1、rJ中华人民共和国电子工业行业标准SJ/T 10266一10270-91电子元器件详细规范半导体集成电路运算放大器(一)1991一11一12发布1992-01-01实施中华人民共和国机械电子工业部发布中华人民共和国电子工业行业标准电子元器件详细规范半导体集成电路CF 155/CF255/CF355型MET输人运算放大器“J/T 10269-91Detail specification for electronic componentsSemiconductor integrated circuit-CF155/CF255/CF355 type MET input operational amp
2、lifier(可供认证用)本标准规定了半导体集成电路CF155/CF255/CF355型JFET输入运算放大器质量评定的全部内容。本标准符合GB 4589. 1(半导体器件分立器件和集成电路总规范和GB/T 12750半导体集成电路分规范(不包括混合电路)的要求。中国电子元器件质量认证委员会标准机构是中国电子技术标准化研究所。中华人民共和国机械电子工业部1991-11-12批准一50一1992-01-01实施SJ/T 10269-91中华人民共和国机械电子工业部IECQ评定器件质量的依据:GB书 589. 1(半导体器件分立器件和集成电路总规范GB/T 12750(半导体集成电路分规范(不包括
3、混合电路)SJ/T 10269-91CFJSS/CF255/CF355型JFET输入运算放大器详细规范订货资料:见本规范第7章，1机械说明外形依据:GB 7092半导体集成电路外形尺寸。外形图:按GB 7092,P % 5. 5 skR S. 5. 1 A41 P0852J M S. 4 AR 5. 4. 1 -Ad J08S2T721 S.6.1#Tx5.6.24引出端排列! CIA, 1 Y +tN_ 1 G OUTDV. 4 OA:11.4, 1一 IiIN_v_N+屯岁OA- CIA下引出端符号名称:见本规范第n章.标志:按。B 4589. 1第2.5条及本规范第“章。一2简要说明双极
4、型集成特殊运算放大器半导体材料;硅封装空封、非空封电原理图:见本规范第U章。品种:曦0.70C (C)一25-含5 (L)一55-1.25C (M)塑料直插(P)CF355CPCF255LP黑瓷直插(3)CF355CCF255LiCFl55MJ金属画壳(T)CF355CTCF255LTCF155MT3质11评定类别二，A,皿B, I C枯砂2 736A!参考数据:内，卜偿，1ioM=士4DvJFET输人凡-SV/ys(典型值)按本规范鉴定合格的器件.其有关制造厂的资料，可在现行合格产品目录中查到。SJ/T 10269-914极限值(绝对最大颇定值)若无其它规定，适用于全工作温度范围。条款号参数
5、符号数值单位MUMCF255LCF355C最小最大最小最大最小最大4.1电源电压，士22士22士18V4.2差模输入电压卜。士40士40士30v4. 3共模输入电压,c一2220-2220一1816V4.4允许功耗Pu670570570mW4.5工作环境温度至.m0一55125一25850704.6贮存温度范围J,T型T.e一65ISO一65150一65150一55125一55125p型4.7耐焊接热(100TI,3003003001154.8工作结温T,J型1i150115一一100100P型4.9短路输出时限T,aS5电工作条件和电特性电特性的检验要求见本规范第8章。5.1电工作条件条款号
6、参数符号数值单位CF 155h1CF255LCF355C最小最大最小III大最小最大5.1.1电源电压1士15土15士15V5.12放大器调零电阻R,252525k4?5. 2常温电特性CF155:士15V镇1.簇士20V;CF255:士15V簇1.镇士20V; CF355;1.=士15V,I,me= 25C一52一SJ/T 10269-91条款号特性和条件符号规范值单位试验CF155MCF255LCF355C最小典型-.最小典型最大最小典型最大取天5.2.1输人失调电压1t,=500I .=V.=O匕03535310mVA35.2.2输入失调电流R=5MCd V,o=V,c=O1i-2511
7、.320320350pA人35.2.3输入偏置电流R=5MR Vo=1u,-O21-25Clie301003010030200pAA35.2.4开环电压增益F二士15V R,=2k4lr。=士tovA-9味10694了0688106dB人35.2.5电源电流Vs=士l5v凡=，I,0 =01s2月，a2礴目IAA353全温电特性CF155:士15V(V5镇士20VCF255:士15V簇1s(士20VCF355,V。二士15V一55C镇，二。(1250C一25C毛/. .,簇 850C毛T.-簇7 0C条款号特性和条件符号规范值单位试验CF155MCF255LCF355C最小典型最大嫩小典型最大
8、最小典型最大5.3.1输入失调电压R,=son I,二1=0坑o76513m IIn:1一一，1、一一劣5.3.2输入失调电流R=5MOI一10=坑c=0T蕊Tmnb(maz)1,u201一厂-一今l一A3a一一入。，一5.3.3输入偏置电流R=5M0 I。一Ic-0Tj镇Tamb(rtiux)1,505853一一SJ/T 10269-91续表条款号特性和条件方勺口规范值单位试验CF155MCF255LCF355个】万.最小典型最大最小典型最大最小典型最大5.3.4开环电压增益Vs二士15V凡，2七口Vu二士lov月.8g8884一一JBA3a一ASb一5.3.5输出峰峰电压V，二士15VR,
9、 =10kQ百谕士12土13士l2士13士12士13vA3a几=2kQ士10士12士0士12士10士25.3.6共模输入电压范围几二士15VV,c,+们+15.1-12士11+15.21-12士10坦5.2112Vr 3ZU5。3.了共模抑制比V:二士15V R,=2klV二二士lovK-a:1.;1008510080100dBA3a5.3.8电深电压抑制比Vs=士15V】、二士SVKva851008510080100dBA3a6标志器件上的标志示例:a. J,P型认证合洛标志型号引出瑞识别标志质t评定类别制造单位商标检脸批识别代码若受器件尺寸限制时，允许将“检验批识别代码”、“质量评定类别”
10、标在器件背面。b.T 7+一54一SJ/T 10269-91引出幼识别标志造单位商标认证合格标志皿号检毅批识戒妈质t评定类别若在管壳侧面打印，则将器件正放，从“引出端识别标志”起按逆时针方向依次标志:制造单位商标、型号、认证合格标志、检验批识别代码、质量评定类别。订货资料若无其它规定，订购器件至少需要下列资料:产品型号;b.详细规范编号;质量评定类别;d.其它。试验条件和检验要求抽样要求:根据采用的质量评定类别，按GB/T 1275。第9章的有关规定。A组检验的抽样要求分组AQLI类I类1L人QLILAQLAlI0.65且0.65A3正0. 15l0. l5A3aS41.0S41.0A3bS4
11、1.0SSJ/T 10269-91B组、C组和D组检验的抽样要求分组七CPD.类，类ABCB115151515C120202020C315151515B4 C410101010B5 C510101010C620202020C715151515B8 C8105710C9155715C112O202020D8105710A组逐批全部试验均为非破坏性的(见GB 4589. 1第3.6.6条)检验或试验引用标准条件若无其它规定，T.-b=25 C(见CB 4589. 1第4章)检验要求规范值Al分组外部目检GB 4589. 1第4.2.1.1条标志清晰，表面无损伤和气孔A3分组25下的静态特性GB 3
12、442半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理按本规范5.2.1条至5.2.5条按本规范5.2.1条至5.2.5条A3a分组最高工作温度下的静态特性GB 3442T,mb按本规范4. 5条规定的最大值。条件按本规范5.3条按本规范5. 3条A3b分组最低工作温度下的朴态特性GB 3442Tamb按本规范4.5条规定的最小值。条件:按本规范5.3.1条.5.3.4至5.3.8条一一按本规范5.“，条。5. 3.“至一538杀一56一sJ/T 10289-91B组逐批标有(D)的试验是破坏性的(见GB 4589.1第3.6.6条)检验或试验引用标准条件若无其它规定，Tmo=250C(见G
13、B 4589. 1第4章)检验要求规范值B1分组尺寸CB 4589. 1第4.2.2条及附录B按本规范第1章B4分组可焊性GB 4590(半导体集成电路机械和气候试验方法第2.5条按方法b(槽焊法)按2.5. 6条B5分组温度快速变化a.空封器件温度快速变化随后进行电测量密封:细检漏粗检漏b.非空封和环氧封的空封器件温度快速变化随后进行:外部目检稳态湿热电测董GB 4590第3.1条GB 4590第3. 12条CB 4590第3. 13条CB 4590第3.1条GB 4589. 1第4.2.1.1条GB 4590第3. 7条温度按本规范第4.6条规定循环次数,10次一5.1.同人3分组恢复2h
14、按规定按规定温度按本规范第刁6条规定循环次数:10次1,=5uun按规定严格度A.2仆同A3分组同A3分组同AI分组同A3分组B8分组电耐久性(168h)最后测量(同A3分组)测试参数:1 ,.601mA,.1s百即尸K-V.1.K-GLi/T 1275M 12.3s“一:一黔n:#, ,(1hme M*t1g 4.5A3 *jA一1. IXUSLll10 X USL10尺USL0. 9 X LSO1.3XUSL0.9XLSL0.9XiSL0.9XLSL0.9XLSL其余同A3分组CRRL分组注1) USL=规范的上限值;ISL=规范的下限值.SJ/T 10269-91c组一一周期标有(U)的
15、试验是破坏性的(见GB 4589.1第3.6.6条)检验或试验I 01用标准 条件若无其它规定，7Smn=25C(见GB 4589. 1第4章)检验要求规范值cl分组尺寸GB 4589. 1第4.2.2条及附录B按本规范第1章C3分组引线强度拉力(D)弯曲(D)GB 4590第2.1条GB 4590第2.2条r一外加力的值按2.1条表1外加力的值按2.2条表2按2。1.5条无损伤C4分组耐焊接热(D)最后测量(同A3分组)GB 4590、第2.6条按方法1(2600C槽焊)同A3分组同A3分组C5分组，温度快速变化(D)(非空封和环氧封的空封器件)随后进行外部目检稳态湿热电测量(同入3分组)G
16、B 4590第3.1条GB 4589. I第4.2.1.1条GB 4590第3.7条温度按本规范第4. 6条脱定循环次数:500二5min温度:85 C，湿度85%时Inl:24n同A3分组同A1分组同A3分组C6分组，稳态加速度(D)(空封器件)最后测量(同A3分组)GB 4590第2.10条加速度按规定:_:分组一同A3分组同B8分组C7分组稳态湿热(D)a.空封器件b.非空封器件最后测量(同B8分组)GB 4590第3. 6条GB 4590第3.7条严格度。时间56d温度:85C，湿度:85%时间:1000h(同B8分组)一58一Sd/T 10269-91C组周期(续)检验或试验引用标准
17、条件若无其它规定，Tamp= 25 C(见GB 4589. 1第4章)检验要求规范值C8分组电耐久性(I 000h)最后测量(同B8分组)GB/T 12750第12.3条同B8分组(同B8分组)同B8分组C9分组高温贮存(D)最后测量(同B8分组)GB 4590第3.3条温度按Tsa(max)时间1000h同B8分组同B8分组C11分组标志耐久性GB 4590第4. 3条按GB 4590第4.3.2条方法1按4.3.2条CRRL分组就C3,C4,C5,C6,C7,CB,C9和C”分组提供计数检查结果。注,1)连续三次通过后，周期可放宽为一年一次.9D组D组检验应在鉴定批准之后立即开始进行，其后
18、每年进行一次。条件检验或试验引用标准若无其它规定,Tamp=25C(见GB 4589. 1第4章)检验要求规范值D8分组电耐久性(D)GB/T 12750第12.3条最后测量同(B8分组)H类，2000h，类3000h其它同B8分组同B8分组同B8分组10附加资料10. 1引用GB 3442的特性测试参数测试方法Il0GB 3442第2. l条h.GB 3442第2. 3条11.GB 3442第2.S条一59一SJ/T 10269-91续表参数测试方法几GB 3442第2.6条f即pGB 3442第2. 14条K-GB 3442第1.11条左-GB GB 3442第2.8条1 iaxGB 34
19、42第2.15条A-GB 3442第2.7条10.2输出电流限制曲线负电流限制正电流限制V_-, (V)践,. (V)一!Vy=士5VI压舀仄口厂下阅阅斤刁哥】冈冈口-s知七1一:s州卜门z。I曰厂闪尸口巨巨E口口口二V,士15V二巨石医二二口二二门1 I.州如.目一55r.I II三巨口盯日习曰门!口一厂z1-11门尸一、厂口厂1;zsr曰Ie_ (.A)I, (mA)10.3动态参数测试线路瞬态响应及转换速率测试线路+15Vv;!5V。，蕊soloonF注,1)值小信号为士50mV;大信号为士5v,60SJ/T 10269-91建立时问测试线路2kn o. 1%oovF10.4电耐久性试验
20、线路+15VD。CF155VI= 10V50Hz6V，士lov1十GJv一15V10.5设计参考资料7.b= 25 0CSJ/T 10269-91条款号特性和条件符号规范值单位CF155MCF255LCF355C最小典型最大最小典型最大最小典型最大10.5.1电压转换速率A,=1 1s二士15VS,555k v,10.5.2增益带宽乘积1厂5二士15VC.刀W2.52.52.5MHz10-5.3建立时间1飞二士15V-0. 01Avr=一rs,=1r,_=2k(z阶跃信号为lov坛444卜is10.5.4等效输入噪声电压1u,252525nV14= 1000一，=士15V100HzIOOOHz
21、20202010-5.5等效输入噪声电流l,.0.010.010.01PA1s二士15V100Hz0. O10.010.011000Hz10. 5.6输入电容1s=士15VC,333pF10.5.7输入电阻Ti=25R,u10101Vf?10.5.8输入失调电压温度系数!t=SMQ1,o=F.=0日尸10555PV/10-5.9单位失调电压的失调电压温度系数V1.0.50.50.5PV/C/0CmVII型号说明一62一sa/T 10269-9111.1电原理图OAz OA,V，1N_IN,一OUTV-V+11.2调零线路V一V_63SJ/T 10269-9111.3引出端符号名称引出端符号一一
22、一引出端符”名称OA,OA,调零一一负电源1N反相输入一一正电源1N+同相1m1.一OUT输出SJ/T 10269-91附录八筛选(补充件)1类器件:生产厂自行规定筛选条件。，类器件:筛选项目和条件如下等级A等级B等级C内部目检GB 4590第4. 6条高温稳定GB 4590第3.3条1501C , 96h温度快速变化GB 4590第3.1条一65.150C ,10次稳态加速度，GB 4590第2.10条密封”GB 4590第3.12条和3. 13条老化前电测童同A3分组剔除不合格品老化GB 4590第4. 7条T,mn最大，240h老化后电测量同A3分组，剔除不合格品。若不合格品率大于5%，
23、则该批拒收.内部目检GB 4590第高温稳定GB 4590第3. 3条1500C .48h温度快速变化GB 4590第3. 1条一65-150C . ,10次稳态加速度，GB 4590第2. 10条口45C B B 4590 90T, 4. 6一门_川口-一几_密封，第3.12条和第3.13条测量且格品老化第4. 7条.168h老化前电测量同A3分组剔除不合格品老化GB 4590第4. 7条Tame最大.168h老化后电测量同A3分组，剔除不合格品.匾区区老化后电测量同A3分组，易除不合格品若不合格品率大于5纬，则该批拒收.注,l)不适用于非空封器件。f;弓SdiT 10269-91附加说明:本标准由全国集成电路标准化分技术委员会提出.本标准由北京半导体器件研究所负责起草。本标准主要起草人:崔忠勤李荣实
