1、1 范围中华人民共和国国家标准绕组线试验方法第2部分:尺寸测量Test methods for winding wires Part 2: lletermination of dimensions GB!T 4074.2规定了下列试验方法=试验方法4:尺寸测量定义、试验方法总则和绕组线试验方法一览表参见GB/T4074. L 2 51用标准GB!T 4074.2-1999 idt IEC 60B51-2: 1996 Amendment No. 1: 1997 代替GH/T4074.2 1983 GIl/T 1343. 2. J 984 GH/T 1343.10-198. 下列标准所包含的条文，
2、通过在本标准中引用而构成为丰标准的条义。本标准出版时，所示版本均为有效。所有标准都会被修订.使用本标准的各方应探i使用下列标准最新版木的口J能性。GB!T 4074. 1 1999 绕组线试验方法第1部分.一般规定(idtIEC 60851-1:1996) GB!T 4074. 5 1999 绕组线试验方法第5部分=电性能O. 063 mtn 表2导体育径测量现f置方法十电阻尺士条文号l川BTY15:1. 2 注.如果供需双方同意，导体标称直径0.063mm以上1.000mm .!k以F的绝缘线也可采用电阻测喧法。3. 2.1.1.1 导体标称直径。.063mm以上0.200mm及以下在1根校
3、在试样上相距各1m的3个位置上，用不损伤导体的任何方法除去绝缘层，各测l次导体直径、记录3个测量值，取其平均值作为导体直径。3. 2.1.1.2 导体标称直径。.200mm以上在1根校l试样上，用不损伤导体的任何方法除去绝缘层，沿导体嗣j周均分的3个位置上分别测量裸导体在径。记录3个测量值，取其平均值作为导体直径33. 2.1.2 扁线用不损伤导体的任何方法在按第3.2. 5. 2条规定的3个位置上除去绝缘层，每个位置各测l次宽边和窄边尺寸。记录3个宽边和窄边尺寸测量值，取其平均值分别作为导体宽边和窄边尺、上3.2.2 导体不圆度导体不圆度为导体每个截面上按第3.2.1.1条测量的任何两个导体
4、直径读数的最大差值、记录导体不圆度。3.2.3 扁线圆角为了做好本试验fii制备绝缘线的截面，并在足够放大倍数下测量。3根校直扁线试样在不影响绝缘性能的适当树脂中进行浇铸。困化后，树脂的颜色府与绝缘的颜色呈反恙。沿垂直于扁线轴线方向切断嵌在回化树脂中的3根扁线试样.用适当的方法仔细研磨抛光截凶10山在能正确判断因角圆度的适当放大倍数下检查抛光表面。记录导体圆弧与平面连接情况，任何毛刺、粗糙和凸缘亦应记录。3.2.4 绝缘厚度绝缘厚度是外形尺寸与导体尺寸之差。3. 2. 4. 1 圆线按第3.2.1.1初3.2. 5. 1条测量外径和导体直径.者之差即为绝缘厚度。3. 2.4.2 扁线按第3.2
5、.1.2和3.2. 5. 2条测量的扁线宽边外形尺寸和导体宽边外形尺寸，气者之类l为牢边绝缘厚度;测得的扁线窄边外形尺寸和导体窄边尺寸之差即为宽边绝缘厚度3. 2. 5 外形尺寸3. 2,5.1 圆线:拭几GB/T 4074.21999 3. 2.5.1.1 导体标称直径。.200mm及以下在l根校自试样相fi各1m的3个位置上，各测1次外径。记及3个测量值，取其平均值作为外径。3. 2. 5. 1. 2 导体标称直径。.:-0 00 mm以上在1根校直试样相距1m的两个位置上，每个位置沿绝缘线圆周均分测量3次外径。记录6个测量值，取其平均值作为外径。在有关产品标准中，导体直径测量方法采用表2
6、规定的方法。3. 2.5.2 扁线在i根校直试样相距各100mm的3个位置上，每个位置各测量1次览边和窄边外形尺、J0若试样外形尺寸较干分尺测杆直径大，则应在试样表囱中间和边缘各测1次z若两1、测量值不同.则取较大fiL记录3个宽边和窄边外形尺寸测量值，取其平均值分别作为宽边外形尺寸和窄边外形尺寸。3. 2, 5. 3 束线注下述测量方法测得的是实际有用的值，而不是精确的外径.柬线外径为卷绕在锥棒上的束线层宽度除以卷绕圃数。束线应以一定张力紧密瓷绕在如图l所I的镜棒上，张力(N)为柬线各导体标称截面(mm2)之和的65倍。外径。，5mm及以F的束线的卷绕宽度应不小子10mm，外径。5ITlffi以上的束线的ik尧宽度应不小子20mm，测量精度为o.!) mm 测量1次。记录外径，修约到口.01 mm , 3.2.6 漆包圆线自粘层厚度自粘层厚度是自粘性漆包线外径与除去自粘层后的漆包线外径的差俏。自柑性漆包线外径应按第二2.5. 1条测量，用溶剂或其他任何合适的试剂以不损伤底涂的任何方法除去自帖层后再次测量其外径，其差值即为自粘层厚度。锥庄1 3 60 尺寸单位mm图1锥棒2g6
