收藏
下载资源 加入VIP,免费下载

YD T 3037.1-2023 通用集成电路卡（UICC）与终端间大容量存储接口特性测试方法 第1部分：终端.pdf

上传人：visitstep340 文档编号：1558891 上传时间：2025-08-02 格式：PDF 页数：41 大小：6.94MB
下载 相关 举报
YD T 3037.1-2023 通用集成电路卡（UICC）与终端间大容量存储接口特性测试方法 第1部分：终端.pdf_第1页
第1页 / 共41页
YD T 3037.1-2023 通用集成电路卡（UICC）与终端间大容量存储接口特性测试方法 第1部分：终端.pdf_第2页
第2页 / 共41页
YD T 3037.1-2023 通用集成电路卡（UICC）与终端间大容量存储接口特性测试方法 第1部分：终端.pdf_第3页
第3页 / 共41页
YD T 3037.1-2023 通用集成电路卡（UICC）与终端间大容量存储接口特性测试方法 第1部分：终端.pdf_第4页
第4页 / 共41页
YD T 3037.1-2023 通用集成电路卡（UICC）与终端间大容量存储接口特性测试方法 第1部分：终端.pdf_第5页
第5页 / 共41页
亲，该文档总共41页，到这儿已超出免费预览范围，如果喜欢就下载吧！
资源描述
展开阅读全文
相关资源
猜你喜欢
相关搜索

当前位置：首页 > 标准规范 > 行业标准 > YD通信行业

copyright@ 2008-2019 麦多课文库（www.mydoc123.com）网站版权所有
备案/许可证编号：苏ICP备17064731号-1