SJ T 10257-1991 电子元器件详细规范 半导体集成电路CD3220CP型带 ALC双前置放大器.pdf

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资源描述

1、SJ中华人民共和国电子工业行业标准sJ/T 1025710261-91sJ /T 10263.10265-91电子元器件详细规范半导体集成电路音响电路(一)1991一们一12发布1992-01-01实施中华人民共和国机械电子工业部发布中华人民共和国电子工业行业标准电子元器件详细规范半导体集成电路CD3220CP型带ALC双前置放大器Detail specification for electronic componentSemiconductor integrated circuit-type CD3220CP dualpreamplifier with ALCSd/T 10257-91本规范

2、规定了半导体集成电路音响电路CD3220CP型带ALC双前置放大器质量评定的全部内容。本规范符合GB 4559. 1半导体器件分立器件和集成电路总规范及GB/T 12750半导体集成电路分规范(不包括混合电路)的要求。中华人民共和国机械电子工业部1991-11-12批准1992;01-01实施一1一SJ/T 10257-91中华人民共和国机械电子工业部评定器件质量的依据:GB 4589.1半导体器件分立器件和集成电路总规范及GB/T 12750半导体架成电路分规范(不包括混合电路)SJ/T 10257-91CD3220CP型带ALC双前置放大器详细规范订货资料:见本规范第7章。1机械说明外形依

3、据:GB 7092半导体集成电路外形尺寸。外形图:按GB 7092第5. 5.1条P14S3.引出端排列:(:ND门下人厂干,、OUT上_2 131 120UTICOMP LJ 3 12一2COMPIIN_匕4 11门21N_IIN,乞_5 10121N.IOUT.- “,.人川cLweoU万02UT.-IN-匕78Dc引出端符号名称:见本规范第11章。标志:按GB 4589. 1第2.5条及本规范第6章。2简要说明双极型音响集成电路半导体材料:硅封装:非空封应用:主要在音响设备中作录音及放音放大用。品种:霍2 1I: I(. $一20-75C (C)一塑料双列五IAi(P)CD3220CP3

4、质量评定类别I类参考数据录音时推荐工作条件V.,:513V,R,.680f1,一2一SJ/T 10257-914极限值(绝对最大额定值)若无其它规定,Iamb=25 C条款号参数符号数值单位最小最大4.1电源电压V14V4.2功耗(T.mb蕊40)P600mW4.3工作环境温度了、mb一20754.4贮存温度I“ia一401254.5ALC晶体管允许电流JALC3.5.A5电特性电特性的检验要求见本规范第8章。若无其它规定,T.-二25C , V二二SV,f=1kHz,R,.=10kO(放音),R,_二680f1(录音)。条款号特性和条件符号规范值单位试验最小典型最大5.1静态电流1-4. 5

5、10mAA35.2最大输出电压(放音)TND=1Vom0.91.2VA45.3全谐波失真度(放音)Vo=0. 5V了IID0.1%1.0纬A45.4通道隔离度(放音R=2.2kS2,Vo=775mVCSR4050d匕A45.5输人噪声电压(放音)R,=2. 2k0,通带20Hz 20kHzV.1.0一下ZOyVA45.6ALC控制范围(录音)V,=O. 775mVR,c3545dBA45.7ALC平衡度(录音)V,=77. 5.VR,.c02Od吕人45.8ALC失真度(录音)V,=77. 5mVT!(DA,X0.5%2.0纬A43一SJ/T 10257-91标志器件上的标志示例:型号CD32

6、20CP引出端识别标志质量评定类别制造厂商标检验批识别代码订货资料a.产品型号;b.详细规范编号;c质量评定类别;d.其它.试验条件及检验要求抽样要求:根据质量评定类别,按GB/T 12750第9章的规定。A组检验的抽样要求分组人Ql.n类检查水平(11.)AQI.A1u0.65人3皿0.15人4S41.0B组、G组和D组检验的抽样要求分组LTYU皿类B115C120C315B4 C410一4一s,J/r 10257-91续表分组LTYD压类BS CS10C715BS CS D810C915C1120A组逐批所有试验均为非破坏性的(见GB 4589. 1第3.6.6条)检验或试验引用标准条件若

7、无其它规定,T.mb=25C(见GB 4589.1第4.1条)检验要求规范值Al分组外部目检GB 4589. 1第4.2.1.1条标志清晰,无表而损伤和气孔A3分组25下的静态特性GB 7500半导体集成音响电路音频前登放大器测试方法的基本原理按本规范第511条及10.1条按本规范第5.1条A4分组25下的动态特性GB 7500按本规范第5.2条至第5.9条及10.1条按本规范第512至第5,8条B组逐批标有(D)的试验为破坏性的(见GB 4589. 1第3. 6.6条)检验或试验引用标准条件若无其它规定.T,mb=25C(见GB 4589. 1第4.1条)检验要求规范值Bl分组尺寸GB 45

8、89. 1第4.2.2条及附录B按本规范第1章B4分组可焊性GB 4590半导体集成电路机械和气候试验方法第2.5条按方法M槽焊法)按GB 4590第2.5.6条一5一sJ/r 10257-91B组逐批(续)检验或试验引月标准条件若无其它规定,T.-,b=之5(见GB 4589.1第4.1条)检验要求规范值B5分组温度快速变化随后进行外部目检稳态湿热(U)电测量GB 4590第3.1条GB 4589. 1第4.2.1.1条GB 4590第3. 7条温度按严格度A循环次数:10次t, , 5n,in严格度A. 2仆同A3和八4分组同A1分组同A3和A4分组B8分组电耐久性电测量(同A3和A4分组

9、)GB/T 12750第12.3条16811,温度为75 C其它按本规范第10.2条同A3和A4分组恢复211.241,内测完小于1. 3USI.“大于。. 91st-CRRI分组就B4,B5和B8分组提供计数检查结果.注:1) us,和Is),分别表示A组规范值的最大值和最小谊.C组周期标有(D)的试验为破坏性的(见GB 4589. 1第3.6.6条)检验或试验引用标准条件若无其它规定,Tamb=25C(见GB 4589. 1第4.1条)检验要求规范值C1分组尺寸GB 4589.1第4. 2. 2条及附录B按本规范第1章C3分组引线强度拉力(D)弯曲(D)GB 4590第2.1条GB 459

10、0第2. 2条F=M按试验a之方法2F=2. SN按GB 4590第2.1.5条无断裂C4分组耐焊接热(D)电测量GB 4590第2.6条按方法1uoC搏焊)同A3和A4分组同A3和A4分组C5分组温度快速变化GB 4590第3.1条温度按严格度A一6一53/T 10257-91C组周期(续)检验或试验弓I用标准条件若无其它规定,T,mb=25C(见GB 4589. 1第4. 1条)检验要求规范值随后进行:外部目检稳态湿热(D)电测量GB 4589.1第4.2.1.1条GB 4590第3.7条循环次数:500次t, :5min严格度A, 241,同A3和A4分组同Al分组同A3和人4分组C?分

11、组稳态湿热(D)电测量GB 4590第3. 7条按严格度A,不加电1000h同A3和A4分组同B8分组C8分组电耐久性电测tGB/T 12750第12.3条10001,.其它同B8分组同A3和A4分组同BS分组C9分组高温贮存(D)电测量GB 4590第3.3条10001.温度按严格度C同A3和A4分组同B8分组C11分组标志耐久性GB 4590第4. 3条按方法1按GB 4590第4. 3. 2条CRRL分组就C3,C4,C5,C7,C8,C9和Cll分组提供计数检查结果。9 D组D8分组应在鉴定批准之后立即进行,以后每年进行一次。检验或试验引用标准检验要求规范值D8分组电耐久性(D)GB/

12、T 12750第12.3条200011,其它同BS分组电侧量同A3和A4分组同B8分组附加资料1电特性的测量1.1测试方法加日鑫曰nU司.,自JI7一sj/r 10257-91参数测试方法1-GB 7500第2.1条A,oGB 7500第2.2条AveGB 7500第2.3条Vo“GB 7500第2.4条TIMGB 7500第2. 7条CSRGB 7500第2.10条V N,GB 7500第2.8条尺n, cGB 7500第2.11条CBnsGB 7500第2.17条了,月D人1尤GB 7500第2.15条RtGB 7500第2.5条10-1.2测试原理图一8一SJ/T 10257-91测试原

13、理图中的开关位置本规范相应条款号测试项目S-s-S,S,s,S,S,5.1/-o22断断1断断5.2Vom11断通1断断5.3TIM11断通1断断5.4CSR;断通1断断5.5VN,22断通1断通5.6R-11断断2通断5.7B-I1断断2通断5.8TLIDA.11断断2通断10.1.3.1月vo11通断1断断10.1.3.2A-I1断通1断断10-1.3设计保证参数或参考参数若无其它规定,T.,.。二25C,Vcc=5V,f=1kHz,R,=10kf2(放音),R,.= 680f1(录音).条款号特性和条件符号规范值单位测试图最小典型最大10.1.3.1开环电压增益Avo85dB见10.1.

14、2条10.1.3.2闭环电压增益放音Ave40dB见10.1. 2条58录音10.1.3.3输入电阻V,=O. 5V尺30k日见10.1.2条10.2电耐久性试验线路图9一SJ/T 10257-91CV,牛5、680Q仁斗1470pF上甲|占叫ONN14 13 12 11 10 9 8CD3220Cr2 3 456 7470pF。.1”F卜一一信号输入正弦波V- 2v 1=50H710.3特性曲线在产品说明书中给出下列特性曲线:主要电特性随温度变化曲线;其它有关特性曲线。出卜1111.1型号说明功能框图一10一SJ/T 10257-9120UT-2COMP 20UT一翩一一111,11.2引出端符号名称引出端符号名称引出端符号名称GNn 一【兄退根LOUT 一20U1,2通道自动电平控制输出1COMP 21N,2通道同相输入11N _ 2通道反相输入IIN, 一2通道补偿1OUTa,,通道自动电平控。输出20U“12通道输出INA- 一V仪电1N,附加说明:本标准由全国半导体器件标准化技术委员会集成电路分技术委员会提出。本标准由上海无线电七厂负责起草。本标准主要起草人:沈昭年陈志钧11一

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