搜索
麦多课文库
收藏
下载资源
加入VIP,免费下载
DB35 T 1789-2018 质量监督信息资源数据交换接口规范.pdf
上传人:
testyield361
文档编号:1502505
上传时间:2021-04-08
格式:PDF
页数:5
大小:874.63KB
下载
相关
举报
第1页 / 共5页
第2页 / 共5页
第3页 / 共5页
第4页 / 共5页
第5页 / 共5页
亲,该文档总共5页,全部预览完了,如果喜欢就下载吧!
资源描述
展开
阅读全文
相关资源
JT T 748-2009 公路水路交通信息资源业务分类.pdf
JT T 749-2009 交通信息资源标识符编码规则.pdf
JT T 747-2009 交通信息资源核心元数据.pdf
JT T 906-2014 交通运输行业政府网站信息资源 分类与编码.pdf
JT T 734-2009 交通科技信息资源共享平台系统建设要求.pdf
GB T 17962-2000 信息技术 信息资源词典系统(IRDS)服务接口.pdf
GB T 21063.2-2007 政务信息资源目录体系 第2部分:技术要求.pdf
GB T 21063.3-2007 政务信息资源目录体系 第3部分:核心元数据.pdf
GB T 21063.4-2007 政务信息资源目录体系 第4部分:政务信息资源分类.pdf
猜你喜欢
DIN EN 60749-19-2011 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 19 Die shear strength (IEC 60749-19 2003 + A1 2010) German version EN 60749-19 2003 + A1 20.pdf
DIN EN 60749-2-2003 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 2 Low air pressure (IEC 60749-2 2002) German version EN 60749-2 2002《半导体器件 机械和气候试验方法 第2部分 低气.pdf
DIN EN 60749-20-1-2009 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 20-1 Handling packing labelling and shipping of surface-mount devices sensitive to the co.pdf
DIN EN 60749-20-2010 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 20 Resistance of plastic encapsulated SMDs to the combined effect of moisture and soldering.pdf
DIN EN 60749-21-2012 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 21 Solderability (IEC 60749-21 2011) German version EN 60749-21 2011《半导体设备 机械和气候试验方法 第21部分 .pdf
DIN EN 60749-22-2003 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 22 Bond strength (IEC 60749-22 200 + Corr 1 2003) German version EN 60749-22 2003《半导体器件 机械和.pdf
DIN EN 60749-23-2011 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23 High temperature operating life (IEC 60749-23 2004 + A1 2011) German version EN 60749-23.pdf
DIN EN 60749-24-2004 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 24 Accelerated moisture resistance - Unbiased HAST (IEC 60749-24 2004) German version EN 60.pdf
DIN EN 60749-25-2004 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 25 Temperature cycling (IEC 60749-25 2003) German version EN 60749-25 2003《半导体器件 机械和气候试验方法 .pdf
相关搜索
DB35
1789-2018
质量监督信息资源数据交换接口规范
1789
2018
质量
监督
信息资源
数据
交换
接口
规范
当前位置:
首页
>
标准规范
>
地方标准
copyright@ 2008-2019 麦多课文库(www.mydoc123.com)网站版权所有
备案/许可证编号:
苏ICP备17064731号-1
登录
首页
资源分类
专题
通知公告