1、ICS 17.040.30 J 42 GB 中华人民共和国国家标准GB/T 20427一2006/ISO7863: 1984 可调高度测微仪及其垫高块Height setting micrometers and riser blocks CISO 7863: 1984 , IDT) 2006-07-05发布中华人民共和国国家质量监督检验检瘦总局中国国家标准化管理委员会2006-12-01实施发布中华人民共和国国家标准可调高度测微仪及其垫高块GB/T 20427一2006/ISO7863: 1984 关中国标准出版社出版发行北京复兴门外三里河北街16号邮政编码:100045网址电话:685239
2、4668517548 中国标准出版社秦皇岛印刷厂印刷各地新华书店经销暗开本880X1230 1/16 印张0.75字数14千字2006年12月第一版2006年12月第一次印刷* 书号:155066 1-28481 定价10.00元如有印装差错由本社发行中心调换版权专有侵权必究举报电话:(010)68533533GB/T 20427-2006/ISO 7863: 1984 前言本标准等同采用ISO7863:1984(可调高度测微仪及其垫高块(英文版)。为便于使用，本标准作了下列编辑性修改:一一删除了国际标准前言;一一一用小数点代替作为小数点的逗号，删除我国巳有定义的4个术语;用我国标准代替对应的
3、国际标准;-一一增加资料性引用标准的参考文献。本标准的附录A和附录B均为资料性附录。本标准由中国机械工业联合会提出。本标准由全国量具量仪标准化技术委员会(SAC/TC132)归口。本标准由成都工具研究所负责起草。本标准主要起草人:姜志刚。I GB/T 20427-2006/ISO 7-863: 1984 可调高度测微仪及其垫高块1 范围本标准规定了可调高度测微仪及其垫高块的性能，可调高度测微仪的测量范围为600mm，分度值2 规范性引用文件是否可使用这些GB/ T 17163 GB/ T 178511 GB/ T 2042 3. 1 4 可调高度测微仪的技术要求4. 1 壳体和立柱文件，其随后
4、所有制作壳体和立柱材料的线膨胀系数应为(11士1)X 10-6 K-1 ，并对其进行适当的热处理，以稳定其长度。测量立柱各部件的稳定处理工艺应确保由材料残余不稳定性引起的各部件长度变化率不应大于土(0.05+0.001L) f-1 m /年式中:L一一为部件的公称长度，单位为毫米。立柱应能在壳体内自由移动，无卡浦现象。GB/T 20427-2006/ISO 7863: 1984 测微螺轩螺母下测量面上测量面测量标准块上测量面立柱下测量面基准面圄1可调高度测微仪各部分名称4.2 测量标准块测量标准块应由坚硬、耐磨的材料制成，例如:硬度不低于700HV的钢或具有耐磨镀层的钢等。测量标准块应具有便于
5、上、下测量的测量面。4.3 支承脚支承脚应由坚硬、耐磨的材料制成，例如:硬度不低于700HV的钢或硬质合金等。4.4 测微头4.4. 1 测微螺杆测微螺杆的螺距宜为0.5mm或1mm，且与螺母应有良好的配合。测微螺杆与螺母在量程范围内应全部啃合。测微螺杆应由硬度不低于670HV的工具钢或不低于530HV的不锈钢等材料制成。当装有测微螺杆的紧固装置时，其紧固结构应能有效地锁紧测微螺杆，指示值的变化不应大于O. 5m。2 GB/T 20427-2006/ISO 7863: 1984 4.4.2 微分筒(鼓轮)的设计为了减少仪器读数时的视差，测微仪的微分筒应符合以下条件:a) 微分筒具有刻度的一端与
6、套筒的间隙不应大于0.2mm; b) 在微分筒与套筒重叠的部分，套筒到微分筒读数端的距离(见图2中的距离)不应大于0.6 mm。|町轮)斗切切勿切切勿切饼升一测时固2距离D4.4.3 标尺标记(J线)所有标尺标记应清晰、宽度均匀。标尺标记宽度不应大于标尺间距的五分之一，标尺间距不应小于0.8 mm，标尺标记宽度的最大允许偏差为0.03mm。4.5 垫高块的定位测微仪应具有一能保证在与其组合的垫高块上定位准确可靠的装置。4.6 标志测微仪上应有下列清晰的永久性标志:a) 分度值;b) 制造商名称或注册商标;c) 产品编号。4. 7 尺寸要求和性能4. 7. 1 支承脚各支承块的平面度公差为1m。
7、支承脚的共面性应使每一支承脚的支承面积不小于其面积的50%。4.7.2 测量面4.7.2.1 平面度各测量面的平面度公差为O.3m。4.7.2.2 平行度各测量面相对于基准面的平行度公差为lm。相邻测量面间的平行度公差互为O.5m。4.7.3 测微头由测微螺杆带动的测量立柱的位移量与标尺读数值的最大差值不应大于:一一对总位移量而言，1.5m 一一一微分筒转动一周，0.5m。4.7.4 重复性测微仪读数值的重复性为O.5m。4.7.5 立柱把放在基准面上的测微仪精确调到相应的公称值上，然后在测量面中心进行测量。此时，各上、下测量面在基准平面上的实际高度与其公称值的误差:小于或等于300mm的任一
8、高度不应大于2m;一大于300mm的高度不应大于3m。当测微仪具有调零装置时，各上、下测量面相对于最低测量标准块上表面或下表面(如果适当的话)的高度与其公称值应相符，其误差:3 GB/T 20427-2006/ ISO 7863: 1984 小于或等于300mm的任一高度不应大于2m;一一大于300mm的高度不应大于3m。4.7.6 示值误差把测微仪精确地调整到零位，旋转测微头的任一位置上，各上、下测量面相对于基准面的公称高度应与相应于那个高度的已知值相符，其误差:一一小于或等于300mm的任一高度不应大于3m一一大于300mm的高度不应大于4m。5 垫高块的技术要求本要求适用于与测微仪一起垫
9、高块应有一能保证使典型的垫高块见图35.1 支承脚各支承脚的平面度公差不应大于1m。支承脚的共面性应使每一支承脚的支承面积不小于其面积的50%。5.2 上支承块o mm和600mm的垫高块。上支承块应采用4.3中规定的材料制成，支承块的共面平面度公差不应大于1m。5. 3 高度安放在基准面上时:a) 垫高块平均高度与其公称高度值的允许偏差不应大于表1中所规定值;b) 高度差不应超出表1中所规定值。4 GB/T 20427-2006/ISO 7863: 1984 表1公称高度/mm高度差/m平均高度与其公称高度值的允许偏差/m150 1. 5 土1.5250 2 土2300 2. 5 :1: 2
10、.5 600 4 土45.4 标志各垫高块上都应有下列清晰的永久性标志:a) 公称高度;b) 制造商名称或注册商标;c) 产品编号。5 G/T 20427-2006/ISO 7863: 1984 附录A(资料性附录)可调高度测微仪的检测方法A.l 概述本附录给出的例子适合于检测可调高度测微仪的主要性能。该检测方案可以在通常实验室条件下，使用通常适合于该环境条件的检测工具进行。也可以选用其他方法只要能保证其精度至少与上述要求的精度相等。A.2 测微头的检测检测测微头误差的步骤如下:a) 把要检测的可调高度测微仪同一台灵敏的指示装置一起安放在基准面上，指示装置的最小放大倍数为2000，其传感器装在
11、刚性的比较仪台架上。b) 用可调高度测微仪测量一组0级或更高级的量块(见GB/T6093-2001)，使测微螺杆通过整个测量范围，读出的读数值与各量块之间的差值，来确定测微头的误差。注1:下面是推荐的量块组尺寸:2.5:5:7.5:10: :22.5:25 mm:以确定总位移的误差。注2:为了测定测微头的微分简转动一周的误差，选用-组量块，在微分筒转动一周的范围内，等问距地测出不少于4点的读数值。这些读数值应在测量范围的中点近似地取得。A.3 立柱的检测在垂直于基准面的方向上测定立柱各测量表面的问距，所采用方法的测量不确定度不应大于4.7.5中给出值的五分之一。A.4 示值误差的检测检测的方法
12、与A.3所述类似，但只使用有限的几组量块，尺寸应包括IIJ;，JI句度测微仪的量程及测做螺杆的测量范围。例如:对于量程为300mm的可调高度测微仪，推荐用下列尺寸的量块组:26.0 mm: 150.3 mm和299.7mm。6 B. 1 高度的检测检测垫高块高度可按下列步骤进行:附录B(资料性附录)垫高块的检测方法GB/T 20427-2006/1S0 7863: 1984 a) 把要检测的垫高块同-台灵敏的指示装置一起安放在基准面上，指示装置的最小放大倍数为2000，其传感器装在刚性的比较仪台架上。b) 按垫高块公称高度组成一组量块，指示装置依次与垫高块的每一个上支承块接触，再依次与相应尺寸
13、的量块组接触。GB/T 20427-2006/ISO 7863: 1984 叮户参考文献的hgSOON-hNgNH阁。IJ GB/T 6093一2001几何量技术规范(GPS)长度标准量块(eqvISO 3650: 1998) 2J ISO 1: 2002 Standard reference temperature for industrial length measurements. 3J ISO 8512-1: 1990 Surface plates-Part 1: Castiron surface plates. 版权专有侵权必究* 书号:155066 1-28481 GB/T 20427-2006 定价:10.元
