搜索
麦多课文库
收藏
下载资源
加入VIP,免费下载
HB 5441.1-1989 《粉末冶金制品和粉末的性能测试 测定金属粉末粒度的筛分法》.pdf
上传人:
boatfragile160
文档编号:1317302
上传时间:2019-10-13
格式:PDF
页数:7
大小:171.53KB
下载
相关
举报
第1页 / 共7页
第2页 / 共7页
第3页 / 共7页
第4页 / 共7页
第5页 / 共7页
点击查看更多>>
资源描述
展开
阅读全文
相关资源
YB T 5308-2006 粉末冶金用还原铁粉.pdf
JIS Z2503-2000 粉末冶金用粉末.取样.pdf
FZ T 92050-1995 粉末冶金轴承.pdf
HB 5441.1-1989 粉末冶金制品和粉末的性能测试测定金属粉末粒度的筛分法.pdf
HB 5441.7-1989 粉末冶金制品和粉末的性能测试渗透性烧结金属材料密度和开孔度的测试方法.pdf
HB 5441.8-1989 粉末冶金制品和粉末的性能测试烧结金属衬套径向压溃强度的测定.pdf
HB 5458-1990 粉末冶金铜基多孔轴承.pdf
JB T 10310-2001 摩托车离合器用粉末冶金从动齿轮技术条件.pdf
JB T 10310-2011 摩托车离合器用粉末冶金从动齿轮 技术条件.pdf
JB T 2798-1999 铁基粉末冶金烧结制品金相标准.pdf
猜你喜欢
CNS 6123-1988 Environmental Testing Methods and Endurance Testing Methods for Discrete Semiconductor Devices (Intermittent Appling Voltage Test of Rectifier Diodes)《单件半导体装置之环境检验法及耐.pdf
CNS 6124-1988 Environmental Testing Methods and Endurance Testing Methods for Discrete Semiconductor Devices(Intermittent Applying Voltage Test of Thyristors)《单件半导体装置之环境检验法及耐久性检验法–.pdf
CNS 6125-1988 Environmental Testing Methods and Endurance Testing Methods for Discrete Semiconductor Devices(High Temperature for Applying Voltage Test of Rectifier Diodes)《单件半导体装置.pdf
CNS 6126-1988 Environmental Testing Methods and Endurance Testing Methods for Discrete Semiconductor Devices (High Temperature for Applying Voltage Test of Thyristors)《单件半导体装置之环境检验.pdf
CNS 6127-1986 General Rules for Reliability Assured Discrete Semiconductor Devices《可靠度保证单件半导体装置总则》.pdf
CNS 6133-1980 Midget Earphone《小型耳机》.pdf
CNS 6134-1980 Cut Cores for Electronic Equipment《电子用变压器切槽铁蕊》.pdf
CNS 6135-1-2000 Hearing aids-Part1 Hearing aids with induction pick-up coil input《助听器-第1部 以感应拾波线圈为输入的助听器》.pdf
CNS 6135-10-2000 Hearing aids-Part10 Guide to hearing aid standards《助听器-第10部 相关标准之指引》.pdf
相关搜索
HB544111989
粉末冶金
制品
粉末
性能
测试
测定
金属粉末
粒度
筛分
PDF
当前位置:
首页
>
标准规范
>
行业标准
>
HB航空工业
copyright@ 2008-2019 麦多课文库(www.mydoc123.com)网站版权所有
备案/许可证编号:
苏ICP备17064731号-1
登录
首页
资源分类
专题
通知公告