1、喧嚣ICS 31-030 L 90 和国国家标准11: ./、中华人民GB/T 5594.3-2015 代替GB/T5594.3 1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法第3部分:平均线膨胀系数测试方法 恒、Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components and device一Part 3: Test method for mean coefficient of linear expansion . 2016-01-01实施2015-05-15发布发布中华人民共和国国家质量监督检验
2、检瘦总局中国国家标准化管理委员会eTM fu节斗 GB/T 5594.3-2015 前-鑫= F习GB/T 5594(电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法的结构如下z气密性测试方法(GB/T5594.1); 一一杨氏弹性模量泊松比测试方法(GB/T5594.2); 第3部分z平均线膨胀系数测试方法(GB/T5594.3) ; 第4部分z介电常数和介质损耗角正切值测试方法(GB/T5594.4) ; -一体积电阻率测试方法(GB/T5594.5) ; 第6部分E化学稳定性测试方法(GB/T5594.6); 第7部分:透液性测定方法(GB/T5594.7) ; 第8部分z显微结构测定方法(GB/T5
3、594.8) ; 电击穿强度测试方法(GB/T5594.的。本部分为GB/T5594的第3部分。本部分按照GB/T1.1-2009给出的规则起草。本部分代替GB/T5594.3-1985(电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法平均线膨胀系数测试方法。本部分与GB/T5594.3 1985相比，主要有下列变化:标准名称改为电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法第3部分z平均线膨胀系数测试方法34.1测试样品改为3.5X50mm; 一-4.2套管和传递杆的材料从石英玻璃变化为石英玻璃或高温氧化铝陶瓷;二-4.4测量范围从室温至800c变化为室温至1200 C; 一-4.5线膨胀系数单位改为K-1。请注意本
4、文件的某些内容可能涉及专利，本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任。本部分由中华人民共和国工业和信息化部提出。本部分由中国电子技术标准化研究院归口。本部分起草单位z中国电子科技集团公司第十二研究所、河南济源兄弟材料有限公司、浙江温岭特种陶瓷厂。本部分主要起草人:高陇桥、黄国立、胡菊飞。本部分所代替标准的历次版本发布情况为z-GB/T 5594.3-1985. I GB/T 5594.3-2015 . 1 范围电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法第3部分:平均线膨胀系数测试方法GB/T 5594的本部分规定了陶瓷材料平均线膨胀系数测试的样品、测试设备、测试方法及报告格式。本部分适用于电子元器件结
5、构陶瓷材料的平均线膨胀系数的测试。2 规范性引用文件下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。GB/T 5593一2015电子元器件结构陶瓷材料GB/T 9530-1988 电子陶墅名词术语3 术语和定义3.1 GB/T 9530-1988界定的以及下列术语和定义适用于本文件。结膨胀系数coefficient of linear e呻划回on在一定温度范围内，温度变化1K试梓线性尺寸的相对变化值a常用式(1)表示z式中zQ -.线膨胀系数zl. -lo -一一一一-一-一lo (t
6、 -to) lo -最初温度to时试样的长度，单位为毫米(mm);l ,-加热温度至t时试样的长度，单位为毫米(mm)。4 测试方法. ( 1 ) 4.1 样品应符合GB/T5593 -2015中表2的要求并用精确度为0.02mm的卡尺测量试样长度Lo。4.2 试样装入石英玻璃或高温A1203陶瓷套管中，应保持平直和稳定，并和石英玻璃或高温A1203陶瓷传递杆接触良好。用10倍放大镜观察，不应有可见裂纹和气孔。4.3 接通电源，加热并均匀升温。试样升温速度不大于5C /min. 4.4 记录各点温度和伸长值，L，直至测试到所需温度为止(测量范围可从室温至1200 C)。4.5 根据仪器类型不同
7、，测试结果可直接在计算机屏上显示，或按式(2)计算值。,L MXLoX.T介质. ( 2 ) 1 GB/T 5594.3-2015 式中z百一-平均线膨胀系数，单位为每开尔文(K-1);tlL一一室温至所测温度测得试样被放大M倍的伸长量，单位为毫米(mm);M二一测量系统的放大倍数zLo二一试样在室温下的长度，单位为毫米(mm);.T一一室温至所测温度的温度差，单位为开尔文(K); 介嚣二石英玻璃或陶瓷传递杆的平均线膨胀系数，如无标样数据，可自行测定。5 结果评定平均线膨胀系数以10-6K数量级表示，报告数据准确到小数点后两位。试样平行误差不大于0.1 X 10-6 K-1 ，最后结果为两个试
8、样的平均值。6 报告2 平均线膨胀系数技术指标的测试报告应包括以下内容za) 受检单位名称Fb) 送样日期pc) 送样者zd) 测试样品编号:e) 使用的仪器，操作者，测试日期sD 检测项目和检测结果。-r 咱mFON|的.叶mmvH泣。华人民共和国家标准电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法第3部分z平均钱膨胀系数测试方法GB/T 5594.3-2015 国中岳中国标准出版社出版发行北京市朝阳区和平墨西街甲2号。00029)北京市商城区三里柯北街16号(10004日网址总编室:(010)68533533发行中心:(010)51780238读者服务部:(010)68523946中国标准出版社秦皇岛印刷厂印刷各地新华书店经销* 开本880X 1230 1/16 印张0.5字数8千字2015年4月第一版2015年4月第一次印刷* n号:155066. 1-51213 14.00元如有印装差错由本社发行中心调换版权专有侵权必究举报电话:(010)68510107)价GB/T 5594.3-2015 打印日期:2015年5月29HF002
