1、ICS 17.040.20 J 04 华2004-11-11发布GBjT 7234 2004 代替GB/T7234-1987 现|Geomerical Produc SpecificationsC GPS)一Measuremen of roundness一Terms, definitions and parameters of roundness 2005-07-01实施.飞、/ , 中华人民共和国国家质量监督检验检菇总局中国国家标准化管理委员会发布一一一一一-一一本标准是对GB/T7234-1987(圆度测量术语、定义及参数标准的修订。本标准与GB/T7234一1987相比主要变化如下s一一
2、给出了标准的适用范围，使标准更完善。GB/T 7234-2004 一-标准的技术内容与产品几何技术规范(GPSl标准体系协调一致。如对国标中的轨迹轮廓、实际轮廓、滤波器波数范围等术i吾定义作了相应的修改。一在标准编写格式上按新的GB/T1. 1的规定作了相应的修改。本标准附录A为资料性附录。本标准由全国产品尺寸和几何技术规范标准化技术委员会提出并归口。本标准起草单位g机械科学研究院、北京计量科学研究所。本标准主要起草人2王欣玲、陈月祥、吴迅。本标准于1987年2月首次发布。I J 2 范围产品几何圄度测术规范CGPS)术语、定义及参本标准规定了有关困度测量的术语、定义及参数。本标准适用于确定圆
3、度误差的计量学术语.附录A给出了测量过程图例和坐标系统。规范性引用文件GB/T 7234-2004 下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本标准，然而，鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本.凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本标准。GB/T 3505-2000产品几何技术规范表面结构轮廓法表面结构的术语、定义及参数(eqvISO 4287: 1997) GB/T 6062 2002 产品几何技术规范(GPS)性(eqvISO 3274 ,1 996) GB/T 18777-
4、2002 性(eqvISO 11562: 1996) 3 一般术语产品几何技术规范(GPS)表面结构表面结构轮廓法接触(触针)式仪器的标称特轮廓法相位修正滤波器的计量特由GB/T3505、GB/T6062和18777标准确立的以及下列术语和定义适用于本标准。3. 1 -般术语3. 1. 1 实际表面real surface 物体与周围介质分离的表面。3. 1. 2 名义回转轴线nominal axis of rotation 仪器主轴回转的理论轴线。3. 1. 3 瞬时回转轴线instantaneous axis of rotation 在任意瞬间仪器主轴实际的回转轴线。3. 1. 4 基准回
5、转轴线reference axis of rotation 仪器主轴各瞬时回转轴线的平均轴线.3. 1. 5 瞬时回转误差instantaneous e0 of rotation 由于瞬时回转轴线和基准回转轴线位置间的差别而产生的误差。注.仪器的回转误差可包括径向、轴向及倾斜误差分量。1 GB/T 7234-2004 n m nu mH d个回一归的ha线m轴回转回回义面名平器量仪测于义直6名垂qiw 3. 1. 7 测量平面plane of me阻unllent垂直于仪器基准回转轴线旦通过仪器触头与零件接触点的平面。3. 1. 8 测量方向direction of measurment 确定
6、零件轮廓径向变化量的方向，该方向与仪器回转轴线大致相交，且通常位于测量平面内。3. 1. 9 零件轴线axis of workpiece 假定零件相应部分围绕其旋转的给定直线(见图A.2)。注2零件轴线可以用以下几种拟合方法z1) 对零件的提取中心线按最小区域拟合得到的轴线。对零件的提取中心线按最小二乘拟合得到的轴线.通过相离的两个给定横截面的拟合圆心的一条直线.通过个给定的横截面的拟合圆心，且垂直于给定轴肩的一条直线.通过两支承中心的直线，该直线与零件表面无关.2) 3) 4) 5) 3. 1. 10 安装偏心setting-up. eccentricty 在测量平面内，零件轮廓拟合圆心相对
7、于仪器基准回转轴线与该平面交点之间的距离。3. 1. 11 仪器放大率faclor of amplificalion 仪器输出量与测量方向上仪器触头的位移量之比。3.2 轮廓3.2. 1 实际轮廓real profile 垂直于圆形零件轴线的平面与零件实际表面相交所形成的轮廓。3.2.2 轮廓转换profile Iransformalion 在测量过程的任一阶段(如g触针滑移、滤泼、记录等)预期地或非预期地导致轮廓表面形式产生的过程。3.2.3 轨迹轮廓traced profile 测量表面时，触头在被测表面的横切面内触头中心点的轨迹，这个触头具有理想的几何形状(带有球形尖端的困锥体)、标称尺
8、寸和标称测力。3.2.4 修正轮廓modified profile 经具有一定特性的模拟和(或)数字滤波器进行预期轮廓转换后的轨迹轮廓。3.2.5 显示轮廓displayed profile 轨迹轮廓或实际轮廓经仪器显示得出的轮廓，如轨迹图形、示波器显示的图像或数字描述等。3.3 评定基准国2 L GB/T 7234-2004 3. 3. 1 基准圆reference circle 与零件的轨迹轮廓具有规定的相关关系的圆，该圆是确定困度的几何参数和圆度误差的依据。3.3.2 显示基准圆displayed refecnce circle 与零件的显示轮廓具有规定的相关关系的因。3.3.3 最小区
9、域困minimum zone circles MZC 包容显示轮廓，且半径差为最小的二同心圆。3.3.4 最小二乘圆least squares mean circle LSC 显示轮廓到该圆距离的平方和为最小的一个圆。注s最小二乘圆可用足够精确的有限条间距适当的径向线来确定.3.3.5 最小外接困minimum circumscribed circle MCC 外接于轴的显示轮廓的可能最小圆。3.3.6 3.4 最大内接因maximum insceibed circIe MIC 内接于孔的显示轮廓的可能最大圆。有关圆周的术语3. 4. 1 每转波数unduatios per revolatio
10、n upr 零件圆周上所包含的完整的周期性波动的数目。注3在360或2弧度内不得小于整波曰3.4.2 正弦波数sinusoidal undulation numder ns 零件旋转一周内所测的周期性正弦波动的数目。3.4.3 正弦波频率sinusoidal undulation frequency 正弦波数与仪器主轴每秒转数的乘积(以赫兹表示。3.4.4 波长角wavelenth angle 8 每转波数(upr)的倒数乘以360(以度表示)或乘以2(以弧度表示见图1 3.4.5 3.5 因周波长circumCerential wavelenth 零件圆周长除以每转波数upr 有关仪器滤波器
11、功能的术语3.5. 1 滤波器wave filter 种传输一定正弦频率范围的系统，滤波器对所通过的频率范围(通带)的信号呈现低于额定值的衰减;对于所阻止的频率范围(阻带)的信号呈现显著衰减。注g电于滤波器的一个特性是输出对输人的幅度比只与频率有关而与幅度元关;对于机械滤波例如触头).该比值则同时受幅度和频率的影响.3 G/T 7234-2004 图1波长角3.5.2 幅度传输特性amplitude transmission characteristic 在仪器工作范围内，以曲线表示的每个正弦波信号的输出与输入是幅度比。注2该比值用百分比(%)，或用分贝数(dB)表示.3.5.3 滤波器衰减率
12、rate of atlenuation of filter 幅度传输特性曲线的最大斜率。注1，衰减率由滤波器的设计确定，并以每倍频程的分贝数表示。注Z，应标出衰减率为75%的截止频率.3.5.4 相位移phase shift 相应频率的输入和输出信号波形在空间或时间上的位移。注2由滤波器(日用两个C-R滤波器引起的相位移，般取决于滤波器传输频带范围内的各个频率处的衰减率。通过相位修正(数字)滤波器，可使相位移为零或使频带内所有频率的相位移相同目3.5.5 截止波数undulation cut-off 最大幅度衰减到75%时，通带两端的每转波数(1upr除外)。3.5.6 滤波器波数范围undu
13、lation range of the filter 位于上下端截止波数之间的波数范围。注z波数范围可用以每转波数(upr)或频率(Hz)为单位的范围表示。3.6 3.6. 1 其他术语方法差异method divergence 两种均为标准化的或规定的但不完全相同的测量方法之间所存在的测量结果之差异。3.6.2 4 支承中心间的测量measurement between support centres 以零件自身支承中心的公共轴线为测量轴的测量方法。注:使用这种方法会引起测量误差，原因是z1) 顶尖与顶尖孔及基准的形状、方向及准直方向的误差。Z) 测量截面可能存在的偏心目GB/T 7234-
14、2004 附录(资料性附录)测量过程图例和坐标系统A 军件的实际轮廓测量过程和坐标系统分别见图A.l、图A.2. 军件轴线轨迹轮廓第一次变换一一触头再效曲事中心的轨迹(该位置应在零件上标注传感器圭董偏，c.，回转轴线电于滔植把频喃分别限制在8、c、D、E的范围，并给出告正轮廓第二变换放大频率响应A常超过记录器接收的最大频带(1 upr到fJlIn) 输出量宇记量法波参量计算二厂ir恤D7二叩-1 h lul三句Lm -m t三二A 图吊记录器记草图形的处理(如果不用电于显示，使用人工评定基准因零件参量的评定注，A、B通道传输1upr信号，且表示出偏心量，C、D则抑制1upr信号，并将轮廓中心定
15、在最小二乘圆中心上，E通道传输1upr信号，并抑制某一特定的频率。使用最小二乘基准圆的测量过程图例5 图A.1 GB/T 7234-2004 6 回转轴线R 实际轮廓的平均半径9aR半径变化量pSf(a)为在任何角度(a)方向，实际轮廓距回转中心P的距离。评定基准圃，中，也.Q记草纸基圆，中.t，Pa) 圆柱形零件p是记录纸中心，q表示零件轴线与测量平面的交点QM由下式得出1PQ =M. PQ=Me; aRMaR， SMS , RMR。b) 记录图形半径变化量llR平均半径为R的零件的实际轮廓平均半径为l旷的霉件的显示轮廓注1.在记录纸上，显示轮廓代表零件的实际轮廓，显示轮廓以R为平均半径画在记录纸的适当区域。注2.第三章定义的基准圆从零件的轨迹轮廓得出。若pQ小于R，则圆度误差及其几何参数可根据此圆及其中心进行测量。A.2 圆度测量的坐标系统 中华人民共和国国家标准产品几何量技术规范GPS)圆度测量术语、定义及参数GB/T 7234-2004 陪中国标准出版社出版发行北京复兴门外兰里河北街16号邮政编码，100045阿址电话，6852394668517548 中国标准出版社秦皇岛印刷厂印刷各地新华书店经销奇峰开本880X1230 1/16 印张O.75 字数13千字2005年6月第一版2005年6月第次印刷4蜷
