器件和集成电路总规范GB/T 12750半导体集成电路分规范(不包括馄合电路)SJ/T 10078-91CT54107/CT
3、74107型双主从J-K触发器(有清除端)详细规范订货资料:见本规范第7章。机械说明简要说明外形依据:GB 7092半导体集成电路外形尺寸.外形图:GB 7092D型5.3条及5.3.1条J型5. 4条及5. 4.1条P型5.5条及5.5.1条F型5. 1条及5.1.1条双极型触发器半导体材料:硅封装:空封、非空封逻辑图、功能表:见本规范第11章。品种:引出端排列:uIQIQIK2Q2QGNDv氏IRu1CP2K2R.2C P2月状 一0-700C (C) 一55-125C (M)陶瓷直插(D)CT54107MD黑瓷直插(J)CT74107CJCT54107MJ塑料直播(P)CT74107CP
4、多层陶瓷扁平(F)CT54107MF引出端符号名称见本规范第11.4条.标志:按GB 4589. 1第2. 5条及本规范第6章。质卫评定类别1 A,.B,，C104SJ/T 10078-91极限值(绝对最大颇定值)若无其他规定，适用于全工作温度范围。条款号参数符号、数值单位最小最大4.1工作环境温度54T.mn一55125740704.2贮存温度T.,一651504.3电探电压v7v4.4输入电压v,5.5v4.5多发射极晶体管输入端间的电压v5.5v电工作条件和电特性电特性的检验要求见本规范第8章。电工作条件若无其他规定，适用于全工作温度范围。条款号l参数l符号数值单位最小最大5.1.1电溉
5、电压54v,4.55.5v4. 755. 25745.1.2输入高电平电压v,2v5.1.3翰入低电平电压v,0.8v5.1.4输出高电平电流lox-400PA5.1.5输出低电平电流I.16mA电特性若无其他规定，适用于全工作温度范围。105s,1 /T 10078-91t最大单位试验5.2.1输出高电平电压V+-最小V,- -2VV.=0 -8V Io=一8001,AV.2.4A3一0.4A3A3A35.2.101iBlaiimCc=kSpF R,_=400一n, mAA3m人A3MHzA4A411-i; 1) V-为最小或最大按本规范第5.1.1条.6标志器件上的标志示例:106S.1/
6、T 10078-91弓，出二。*一丁二x916CT7410 CP田A.型号r最评定类别制选单位商标检验批识别代码若受器件尺寸限制时.允许将“检验批识别代码”、“质量评定类别”标在器件背面。订货资料若无其他规定，订购器件至少需要下列资料8.产品型号;b.详细规范编号;C.质量评定类别;d.其他。试验条件和检验要求抽样要求:根据采用的质量评定类别，参照G B/T 12750第，章的有关规定。A组检验的抽样要求分组 皿类丁AQlAQL-一一厂一l_1_【类一一AOL一打-一一-一卜-一一皿 0.1,_l. 0_兰_A3aS4A 3bS4一一一一一 一1.01一一一一.1S4iA4卜一一-一一一一一一
7、S41.U107SJ/T10078一91B组、C组和D组检验的抽样要求分组LTPI)l类，类ABCB1l515l515C120202020CZb15151515C315151515B4C4l0l01010BSCS1010l010C6202O2O20C7151515 15JBSCS1O571OC91557l5null一Cll一20)20一“砚二2OB2120null一null一null一一籩eses1O一15C23一2Oi1Ol2OC242010152018l05710A组逐批全部试验均为非破坏性的(见GB45朋1第3.66条)检验或试验引用标准条件若无其他规定，Tanlb二25(见GB4589
8、.1第4.1条夕Al分组外部目检GB4589，1第4.2.1.1条AZ分组25下的功能验证1|1|下|1!按本规范5.21条、5.2.2条和11.3条按本规范5.2.1条、5.2.2条和n.3条A3分组25下的静态特性GB3439半导体集1按本规范52.1条至528条和一成电路rll、电路测试方法的基本原理按本规范5.2.1条至5.2.8条一108一SJ /T 10078-91A组逐批(续)检验或试验引用标准条件若无其他规定、7 .m6=25 C(见GB 4.89. 1第4. 1条)斗检验要求规范值mb按本规范4.1条双定的最大值.条件同A3分组同A3分组一八最寸一1，!Tamb #v* a一
9、一一Afzm最小值。条件:同A3分组同A3分组A4分组25下的动态特性GB 3439按本规范5.2.9条和5.2.10条按本规范5.2.9条和5.2. 10条B组逐批标有(D)的试验是破坏性的(见GB 4589. 1第3.6.6条)检验或试验引用标条件他规定T,mb=25 C4589.1第4. 1条)检验要求规范值月一一-一一一一一B1分组尺寸GB 4589. 1第4.2.2条及附录B一巨竺立B4分组可捍性GB 4590半导体集成电路机械和气候试验方法N按2. 5. 6条第2.5条卜1十十B5分组温度快速变化a空封器件随后进行:电铡t密封:细检漏粗检漏b.非空封和环氧封的空封器件随后进行外部目
10、检GB 4590第3.1条同人2,A3分组GB 4590第3.11条或3GB4590第3. 13条IGB 4590第3.1条温度按本规ag&数GB 4三旦9.1垫.2.1卫圣I 1 范第4. 2条规定0次t, =5.m同A1分组109SJ/T 10078-91B组一一逐批(续)检验或试验一一。，用标准一条件若无其他规定，Tsmb a 25C(见GB 4589.1第4,1条)检脸要求规范值称态湿热电测址GB 459。第3.7条1p 11A时1司2411同A2,A3分组同A2,A3分组B8分组电耐久性(1686)最后测t(同A2,A3和A4分组)GB 4590第4.7条一一Tamb按本规范4. 1
11、条规定的最大值，其他按本规范10.3条同A2,A3和A4分组同A2,A3和人4分组B21分组高压蒸汽(D)(非空封器件)最后测t(同A2和A3分组)GB 4590，第4. 5条一严格度C时间2心一;、2一分同人2和A3分组CRRL分组就B4,B5,B8和B21分组提供计数检查结果.C组周期标有(D)的试验是破坏性的(见GB 4589. 1第3. 6. 6条)检验或试验引用标准条件若无其他规定，7.b-25C(见GB 4589. 1第4.1条)检验要求规范值一一iGB 4589.第“2. 2条一及附录B一一l、按本规范第1章C2b分组最高和最低工作温度下的动态特性一GB 3438 温度按本规范第
12、4.1条同A4分组规范值为A4分组滚大值的1. 5倍，.小值的0.8倍C3分组引线强度拉力(D)弯曲(D)一GB 4530半导体集成电路机械和气候试验方法第2.1条、2. 2条外加力的值按2.1条表1一外加力的值#3t 2. 2 2z & 2按2.1.5条无损伤110SJ/T 10078-91C组周期(续)检验或试验引用标准条件若无其他规定.T.b=25(见GB 4589.1第4. 1条)检验要求规范值C4分组耐焊接热(D)最后测t(同A3分组)GB 4590第2.6条按方法1(2600枪焊)同A3分组同A3分组CS分组，温度快速交化(D)(非空封和环氧封的空封器件)随后进行外部目检称态湿热G
13、B 4590第3.1条T二一651: T，二150C循环次数:500次I二5minGB 4589.1第4.2.1.1条GB 4590第3.7条同A1分组严格度AC8分组电耐久性(10006)最后测盆(同B8分组)GB 4590第4. 7条同BS分组同BS分组Cg分组高温贮存最后测童(同B8分组)011分组标志耐久性GB 4590第3. 3条温度按了。g(mnx)时间:100011同B8分组GB 4590第4. 3条按GB 4590第4. 3.2条一III一sJ/T 10078-91C组周期(续)检验或试验引用标准条件若无其他规定，Tamb=25 C(见GB 4589. 1第.1条)俭验要求规范
14、值C23分组抗溶性(D)(非空封器件)GB 4590第4.4条按GB 4590第4.4. 2条按GB 4590第4.4. 2条C24分组易嫩性(D(非空封器件)GB 4590第4.1条按GB 4590，第4.1.2条按GB 4590第4.1.2.条CRRL分组就C2b,C3-.C4,C5,C6,C7,C8,C9,C11,C23和C24分组提供计数检查结果。注:1)连续三次通过后，周期可放宽为一年一次.9 D组D组检验应在鉴定批准之后立即开始进行，其后每年进行一次检验或试验引用标准条件若无其他规定，Tamb=25C(见GB 4589. 1第4.1条)检验要求规范值D8分组电耐久性(D最后测It(
15、同B8分组)GB 4590第4. 7条t类:20001,，类:30001,其他同B8分组同B8分组同B8分组附加资料1静态特性的测量静态特性的测量按GB 3439半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理。2动态特性的测量2.1动态特性的测量按GB 3439,nU内U月.月.1010112SJ/T 10078-9110-2.2负载线路4000接被侧泊出端ISOF10.3电耐久性试验线路V.二3V fo=IOOkHz f,二50kHz V二二5V R*一400il枯型号说明，逻辑符号二1c1CPi1KIRo212CPI2KlllsJ/T 10078-9111.211.311.4逻辑图(1/2)R
16、o二1匕n0功能表输入翰出RD CP 1 KQ QL X X XH JL L LH JL H LH JL L HH JL H H1.HQo QoHLL HQo Qu弓1出端符号名称引出端符号名称CP时钟脉冲1.K数据输入Q.Q输出RD清除114sJ/T 10078-91附录A偏选(补充件)I类器件:生产厂自行规定筛选条件。，类器件:筛选项目和条件如下:等级人等级B等级C沮度快速变化GB 4590 3.1条一65-150C .10次老化前电侧t同A3分组剧除不合格品砚度快速变化GB 4590 3.1条-65-150C .10次老化前电侧t同A3分组俐除不合格品老化GB 4590 4. 7条7.b最大、1686注1)不适用于非空封器件。115sJ/T 10078-91附加说明:本标准由全国集成电路标准化分技术委员会提出.本标准由北京八七八厂负贵起草。本标准主要起草人:孙人杰。116
