1、ICS 7 1. 100. 10 H 12 国家标准国不日11: /、中华人民GB/T 6609.30-2009 氧化铝化学分析方法和物理性能测定方法第30部分:X射线荧光光谱法测定微量元素含量Chemical analysis methods and determination of physical performance of alumina 一Part 30: X-ray fluorescence spectrometric method for the determination content of trace elements 2009-04-15发布2010-02-01实施罩在
2、. 中华人民共和国国家质量监督检验检去总局中国国家标准化管理委员会发布目。吕GB/T 6609(氧化铝化学分析方法和物理性能测定方法共分为37部分:一第1部分:电感藕合等离子体原子发射光谱法测定微量元素含量;-一第2部分:300 oc和1000 OC质量损失的测定;一-第3部分:铝蓝光度法测定二氧化硅含量;一一一第4部分:邻二氮杂菲光度法测定三氧化二铁含量;第5部分:氧化铀含量的测定;第6部分:火焰光度法测定氧化饵含量;第7部分:二安替毗琳甲烧光度法测定二氧化铁含量;-一一第8部分:二苯基碳酷二脱光度法测定三氧化二铭含量;一一第9部分:新亚铜灵光度法测定氧化铜含量;一一第10部分:苯甲酷苯基瓷
3、胶萃取光度法测定五氧化二饥含量;一一第11部分:火焰原子吸收光谱法测定一氧化锯含量;一一第12部分:火焰原子吸收光谱法测定氧化铸含量;一一一第13部分:火焰原子吸收光谱法测定氧化钙含量;-二第14部分:锵-茜素络合酣分光光度法测定氟含量;第15部分:硫氨酸铁光度法测定氯含量;第16部分:姜黄素分光光度法测定三氧化二棚含量;第17部分:铝蓝分光光度法测定五氧化二磷含量;一一第18部分:N，N-二甲基对苯二胶分光光度法测定硫酸根含量;一第19部分:火焰原子吸收光谱法测定氧化鲤含量;一一-第20部分:火焰原子吸收光谱法测定氧化续含量;一-第21部分:丁基罗丹明B分光光度法测定三氧化二嫁含量;第22部
4、分:取样;-第23部分:试样的制备和贮存;第24部分:安息角的测定;第25部分:松装密度的测定:第26部分:有效密度的测定比重瓶法;第27部分:粒度分析筛分法;第28部分:小于60m的细粉末粒度分布的测定湿筛法;第29部分:吸附指数的测定;一一第30部分:X射线荧光光谱法测定微量元素含量;一一一第31部分:流动角的测定;第32部分:一三氧化二铝含量的测定X射线衍射法;-一一第33部分:磨损指数的测定;一-一第34部分:三氧化二铝含量的计算方法;一一第35部分:比表面积的测定氮吸附法:第36部分:流动时间的测定;一一第37部分:粒度小于20m颗粒含量的测定。GB/T 6609.30-2009 I
5、 G/T 6609.30-2009 本部分为GB/T6609的第30部分。本部分修改采用AS2879. 7-1997(氧化铝第7部分X射线荧光光谱法测定元素含量。与AS 2879. 7-1997相比，主要修改如下:一一规范性引用文件中用国家标准及检测规程代替国际标准及国外先进标准;由系列标准样品代替合成标准样品来做校准曲线;根据国内氧化铝样品元素含量，对AS2879. 7-1997中部分元素的测量范围做了修改，修改为与各元素的化学分析方法的测量范围一致，并制定了相应的允许差。本部分附录A为资料性附录。本部分由中国有色金属工业协会提出。本部分由全国有色金属标准化技术委员会归口。本部分负责起草单位
6、:中国铝业股份有限公司郑州研究院、中国有色金属工业标准计量质量研究所。本部分参加起草单位:中国铝业股份有限公司山东分公司、中国铝业股份有限公司广西分公司、山西鲁能晋北铝业有限责任公司、内蒙古霍煤鸿骏铝电有限责任公司。11 本部分主要起草人:张爱芬、张树朝、马慧侠、王云霞、路霞。本部分主要验证人:李志辉、郑冬陵、钟代果、李玉琳、吴海涛。GB/T 6609.30-2009 范围氧化铝化学分析方法和物理性能测定方法第30部分:X射线荧光光谱法测定微量元素含量GB/T 6609的本部分规定了氧化铝中元素含量的测定方法。本部分适用于采用X射线荧光光谱法测定氧化铝中以下元素的含量:纳、硅、铁、钙、饵、铁、
7、磷、筑、镑、嫁(用氧化物表示为Na20、Si02、Fe203、CaO、K20、Ti02P20S、V20S、2nO和Ga203)。测定的范围见表1。表1组分测量范围/%组分测量范围/%NazO O. 10 1. 20 TiOz o. 001 Oo. 010 SiOz O. 005 OO. 30 PzOs O. 001 OO. 050 Fe203 o. 005 00. 10 V20 S O. 001 Oo. 015 CaO o. 01O0. 15 ZnO O. 001 Oo. 020 K20 O. 001 OO. 12 Ga203 o. 001 OO. 060 2 规范性引用文件下列文件中的条款通
8、过GB/T6609的本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本部分，然而，鼓励根据本部分达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本部分。GB/T 6609. 22 氧化铝化学分析方法和物理性能测定方法取样GB/T 6609. 23 氧化铝化学分析方法和物理性能测定方法试样的制备和贮存JJG 810 波长色散X射线荧光光谱仪3 方法原理试样用无水四棚酸铿和偏棚酸钮混合熔剂熔融，以消除矿物效应和粒度效应，并铸成适合X射线荧光光谱仪测量形状的玻璃片，测量玻璃片中待测元素的荧光X射线强
9、度。根据校准曲线或方程来分析，且进行元素间干扰效应校正。校正方程用系列标准样品建立。样品经混合熔剂熔融，氧化铝中杂质元素含量很低，基体影响很小，可以不进行基体校正。用有证标准样品验证。4 试剂4. 1 熔剂:四棚酸铿和偏棚酸鲤混合熔剂Li2B4 0 7 (12) + LiB02 (22) J，优级纯。4.2 脱膜剂:漠化鲤饱和溶液或腆化续溶液(300g/L)。4.3 监控样品:监控样品应是稳定的玻璃片，含有所有校准元素，其浓度应使其计数率的统计误差小于GB/T 6609.30-2009 或等于校准元素的计数率统计误差。5 仪器5. 1 铅-金合金增塌(95%Pt十5%Au)0 5.2 铅一金合
10、金铸模(95%Pt+5%Au)。铸模材料底厚度约1mm，使其不易变形。注:熔样器皿和铸型模可合二为一。若试样在增塌中熔融后直接成型，则要求增塌底面内壁平整光滑。5.3 熔样炉:能加热J1 050 oC-1 250 oC，可以控温的电阻炉或高频感应炉。也可采用自动熔样设备，温度不低于1200 oC，且可控制温度，控温精度在士15oC。5.4 波长色散X一射线荧光光谱仪，端窗佬靶X射线管。按照JJG810-1993检验仪器的精确性。6 试样6. 1 按照GB/T6609. 22取样，按照GB/T6609. 23制取试样。6.2 试样应预先在300oC士10oC下干燥2h，置于干燥器中冷却至室温。7
11、 测定步骤7. 1 测定次数独立地进行两次测定，取其平均值。7.2 熔剂水分的补偿熔剂含有一定的水分，应通过以下方法进行补偿:每千克充分混合的熔剂取2份，一份按规定的熔融温度熔融10min，一份按规定的熔融时间熔融，取灼烧减量大者校正熔剂用量。熔剂应密封保存。每周或每千克测定一次灼烧减量。灼烧减量L以百分数表示，按式(1)计算校正因子F:一L泊二:-u一 1I4 一F . ( 1 ) 未烧熔剂量=FX规定的混合熔剂量。注:如测定的灼烧减量0.5%时，也可不补偿。7.3 校正试验随同试样分析同类型的标准样品。7.4 试样片的制备7.4. 1 混合:根据测量设备和铸模规格称取适量的四棚酸铿和偏棚酸
12、鲤混合熔剂Li2B407(12)十LiB02 (22) ( 4. 1)和样品(6.2)。混合熔剂和样品比为1: 21 : 5均可，放人铅一金合金增塌内(5.1), 搅拌均匀。加入3滴脱膜剂(4.2)。7.4.2 熔融:将混合试样(7.4.1)放入熔样炉(5.3)在1100 oC下熔融15min，熔融过程要转动增塌，使粘在瑞塌壁上的小熔珠和样品进入熔融体中。每隔一定时间，熔样炉(5.3)自动摇动增塌，将气泡赶尽，并使熔融物混匀。7.4.3 浇铸:将熔融试样(7.4.2)在铸模(5.2)中浇铸成型。将增塌内熔融物倾入已加热至8000C以上的铸模中。将铸模移离火焰，冷却。已成型的玻璃圆片与铸模剥离。
13、试样在瑞塌中熔融后直接成型的应在冷却前摇动增塌，赶出气泡。7.4.4 样片的保存:熔融好的样片应该不结晶，不裂化，没有气泡。取出样片，在非测量面贴上标签，放于干燥器内保存，防止吸潮和污染。测量时，只能拿样片的边缘，避免X射线测量面的沾污。2 7.5 校正7.5. 1 背景校正:对于常量元素可选择测量一个或两个背景。7.5.2 仪器漂移校正:通过测量监控样品校正仪器漂移。7.5.3 校准曲线的绘制GB/T 6609.30-2009 7.5.3. 1 标准试样片的制备:选择氧化铝标准样品作为标准样品绘制校准曲线，每个元素都应有一个具有足够的含量范围又有一定梯度的标准系列。如上述标样不能满足时，应加
14、配适当人工配制校准样品补充之。制备过程按7.4.17.4.4进行。7.5.3.2 校正与校准:TiK对VKa重叠，VK对CrKa重叠，可分别用其强度进行校正，其他元素不存在谱线干扰。样品经混合熔剂熔融，氧化铝中杂质元素含量很低，基体影响很小，可以不进行基体校正。7.6 光谱测量7.6. 1 将X射线荧光光谱仪(5.4)预热使其稳定。根据X射线管型号调节管电压和管电流。根据X射线荧光光谱仪的型号选定工作参数(参见附录A)。7.6.2 测量监控样品:设置监控样品名，测量监控样品中分析元素的X射线强度。监控样品中分析元素的参考强度必须与标准样品在同一次开机中测量，以保证漂移校正的有效性。7.6.3
15、测量标准样品:输入标准样品名，测量标准样品中分析元素的X射线强度。7.6.4 测量未知样品:启动定量分析程序，测量监控样品，进行仪器漂移校正。测量与未知样品同批制备标准样品。标准样品中各元素的分析结果要满足表2规定的重复性要求。输入未知样品名，测量未知样品。8 分析结果的计算测量标准样品的X射线强度，得到强度与浓度的二次方程或一次方程。二次方程式可通过最小二乘法计算。求出校准曲线常数、b、c和谱线重叠校正系数队，并保存在计算机的定量分析软件中。根据未知样品的X射线测量强度，由计算机软件按照式(2)计算含量并自动打印出测量结果。Wi=aI7十bli十c(2 ) 式中:四z一一试样中元素t的含量z
16、Ii 元素i的X射线强度;、b、c一一校正曲线常数。9 精密度9. 1 重复性在重复性条件下获得的两个独立测试结果的测定值，在以下给出的平均值范围内，这两个测试结果的绝对差值不超过重复性限。)，超过重复性限(吵的情况不超过5%，重复性限()按表2数据采用线性内插法求得。9.2 允许差实验室之间分析结果的差值应不大于表3所列允许差。10 质量保证与控制应用标准样品或监控样品，使用时至少每半年校核一次本方法标准的有效性，当过程失控时，应找出原因，纠正错误后，重新进行校核。3 GB/T 6609.30-2009 表2组分含量/%重复性限(r)/%组分含量/%重复性限(r)/%0.31 0.006 2
17、 0.000 68 0.000 48 Na20 0.50 0.011 Ti02 0.002 8 O. 000 71 0.67 0.020 0.018 0.002 9 0.000 71 0.000 45 Si02 0.042 0.006 1 P20s 0.003 1 0.001 1 0.10 0.007 7 0.004 9 0.000 85 0.000 38 0.000 51 Fe203 0.012 0.001 4 V20 S 0.001 6 0.000 74 0.053 0.006 3 0.038 0.001 8 0.001 1 0.000 24 CaO 0.076 0.003 2 ZnO 0
18、.002 9 0.000 16 0.11 0.003 4 0.004 9 0.000 23 0.006 4 0.000 79 0.011 0.000 26 KzO 0.031 0.001 7 Ga203 0.015 0.000 65 0.070 0.002 7 0.018 0.00074 表3组分含量/%允许差/%组分含量/%允许差/%NazO. O. 10 1. 20 0.052 1C十0.005TiOz O. 001 OO. 010 0.001 3 O. 005 OO. 050 0.008 0 P20s O. 001 OO. 050 0.000 90 Si02 0. 0500. 15 0.
19、012 O. 001 OO. 020 0.002 0 GaZ 03 0.150. 30 0.016 0. 0200. 060 0.003 0 O. 005 OO. 015 0.004 0 O. 001 OO. 005 0 0.001 0 Fe203 0. 0150. 060 0.006 0 V20S 0. 005 OO. 010 0.001 5 0. 0600. 10 0.010 0. 01O0. 015 0.002 0 O. 0100. 030 0.006 0 O. 001 OO. 007 5 0.001 0 CaO 0. 0300. 10 0.015 ZnO 0. 007 50. 010
20、0.001 6 0. 100. 15 0.030 0. 0100. 020 0.002 2 O. 001 OO. 012 0.001 0 K20 0. 0120. 050 0.006 0 0. 0500. 12 0.012 aC是样品的氧化销的平均含量(质量分数)。4 GB/T 6609.30-2009 附录A(资料性附录)X射线荧光光谱仪工作参数根据设备，在真空条件下，各元素测量条件见表A.10表.l分析线准直器探测器晶体28角/C)Na K 粗Flow PX1或28或TIAP 55 Si K 粗Flow PET(PE) 109 Fe K 粗Duplex或FlowPX10或57 LiF200
21、 Ca K 粗Flow PX10或113 LiF200 KK 粗Flow LiF200 137 TiK 粗或细Flow LiF200 86 卜一一一一一PK 粗Flow Ge111 141 VK 粗Flow LiF200 77 Zn K 粗Flow LiF200 42 Ga K 粗Flow LiF200 39 5 OON-zdoFH筒。华人民共和国家标准氧化铝化学分析方法和物理性能测定方法第30部分:X射线荧光光谱法测定微量元素含量GB/T 6609.30-2009 国中母中国标准出版社出版发行北京复兴门外三里河北街16号邮政编码:100045 网址电话:6852394668517548 中国标准出版社秦皇岛印刷厂印刷各地新华书店经销* 印张O.75 字数13千字2009年7月第一次印刷开本880X12301/16 2009年7月第一版* 定价16.00元如有印装差错由本社发行中心调换版权专有侵权必究举报电话:(010)68533533书号:155066 1-37783 G8/T 6609.30-2009 打印H期:2010年2月26H
