DB36 T 250-2000 南康甜柚贮藏保鲜.pdf

相关资源

DB15 T 822—2025 在用电梯安全评估规则.pdf

DB15 T 824—2025 场（厂）内专用机动车辆使用管理与维护保养规则.pdf

DB15 T 9001-2025 黄河流域非物质文化遗产保护数字化建设规范.pdf

DB15 T 4519-2026 地榆栽培技术规程.pdf

DB15 T 4527-2026 水网输配水工程调度运行规程.pdf

DB15 T 4518-2026 沙区防风固沙林功能提升技术规程.pdf

DB15 T 7001-2026 商品交易场所公平秤设置与管理规范.pdf

DB15 T 4498-2026 研学旅游基地（营地）管理规范.pdf

DB15 T 4510-2026 草种子认证追溯技术规范.pdf

DB15 T 4490-2026 网络交易平台内经营者售货服务质量管理规范.pdf

猜你喜欢

JEDEC JESD24-10-1994 Test Method for Measurement of Reverse Recovery Time trr for Power MOSFET Drain-Source Diodes《JESD24的补遗－功率MOSFET Drain-Sources二极管的逆向恢复时间trr测量的测试方法》.pdf

JEDEC JESD24-11-1996 Power MOSFET Equivalent Series Gate Resistance Test Method《JESD24的补遗－功率MOSFET 等值系列栅极电阻测试》.pdf

JEDEC JESD24-12-2004 Thermal Impedance Measurement for Insulated Gate Bipolar Transistors (Delta VCE(on) Method) ((This is an alternative method to JEDEC Standard No 24-6))《绝缘双极晶体管.pdf

JEDEC JESD24-1985 Power MOSFET-s《MOSFET功率》.pdf

JEDEC JESD24-2-1991 Gate Charge Test Method (Addendum to JEDEC JESD 24)《JESD24的补遗－门负荷测试方法》.pdf

JEDEC JESD24-3-1990 Thermal Impedance Measurements for Vertical Power MOSFETs (Delta Source-Drain Voltage Method)《JESD24的补遗－垂直功率MOSFET的热阻测量》.pdf

JEDEC JESD24-4-1990 Thermal Impedance Measurements for Bipolar Transistors (Delta Base- Emitter Voltage Method)《JESD24的补遗－双极晶体管的热阻测量》.pdf

JEDEC JESD24-5-1990 Single Pulse Unclamped Inductive Switching (UIS) Avalanche Test Method《JESD24的补遗－信号脉冲UIS雪崩测试方法》.pdf

JEDEC JESD24-6-1991 Thermal Impedance Measurements for Insulated Gate Bipolar Transistors《JESD24的补遗－绝缘双极晶体管的热阻抗测量》.pdf